JPH0367149A - 磁気ディスクの耐久性評価方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概　要） 磁気ディスク装置に用いられる磁気ディスクの耐久性を
評価する方法に関し、 従来の試験方法では明確になっていなかったヘッドスラ
イダの振動モードを予め調べ、該振動モードを利用して
、磁気ディスクの耐久性を適切に、かつ短時間で評価す
ることを目的とし、回転中の磁気ディスク上に圧電素子
を付設した耐久性評価用のヘッドスライダ、若しくは圧
電材料により形成した耐久性評価用のへソドスライダを
浮上させた状態で、該圧電素子、若しくは圧電ヘッドス
ライダに所定周波数の交流電圧を印加することにより該
ヘッドスライダを強制的に振動させて磁気ディスク面に
接触させ、その接触によってディスク面に傷が発生する
までのスライダ直下を通過するディスク通過回数を計数
し、該磁気ディスクの耐久性を判定するように構成する
。

〔産業上の利用分野〕

本発明は磁気ディスク装置に用いられる磁気ディスクの
耐久性を評価する方法に関するものである。

近年、磁気ディスク装置においては、高密度化、大容量
化に伴って磁気ヘッドスライダの浮上量は益々減少し、
Ｅｔｌ気へラドスライダの磁気ディスク面に接触する確
率も大きくなり、摩擦摩耗の増加や、最悪の場合にはへ
ソドクラッシュが発生し易くなる。このため、耐久性に
優れた磁気ディスクが要求されると共に、磁気ディスク
の耐久性を効率良く正確に把握できる評価方法が必要と
されている。

〔従来の技術〕

従来の磁気ディスクの耐久性を評価する方法としてＣＳ
　Ｓ　（Ｃｏｎｔａｃｔ　５ｔａｒｔ　５ｔｏｐ）動作
試験、シーク（Ｓｅｅｋ）動作試験、或いは低速摺動試
験等が用いられている。

例えば比較的実用に即した方法の一例としてＣＳＳ動作
試験により磁気ディスクの耐久性を評価する方法として
は、停止した状態の評価すべき磁気ディスク面にヘッド
スライダを接触配置し、その磁気ディスクを回転させて
定常の速度回転にし、その定常速度回転を一定時間維持
した後、該磁気ディスクの回転を停止させる、所謂磁気
ディスク面に対してヘッドスライダを、静止接触−摺動
一浮上一摺動一接触静止等の一連のＣＳＳ動作を繰り返
してディスク面に傷が発生するまでの繰り返し回数によ
りディスク面の機械的な耐久性を評価している。

〔発明が解決しようとする課題〕

ところで上記したようなＣ３Ｓ動作試験による従来の磁
気ディスクの耐久性評価方法では　例えば磁気ディスク
の一時停止時間が５秒間、回転開始から定常速度回転ま
でが１０秒間、該定常速度回転の維持時間が５秒間、該
定常速度回転から回転停止までが１０秒間とし、この一
連の動作を１サイクルとした場合に３０秒間かかる。

従って、このようなサイクルを１０万回繰り返したＣＳ
Ｓ動作試験を行うと略８３４時間を費やすことになり、
評価結果が出るまでにかなりの長時間を必要とする欠点
があった。このため、磁気ディスクの耐久性の評価、或
いは耐久性を効率よく向上させることは容易でなかった
。

しかも、前記ＣＳＳ動作試験では、磁気ディスクが損傷
するに至るまで、或いは、ある一定のＣ３Ｓ動作サイク
ル回数を無傷でクリアしたことのみにより耐久性を評価
しており、浮上したヘッドスライダのどのような振動モ
ードの時に、磁気ディスクがクラッシュし易いかといっ
た点を含めた耐久性については考慮されていないので、
適切な耐久性の評価方法としては不十分であった。

また、このＣ８Ｓ動作試験とは異なるシーク動作試験、
或いは低速摺動試験等についても単純な摺動動作の繰り
返しであり、同様な問題点を有している。

本発明は上記した従来の問題点に鑑み、従来の試験方法
では明確になっていなかったヘッドスライダの振動モー
ドを予め調べ、該振動モードを利用して、磁気ディスク
の耐久性を適切に、かつ短時間で評価することを可能と
する新規な磁気ディスクの耐久性評価方法を提供するこ
とを目的とするものである。

〔課題を解決するための手段〕

本発明は上記した目的を達成するため、回転中の磁気デ
ィスク上に圧電素子をイ」設した耐久性評価用のヘッド
スライダ、若しくは圧電材料により形成した耐久性評価
用のヘッドスライダを浮上させた状態で、該圧電素子、
若しくは圧電へラドスライダに所定周波数の交流電圧を
印加することにより該ヘッドスライダを強制的に振動さ
せて磁気ディスク面に接触させ、その接触によってディ
スク面に傷が発生するまでのスライダ直下を通過するデ
ィスク通過回数を計数し、該磁気ディスクの耐久性を判
定するように構成する。

〔作　用〕

本発明の耐久性評価方法では、実用型の磁気へラドスラ
イダの振動モード特性を予め測定し、その測定結果より
磁気ディスク上に浮上させた耐久性評価用ヘッドスライ
ダに付設した圧電素子、または圧電材料により形成した
耐久性評価用ヘッドスライダに印加する交流電圧の周波
数を、例えば磁気ディスク面に接触及び衝突し易いピッ
チング、或いはローリング等が発生する振動モードの周
波数に制御して該振動モードで前記耐久性評価用へラド
スライダを振動させて、前記磁気ディスク面に傷が発生
するまでのスライダ直下を通過するディスク通過回数を
計数する。この場合、高速回転中の磁気ディスク面に前
記振動モードで振動する耐久性評価用ヘッドスライダが
頻繁に接触され、かつ接触した際のディスク面が受ける
衝撃が大きいため、従来のＣＳＳ動作試験よりも該磁気
ディスクの耐久性を加速的に短時間で判定することがで
き、しかも実用に即して適切に評価することが可能とな
る。

