JP2644262B2 - 浮動特性評価方法 - Google Patents
浮動特性評価方法Info
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- JP2644262B2 JP2644262B2 JP63061952A JP6195288A JP2644262B2 JP 2644262 B2 JP2644262 B2 JP 2644262B2 JP 63061952 A JP63061952 A JP 63061952A JP 6195288 A JP6195288 A JP 6195288A JP 2644262 B2 JP2644262 B2 JP 2644262B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、磁気ディスク装置における磁気ヘッドの浮
動特性評価方法に係り、特に磁気ディスク表面精度，回
転駆動体の回転精度，磁気ヘッド形状等に起因する磁気
ヘッドの浮動特性の評価を行うことができる浮動特性評
価方法に関する。
動特性評価方法に係り、特に磁気ディスク表面精度，回
転駆動体の回転精度，磁気ヘッド形状等に起因する磁気
ヘッドの浮動特性の評価を行うことができる浮動特性評
価方法に関する。
近年の磁気ディスクは、装置実装時に磁気ディスクと
浮動磁気ヘッドが衝突する所謂ヘッドクラッシュが発生
するのを防止するため、製造過程において磁気ディスク
表面の突起を除去するバニッシュ加工、このバニッシュ
加工した磁気ディスクの微小突起を検出する突起評価、
ディスク上におけるヘッドクラッシュが発生する位置の
検出が行われている。
浮動磁気ヘッドが衝突する所謂ヘッドクラッシュが発生
するのを防止するため、製造過程において磁気ディスク
表面の突起を除去するバニッシュ加工、このバニッシュ
加工した磁気ディスクの微小突起を検出する突起評価、
ディスク上におけるヘッドクラッシュが発生する位置の
検出が行われている。
尚、前記バニッシュ加工技術、突起評価技術、クラッ
シュ位置検出技術は、特開昭54−80728号公報、特開昭5
5−28526号公報、特開昭61−14565号公報等に記載され
ている。
シュ位置検出技術は、特開昭54−80728号公報、特開昭5
5−28526号公報、特開昭61−14565号公報等に記載され
ている。
一般に磁気ディスク記憶装置は、磁気ディスクと磁気
ヘッドとのコンタクト・スタート・ストップ（以下、CS
Sと呼ぶ）時に発生する摺動時間（ディスク及びヘッド
がヘッドの浮上／着陸時に擦られる時間）が長い場合、
前記ヘッドクラッシュ頻度が多くなるものであるが、前
記従来技術は、磁気ディスクと磁気ヘッドとの摺動を開
始する浮上量を検出することができないため、このヘッ
ドクラッシュの原因となる浮動特性を評価できないと言
う問題点を招いていた。尚、一般的概念からすれば前記
摺動（接触）と浮上とは同時に発生しないものである
が、近年の磁気ディスク装置におけるヘッド浮上量は0.
2μオーダーの極めて微小なものであるため、ディスク
及びヘッドの表面粗さ、浮上量の微小変動等により、浮
上と摺動の判定は困難である。
ヘッドとのコンタクト・スタート・ストップ（以下、CS
Sと呼ぶ）時に発生する摺動時間（ディスク及びヘッド
がヘッドの浮上／着陸時に擦られる時間）が長い場合、
前記ヘッドクラッシュ頻度が多くなるものであるが、前
記従来技術は、磁気ディスクと磁気ヘッドとの摺動を開
始する浮上量を検出することができないため、このヘッ
ドクラッシュの原因となる浮動特性を評価できないと言
う問題点を招いていた。尚、一般的概念からすれば前記
摺動（接触）と浮上とは同時に発生しないものである
が、近年の磁気ディスク装置におけるヘッド浮上量は0.
