JPH05109058A - 磁気デイスク耐久性評価試験装置および方法 - Google Patents
磁気デイスク耐久性評価試験装置および方法Info
- Publication number
- JPH05109058A JPH05109058A JP26768491A JP26768491A JPH05109058A JP H05109058 A JPH05109058 A JP H05109058A JP 26768491 A JP26768491 A JP 26768491A JP 26768491 A JP26768491 A JP 26768491A JP H05109058 A JPH05109058 A JP H05109058A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic disk
- evaluation test
- slider
- disk
- durability
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- Pending
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- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 常圧下でかつコントロールされた接触が高速
回転しているディスク表面に対して可能となる磁気ディ
スク耐久性評価試験装置および磁気ディスク耐久性評価
試験方法を提供する。 【構成】 アーム３に磁気ディスク面と垂直方向（法線
方向）に圧電アクチュエーター４が取り付けられ、スラ
イダー２を加振し、振動をジンバルバネの共振周波数に
一致させることにより、常圧下で高速回転するディスク
表面にスライダーを接触させる。
回転しているディスク表面に対して可能となる磁気ディ
スク耐久性評価試験装置および磁気ディスク耐久性評価
試験方法を提供する。 【構成】 アーム３に磁気ディスク面と垂直方向（法線
方向）に圧電アクチュエーター４が取り付けられ、スラ
イダー２を加振し、振動をジンバルバネの共振周波数に
一致させることにより、常圧下で高速回転するディスク
表面にスライダーを接触させる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は情報の磁気的な書き込み
および読み出しを行う磁気ディスク装置において、その
信頼性を評価するための磁気ディスク耐久性評価試験装
置および方法に関する。
および読み出しを行う磁気ディスク装置において、その
信頼性を評価するための磁気ディスク耐久性評価試験装
置および方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、磁気ディスク装置に用いられる磁
気ヘッドスライダー（以下スライダーと称する）は、高
速で回転する磁気ディスク（以下ディスクと称する）の
上に空気の動圧力で浮上する。こうした磁気記録装置に
おいて記録密度を高くするためにはディスクとヘッドの
間隔をできるだけ小さくすることが必要である。微小な
間隔を実現しようとすると、スライダーがディスクと高
速で接触する確率が増加する。また従来採用のディスク
回転起動時接触型の機構に対して近年ロードアンロード
と呼ばれる非接触型の起動システムが採用される傾向に
あり、このシステム下においては一層高速回転時の接触
が問題となると考えられる。こうした高速接触に対する
ディスクの耐久性を評価するためにディスクの回転停止
繰り返し試験（ＣＳＳ試験）に対して密閉容器内を減圧
することでスライダーとディスクの間隔を狭め高速での
接触を可能にする試験方法が、第１２回日本応用磁気学
会学術講演概要集１３６Ｐに、また第１４回日本応用磁
気学会学術講演概要集５Ｐに提案されている。高速摺動
によりディスク表面に傷がつくまでのスライダーの周回
数（損傷までの時間）をＡＥセンサー、あるいは目視に
より測定することで磁気ディスクの耐久性を評価してい
る。
気ヘッドスライダー（以下スライダーと称する）は、高
速で回転する磁気ディスク（以下ディスクと称する）の
上に空気の動圧力で浮上する。こうした磁気記録装置に
おいて記録密度を高くするためにはディスクとヘッドの
間隔をできるだけ小さくすることが必要である。微小な
間隔を実現しようとすると、スライダーがディスクと高
速で接触する確率が増加する。また従来採用のディスク
回転起動時接触型の機構に対して近年ロードアンロード
と呼ばれる非接触型の起動システムが採用される傾向に
あり、このシステム下においては一層高速回転時の接触
が問題となると考えられる。こうした高速接触に対する
ディスクの耐久性を評価するためにディスクの回転停止
繰り返し試験（ＣＳＳ試験）に対して密閉容器内を減圧
することでスライダーとディスクの間隔を狭め高速での
接触を可能にする試験方法が、第１２回日本応用磁気学
会学術講演概要集１３６Ｐに、また第１４回日本応用磁
気学会学術講演概要集５Ｐに提案されている。高速摺動
によりディスク表面に傷がつくまでのスライダーの周回
数（損傷までの時間）をＡＥセンサー、あるいは目視に
より測定することで磁気ディスクの耐久性を評価してい
る。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】減圧下での試験によっ
