JPS6343312A - 分子線エピタキシ−用基板支持治具 - Google Patents
分子線エピタキシ−用基板支持治具Info
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- JPS6343312A JPS6343312A JP18759586A JP18759586A JPS6343312A JP S6343312 A JPS6343312 A JP S6343312A JP 18759586 A JP18759586 A JP 18759586A JP 18759586 A JP18759586 A JP 18759586A JP S6343312 A JPS6343312 A JP S6343312A
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- 238000000407 epitaxy Methods 0.000 title abstract 2
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Landscapes
- Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
この発明は、主に分子線エピタキシー法によって基板処
理を行う際に使用される基板支持治具に関する。
理を行う際に使用される基板支持治具に関する。
(ロ)従来の技術とその問題点
分子線エピタキシー法は高度な層厚制御性および組成制
御性を有しており、忌峻なペテロ接合界面や超薄膜から
成る量子井戸構造や超格子構造を有する高性能なデバイ
スの作製技術として注目されている。
御性を有しており、忌峻なペテロ接合界面や超薄膜から
成る量子井戸構造や超格子構造を有する高性能なデバイ
スの作製技術として注目されている。
この分子線エピタキシー法において、成長苗は超高真空
を維持するため、2至もしくは3至構成とし、その間を
基板が搬送されて結晶成長が行われる。従って、その基
板搬送の機構が非常に複雑なものとなるため、搬送時の
取扱いの簡便さと結晶成長時の基板温度の均一性を得る
ために、基板をはり付ける適切な治具を用いる必要があ
る。従来、この基板をはりつける治具の材料としては、
結晶成長時、基板加熱に際するガス放出を最小とするた
め、1ylo、Ta等の高融点金属が用いられている。
を維持するため、2至もしくは3至構成とし、その間を
基板が搬送されて結晶成長が行われる。従って、その基
板搬送の機構が非常に複雑なものとなるため、搬送時の
取扱いの簡便さと結晶成長時の基板温度の均一性を得る
ために、基板をはり付ける適切な治具を用いる必要があ
る。従来、この基板をはりつける治具の材料としては、
結晶成長時、基板加熱に際するガス放出を最小とするた
め、1ylo、Ta等の高融点金属が用いられている。
また、基板のはりつけには、基板温度の均一性を得ると
ともに基板へのストレスを小さくするため、基板支持治
具と基板との間に成長温度においては液体でありかつ蒸
気圧の低いInヤGaをはさんでその表面張力によって
行う方法が広く用いられている。この液体金ぶ8用いる
基板はりつけ法は、簡便であり、また、液体金属の熱伝
導が良いため、小さいヒーター人力パワーにおいても、
高い基板温度が得られるとともに、良好な温度均一性を
得ることが可能である。しかし、この方法においては、
基板の面積が大きくなってくると、治具と基板との間に
、基板全面にわたり均一な厚さの液体金属の膜を形成す
ることが容易でなく、良好な基板温度均一性を(qるこ
とが困難となってくる。また、デバイスの生産に用いる
場合に、基板のはりつけに用いた液体金属(Inが最も
一般的に用いられている)が基板裏面に付着しているた
め、基板を他の各種のプロセスにかける場合には裏面の
金属(In)の除去や、研磨という工程が必要となって
くる。従って、このような問題を解決するため液体金属
を用いない基板支持治具が検討されている。第4図はそ
のような液体金属を用いない基板支持治具の断面を示す
説明図である。基板1は治具裏面に設けられた凹部にあ
さめられ、その端部がTa製のピン2に押えられて固定
される。
ともに基板へのストレスを小さくするため、基板支持治
具と基板との間に成長温度においては液体でありかつ蒸
気圧の低いInヤGaをはさんでその表面張力によって
行う方法が広く用いられている。この液体金ぶ8用いる
基板はりつけ法は、簡便であり、また、液体金属の熱伝
導が良いため、小さいヒーター人力パワーにおいても、
高い基板温度が得られるとともに、良好な温度均一性を
得ることが可能である。しかし、この方法においては、
基板の面積が大きくなってくると、治具と基板との間に
、基板全面にわたり均一な厚さの液体金属の膜を形成す
ることが容易でなく、良好な基板温度均一性を(qるこ
とが困難となってくる。また、デバイスの生産に用いる
場合に、基板のはりつけに用いた液体金属(Inが最も
一般的に用いられている)が基板裏面に付着しているた
め、基板を他の各種のプロセスにかける場合には裏面の
金属(In)の除去や、研磨という工程が必要となって
くる。従って、このような問題を解決するため液体金属
を用いない基板支持治具が検討されている。第4図はそ
のような液体金属を用いない基板支持治具の断面を示す
説明図である。基板1は治具裏面に設けられた凹部にあ
さめられ、その端部がTa製のピン2に押えられて固定
される。
しかし、第4図において基板1が加熱用ヒータ3により
加熱されると、基板支持面から外周部4への熱伝導によ
り、基板1の温度分布は中央部分で高く、周辺部墾低く
なるため、良好な温度均一性を得ることができない。ま
た、この傾向は基板が大きくなるに従い顕著になってく
る。