2μオーダーの極めて微小なものであるため、ディスク
及びヘッドの表面粗さ、浮上量の微小変動等により、浮
上と摺動の判定は困難である。
また前記ヘッドクラッシュは、ディスクの表面精度、
磁気ディスクを回転駆動する回転体の回転精度、浮動ヘ
ッド自体の浮動特性等に起因するものであり、従来技術
はこれらディスク、回転系、浮動ヘッドのヘッドクラッ
シュに与える個々の影響を評価することができないと言
う問題点を含んでいた。
磁気ディスクを回転駆動する回転体の回転精度、浮動ヘ
ッド自体の浮動特性等に起因するものであり、従来技術
はこれらディスク、回転系、浮動ヘッドのヘッドクラッ
シュに与える個々の影響を評価することができないと言
う問題点を含んでいた。
本発明の目的は、前記従来技術による問題点を除去す
ることであり、磁気ディスクと磁気ヘッドとの摺動限界
の浮上量を評価することにより、ディスク表面形状、回
転体の回転精度、ヘッド自体の浮動特性等を評価するこ
とができる浮動特性評価方法を提供することである。
ることであり、磁気ディスクと磁気ヘッドとの摺動限界
の浮上量を評価することにより、ディスク表面形状、回
転体の回転精度、ヘッド自体の浮動特性等を評価するこ
とができる浮動特性評価方法を提供することである。
前記目的を達成するために本発明は、超音波検出素子
を搭載した浮動ヘッドをディスクの所定トラック上に配
置してコンタクト・スタート・ストップを行い、前記超
音波検出素子が浮動ヘッドとディスクとの接触によって
発生する超音波を検出することにより該ヘッドの浮上特
性を評価する浮動特性評価方法において、 前記ディスクを所定回転数で回転して浮動ヘッドを浮上
させた状態から該ディスクの回転数を徐々に低下して浮
動ヘッドを降下させ、前記ディスクの少なくとも一回転
内の超音波検出素子の出力信号を平均化し、この平均出
力が超音波検出素子出力の最小値を所定したしきい値以
上になったときに摺動したと判定することを特徴とす
る。
を搭載した浮動ヘッドをディスクの所定トラック上に配
置してコンタクト・スタート・ストップを行い、前記超
音波検出素子が浮動ヘッドとディスクとの接触によって
発生する超音波を検出することにより該ヘッドの浮上特
性を評価する浮動特性評価方法において、 前記ディスクを所定回転数で回転して浮動ヘッドを浮上
させた状態から該ディスクの回転数を徐々に低下して浮
動ヘッドを降下させ、前記ディスクの少なくとも一回転
内の超音波検出素子の出力信号を平均化し、この平均出
力が超音波検出素子出力の最小値を所定したしきい値以
上になったときに摺動したと判定することを特徴とす
る。
前記ディスクの回転数を徐々に低下して浮動ヘッドを
下降させながら、ディスクの少なくとも一回転内におけ
る超音波検出素子出力の平均値を演算することにより、
ディスクのトラック全周におけるヘッドとディスクの接
触頻度を検出し、該平均値が設定値以上になった場合、
即ち接触頻度が多くなった場合、浮動ヘッドとディスク
が摺動していると判定する。
下降させながら、ディスクの少なくとも一回転内におけ
る超音波検出素子出力の平均値を演算することにより、
ディスクのトラック全周におけるヘッドとディスクの接
触頻度を検出し、該平均値が設定値以上になった場合、
即ち接触頻度が多くなった場合、浮動ヘッドとディスク
が摺動していると判定する。
この摺動開始時点を検出することによって、ディスク
表面形状による浮上特性の評価、回転系の回転精度によ
る浮上特性の評価、ヘッド自身の特性による浮上特性の
評価を行うことができる。
表面形状による浮上特性の評価、回転系の回転精度によ
る浮上特性の評価、ヘッド自身の特性による浮上特性の
評価を行うことができる。
以下、本発明による浮動特性の評価方法の一実施例を
図面を用いて詳細に説明する。
図面を用いて詳細に説明する。
第１図は、本発明による評価方法を利用した磁気ディ
スク評価回路の一実施例を説明するための図であり、第
２図は、第１図に示した評価回路によるトラック平均出
力とディスクの回転数の関係を示す図であり、第３図
は、予め求められているヘッド浮上量とディスクの周速
との関係を示す図である。
スク評価回路の一実施例を説明するための図であり、第