て高速での接触を実現することはできるが、接触の頻
度，位置，強さおよび接触時間はスライダーの固体差に
より変動し、コントロールすることは困難である。また
減圧環境は実機の使用される常圧環境とは大きく異な
る。このような理由により減圧下での試験では再現性の
ある磁気ディスク耐久性に関する結果が得られない。
て高速での接触を実現することはできるが、接触の頻
度，位置，強さおよび接触時間はスライダーの固体差に
より変動し、コントロールすることは困難である。また
減圧環境は実機の使用される常圧環境とは大きく異な
る。このような理由により減圧下での試験では再現性の
ある磁気ディスク耐久性に関する結果が得られない。
【０００４】本発明の目的は、常圧下でかつコントロー
ルされた接触が高速回転しているディスク表面に対して
可能となる磁気ディスク耐久性評価試験装置および磁気
ディスク耐久性評価試験方法を提供することにある。
ルされた接触が高速回転しているディスク表面に対して
可能となる磁気ディスク耐久性評価試験装置および磁気
ディスク耐久性評価試験方法を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の磁気ディスク耐
久性評価試験装置および方法によれば、磁気ヘッドスラ
イダーアームにディスク面と垂直方向（法線方向）に圧
電アクチュエーターが取り付けられ、任意波形発生装置
により周期，変位，ディスクとスライダーの接触時間お
よび加速度を制御することができ、スライダーを任意の
条件で振動させ得る。こうした加振機構によりスライダ
ーの共振点を利用して振幅を大きくすることで、スライ
ダーとディスクを接触させることができる。このよう
に、スライダーとディスクの接触状態は制御されたもの
であるため、極めて再現性の優れた、ディスク耐久性に
関する結果が得られることになる。
久性評価試験装置および方法によれば、磁気ヘッドスラ
イダーアームにディスク面と垂直方向（法線方向）に圧
電アクチュエーターが取り付けられ、任意波形発生装置
により周期，変位，ディスクとスライダーの接触時間お
よび加速度を制御することができ、スライダーを任意の
条件で振動させ得る。こうした加振機構によりスライダ
ーの共振点を利用して振幅を大きくすることで、スライ
ダーとディスクを接触させることができる。このよう
に、スライダーとディスクの接触状態は制御されたもの
であるため、極めて再現性の優れた、ディスク耐久性に
関する結果が得られることになる。
【０００６】
【作用】本発明の磁気ディスク耐久性評価試験装置およ
び磁気ディスク耐久性評価試験方法は、従来不可能であ
ったスライダーの動きをコントロールしながらの高速接
触を可能にし、ディスク損傷までの時間を解析すること
により高速接触に対する耐久性に優れるディスクの構成
の設計やディスク用の保護膜の選定が可能になった。
び磁気ディスク耐久性評価試験方法は、従来不可能であ
ったスライダーの動きをコントロールしながらの高速接
触を可能にし、ディスク損傷までの時間を解析すること
により高速接触に対する耐久性に優れるディスクの構成
の設計やディスク用の保護膜の選定が可能になった。
【０００７】
【実施例】次に図面を参照して本発明を詳細に説明す
る。図１は本発明の磁気ディスク耐久性評価試験装置お
よび磁気ディスク耐久性評価試験方法を説明する図であ
る。
る。図１は本発明の磁気ディスク耐久性評価試験装置お
よび磁気ディスク耐久性評価試験方法を説明する図であ
る。
【０００８】この磁気ディスク耐久性評価試験装置は、
磁気ヘッドスライダー２を支持しているヘッドアーム３
にディスク１の磁気ディスク面と垂直方向（法線方向）
に圧電アクチュエーター４が取り付けられ、圧電アクチ
ュエーター４は支持はり５に支持されている。この圧電
アクチュエーター４によりスライダー２は法線方向に振
動させられる。
磁気ヘッドスライダー２を支持しているヘッドアーム３
にディスク１の磁気ディスク面と垂直方向（法線方向）
に圧電アクチュエーター４が取り付けられ、圧電アクチ
ュエーター４は支持はり５に支持されている。この圧電
アクチュエーター４によりスライダー２は法線方向に振
動させられる。
【０００９】こうした加振機構によりスライダー２を加
振し、振動をジンバルバネの共振周波数に一致させるこ
とにより、振動を増幅させ、高速回転しているディスク
１に対してスライダーを接触させることができる。
振し、振動をジンバルバネの共振周波数に一致させるこ
とにより、振動を増幅させ、高速回転しているディスク
１に対してスライダーを接触させることができる。
【００１０】本実施例を使用して、スパッタカーボン膜
を保護膜とするディスク１０枚について試験を行ったと
ころ、１００±１０分で全て傷が発生した。この傷発生
までの時間１００±１０分は、耐久性試験結果として十
分再現性があるといえる。一方、減圧下での試験では傷
発生までの時間は１分から１００分までの間にばらつ
き、極めて再現性が悪かった。
を保護膜とするディスク１０枚について試験を行ったと
ころ、１００±１０分で全て傷が発生した。この傷発生
までの時間１００±１０分は、耐久性試験結果として十
分再現性があるといえる。一方、減圧下での試験では傷
発生までの時間は１分から１００分までの間にばらつ
