JPS6337796A - 解像度測定装置 - Google Patents

解像度測定装置

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JPS6337796A
JPS6337796A JP18107986A JP18107986A JPS6337796A JP S6337796 A JPS6337796 A JP S6337796A JP 18107986 A JP18107986 A JP 18107986A JP 18107986 A JP18107986 A JP 18107986A JP S6337796 A JPS6337796 A JP S6337796A
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JP18107986A
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Yoshio Koike
小池 純郎
Yasuaki Nishida
泰章 西田
Yoshihiro Fujita
藤田 欣裕
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Japan Broadcasting Corp
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Nippon Hoso Kyokai NHK
Japan Broadcasting Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野〕 本発明は、撮像装置の解像度、特にレンズ・撮像素子・
信号処理回路を含めた総合的なMTF(Modulat
ion Transfer Function)特性を
測定する装置に関する。
[開示の概要コ 本発明は、撮像装置の解像度測定装置において、より簡
易に精度良く解像度を測定し、且つ、固体撮像装置など
のように折り返しによる偽信号を発生する撮像装置にお
いても偽イ8号に影響されることなく解像度を測定し、
更には、偽信号成分の特性をも測定可能にしたものであ
る。
[従来の技術] 従来から、信号処理回路のMTFを求める装置は各種知
られているが、撮像装置の解像度測定には、白黒パター
ンによる矩形波チャートを用いたAR(アンブリチュー
ドレスポンス)を測定するが一般的である。またMTF
は、上記ARから近似計算により求めている。
[発明が解決しようとする問題点コ 従来から知られている繍の算出方法では、矩形7皮のチ
ャートを用いてオシロスコープなどにより振幅を求めて
いるため、測定者による個人的な差異も誤差の要因とな
っていた。また、撮像管では特に問題とならないが、特
に固体撮像装置などの場合は、矩形波パターンの高調波
成分から生しる偽信号のため、波形振幅を測定するのは
困難てあった。
よって本発明の目的は、固体撮像装置の解像度(光学系
、信号処理回路を含めての解像度)を、空間サンプリン
グによる折り返し歪に患容されることなく測定し得るよ
う構成した測定装五を提供することにある。
本発明のその他の目的は、測定用チャートとして矩形波
以外の自由な波形を電子的に発生ずることにより、上述
した42.b信号による測定誤差をシMくし、また自動
化に通した装置を提供するとともに、測定者による誤差
のない高精度高速な解像度測定装置を提供しようとする
ものである。
また本発明のその他の目的は、従来測定かできなかった
偽信号成分をも測定可能にし、精度良くMTFを測定す
ることを可能にした解像度測定装置を提供することにあ
る。
[問題点を解決するための手段コ かかる目的を達成するために、本発明では、テレビジョ
ンモニタ上に表示した単一の正弦波パターン、または複
数の周波数の異なる正弦波を合成したパターン、もしく
は単一の正弦波を低い周波数の関数で変調して得られる
パターンを被測定撮像装置により撮像し、得られた撮像
出力信号を解析して解像度の測定を行うものである。
[実施例コ 本発明の実施例について、図面を参照して説明する。
第1図は本発明を通用した一実施例の全体構成図である
。本図に示すlは、)最像管カメラあるいは固体カメラ
などの撮像装置(被測定装置)である。2は本発明によ
る測定解析および制御を行う装(a本体である。3は本
発明による表示部であリ、テレビジョンモニタを用いる
本実施例では、テレビジョンモニタ3に表示された正弦
波関数を、撮像装置1により撮像する。
撮像装置1より出力された映像信号を、本実施例による
解像度測定装置2に入力する。すなわち、前置回路4に
より所定の帯域制限および増幅を行い、A/Dコンバー
タ5によりディジタル信号化し、信号処理回路6により
フーリエ変換を行う。
このとき、テレビジョンモニタ3に表示する正弦波関数
は正弦波発生器8により発生し、テレビジョンモニタ3
で表示した時に歪を生じないようガンマ補正回路9によ
り適当なガンマ補正を行う。
以上の構成では、表示装置の周波数特性(MTF)か測
定に影響を与えることのないよう適当に縮小して撮像さ
れるようにするため、テレビジョンモニタ3と1最像装
冒】の距離を適当に設定する。ここでは簡単のため、表
示する映像信号と撮像した映像信号の大きさの比が2:
lとなるよう設定した場合について説明を行う。
以上の設定の下に、正弦波発生器8から発生する信号の
周波数と信号処理回路6で変換されたスペクトル周波数
との関係はちょうど1:2となる。よって、任意の周波
数で撮像した映像信号に含まれるスペクトル成分を検出
するのが容易となり、従来のチャートを用いた方式に比
べ、細かな周波数間隔の測定が可能となる。しかも、正
弦波を用いているため、MTFを直接求めることが可能
となる。
本実施例ではディジタル信号化して離散的なフーリエ変
換を行うことにより、高速フーリエ変換(FFT)など
の手法を用いて短時間かつ正確に目的の周波数のスペク
トル成分を求めることが可能である。
FFTなどの離散的なフーリエ変換を行う場合、特に映
像信゛号については計算に用いる時間窓の幅を1水平期
間(IH)より大きくすることができないため、そのI
Hを周期とする周波数のn倍の周波数成分についてのみ
計算かなされることになる。
撮像された映像信号成分が正確にこの周波数にならない
場合、すなわち上述した縮小率が設定した値と僅かに異
った場合には、時間窓の窓関数により多少の誤差を生じ
る。
これらの誤差を少なくするため、従来からフーリエ変換
の手法として、ハミング窓関数を乗じてからフーリエ変
換を行う方法が知られている。しかし、かかる演算を行
っても、正確にn倍の周波数になる場合と、n倍の周波
数とは僅かに異なる周波数になる場合とでは、目的とす
る周波数のスペクトル成分に僅かな誤差を生じる。
次に、この誤差を更に少なくする一例について述べる。