２図は、第１図に示した評価回路によるトラック平均出
力とディスクの回転数の関係を示す図であり、第３図
は、予め求められているヘッド浮上量とディスクの周速
との関係を示す図である。
まず、本実施例による評価回路が適用される試験装置
は、磁気ディスクの回転速度低下によりテストヘッドが
摺動を開始するヘッド浮上量を検出するものであって、
超音波検出素子を搭載したテストヘッドを被試験物であ
る磁気ディスク上に配置し、該磁気ディスクを定常回転
から停止させることによりヘッドのコンタクト・ストッ
プを行ない、超音波検出素子による摺動検出時のディス
ク周速に基づいてヘッド浮上量を検出するものである。
第１図に示す評価回路は、該テストヘッドの超音波検出
素子による出力、ディスクの回転数及び後述する基準浮
上特性データを基に、前記接触時のヘッド浮上量を検出
する回路である。尚、図中、テストヘッド、被試験磁気
ディスク、該磁気ディスクの回転系等の機構部分は、周
知であるため省略して説明する。
は、磁気ディスクの回転速度低下によりテストヘッドが
摺動を開始するヘッド浮上量を検出するものであって、
超音波検出素子を搭載したテストヘッドを被試験物であ
る磁気ディスク上に配置し、該磁気ディスクを定常回転
から停止させることによりヘッドのコンタクト・ストッ
プを行ない、超音波検出素子による摺動検出時のディス
ク周速に基づいてヘッド浮上量を検出するものである。
第１図に示す評価回路は、該テストヘッドの超音波検出
素子による出力、ディスクの回転数及び後述する基準浮
上特性データを基に、前記接触時のヘッド浮上量を検出
する回路である。尚、図中、テストヘッド、被試験磁気
ディスク、該磁気ディスクの回転系等の機構部分は、周
知であるため省略して説明する。
さて、第１図に示す評価回路は、前記テストヘッドの
超音波検出素子の出力信号S0を入力として増幅する増幅
器１と、該増幅器１により増幅した信号S1及びディスク
の回転数信号R0を基にディスク一回転当りのトラック平
均出力信号a1（全トラックにおける信号S1の平均値）を
算出する平均電圧演算回路２と、該平均出力信号a1及び
回転数信号R0を基に、回転数信号R0が規定値以上におけ
るトラック平均出力信号a1の最小値信号amin（ディスク
回転停止直前の値を除いたトラック平均出力信号の最小
値）を検出する最小値検出器３と、該最小値信号aminを
所定の倍率で増加させたしきい値信号aSLを出力する倍
率設定器と、該倍率設定器４のしきい値信号aSLと前記
トラック平均出力信号a1を入力とし、これら信号aSL及
びa1を比較して一致したとき、即ち接触によりトラック
平均出力信号a1がしきい値信号aSLを越えたときの回転
数R1を出力する比較器５と、該回転数R1とディスク上の
ヘッド半径位置ｒによりディスクの周速V1を出力する周
速変換器６と、周速V1を予め測定された浮上特性データ
に基づいてヘッドの浮上量h1を出力する浮上量変換器７
とを備えている。前記倍率設定器４は、最小値信号amin
を所定の倍率で増加させることにより、測定系のノイズ
等によるトラック平均出力信号a1が変動して実際の接触
開始の誤検出を防止しており、本実施例において倍率
は、1.03〜10.00倍に設定されている。また、前記浮上
特性データは、第３図に示す如く、例えばガラスディス
クとテストヘッドを用いて周速とヘッド浮上量の関係
を、予め実験によって求めた特性データであり、このデ
ータを基に浮上量変換器７が周速V1におけるヘッド浮上
量を出力する。
超音波検出素子の出力信号S0を入力として増幅する増幅
器１と、該増幅器１により増幅した信号S1及びディスク
の回転数信号R0を基にディスク一回転当りのトラック平
均出力信号a1（全トラックにおける信号S1の平均値）を
算出する平均電圧演算回路２と、該平均出力信号a1及び
回転数信号R0を基に、回転数信号R0が規定値以上におけ
るトラック平均出力信号a1の最小値信号amin（ディスク
回転停止直前の値を除いたトラック平均出力信号の最小
値）を検出する最小値検出器３と、該最小値信号aminを
所定の倍率で増加させたしきい値信号aSLを出力する倍
率設定器と、該倍率設定器４のしきい値信号aSLと前記