き、極めて再現性が悪かった。
【００１１】
【発明の効果】本発明のディスク耐久性評価試験装置お
よび磁気ディスク耐久性評価試験方法を用いることで常
圧下でかつコントロールされた接触が高速回転している
ディスク表面に対して可能となる。
よび磁気ディスク耐久性評価試験方法を用いることで常
圧下でかつコントロールされた接触が高速回転している
ディスク表面に対して可能となる。
【００１２】なお、加振機構としてシークに用いられる
ボイスコイルモーターを使用した場合、周波数特性が低
いため共振周波数を達成することは不可能であった。
ボイスコイルモーターを使用した場合、周波数特性が低
いため共振周波数を達成することは不可能であった。
【図１】本発明の磁気ディスク耐久性評価試験装置およ
び磁気ディスク耐久性評価試験方法の説明図である。
び磁気ディスク耐久性評価試験方法の説明図である。
１ ディスク ２ 磁気ヘッドスライダー ３ ヘッドアーム ４ 圧電アクチュエーター ５ 支持はり
Claims (2)
- 【請求項１】磁気ディスクスライダーを支持しているア
ームに、磁気ディスク面と垂直方向に圧電アクチュエー
ターが取り付けられたことを特徴とする磁気ディスク耐
久性評価試験装置。 - 【請求項２】磁気ヘッドスライダーを支持しているアー
ムに、磁気ディスク面と垂直方向に圧電アクチュエータ
ーを取り付け、前記圧電アクチュエーターによって前記
磁気ヘッドスライダーに振動を生じさせ、その共振点を
利用して磁気ヘッドスライダーをディスク表面に接触さ
せることを特徴とする磁気ディスク耐久性評価試験方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26768491A JPH05109058A (ja) | 1991-10-16 | 1991-10-16 | 磁気デイスク耐久性評価試験装置および方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26768491A JPH05109058A (ja) | 1991-10-16 | 1991-10-16 | 磁気デイスク耐久性評価試験装置および方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05109058A true JPH05109058A (ja) | 1993-04-30 |
Family
ID=17448098
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26768491A Pending JPH05109058A (ja) | 1991-10-16 | 1991-10-16 | 磁気デイスク耐久性評価試験装置および方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05109058A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08233714A (ja) * | 1995-02-27 | 1996-09-13 | Nec Corp | 磁気ディスクの耐久性評価試験装置及び評価試験方法 |
| US6552878B2 (en) | 1998-08-05 | 2003-04-22 | Hitachi, Ltd. | Magnetic disk apparatus |
| WO2005038781A1 (en) * | 2003-10-16 | 2005-04-28 | Sae Magnetics (H.K.) Ltd. | Method and mechanism of the suspension resonance optimization for the hard disk driver |
-
1991
- 1991-10-16 JP JP26768491A patent/JPH05109058A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08233714A (ja) * | 1995-02-27 | 1996-09-13 | Nec Corp | 磁気ディスクの耐久性評価試験装置及び評価試験方法 |
| US6552878B2 (en) | 1998-08-05 | 2003-04-22 | Hitachi, Ltd. | Magnetic disk apparatus |
| WO2005038781A1 (en) * | 2003-10-16 | 2005-04-28 | Sae Magnetics (H.K.) Ltd. | Method and mechanism of the suspension resonance optimization for the hard disk driver |
| US7377190B2 (en) | 2003-10-16 | 2008-05-27 | Sae Magnetics (H.K.), Ltd. | Method and mechanism of the suspension resonance optimization for the hard disk driver |
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