JPS59148117A - 磁気デイスクと磁気ヘツドの寿命試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は磁気ディスク記憶装置に使用される５ 磁気ディスクと磁気へ、ドの寿命試験に係シ、特に磁気
ディスクと磁気へ、ドが接触した場合の両者の寿命を加
速評価するに好適な試験装置に関するものである。

〔従来技術〕

従来の寿命試験では、振動打撃ヘッドのガイ゛ドアーム
を打撃し磁気ディスクと接触させたと。

き発生する該磁気ディスク表面の損傷状況変化゛を目視
で観測してい六ので、磁気ディスクの損。

傷程度の定量化ができなかった。また人間に連５続観視
が必要なので効率が悪かった。さらに、。

磁気ヘッドの寿命については試験できないとい。

う欠点があった。

〔発明の目的〕

本発明の目的は、実際の装置における摺動発Ｊ。

生状況に近い加速方法と自動による摺動発生検。

知力法を用いた磁気ディスクと磁気へ、ドの寿命試験装
置および試験方法を提供することにあ。

る。

〔発明の概賛〕１゜ 磁気ディスク記憶装置の重要傷害の１つに磁。

気ディスクと磁気へ１．／ドの摺動があシ、耐摺動。

寿命の評価が必要である。寿命評価は本来、実。

際の装置で実施することが望ましいが、磁気デ。

イスク、ヘッドの開発には単品評価を先行する２、。

必要がある。そこで、加速寿命評価として、磁。

気ヘッドまたは磁気ディスクを強制的に加振さ゛せ、通
常の磁気ヘッドの浮動状態を変え、磁気。

ディスクと接触する方法を採った。実際の磁気“ヘッド
を接触体とし、浮動状態と接触状態を繰５り返すことは
、磁気ディスクと磁気ディスクの・相性の良悪評価にも
なる。また磁気ディスク寿・命の検知には別の通常浮動
状態の電気特性測定・用ヘッドを用いて磁気ディスクの
電気特性変化を観測することにより定量化、実機との対
応性、１゜を増すことを計ったものである。

〔発明の実施例〕

以下本発明の一実施例を図面により説明する。。

第１図は本発明による試験装置の構成図である。。

回転体１にクランプされた磁気ディスク２は通−常、高
速・低振動で回転し、その定常孕気流により一振動打撃
ヘッド３および電気特性ヘッド４は安定に浮動する。本
試験は磁気ディスク２の高速回転中に、撮動打撃ヘッド
加振機構５もしくは磁気ディスク加振機構６により振動
打撃ヘッド２もしくは磁気ディスク２を振動させる・こ
とによυ振動打撃ヘッド３と磁気ディスク２・を接触さ
せたときの両者の寿命を評価するもの・である。第２図
は試験中の磁気ディスク２の平・面図である。振動打撃
へラド３の特性は振動打。

撃ヘッド走査機構７で磁気ディスク面の基準ト。

う１．り１１へ走査し、基準トラ２．り１１の電気特性
。

を測定し電気特性処理部８によシ、振動打撃へ。

、ド３の初期電気特性と比較し評価する。磁気ディスク
２の特性は、電気特性ヘッド走査機構１．。

９で基準トラ、り１１から接触エリア１２へ走査し、磁
気ディスク２の接触エリア１２の電気特性を測定し、電
気特性処理部８により磁気ディスク２の初期電気特性と
比較し評価する。試験装置シュラウド内はブロワ−フィ
ルター１０により清浄度が保たれている。

次に第６図により本発明の試験手段の一例を示す。（１
）は磁気ディスクの寿命試験の場合である。試験条件は
試験時間、ヘッド振動の安定性等から振動打撃ヘッドの
加振条件を、また磁気ディスク電気特性ヘッドの飽和特
性から電気時゛性測定条件を、さらに電気特性劣化（出
力０分。

解能、エラー数の変化）に対するしきい値条件゛（寿命
限界）を設定する。

次に、磁気ディスクの接触エリアの初期状態５を電気特
性ヘッドにより測定する。この初期値・は試験中の観測
結果と比較される。

振動打撃ヘッドを接触エリアに設置し試験を・開始する
。まず、磁気ディヌクが回転し、電気特性ヘッドは基準
トラックへ退避後、振動打撃１１＋ヘツドを加振させ、
磁気ディスクとの接触状態。

が継続される。

試験中の観測はタイマーにより自動的に一定。

時間毎に行なわれる。その際、振動打撃へ１．ド。

の加振は停止し、基準トラック上で浮動してい、。

た電気特性へ、ドが走査し、接触エリアの電気。

特性を測定する。磁気ディスクの特性の変化を。

観測するのである。観測の結果、磁気ディスクの特性劣
化が寿命限界を越えれば、試験を自動停止する。寿命限
界を越えなければ、電気特性７．。

、　４　。

ヘッドは再び基準トラックへ退避し、振動打撃ヘッドを
加振し、試験を継続する。

（２）の磁気ヘッドの寿命試験の場合は、振動打・撃ヘ
ッドのみを使用し、また加振は磁気ディス・り、振動打
撃ヘッドのいずれか一方、もしくは両方となる。振動打
撃ヘッドの電気特性は基準。

トラックにより初期化され、以下は（１）と同様で。

ある。

本実施例によれば、磁気ディスクおよび磁気ヘッドの加
振による接触による寿命試験が自動、。

的に可能となる。

〔発明の効果〕

本発明によれば、磁気ディスクおよび磁気へ。

ラドの寿命試験を、定量的かつ自動的に実施できるので
、磁気ディスクおよび磁気へ、ドの単品での寿命を、正
確かつ効率的に把握できる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は試験装置の構成図、第２図は第１図の磁気ディ
スクの平面図、第６図は試験方法のフローチャート図で
ある。 １・・・回転体、　　　　　２・・・磁気ディスク、３
・・・振動打撃ヘッド、４・・・電気特性ヘッド、５・
・・振動打撃へラド加振機構、 ６・・・磁気ディスク加振機構、 ７・・・振動打撃ヘッド走査機構、 ８・・・電気特性処理部、 ９・・・電気特性へ、ド走査機構、 １０・・・プロワ−フィルター、 １１・・・基準トラック、１２・・・接触エリア。 ２１　の Δノ 寸　２　ロ （１＞Ｊ謙距ゲ（テλス７ノシイｆｐ゛宮ｌ（験凶 Ｌ２）不水気へ・Ｆカ＋かζ、吟に

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、　磁気ディスクとその回転機構、磁気へ、ド。 とその走査機構およびそれぞれの加振装置から。 成る寿命試験装置において、磁気ディスクと磁。 気へ、ドを接触させる振動打撃ヘッドと、接触。 傷、接触痕の発生および進行状況を自動的に検知する電
   気特性測定ヘッドを設けたことを特徴１゜とする磁気デ
   ィスクと磁気へ、ドの寿命試験装。 置。