トラック平均出力信号a1を入力とし、これら信号aSL及
びa1を比較して一致したとき、即ち接触によりトラック
平均出力信号a1がしきい値信号aSLを越えたときの回転
数R1を出力する比較器５と、該回転数R1とディスク上の
ヘッド半径位置ｒによりディスクの周速V1を出力する周
速変換器６と、周速V1を予め測定された浮上特性データ
に基づいてヘッドの浮上量h1を出力する浮上量変換器７
とを備えている。前記倍率設定器４は、最小値信号amin
を所定の倍率で増加させることにより、測定系のノイズ
等によるトラック平均出力信号a1が変動して実際の接触
開始の誤検出を防止しており、本実施例において倍率
は、1.03〜10.00倍に設定されている。また、前記浮上
特性データは、第３図に示す如く、例えばガラスディス
クとテストヘッドを用いて周速とヘッド浮上量の関係
を、予め実験によって求めた特性データであり、このデ
ータを基に浮上量変換器７が周速V1におけるヘッド浮上
量を出力する。
さて、この様に構成された試験装置は、まずテストヘ
ッドをあるトラックに乗せた被試験ディスクを回転駆動
体により実装置記録再生時の定常回転数（3600r.p.m）
で回転させる。このときテストヘッドの超音波検出素子
は、ヘッドが高浮上状態でディスクと殆ど接触しないた
め、この出力信号S0を増幅器１により増幅した信号S
1は、第４図（ａ）に示すようなほぼ平坦な信号とな
る。この信号S1を入力した平均電圧演算回路２は、信号
S1及びディスクの回転数信号R0を基にディスクー回転当
りのトラック平均出力a1を算出して比較器５に送信す
る。これと同時に最小値検出回路３は、前記トラック平
均出力a1及び回転数信号R0を入力として、ディスク一回
転当りのトラック平均出力a1の最小値を示す最小値信号
aminを倍率設定器４に出力し、該設定器４は信号aminを
所定倍率で増幅したしきい値信号aSLを比較器５に送信
する。
ッドをあるトラックに乗せた被試験ディスクを回転駆動
体により実装置記録再生時の定常回転数（3600r.p.m）
で回転させる。このときテストヘッドの超音波検出素子
は、ヘッドが高浮上状態でディスクと殆ど接触しないた
め、この出力信号S0を増幅器１により増幅した信号S
1は、第４図（ａ）に示すようなほぼ平坦な信号とな
る。この信号S1を入力した平均電圧演算回路２は、信号
S1及びディスクの回転数信号R0を基にディスクー回転当
りのトラック平均出力a1を算出して比較器５に送信す
る。これと同時に最小値検出回路３は、前記トラック平
均出力a1及び回転数信号R0を入力として、ディスク一回
転当りのトラック平均出力a1の最小値を示す最小値信号
aminを倍率設定器４に出力し、該設定器４は信号aminを
所定倍率で増幅したしきい値信号aSLを比較器５に送信
する。
前記ディスクの回転数を徐々に低下して該比較器５が
トラック平均出力a1及びしきい値信号aSLの一致を検出
した場合、即ち接触によりトラック平均出力a1がしきい
値信号aSLを越えた場合、比較器５はその時の回転数R1
を出力し、周速変換器６が該回転数R1とヘッド半径位置
ｒによりディスクの周速V1を出力する。この周速V1を入
力とする浮上量変換器７は、前記浮上特性データを基に
ヘッドの浮上量h1を出力する。
トラック平均出力a1及びしきい値信号aSLの一致を検出
した場合、即ち接触によりトラック平均出力a1がしきい
値信号aSLを越えた場合、比較器５はその時の回転数R1
を出力し、周速変換器６が該回転数R1とヘッド半径位置
ｒによりディスクの周速V1を出力する。この周速V1を入
力とする浮上量変換器７は、前記浮上特性データを基に
ヘッドの浮上量h1を出力する。
これを第２図を参照して説明すると、ディスク回転数
3600r.p.mから徐々に低下させた場合、定常回転数近傍
では、ディスク上の突起等との接触により第４図（ａ）
に示す超音波検出素子の出力信号S1が一箇所で変動して
も（通常は別方法の浮上試験により、接触のあるディス
クは除かれる）、出力信号S1が平均電圧演算回路２によ
って平均化されるため、トラック平均出力a1がしきい値
信号aSLを下回った状態で推移する。従ってこの状態、