加熱されると、基板支持面から外周部4への熱伝導によ
り、基板1の温度分布は中央部分で高く、周辺部墾低く
なるため、良好な温度均一性を得ることができない。ま
た、この傾向は基板が大きくなるに従い顕著になってく
る。
この発明は、このような事情を考慮してなされたもので
、基板温度の良好な均一性が得られる基板支持治具を提
供するものである。。
、基板温度の良好な均一性が得られる基板支持治具を提
供するものである。。
(ハ)問題点を解決するための手段
この発明は、基板を装着する平板状の装着板と、その装
着板の端縁を支持す′る支持具とからなり、前記装着板
が、基板厚さにほぼ等しい深さに形成されたM&収容用
凹部と、その凹部に収容された基板を着脱可能に固定す
る固定手段と、装着板の表面又は裏面にその凹部をとり
囲んで周設され装曹板から前記支持具への熱伝導を低減
させる溝とを備えたことを特徴とする分子線エピタキシ
ー用基板支持治具である。
着板の端縁を支持す′る支持具とからなり、前記装着板
が、基板厚さにほぼ等しい深さに形成されたM&収容用
凹部と、その凹部に収容された基板を着脱可能に固定す
る固定手段と、装着板の表面又は裏面にその凹部をとり
囲んで周設され装曹板から前記支持具への熱伝導を低減
させる溝とを備えたことを特徴とする分子線エピタキシ
ー用基板支持治具である。
なお、装着板は、支持具に離脱可能に設置してもよく、
基板収容用凹部を有する枠体と装着板本体とを重ね合わ
せた構造とすることもできる。
基板収容用凹部を有する枠体と装着板本体とを重ね合わ
せた構造とすることもできる。
(ニ)作 用
基板の加熱処理を行うため装着板の裏面からヒータで加
熱すると、熱は装着板中央部から周縁部へ拡散するが、
基板をとり囲んで形設された溝の断熱作用により、熱の
拡散の程度が低減され装着された基板の温度分布が均一
化される。
熱すると、熱は装着板中央部から周縁部へ拡散するが、
基板をとり囲んで形設された溝の断熱作用により、熱の
拡散の程度が低減され装着された基板の温度分布が均一
化される。
(ホ)実施例
以下、図面に示す実施例に基づいてこの発明を詳述する
。なお、これによってこの発明が限定されるものではな
い。
。なお、これによってこの発明が限定されるものではな
い。
第1図はこの発明の一実施例を示す縦断面図であり、1
1は基板を装着する平板状の装着板、12は装着板11
の外周を支持する支持具、13はti看板11の表面に
ほず基板厚さに等しい深さに形設され基板を着脱可能に
収容する凹部、14は凹部13をとり囲んで装着板の裏
面に区画形成された溝、15は基板装着時に基板を凹部
13に固定する回転可能に設置されたビンである。
1は基板を装着する平板状の装着板、12は装着板11
の外周を支持する支持具、13はti看板11の表面に
ほず基板厚さに等しい深さに形設され基板を着脱可能に
収容する凹部、14は凹部13をとり囲んで装着板の裏
面に区画形成された溝、15は基板装着時に基板を凹部
13に固定する回転可能に設置されたビンである。
このような構成において、凹部13に基板が装着され第
3図に示すように装着板11の裏面がヒータによって加
熱されると、ヒータから供給される熱はH看板11を介
してMWに伝導されると共に、支持具12の方へも伝導
されるが、71t14が設けられているため、この溝1
4によって支持具への熱伝導の程度が低減され、溝14
の内方へ蓄熱される。従って満14の内方に配置されて
いる基板の温度分布の均一化がはかられる。
3図に示すように装着板11の裏面がヒータによって加
熱されると、ヒータから供給される熱はH看板11を介
してMWに伝導されると共に、支持具12の方へも伝導
されるが、71t14が設けられているため、この溝1
4によって支持具への熱伝導の程度が低減され、溝14
の内方へ蓄熱される。従って満14の内方に配置されて
いる基板の温度分布の均一化がはかられる。
第4図は、第1図に示す構成の基板支持治具を用いて、
2al×2aI+の大きさのGa As基板上に成長さ
せたA 1llI2y G ao、7r A S層のフ
ォトルミネセンス強度を基板の対角線上について測定し
た結果を示している。フォトルミネセンス強度は、AI
QjrGaρ:qr A S層の成長時の加熱温度に対
して大きい感受性を有するが、第4図によれば、はず平
坦な特性を示しており、基板温度の均一性が得られるこ
とを示している。
2al×2aI+の大きさのGa As基板上に成長さ
せたA 1llI2y G ao、7r A S層のフ
ォトルミネセンス強度を基板の対角線上について測定し
た結果を示している。フォトルミネセンス強度は、AI
QjrGaρ:qr A S層の成長時の加熱温度に対
して大きい感受性を有するが、第4図によれば、はず平
坦な特性を示しており、基板温度の均一性が得られるこ
とを示している。
第2図は、この発明の他の実施例を示す第1図対応図で
あり、装着板11と支持具12とを着脱可能に分割する
分割部16を有し、その他は第1図と同等の構成である
。この場合には、熱伝導率を考慮してHa板11と支持
具に異なる材料、たとえば、PBNとMOを使用するこ
とにより、さらに基板温度の均一性を向上させることが
可能になる。
あり、装着板11と支持具12とを着脱可能に分割する
分割部16を有し、その他は第1図と同等の構成である
。この場合には、熱伝導率を考慮してHa板11と支持
具に異なる材料、たとえば、PBNとMOを使用するこ
とにより、さらに基板温度の均一性を向上させることが
可能になる。
第3図は、この発明のさらに他の実施例を示す第1図対
応図であり、¥A肴根板11上に基板の厚みに応じた厚
さの枠板17を設置し、それによって凹部13を形成し
、凹部13に収容した基板を枠板17に設けたビン15
で固定するようにしたもので、その他の構成は第1図と
