JPS6336589B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、例えば近くの局から遠くの局に達す
るチヤネルが、遠くの局から近くの局に達するチ
ヤネルの最大伝送速度に比し大きい最大伝送速度
に構成されている非同期方式で動作するデータ伝
送区間のループ試験装置に関する。

データ伝送区間は全２種の非同期方式で動作
し、一方の通信方向の最大伝送速度と他方の通信
方向の最大伝送速度とが著しく相異なる。

非同期方式で全２種で動作するデータ伝送区間
では、ループ回路を用いて試験伝送を行ない、
個々の伝送区間の品質を確認することがしばしば
必要である。第１図ではかようなループ試験のた
めのシステムが略示されている。第１図におい
て、局２の送信機入力側１に２進矩形波試験信号
が供給され、局２から伝送チヤネル３に適合した
形式で遠くの局４に送出される。局４の受信機出
力側５に生ずる試験信号は、局４の送信機入力側
６に導かれ、次いで伝送チヤネル７を介して局２
に返送される。伝送区間の品質（例えば誤り率及
び時間的な歪）を、局２の受信機出力側８に生ず
る試験信号と局２の送信機入力側１に供給される
原試験信号とを比較することにより確認すること
ができる。

しかしながら伝送チヤネル３と伝送チヤネル７
とが著しく相異なる伝送速度に構成されている場
合には、以下のようなループ試験は困難に逢着す
る。例えば最大1200b／ｓの主チヤネルと反対方
向の最大75b／ｓの補助チヤネルを有するモデム
を端局に設置したデータ伝送区間などがある。こ
のようなデータ伝送区間では、補助チヤネルの小
さい伝送速度に制限された伝送速度でループ試験
を実行することが考えられる。しかしこの方法に
は、主チヤネルを現実の条件の下で試験すること
ができないという欠点がある。例えばこの方法で
ループ試験を行なうと、大きい伝送速度でなけれ
ば生じない高い周波数の歪等の発生は確認できな
い。

主チヤネルと補助チヤネルをそれぞれ最大伝送
速度で試験する必要がある場合には、主チヤネル
を介して送出されるテストパターンを遠くの局４
で評価し、応答信号を補助チヤネルを介して返送
する。そしてこの応答信号から主チヤネルの試験
結果を導出する。しかしこの方法では、受信クロ
ツクの発生・同期装置を遠くの局４に設ける必要
がある。かような装置を設けないと到来する試験
信号を評価できないからである。しかるにこのよ
うなもつぱら試験の目的にのみ使用される同期装
置を設けることは、非同期方式のデータ伝送機器
では、著しいコストアツプを招来する。

本発明の基本的課題は、遠くの局への伝送チヤ
ネルが反対方向の伝送チヤネルに比し格段に大き
い伝送速度に設計されている非同期の全２重デー
タ伝送区間のループ試験装置を提供することであ
る。更にループ試験装置は極めて簡単であつて、
しかも両伝送チヤネルの試験ができる限り実際の
動作条件の下で行なわれるようにすることが望ま
しい。

本発明によればこの課題は次のようにして解決
される。即ち試験信号を一方の局から他方の局に
少なくとも近似的に最大伝送速度で伝送し、他方
の局の受信機の出力により２進分周器の入力側を
励振し、２進分周器の出力により他方の局の送信
機の入力側を励振し、一方の局に返送された２進
分周器の出力信号が、他方の局から一方の局に達
するチヤネルの最大伝送速度に相応する最も短い
ステツプ長（Schrittdauer）を有するようにした
のである。

次に本発明を実施例について図面により詳細に
説明する。以下の実施例は、近くの局２から遠く
の局４に達する伝送チヤネル（主チヤネル）が最
大1200b／ｓであり反対方向の伝送チヤネル（補
助チヤネル）が最大75b／ｓである既述のデータ
伝送区間のループ試験装置に関する。

第２図は本発明の実施例を示す。第２図におい
て、試験信号発生器９は矩形波試験信号を近くの
局２の送信機入力側１に供給する。局２はモデム
を用いて試験信号を1.1〜2.3KHzの伝送チヤネル
３を介して遠くの局４に送る。局４の受信機出力
側５からは試験信号が矩形波であらわれる。局４
の受信機出力側５の信号は分周器１０の入力側を
励振する。分周器１０の分周比は８である。分周
器１０の出力側の信号は局４の送信機入力側６を
励振する。局４は、分周された試験信号を、420
Hz±37.5Hzの周波数領域の伝送チヤネル７を介し
て局２に送る。局２の受信機出力側８には、分周
された試験信号が矩形波の形で生ずる。

