JPS6339973B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6339973B2 JPS6339973B2 JP2147483A JP2147483A JPS6339973B2 JP S6339973 B2 JPS6339973 B2 JP S6339973B2 JP 2147483 A JP2147483 A JP 2147483A JP 2147483 A JP2147483 A JP 2147483A JP S6339973 B2 JPS6339973 B2 JP S6339973B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- head
- magnetic
- magnetic disk
- test
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- Expired
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 25
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 6
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
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- 238000009527 percussion Methods 0.000 description 3
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B33/00—Constructional parts, details or accessories not provided for in the other groups of this subclass
- G11B33/10—Indicating arrangements; Warning arrangements
Landscapes
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は磁気デイスク記憶装置に使用される磁
気デイスクと磁気ヘツドの寿命試験に係り、特に
磁気デイスクと磁気ヘツドが接触した場合の両者
の寿命を加速評価するに好適な試験装置に関する
ものである。
気デイスクと磁気ヘツドの寿命試験に係り、特に
磁気デイスクと磁気ヘツドが接触した場合の両者
の寿命を加速評価するに好適な試験装置に関する
ものである。
従来の寿命試験では、振動打撃ヘツドのガイド
アームを打撃し磁気デイスクと接触させたとき発
生する該磁気デイスク表面の損傷状況変化を目視
で観測していたので、磁気デイスクの損傷程度の
定量化ができなかつた。また人間に連続観視が必
要なので効率が悪かつた。さらに、磁気ヘツドの
寿命については試験できないという欠点があつ
た。
アームを打撃し磁気デイスクと接触させたとき発
生する該磁気デイスク表面の損傷状況変化を目視
で観測していたので、磁気デイスクの損傷程度の
定量化ができなかつた。また人間に連続観視が必
要なので効率が悪かつた。さらに、磁気ヘツドの
寿命については試験できないという欠点があつ
た。
本発明の目的は、実際の装置における摺動発生
状況に近い加速方法と自動による摺動発生検知方
法を用いた磁気デイスク磁気ヘツドの寿命試験装
置および試験方法を提供することにある。
状況に近い加速方法と自動による摺動発生検知方
法を用いた磁気デイスク磁気ヘツドの寿命試験装
置および試験方法を提供することにある。
磁気デイスク記憶装置の重要傷害の１つに磁気
デイスクと磁気ヘツドの摺動があり、耐摺動寿命
の評価が必要である。寿命評価は本来、実際の装
置で実施することが望ましいが、磁気デイスク・
ヘツドの開発には単品評価を先行する必要があ
る。そこで、加速寿命評価として、磁気ヘツドま
たは磁気デイスクを強制的に加振させ、通常の磁
気ヘツドの浮動状態を変え、磁気デイスクと接触
する方法を採つた。実際の磁気ヘツドを接触体と
し、浮動状態と接触状態を繰り返すことは、磁気
デイスクと磁気デイスクの相性の良悪評価にもな
る。また磁気デイスク寿命の検知には別の通常浮
動状態の電気特性測定用ヘツドを用いて磁気デイ
スクの電気特性変化を観測することにより定量
化、実機との対応性を増すことを計つたものであ
る。
デイスクと磁気ヘツドの摺動があり、耐摺動寿命
の評価が必要である。寿命評価は本来、実際の装
置で実施することが望ましいが、磁気デイスク・
ヘツドの開発には単品評価を先行する必要があ
る。そこで、加速寿命評価として、磁気ヘツドま