同様である。この場合には基板の厚さが変わっても、枠
板17のみを取換えることによって容易に対応すること
ができる。
応図であり、¥A肴根板11上に基板の厚みに応じた厚
さの枠板17を設置し、それによって凹部13を形成し
、凹部13に収容した基板を枠板17に設けたビン15
で固定するようにしたもので、その他の構成は第1図と
同様である。この場合には基板の厚さが変わっても、枠
板17のみを取換えることによって容易に対応すること
ができる。
なお、これらの実施例において、前述の液体金属(In
>を併用した場合にも、同様に基板温度の均一性が向上
する。また、支持具12の形状は使用する分子線エピタ
キシー81に依存しており、実施例に示す形状に限定さ
れるものではない。また、基板13の落下防止も、ビン
15を用いるものに限定されず、基板よりやや小ざい窓
を有する頷縁状の治具でおさえるようにしてもよい。ざ
らに満14には断熱材を充填してもよい。
>を併用した場合にも、同様に基板温度の均一性が向上
する。また、支持具12の形状は使用する分子線エピタ
キシー81に依存しており、実施例に示す形状に限定さ
れるものではない。また、基板13の落下防止も、ビン
15を用いるものに限定されず、基板よりやや小ざい窓
を有する頷縁状の治具でおさえるようにしてもよい。ざ
らに満14には断熱材を充填してもよい。
くべ)発明の効果
この発明によれば、分子線エピタキシー法において、i
nのような金属を用いることなく、良好な基板温度の均
一性が得られるため、結晶成長段階での歩留りの低下が
なく、また、lnを用いていないため、基板の取扱いが
容易となるとともに、結晶成長以降の各種のプロセスに
かけることが容易となり、生産性の向上が期待できる。
nのような金属を用いることなく、良好な基板温度の均
一性が得られるため、結晶成長段階での歩留りの低下が
なく、また、lnを用いていないため、基板の取扱いが
容易となるとともに、結晶成長以降の各種のプロセスに
かけることが容易となり、生産性の向上が期待できる。
第1図はこの発明の一実施例を示す縦断面図、第2図は
この発明の他の実施例の第1図対応図、第3図はこの発
明のざらに伯の実施例を示す第1図対応図、第4図は従
来例の使用状態を示す説明図、第5図は第1図の実施例
を用いて製作した基板の特性を示すグラフである。 11・・・・・・装着板、 12・・・・・・支持具、
13・・・・・・凹部、 14・・・・・・溝、
15・・・・・・ビン。 第1図 第2図 第3図
この発明の他の実施例の第1図対応図、第3図はこの発
明のざらに伯の実施例を示す第1図対応図、第4図は従
来例の使用状態を示す説明図、第5図は第1図の実施例
を用いて製作した基板の特性を示すグラフである。 11・・・・・・装着板、 12・・・・・・支持具、
13・・・・・・凹部、 14・・・・・・溝、
15・・・・・・ビン。 第1図 第2図 第3図
Claims (1)
- 1、基板を装着する平板状の装着板と、該装着板の端縁
を支持する支持具とからなり、前記装着板は、前記基板
厚さにほぼ等しい深さの基板収容用凹部と、該凹部に収
容された前記基板を着脱可能に固定する固定手段と、該
凹部をとり囲んで周設された前記支持具への熱伝導を低
減させる溝とを備えたことを特徴とする分子線エピタキ
シー用基板支持治具。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18759586A JPS6343312A (ja) | 1986-08-09 | 1986-08-09 | 分子線エピタキシ−用基板支持治具 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18759586A JPS6343312A (ja) | 1986-08-09 | 1986-08-09 | 分子線エピタキシ−用基板支持治具 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6343312A true JPS6343312A (ja) | 1988-02-24 |
Family
ID=16208858
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18759586A Pending JPS6343312A (ja) | 1986-08-09 | 1986-08-09 | 分子線エピタキシ−用基板支持治具 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6343312A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5329097A (en) * | 1993-05-19 | 1994-07-12 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Compact substrate heater for use in an oxidizing atmosphere |
-
1986
- 1986-08-09 JP JP18759586A patent/JPS6343312A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5329097A (en) * | 1993-05-19 | 1994-07-12 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Compact substrate heater for use in an oxidizing atmosphere |
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