即ちヘッドがディスクとあまり接触しない状態では、比
較器５からの出力は阻止されている。次いで、回転数が
低下して摺動が開始した場合、接触が頻繁に発生するこ
とにより、第４図（ｂ）に示すように出力信号S1が複数
箇所で変動し、前記出力a1がしきい値信号aSLと等しく
（aSL＝a1）なり、比較器５からその回転数R1が出力さ
れる。この時点（第２図中、点Ｂで示す）の回転数R1と
ディスク上のヘッド半径位置ｒにより周速変換器６は、
ディスクの周速V1を出力し、浮上量変換器７が前記浮上
量データを参照して周速V1における浮上量h1を出力す
る。この摺動開始浮上量h1の検出は、ディスク上及びヘ
ッドに付着する塵埃を除去するため、同一トラック上で
複数回行なうのが望ましい。これにより正確な浮上量を
検出して精度を向上することができる。
3600r.p.mから徐々に低下させた場合、定常回転数近傍
では、ディスク上の突起等との接触により第４図（ａ）
に示す超音波検出素子の出力信号S1が一箇所で変動して
も（通常は別方法の浮上試験により、接触のあるディス
クは除かれる）、出力信号S1が平均電圧演算回路２によ
って平均化されるため、トラック平均出力a1がしきい値
信号aSLを下回った状態で推移する。従ってこの状態、
即ちヘッドがディスクとあまり接触しない状態では、比
較器５からの出力は阻止されている。次いで、回転数が
低下して摺動が開始した場合、接触が頻繁に発生するこ
とにより、第４図（ｂ）に示すように出力信号S1が複数
箇所で変動し、前記出力a1がしきい値信号aSLと等しく
（aSL＝a1）なり、比較器５からその回転数R1が出力さ
れる。この時点（第２図中、点Ｂで示す）の回転数R1と
ディスク上のヘッド半径位置ｒにより周速変換器６は、
ディスクの周速V1を出力し、浮上量変換器７が前記浮上
量データを参照して周速V1における浮上量h1を出力す
る。この摺動開始浮上量h1の検出は、ディスク上及びヘ
ッドに付着する塵埃を除去するため、同一トラック上で
複数回行なうのが望ましい。これにより正確な浮上量を
検出して精度を向上することができる。
本評価回路で検出された摺動を開始するヘッド浮上量
h1の上限及び下限を仕様値として被試験ディスクの浮上
特性を評価する。このヘッド浮上量の上限を設定するの
は、ヘッドが比較的浮上量が大きいときから摺動を開始
すると、摺動時間が長くなってヘッドクラッシュの原因
になるためであり、ヘッド浮上量の下限を設定するの
は、ヘッドが極めて微小な浮上量で摺動を開始するディ
スクは必要以上に表面が平滑なディスクであり、ヘッド
とディスクとの粘着特性、耐摺動性等に悪影響をあたえ
るためである。尚、前記粘着特性とは、ディスクが必要
以上に平滑であると、CSS型の装置停止時にヘッドとデ
ィスクが潤滑剤及び水分等により粘着するため、この粘
着度の限界を示す特性であり、前記耐摺動特性とは、デ
ィスクとヘッドが摺動したときの強度限界を示す特性の
ことである。
h1の上限及び下限を仕様値として被試験ディスクの浮上
特性を評価する。このヘッド浮上量の上限を設定するの
は、ヘッドが比較的浮上量が大きいときから摺動を開始
すると、摺動時間が長くなってヘッドクラッシュの原因
になるためであり、ヘッド浮上量の下限を設定するの
は、ヘッドが極めて微小な浮上量で摺動を開始するディ
スクは必要以上に表面が平滑なディスクであり、ヘッド
とディスクとの粘着特性、耐摺動性等に悪影響をあたえ
るためである。尚、前記粘着特性とは、ディスクが必要
以上に平滑であると、CSS型の装置停止時にヘッドとデ
ィスクが潤滑剤及び水分等により粘着するため、この粘
着度の限界を示す特性であり、前記耐摺動特性とは、デ
ィスクとヘッドが摺動したときの強度限界を示す特性の
ことである。
この様に本実施例によれば、同一のテストヘッド、デ
ィスク回転駆動体を用いて、磁気ディスクの特性を評価
することができるものであるが、本発明は、これに限ら
れるものではなく、同一のテストヘッド及びテストディ
スクを用いて、ディスクの回転駆動体、即ちスピンドル
モータ、スピンドル軸受、スピンドル等の回転精度を検
査することもできる。
ィスク回転駆動体を用いて、磁気ディスクの特性を評価