たは磁気デイスクを強制的に加振させ、通常の磁
気ヘツドの浮動状態を変え、磁気デイスクと接触
する方法を採つた。実際の磁気ヘツドを接触体と
し、浮動状態と接触状態を繰り返すことは、磁気
デイスクと磁気デイスクの相性の良悪評価にもな
る。また磁気デイスク寿命の検知には別の通常浮
動状態の電気特性測定用ヘツドを用いて磁気デイ
スクの電気特性変化を観測することにより定量
化、実機との対応性を増すことを計つたものであ
る。
以下本発明の一実施例を図面により説明する。
第１図は本発明による試験装置の構成図である。
回転体１にクランプされた磁気デイスク２は通
常、高速・低振動で回転し、その定常空気流によ
り、振動打撃ヘツド３および電気特性ヘツド４は
安定に浮動する。本試験は磁気デイスク２の高速
回転中に、振動打撃ヘツド加振機構５もしくは磁
気デイスク加振機構６により振動打撃ヘツド２も
しくは磁気デイスク２を振動させることにより振
動打撃ヘツド３と磁気デイスク２を接触させたと
きの両者の寿命を評価するものである。第２図は
試験中の磁気デイスク２の平面図である。振動打
撃ヘツド３の特性は振動打撃ヘツド走査機構７で
磁気デイスク面の基準トラツク１１へ走査し、基
準トラツク１１の電気特性を測定し電気特性処理
部８により、振動打撃ヘツド３の初期電気特性と
比較し評価する。磁気デイスク２の特性は、電気
特性ヘツド走査機構９で基準トラツク１１から接
触エリア１２へ走査し、磁気デイスク２の接触エ
リア１２の電気特性を測定し、電気特性処理部８
により磁気デイスク２の初期電気特性と比較し評
価する。試験装置シユラウド内はブロワーフイル
ター１０により清浄度が保たれている。
第１図は本発明による試験装置の構成図である。
回転体１にクランプされた磁気デイスク２は通
常、高速・低振動で回転し、その定常空気流によ
り、振動打撃ヘツド３および電気特性ヘツド４は
安定に浮動する。本試験は磁気デイスク２の高速
回転中に、振動打撃ヘツド加振機構５もしくは磁
気デイスク加振機構６により振動打撃ヘツド２も
しくは磁気デイスク２を振動させることにより振
動打撃ヘツド３と磁気デイスク２を接触させたと
きの両者の寿命を評価するものである。第２図は
試験中の磁気デイスク２の平面図である。振動打
撃ヘツド３の特性は振動打撃ヘツド走査機構７で
磁気デイスク面の基準トラツク１１へ走査し、基
準トラツク１１の電気特性を測定し電気特性処理
部８により、振動打撃ヘツド３の初期電気特性と
比較し評価する。磁気デイスク２の特性は、電気
特性ヘツド走査機構９で基準トラツク１１から接
触エリア１２へ走査し、磁気デイスク２の接触エ
リア１２の電気特性を測定し、電気特性処理部８
により磁気デイスク２の初期電気特性と比較し評
価する。試験装置シユラウド内はブロワーフイル
ター１０により清浄度が保たれている。
次に第３図により本発明の試験手段の一例を示
す。(1)は磁気デイスクの寿命試験の場合である。
試験条件は試験時間、ヘツド振動の安定性等から
振動打撃ヘツドの加振条件を、また磁気デイスク
電気特性ヘツドの飽和特性から電気特性測定条件
を、さらに電気特性劣化（出力・分解能・エラー
数の変化）に対するしきい値条件（寿命限界）を
設定する。
す。(1)は磁気デイスクの寿命試験の場合である。
試験条件は試験時間、ヘツド振動の安定性等から
振動打撃ヘツドの加振条件を、また磁気デイスク
電気特性ヘツドの飽和特性から電気特性測定条件
を、さらに電気特性劣化（出力・分解能・エラー
数の変化）に対するしきい値条件（寿命限界）を
設定する。
次に、磁気デイスクの接触エリアの初期状態を
電気特性ヘツドにより測定する。この初期値は試
験中の観測結果と比較される。
電気特性ヘツドにより測定する。この初期値は試
験中の観測結果と比較される。
振動打撃ヘツドを接触エリアに設置し試験を開
始する。まず、磁気デイスクが回転し、電気特性
ヘツドは基準トラツクへ退避後、振動打撃ヘツド
を加振させ、磁気デイスクとの接触状態が継続さ
れる。
始する。まず、磁気デイスクが回転し、電気特性
ヘツドは基準トラツクへ退避後、振動打撃ヘツド
を加振させ、磁気デイスクとの接触状態が継続さ
れる。
試験中の観測はタイマーにより自動的に一定時
間毎に行なわれる。その際、振動打撃ヘツドの加
振は停止し、基準トラツク上で浮動していた電気
特性ヘツドが走査し、接触エリアの電気特性を測
定する。磁気デイスクの特性の変化を観測するの
である。観測の結果、磁気デイスクの特性劣化が
寿命限界を越えれば、試験を自動停止する。寿命
限界を越えなければ、電気特性ヘツドは再び基準
トラツクへ退避し、振動打撃ヘツドを加振し、試
験を継続する。
間毎に行なわれる。その際、振動打撃ヘツドの加
振は停止し、基準トラツク上で浮動していた電気
特性ヘツドが走査し、接触エリアの電気特性を測