分周器１０の分周比ｑは、主チヤネルの最大伝
送速度と補助チヤネルの最大伝送速度との比の
１／２である。実施例では ｑ＝0.5×1200b／ｓ／75b／ｓ＝８ 上記式で係数0.5が生ずるのは、分周器１０が
入力信号の１つおきの縁にのみ応動するからであ
る。

両伝送チヤネル３，７の伝送速度の比が整数で
ないデータ伝送区間では、分周器１０の分周比ｇ
は、一方の伝送チヤネル又は双方の伝送チヤネル
の最大伝送速度をできる限り良好に近似するよう
に選定される。

試験信号発生器９から送出される試験信号は、
本発明の実施例では、CCITTにより規格化され
た511bitの周期の擬似ランダムパターンが分周器
１０の出力側に生ずるように形成される。かかる
試験信号を使用すれば、局２の受信機出力側８の
信号のチエツクのために、上記CCITTパターン
のために設計された市販の機器を使用することが
できる。第３図は第２図のループ試験装置のため
の試験信号を発生する装置を示す。第３図では、
試験信号発生器９の入力側１１は、1200Hzのクロ
ツク周波数で励振される４段の分周器１２に接続
されている。分周器１２は線路１３を介して75Hz
のクロツク周波数を帰還形シフトレジスタ１４の
クロツク入力側に加える。シフトレジスタ１４は
９段構成であり、その最終段の出力側からは既述
のCCITTパターンに相応する信号が生ずる。最
終段の出力側Ａ及び最後から２番目の段の出力側
Ｅは排他ORゲート１５の相異なる入力側に接続
される。排他ORゲート１５の出力側には、出力
側Ａと出力側Ｅに相異なる論理値の信号が加わる
際、論理値Ｈの信号が生ずる。他方出力側Ａと出
力側Ｅに同じ論理値の信号が加わる場合には、排
他ORゲート１５の出力側には論理値Ｌの信号が
生ずる（但し論理値Ｈとは「high」即ち正電圧を
意味し、論理値Ｌとは「low」即ち零電圧を意味
する）。排他ORゲート１５の出力側はANDゲー
ト１６の一方の入力側に接続される。ANDゲー
ト１６の他方の入力側には、1200b／ｓに相当す
る周波数600Hzの１：１矩形波交流電圧が線１７
を介して分周器１２の第１段の出力側から供給さ
れる。ANDゲート１６の出力側はORゲート１８
の一方の入力側に接続される。ORゲート１８の
出力側は試験信号発生器の出力側Ｆである。排他
ORゲート１５の出力側に論理値Ｈの信号が生ず
れば、600Hzの矩形波交流電圧がANDゲート１６
及びORゲート１８を介して試験信号発生器の出
力側Ｆに生ずる。600Hzの矩形波交流電圧のこの
導通期間の長さは既述のCCITTパターンに依存
し、75Hzのクロツク周期の整数倍である。これを
第４図により詳細に説明する。第４図は第３図の
試験信号発生器の動作の説明に供するパルスダイ
ヤグラムである。第４図１には1200Hzのクロツク
が略示されている。この1200Hzのクロツクの立上
縁により分周器１２が励振される。第４図の２は
600Hzの矩形波電圧を示す。この矩形波電圧は分
周器１２の第１段の出力側から線路１７を介して
ANDゲート１６に加わる。第４図３は線路１３
の75Hzのクロツクを示す。第４図４には出力側Ａ
に生ずる擬似ランダムパターンの一部分が図示さ
れている。出力側Ｅには、出力側Ａの信号に対し
75Hzクロツクの１周期だけずれた擬似ランダムパ
ターンが生ずる。第４図５は、排他ORゲート１
５の出力側Ｂに生ずる信号を示す。クロツクの当
該周期及び後続の周期に出力側Ａに生ずる（第４
図４）２進値が相異なる値である場合には、排他
ORゲート１５の出力側Ｂには論理値Ｈの信号が
生ずる。他方当該周期及び後続の周期に生ずる２
進値が相等しければ、出力側Ｂには論理値Ｌの信
号が生ずる。