することができるものであるが、本発明は、これに限ら
れるものではなく、同一のテストヘッド及びテストディ
スクを用いて、ディスクの回転駆動体、即ちスピンドル
モータ、スピンドル軸受、スピンドル等の回転精度を検
査することもできる。
これを以下、第５図を用いて説明する。この実施例に
よる評価装置は、同一のテストヘッド及びテストディス
クを用いてディスクの回転駆動体のみを取り替えて検査
するものであって、第１図に示す評価回路によってその
評価を行うものである。
よる評価装置は、同一のテストヘッド及びテストディス
クを用いてディスクの回転駆動体のみを取り替えて検査
するものであって、第１図に示す評価回路によってその
評価を行うものである。
まず、被試験対象である回転駆動体をボールベアリン
グを用いた回転駆動体とした場合を説明する。まず、テ
ストヘッド及びテストディスクを持つ試験装置におい
て、ディスクの回転駆動体をボールベアリング系とし、
テストヘッドに搭載した超音波検出素子の出力信号S0を
第１図に示す評価回路に入力する。評価回路自体の動作
は、前記と同様のため省略するが、平均電圧演算回路２
の出力である平均信号a1は、第５図（ａ）に示す如く、
ディスクの定常回転近傍R3において持ち上がった状態か
ら摺動を開始する様に推移する。このため、しきい値信
号aSLと信号a1とが二箇所で一致して二つの浮上量（一
方は、高速回転時の高浮上量、他方は低浮上量）が出力
される。従って評価者は、前記高速回転時の高浮上量で
摺動が発生することによって、そのボールベアリングを
用いた回転駆動体が、ディスク高速回転時に回転精度が
悪く接触（またはそれと同等なエネルギー損失）が頻繁
に発生することを判定できる。次にエアーベアリングを
用いた回転駆動体とした場合、第５図（ｂ）に示す如
く、この回転体の場合、摺動開始回転数R1bが第５図
（ａ）のR1aより小さい回転数であること、及び回転数R
3近傍のトラック平均出力a1が第５図（ａ）の出力a1よ
りも小さいことがわかる。
グを用いた回転駆動体とした場合を説明する。まず、テ
ストヘッド及びテストディスクを持つ試験装置におい
て、ディスクの回転駆動体をボールベアリング系とし、
テストヘッドに搭載した超音波検出素子の出力信号S0を
第１図に示す評価回路に入力する。評価回路自体の動作
は、前記と同様のため省略するが、平均電圧演算回路２
の出力である平均信号a1は、第５図（ａ）に示す如く、
ディスクの定常回転近傍R3において持ち上がった状態か
ら摺動を開始する様に推移する。このため、しきい値信
号aSLと信号a1とが二箇所で一致して二つの浮上量（一
方は、高速回転時の高浮上量、他方は低浮上量）が出力
される。従って評価者は、前記高速回転時の高浮上量で
摺動が発生することによって、そのボールベアリングを
用いた回転駆動体が、ディスク高速回転時に回転精度が
悪く接触（またはそれと同等なエネルギー損失）が頻繁
に発生することを判定できる。次にエアーベアリングを
用いた回転駆動体とした場合、第５図（ｂ）に示す如
く、この回転体の場合、摺動開始回転数R1bが第５図
（ａ）のR1aより小さい回転数であること、及び回転数R
3近傍のトラック平均出力a1が第５図（ａ）の出力a1よ
りも小さいことがわかる。
この結果、エアーベアリングを用いた回転駆動体は、
定常回転から摺動開始回転数にいたるまで安定した回転
が行われ、ディスク及びヘッドの浮動に対し少量の外乱
しか与えない良好な回転駆動体であることを判定でき
る。この様に本実施例による評価方法は、ディスク回転
駆動体の回転精度も評価することができる。
定常回転から摺動開始回転数にいたるまで安定した回転
が行われ、ディスク及びヘッドの浮動に対し少量の外乱
しか与えない良好な回転駆動体であることを判定でき
る。この様に本実施例による評価方法は、ディスク回転
駆動体の回転精度も評価することができる。
また、ヘッドは同一規格であってもスライダ幅，荷
重，ジンバルの振動特性等の微少な差により若干の浮動
特性の差を持っており、本発明はこのヘッド自体の浮動
特性をも評価することができる。これを以下、第６図及
び第７図を用いて説明する。この場合評価装置は、同一