例えは前述のn−1倍とn+1倍の周波数の間の複数の
周波数成分を合成した波形を表示することにより、前述
した誤差を少なくすることかできる。すなわち、複数の
周波数成分のうち、いずれかはn倍の周波数に一致する
ため、誤差が平均化され、全体として精度を高くするこ
とか可能となる。更に同様な理由で、正弦波を適当な関
数で振幅変調することにより、適当にスペクトルを分散
させ、もって精度を高くすることか可能である。
上述した周波数成分の数を多(した極限の例を考えると
、 上記(1)式の関数を用いることと等価である。
上記(1)式は、また となり、既述の振幅変調の関数としてsinθ/θなる
関数を用いた場合と同等である。よって、この関数を用
いることにより分散したスペクトルの振幅特性をほぼ平
坦にすることができ、更に高い精度が得られる。
以上述べた手法は、テレビジョンモニタの図形歪やレン
ズの図形歪による周波数のずれに対しても有効であり、
高精度な解像度測定装置を提供することが可能となる。
第2図は、)石像装置の前面に小形化した本測定装置を
接続した実施例を示す。すなわち、木発明による解像度
測定装置は小形化が容易であるので、本図に示す如くテ
レビジョンモニタ3をレンズ12を介して撮像装置1の
前面に取り付けることにより、画角および位置の調整が
容易となる。
[発明の効果] 従来の技術では、空間的なサンプリングを伴う固体撮像
素子により解像度チャートの高調波成分が折返し歪とな
って現われ、真の解像度の測定を妨害していたが、本発
明ではテレビジョンモニタを用いて正弦波による解像度
パターンを撮像・測定する構成としであるので、折返し
歪による妨害を除去し測定精度をあげることができる。
また、従来は測定できなかった折返し歪による偽信号成
分の測定も可能になる。
更に、互いに異った周波数を有する複数の正弦波の合成
波を解像度パターンとして用いることにより、撮像時の
縮尺率が変った場合にも解像度を精度良く測定すること
が可能となる。
本発明はチャートを用いずテレビジョンモニタを用いて
いるため測定者による個人差も無く、小形化・自動化が
可能であり、簡易かつ高精度な解像度測定装置を実現す
ることかできる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明を適用した解像度測定装置の一実施例を
示すブロック図、 第2図は本発明による解像度測定装置を小形化し、撮像
装置の前面に取り付けた状、聾を示す概略構成図である
。 1・・・撮像装置、 3・・・テレビジョンモニタ、 4・・・前置回路、 5・・・A/Dコンバータ、 6・・・信号処理回路、 7・・・MTF特性検出回路、 8・・・正弦波発生器、 9・・・ガンマ補正回路、 10・・・測定結果プロット回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)テレビジョンモニタ上に表示した単一の正弦波パタ
    ーン、または複数の周波数の異なる正弦波を合成したパ
    ターン、もしくは単一の正弦波を低い周波数の関数で変
    調して得られるパターンを被測定撮像装置により撮像し
    、得られた撮像出力信号を解析して解像度の測定を行う
    ことを特徴とする解像度測定装置。 2)前記撮像出力信号をフーリエ変換し、表示パターン
    を構成する正弦波の周波数に相当する成分の信号レベル
    を検出することにより解像度の測定を行うことを特徴と
    する特許請求の範囲第1項記載の解像度測定装置。 3)前記フーリエ変換として、離散的なフーリエ変換を
    用いることを特徴とする特許請求の範囲第2項記載の解
    像度測定装置。 4)前記低い周波数の関数にsinθ/θなる関数を用
    いることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の解像
    度測定装置。 5)前記撮像装置の撮像面に投影された前記テレビジョ
    ンモニタの走査線の間隔が当該撮像装置の走査線の間隔
    より等しいかまたは小さくなるように縮小して撮像する
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の解像度測
    定装置。 6)前記テレビジョンモニタのγ特性と逆の特性のγ補
    正を、表示パターンに補正して表示することを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項記載の解像度測定装置。 7)前記表示パターンとして、撮像されたパターンの外
    周が表示パターンの内周と一致するようなパターンを用
    いることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の解像
    度測定装置。 8)前記表示パターンを構成する正弦波の周波数の整数
    倍の周波数に相当する成分の信号レベルを検出し、その
    レベルが最小となるよう、前記撮像装置の絞りを調整し
    て測定することを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
    の解像度測定装置。
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JPH06269013A (ja) * 1993-03-17 1994-09-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 自動コンバーゼンス補正装置
JPH06269015A (ja) * 1993-03-17 1994-09-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 画像補正装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61245691A (ja) * 1985-04-24 1986-10-31 Mitsubishi Electric Corp ビデオカメラ調整装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61245691A (ja) * 1985-04-24 1986-10-31 Mitsubishi Electric Corp ビデオカメラ調整装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06269013A (ja) * 1993-03-17 1994-09-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 自動コンバーゼンス補正装置
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