出力側Ｂ（第４図５）に75Hzのクロツク周期
（第４図３）の開始と共に生ずる２進値は、1200
Hzのクロツク（第４図１）の次の立上縁により、
双安定マルチバイブレータ１９に転送される。双
安定マルチバイブレータ１９の反転出力側は
ANDゲート２０の一方の入力側に接続される。
ANDゲート２０の他方の入力側は双安定マルチ
バイブレータ２１の出力側Ｄに接続される。
ANDゲート２０の出力側はORゲート１８の他方
の入力側に接続される。双安定マルチバイブレー
タ２１のクロツク入力側はインバータ２２を介し
て排他ORゲート１５の出力により励振される。
第４図６には、出力側の信号が図示されてい
る。出力側の信号は出力側Ｂの信号に対し反転
され、1200Hzクロツクの１周期だけ遅れている。
出力側の信号により、ANDゲート２０は600Hz
クロツクのパルスがANDゲート１６を介して転
送されない間導通可能である。ANDゲート２０
が導通する間、双安定マルチバイブレータ２１の
出力側Ｄの信号が試験信号発生器の出力側Ｆに送
出される。双安定マルチバイブレータ２１の出力
側Ｄに生ずる２進値は、出力側Ｂ（第４図５）の
信号の下降縁毎に切り換わる。第４図７は出力側
Ｄの信号波形を示す。

以上のようにして、ANDゲート１６の出力側
に達する600Hzのパルスの期間に繰返し生ずる休
止期間の２進値は交番的に切り換わる。第４図８
には最終的に得られた試験信号の一部が図示され
ている。第４図８の試験信号では、個々のパルス
列の下降縁の数は８に等しいか又は８の整数倍で
ある。繰り返して生ずる前記休止期間において２
進値が切り換わるようにしたのは、ループ試験に
必要な大きいスペクトル線密度が伝送チヤネル３
の周波数領域全体にわたり試験信号に生ずるよう
にするための付加的措置である。本発明の実施例
では、繰返してパルス列間に生ずる休止期間の２
進値が擬似ランダムコードに従つて切り換わる。
この場合試験信号のスペクトル線密度は一層大き
くなる。

次にループ試験のプロセスについて簡単に説明
する。局２はまず伝送チヤネル３を介して論理値
Ｈの連続状態を送出し、伝送チヤネル７を介して
到来する信号を監視する。遠くの局４の分周器１
０の状態がどうであるかに応じて、伝送チヤネル
７を介して到来する信号は論理値Ｌ及びＨの連続
状態のいずれかである。局２が相応する数の論理
値Ｌのパルスを送出しその結果局２の受信信号が
論理値Ｈから論理値Ｌに切り換わると、分周器１
０は今やその初期状態に切り換わる。分周器１０
の３つの段はこの場合すべて論理値Ｌの状態にあ
る。局２から送出される論理値Ｌのパルスの長さ
は、1200b／ｓの最大伝送速度に相当する。論理
値Ｌのパルス間の間隔は伝送ループの信号伝搬時
間に依存して定まる。

分周器１０がその初期位置に切り換わつた後、
局２は伝送チヤネル３を介して既述の試験信号を
送出する。試験信号は所定の点から開始される。
この所定の点は例えば第４図８のパルス列の開始
点である。このパルス列の長さに応じて、分周器
１０はこのパルス列の期間の間所定数のサイクル
を経過し、次のパルス列の開始の際初期位置に戻
る。試験信号の発生及び分周器１０による分周の
態様を以上のように選べば、分周器１０の出力側
から局２に返送される信号は伝送速度が75b／ｓ
の既述のCCITTパターンに相当し従つて第４図
４の信号波形のようになる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の説明に供する公知のループ試
験装置の略図、第２図は本発明のループ試験装置
の略図、第３図は第２図のループ試験装置に使用
する試験信号発生器の実施例のブロツク回路図、
第４図１〜８は第３図の試験信号発生器の動作の
説明に供するパルスダイヤグラムである。 １，６…送信機入力側、２…近くの局、３，７
…伝送チヤネル、４…遠くの局、５，８…受信機
出力側、９…試験信号発生器、１０…分周器。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 一方の局から他方の局に達するチヤネルが、
   他方の局から一方の局に達するチヤネルの最大伝
   送速度に比し大きい最大伝送速度に構成されてい
   る、非同期方式で動作するデータ伝送区間のルー
   プ試験装置において、試験信号を一方の局から他
   方の局に少なくとも近似的に最大伝送速度で伝送
   し、他方の局の受信機の出力により２進分周器の
   入力側を励振し、２進分周器の出力により他方の
   局の送信機の入力側を励振し、一方の局に返送さ
   れた２進分周器の出力信号が、他方の局から一方
   の局に達するチヤネルの最大伝送速度に少なくと
   も近似的に相応する最も短いステツプ長を有する
   ことを特徴とするデータ伝送区間のループ試験装
   置。