の回転駆動体及びディスクを用いてヘッドのみを取り替
えて検査するものであって、第１図に示す評価回路の周
速変換器６の出力によってその評価を行う。尚、スライ
ダが不透明なヘッドの浮上量の測定は、前述の第３図に
示した測定方法と同様に硝子等の透明な回転体を用いて
該回転体のヘッド反対方向から光学的に測定するものと
する。
重，ジンバルの振動特性等の微少な差により若干の浮動
特性の差を持っており、本発明はこのヘッド自体の浮動
特性をも評価することができる。これを以下、第６図及
び第７図を用いて説明する。この場合評価装置は、同一
の回転駆動体及びディスクを用いてヘッドのみを取り替
えて検査するものであって、第１図に示す評価回路の周
速変換器６の出力によってその評価を行う。尚、スライ
ダが不透明なヘッドの浮上量の測定は、前述の第３図に
示した測定方法と同様に硝子等の透明な回転体を用いて
該回転体のヘッド反対方向から光学的に測定するものと
する。
本実施例では、まずディスクの定常回転時の浮上量が
ほぼ同じ事が前述の浮上量測定方法により判明している
２つのヘッドH1及びH2を第１図の評価回路によって評価
する場合を説明する。このヘッドH1及びH2は、第６図下
段（ロ）に示す如く実際の浮上特性がディスクの定常回
転による周速V0において同一の浮上量であり、周速V2に
おいてはヘッドH2がヘッドH1に比べて浮上量が大きいも
のとする。
ほぼ同じ事が前述の浮上量測定方法により判明している
２つのヘッドH1及びH2を第１図の評価回路によって評価
する場合を説明する。このヘッドH1及びH2は、第６図下
段（ロ）に示す如く実際の浮上特性がディスクの定常回
転による周速V0において同一の浮上量であり、周速V2に
おいてはヘッドH2がヘッドH1に比べて浮上量が大きいも
のとする。
このようなヘッドH2及びH1の浮動特性を本実施例によ
る評価回路により評価を行うと、第６図上段（イ）に示
す如く、ヘッドH2は摺動を開始する回転数RH2がヘッドH
1の摺動開始回転数RH1に比べて低く、このため摺動開始
周速が小さく検出され、これによりヘッドH1がヘッドH2
に比べて浮上量が速く低下する特性を持つことが判る。
従ってこのヘッドH1を基準として他のヘッドの浮上特性
を評価することができる。
る評価回路により評価を行うと、第６図上段（イ）に示
す如く、ヘッドH2は摺動を開始する回転数RH2がヘッドH
1の摺動開始回転数RH1に比べて低く、このため摺動開始
周速が小さく検出され、これによりヘッドH1がヘッドH2
に比べて浮上量が速く低下する特性を持つことが判る。
従ってこのヘッドH1を基準として他のヘッドの浮上特性
を評価することができる。
次に、第７図下段（ロ）に示す様に周速V2,V1,V0にお
いて浮上量がほぼ同じであるが、一方（ヘッドH4）が周
速V2近傍に於いて非常に振動的であるヘッドH3及びH4を
評価する場合を説明する。この場合、ヘッドH4の摺動を
開始する回転数RH4がヘッドH3の摺動開始回転数RH3に比
べて高く、このため摺動開始周速が大きく検出される。
これによりヘッドH4がヘッドH3に比べて不安定な浮上特
性を持つことが判る。尚、前記振動的な浮動特性は一般
の光学的測定装置を使用しても浮上量の時間的平均値を
検出しているため、その変動を把握するのは非常に困難
である。
いて浮上量がほぼ同じであるが、一方（ヘッドH4）が周
速V2近傍に於いて非常に振動的であるヘッドH3及びH4を
評価する場合を説明する。この場合、ヘッドH4の摺動を
開始する回転数RH4がヘッドH3の摺動開始回転数RH3に比
べて高く、このため摺動開始周速が大きく検出される。
これによりヘッドH4がヘッドH3に比べて不安定な浮上特
性を持つことが判る。尚、前記振動的な浮動特性は一般
の光学的測定装置を使用しても浮上量の時間的平均値を
検出しているため、その変動を把握するのは非常に困難
である。
以上述べた如く本発明によれば、磁気ヘッドが摺動を
開始するヘッド浮上量を検出することにより、磁気ディ
スク、磁気ヘッド、該ディスクの回転駆動体のヘッド浮
上に対する評価を行うことができる。
開始するヘッド浮上量を検出することにより、磁気ディ
スク、磁気ヘッド、該ディスクの回転駆動体のヘッド浮