〔実施例〕

以下図面を用いて本発明の実施例について詳細に説明す
る。

第１図は本発明に係る磁気ディスクの耐久性評価方法を
説明するための一実施例を示す概略構成図である。

図において、１１は評価すべき磁気ディスクであり、図
示しない磁気ディスク試験装置の回転機構部に装着して
高速に回転し、かかる磁気ディスクｌｌ上に駆動電源１
６と電気的に接続した圧電素子１３が付設された耐久性
評価用ヘッドスライダ１２がスライダ支持部１４に支持
ばね１５を介して支持され、かつ一定のバネ圧により押
圧されて所定間隙をもって浮上配置する。

そして浮上状態の耐久性評価用へラドスライダ１２に付
設された圧電素子１３に、予め実用型の磁気ヘッドスラ
イダの振動モード特性を測定した、例えば磁気ディスク
面に接触及び衝突し易いピッチング、或いはローリング
等が発生する振動モードとなる周波数の交流電圧を駆動
電源１６より印加して、該評価用へラドスライダ１２を
振動させ、この状態で前記磁気ディスク１１に傷が発生
するまでの時間を測定する。傷発生は目視により観察す
ることができ、拡大光学系と組合わせたモニタＴＶを用
いて画面表示により容易に観察することができる。

本実施例では高速回転中の評価すべき磁気ディスク１１
面に前記振動モードで振動する耐久性評価用ヘッドスラ
イダ１２が頻繁に接触するようになり、しかも接触時に
ディスク面が受ける衝撃も大きいので、従来のＣＳＳ動
作試験よりも該磁気ディスク１１の耐久性を加速的に短
時間で測定することができる。

その後、測定した傷発生までの時間に該磁気ディスク１
１の回転速度（ｒｐｍ）を乗じて、該評価用へラドスラ
イダ１２の浮上直下を通過した磁気ディスク１１の通過
回数を算出することによって、該磁気ディスク１１の耐
久性の優劣が従来よりも著しく短縮されて判定でき、し
かも効率よく適切に評価することが可能となる。

更に第２図は本発明に係る磁気ディスクの耐久性評価方
法を説明するための他の実施例を示す概略構成図であり
、第１図と同等部分には同一符号を付している。

この図で示す実施例が第１図の例と異なる点は、耐久性
を評価すべき磁気ディスク１１上に圧電材料により圧電
機能的に形成した耐久性評価用へラドスライダ２１を浮
上配置し、該評価用へノドスライダ２１自体に第１図に
よる実施例と同様に磁気ディスク面に接触及び衝突し易
いピッチング、或いはローリング等が発生する振動モー
ドの周波数の交流電圧を印加して振動させ、該磁気ディ
スク１１の耐久性を判定するようにしたことである。こ
の実施例の方法によっても前記第１図による実施例と同
様の目的を達成することができる。

なお、以上の実施例で説明した耐久性評価用のヘッドス
ライダ１２に付設した圧電素子１３、若しくは圧電材料
により形成した耐久性評価用のヘッドスライダ２１に種
々の周波数の交流電圧を印加することにより、これらヘ
ッドスライダを様々な振動モードで振動させることがで
きるので、実用上の磁気ディスクの振動モード特性を更
に充分に解析し、これらの解析に基づいて得られた種々
の振動モードで振動させた耐久性評価用ヘッドスライダ
により磁気ディスクの耐久性を判定することも可能とな
る。

〔発明の効果〕

以上の説明から明らかなように、本発明に係る磁気ディ
スクの耐久性評価方法によれば、Ｃ３Ｓ動作試験では実
現できない耐久性評価用ヘッドスライダの振動モードに
よって加速的に磁気ディスクの耐久性を短時間で適切に
評価することが可能となる優れた利点を有し、磁気ディ
スクの耐久性の向上に寄与するところが頗る大きい。ま
た磁気ディスクの品質保証試験にも利用して極めて有利
である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る磁気ディスクの耐久性評価方法を
説明するための一実施例を示 す概略構成図、 第２図は本発明に係る磁気ディスクの耐久性評価方法を
説明するための他の実施例を 示す概略構成図である。 第１図及び第２図において、 １１は磁気ディスク、１２．２１はは耐久性評価用ヘッ
ドスライダ、１３は圧電素子、１４はスライダ支持部、
１５は支持ばね、Ｉ６は駆動電源をそれぞれ示す。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）回転中の磁気ディスク（１１）上に圧電素子（１
   ３）を付設した耐久性評価用のヘッドスライダ（１２）
   を浮上させた状態で、該圧電素子（１３）に所定周波数
   の交流電圧を印加することにより該ヘッドスライダ（１
   ２）を強制的に振動させて磁気ディスク（１１）面に接
   触させ、その接触によってディスク面に傷が発生するま
   でのスライダ直下を通過するディスク通過回数を計数し
   、該磁気ディスク（１１）の耐久性を判定することを特
   徴とする磁気ディスクの耐久性評価方法。
2. （２）回転中の磁気ディスク（１１）上に圧電材料によ
   り形成した耐久性評価用のヘッドスライダ（２１）を浮
   上させた状態で、該ヘッドスライダ（２１）に所定周波
   数の交流電圧を印加して該スライダを強制的に振動させ
   て磁気ディスク（１１）面に接触させ、その接触によっ
   てディスク面に傷が発生するまでのスライダ直下を通過
   するディスク通過回数を計数し、該磁気ディスク（１１
   ）の耐久性を判定することを特徴とする磁気ディスクの
   耐久性評価方法。