定する。磁気デイスクの特性の変化を観測するの
である。観測の結果、磁気デイスクの特性劣化が
寿命限界を越えれば、試験を自動停止する。寿命
限界を越えなければ、電気特性ヘツドは再び基準
トラツクへ退避し、振動打撃ヘツドを加振し、試
験を継続する。
(2)の磁気ヘツドの寿命試験の場合は、振動打撃
ヘツドのみを使用し、また加振は磁気デイスク、
振動打撃ヘツドのいずれか一方、もしくは両方と
なる。振動打撃ヘツドの電気特性は基準トラツク
により初期化され、以下は(1)と同様である。
ヘツドのみを使用し、また加振は磁気デイスク、
振動打撃ヘツドのいずれか一方、もしくは両方と
なる。振動打撃ヘツドの電気特性は基準トラツク
により初期化され、以下は(1)と同様である。
本実施例によれば、磁気デイスクおよび磁気ヘ
ツドの加振による接触による寿命試験が自動的に
可能となる。
ツドの加振による接触による寿命試験が自動的に
可能となる。
本発明によれば、磁気デイスクおよび磁気ヘツ
ドの寿命試験を、定量的かつ自動的に実施できる
ので、磁気デイスクおよび磁気ヘツドの単品での
寿命を、正確かつ効率的に把握できる効果があ
る。
ドの寿命試験を、定量的かつ自動的に実施できる
ので、磁気デイスクおよび磁気ヘツドの単品での
寿命を、正確かつ効率的に把握できる効果があ
る。
第１図は試験装置の構成図、第２図は第１図の
磁気デイスクの平面図、第３図は試験方法のフロ
ーチヤート図である。 １…回転体、２…磁気デイスク、３…振動打撃
ヘツド、４…電気特性ヘツド、５…振動打撃ヘツ
ド加振機構、６…磁気デイスク加振機構、７…振
動打撃ヘツド走査機構、８…電気特性処理部、９
…電気特性ヘツド走査機構、１０…ブロワーフイ
ルター、１１…基準トラツク、１２…接触エリ
ア。
磁気デイスクの平面図、第３図は試験方法のフロ
ーチヤート図である。 １…回転体、２…磁気デイスク、３…振動打撃
ヘツド、４…電気特性ヘツド、５…振動打撃ヘツ
ド加振機構、６…磁気デイスク加振機構、７…振
動打撃ヘツド走査機構、８…電気特性処理部、９
…電気特性ヘツド走査機構、１０…ブロワーフイ
ルター、１１…基準トラツク、１２…接触エリ
ア。
Claims (1)
- １ 磁気デイスクとその回転機構、磁気ヘツドと
その走査機構およびそれぞれの加振装置から成る
寿命試験装置において、磁気デイスクと磁気ヘツ
ドを接触させる振動打撃ヘツドと、接触傷・接触
痕の発生および進行状況を自動的に検知する電気
特性測定ヘツドを設けたことを特徴とする磁気デ
イスクと磁気ヘツドの寿命試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2147483A JPS59148117A (ja) | 1983-02-14 | 1983-02-14 | 磁気デイスクと磁気ヘツドの寿命試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2147483A JPS59148117A (ja) | 1983-02-14 | 1983-02-14 | 磁気デイスクと磁気ヘツドの寿命試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59148117A JPS59148117A (ja) | 1984-08-24 |
| JPS6339973B2 true JPS6339973B2 (ja) | 1988-08-09 |
Family
ID=12055966
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2147483A Granted JPS59148117A (ja) | 1983-02-14 | 1983-02-14 | 磁気デイスクと磁気ヘツドの寿命試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59148117A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62103581A (ja) * | 1985-10-31 | 1987-05-14 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | 記録媒体試験装置 |
-
1983
- 1983-02-14 JP JP2147483A patent/JPS59148117A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59148117A (ja) | 1984-08-24 |
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