上に対する評価を行うことができる。
第１図は本発明による浮上特性評価方法を適用した評価
回路の一実施例を示す図であり、第２図は第１図に示し
た平均電圧演算回路のトラック平均出力信号を示す図で
あり、第３図は第１図に示した浮上量変換器に入力され
る浮上特性データを示す図、第４図は第１図に示した増
幅器の出力信号を示す図、第５図はディスクの回転駆動
体を評価する場合のトラック平均出力信号を示す図、第
６図及び第７図はヘッドを評価する場合のトラック平均
出力信号を示す図である。 １……増幅器、２……平均電圧演算器、３……最小値検
出器、４……倍率設定器、５……比較器、６……周速変
換器、７……浮上量変換器。
回路の一実施例を示す図であり、第２図は第１図に示し
た平均電圧演算回路のトラック平均出力信号を示す図で
あり、第３図は第１図に示した浮上量変換器に入力され
る浮上特性データを示す図、第４図は第１図に示した増
幅器の出力信号を示す図、第５図はディスクの回転駆動
体を評価する場合のトラック平均出力信号を示す図、第
６図及び第７図はヘッドを評価する場合のトラック平均
出力信号を示す図である。 １……増幅器、２……平均電圧演算器、３……最小値検
出器、４……倍率設定器、５……比較器、６……周速変
換器、７……浮上量変換器。
Claims (1)
- 【請求項１】超音波検出素子を搭載した浮動ヘッドをデ
ィスクの所定トラック上に配置してコンタクト・スター
ト・ストップを行い、前記超音波検出素子が浮動ヘッド
とディスクとの接触によって発生する超音波を検出する
ことにより該ヘッドの浮上特性を評価する浮動特性評価
方法において、 前記ディスクを所定回転数で回転して浮動ヘッドを浮上
させた状態から該ディスクの回転数を徐々に低下して浮
動ヘッドを降下させ、前記ディスクの少なくとも一回転
内の超音波検出素子の出力信号を平均化し、この平均出
力が超音波検出素子出力の最小値を所定倍したしきい値
以上になったときに摺動したと判定することを特徴とす
る浮動特性評価方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63061952A JP2644262B2 (ja) | 1988-03-17 | 1988-03-17 | 浮動特性評価方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63061952A JP2644262B2 (ja) | 1988-03-17 | 1988-03-17 | 浮動特性評価方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01236485A JPH01236485A (ja) | 1989-09-21 |
| JP2644262B2 true JP2644262B2 (ja) | 1997-08-25 |
Family
ID=13186040
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63061952A Expired - Lifetime JP2644262B2 (ja) | 1988-03-17 | 1988-03-17 | 浮動特性評価方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2644262B2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55108924A (en) * | 1979-02-09 | 1980-08-21 | Fujitsu Ltd | Inspection method for floating quantity of magnetic head |
-
1988
- 1988-03-17 JP JP63061952A patent/JP2644262B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01236485A (ja) | 1989-09-21 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |