JPS6130778B2 - - Google Patents
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- JPS6130778B2 JPS6130778B2 JP14623480A JP14623480A JPS6130778B2 JP S6130778 B2 JPS6130778 B2 JP S6130778B2 JP 14623480 A JP14623480 A JP 14623480A JP 14623480 A JP14623480 A JP 14623480A JP S6130778 B2 JPS6130778 B2 JP S6130778B2
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- relay device
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- circuit
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 13
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 13
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 4
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 description 2
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 2
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B17/00—Monitoring; Testing
- H04B17/40—Monitoring; Testing of relay systems
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Dc Digital Transmission (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は障害監視方式に関し、例えば光海底中
継システムにおいて障害箇所の探索を行なう方式
に関する。
継システムにおいて障害箇所の探索を行なう方式
に関する。
従来、例えば光海底中継システムにおける障害
箇所の探索方法として、各海底中継装置が双方向
の中継器を内蔵し双方向の中継を行なえることか
ら、端局で発信したテスト信号を該海底中継装置
で折返すことによつて障害箇所の判断を行なうい
わゆるループ・バツク（loop back）方式が提案
されている。
箇所の探索方法として、各海底中継装置が双方向
の中継器を内蔵し双方向の中継を行なえることか
ら、端局で発信したテスト信号を該海底中継装置
で折返すことによつて障害箇所の判断を行なうい
わゆるループ・バツク（loop back）方式が提案
されている。
しかしながら、前記ループバツク方式において
は、端局から遠隔制御によつて各中継装置におけ
る信号折返し径路を形成する必要があるが、その
遠隔制御の具体的な方法および手段はいまだ提案
されていない。
は、端局から遠隔制御によつて各中継装置におけ
る信号折返し径路を形成する必要があるが、その
遠隔制御の具体的な方法および手段はいまだ提案
されていない。
本発明の目的は、前記ループ・バツク方式によ
る障害監視方式において、互にマーク率の異なる
擬似ランダムパルスを各中継装置対応に割当てた
周波数の信号の半周期ごとに交互に切換えてパタ
ーン信号を形成、該パターン信号からテスト信号
を作成するという構想にもとづき、端局からの指
令によつて所望の中継装置を介する折返しループ
を適確に形成できるようにするとともに、実際の
信号伝送状態に近い状態で障害探索ができるよう
にすることにある。
る障害監視方式において、互にマーク率の異なる
擬似ランダムパルスを各中継装置対応に割当てた
周波数の信号の半周期ごとに交互に切換えてパタ
ーン信号を形成、該パターン信号からテスト信号
を作成するという構想にもとづき、端局からの指
令によつて所望の中継装置を介する折返しループ
を適確に形成できるようにするとともに、実際の
信号伝送状態に近い状態で障害探索ができるよう
にすることにある。
本発明は、端局から送信したテスト信号を中継
装置に設けた折返しスイツチを介して端局に折返
すことによつて障害探索を行なう障害監視方式に
おいて、該端局において互にマーク率の異なる擬
似ランダムパルスを該中継装置対応に割当てた周
波数の信号の半周期ごとに交互に切換えてパター
ン信号を形成し、該パターン信号と該パターン信
号を１ビツト遅延させた信号とを排他的論理和演
算した信号を該テスト信号として該端局から送信
し、該中継装置において受信した該テスト信号を
タイプフリツプフロツプに入力した後割当てられ
た周波数の帯域フイルタを用いて該周波数の信号
を抽出し、抽出した該周波数の信号を制御信号と
して前記折返しスイツチを動作させることを特徴
とする。
装置に設けた折返しスイツチを介して端局に折返
すことによつて障害探索を行なう障害監視方式に
おいて、該端局において互にマーク率の異なる擬
似ランダムパルスを該中継装置対応に割当てた周
波数の信号の半周期ごとに交互に切換えてパター
ン信号を形成し、該パターン信号と該パターン信
号を１ビツト遅延させた信号とを排他的論理和演
算した信号を該テスト信号として該端局から送信
し、該中継装置において受信した該テスト信号を
タイプフリツプフロツプに入力した後割当てられ
た周波数の帯域フイルタを用いて該周波数の信号
を抽出し、抽出した該周波数の信号を制御信号と
して前記折返しスイツチを動作させることを特徴
とする。
以下図面を用いて本発明の実施例を説明する。
第１図は本発明の方式を実施するための光中継伝
送システムを示す。同図において、端局１は往路
用の光中継線路３、復路用の光中継線路５および
各中継装置７１，７２，…を介して図示されない
他の端局と接続されている。各中継装置７１，７
２，…は同じ構成にされており、例えば中継装置
７１は、往路用の光中継線路３に挿入された往路
用中継器７１１、復路用の光中継線路５に挿入さ
れた復路用中継器７１２、各中継器７１１および
７１２の間に設けられた折返しスイツチ７１３お
よび折返しスイツチ７１３の動作を制御するスイ
ツチ制御装置７１４を具備する。
第１図は本発明の方式を実施するための光中継伝
送システムを示す。同図において、端局１は往路
用の光中継線路３、復路用の光中継線路５および
各中継装置７１，７２，…を介して図示されない
他の端局と接続されている。各中継装置７１，７
２，…は同じ構成にされており、例えば中継装置
７１は、往路用の光中継線路３に挿入された往路
用中継器７１１、復路用の光中継線路５に挿入さ
れた復路用中継器７１２、各中継器７１１および
７１２の間に設けられた折返しスイツチ７１３お
よび折返しスイツチ７１３の動作を制御するスイ
ツチ制御装置７１４を具備する。
このような光伝送中継システムにおいては、通
常は各中継装置７１，７２，…内の折返しスイツ
チ７１３，７２３，…はオフにされており、各中
継装置７１，７２，…は往復両方向の中継伝送を
行なつている。これに対して障害探索時は、端局
１から後述のスイツチ制御信号を含むテスト信号
を特定の中継装置に送信することにより該中継装
置の折返しスイツチがオンにされ、往路用の光中
継線路３と該中継装置と復路用の光中継線路５と
を含む折返しループが形成される。この折返しル
ープを用いて端局１からテスト信号の送受を行な
うことによつて該中継装置までの区間の障害を探
索することができる。このような障害探索の方式
をループ・バツク方式と称する。このようにし
て、端局１から各中継装置までの区間の障害を順
次探索することによつて光中継伝送システムの障
害箇所を検出することができる。
常は各中継装置７１，７２，…内の折返しスイツ
チ７１３，７２３，…はオフにされており、各中
継装置７１，７２，…は往復両方向の中継伝送を
行なつている。これに対して障害探索時は、端局
１から後述のスイツチ制御信号を含むテスト信号
を特定の中継装置に送信することにより該中継装
置の折返しスイツチがオンにされ、往路用の光中
継線路３と該中継装置と復路用の光中継線路５と
を含む折返しループが形成される。この折返しル
ープを用いて端局１からテスト信号の送受を行な
うことによつて該中継装置までの区間の障害を探
索することができる。このような障害探索の方式
をループ・バツク方式と称する。このようにし
て、端局１から各中継装置までの区間の障害を順
次探索することによつて光中継伝送システムの障
害箇所を検出することができる。
第２図は、端局１内に設けられているテスト信
号発生装置の概略を示す。同図において、擬似ラ
ンダムパルス発生回路（以下PN発生回路と称す
る）９はよりマーク率が小なる擬似ランダムパル
スを発生する回路であり、PN発生回路１１はよ
りマーク率が大なる擬似ランダムパルスを発生す
る回路であり、これらの２つのPN発生回路９，
１１はともに各中継線路の基本クロツク周波数
Oと同期した擬似ランダムパルスを発生する。マ
ーク率変調回路１３は各々のPN発生回路９，１
１からの互にマーク率の異なる擬似ランダムパル
スを各中継装置ごとに相異なる周波数Rで変調
するものである。すなわち、各中継装置７１，７
２，…に対応してそれぞれR＝R1，R2，…
が割当てられており、例えば中継装置７１におい
て信号折返しを行なう場合はR＝R1とされ
る。したがつて、マーク率変調回路１３の出力点
ａの信号は、第３図に示すように、周波数Rの
信号の半周期ごとにマーク率が大なる擬似ランダ
ムパルスとマーク率が小なる擬似ランダムパルス
とが交互に切換えられて形成されるパターン信号
となる。プリコード回路１５は該パターン信号の
マーク率を実際の伝送信号のマーク率に近づける
ための回路であり、該パターン信号を１ビツト、
すなわち１／O時間、遅延させる遅延回路１５
１と排他的論理和回路１５２とからなる。
号発生装置の概略を示す。同図において、擬似ラ
ンダムパルス発生回路（以下PN発生回路と称す
る）９はよりマーク率が小なる擬似ランダムパル
スを発生する回路であり、PN発生回路１１はよ
りマーク率が大なる擬似ランダムパルスを発生す
る回路であり、これらの２つのPN発生回路９，
１１はともに各中継線路の基本クロツク周波数
Oと同期した擬似ランダムパルスを発生する。マ
ーク率変調回路１３は各々のPN発生回路９，１
１からの互にマーク率の異なる擬似ランダムパル
スを各中継装置ごとに相異なる周波数Rで変調
するものである。すなわち、各中継装置７１，７
２，…に対応してそれぞれR＝R1，R2，…
が割当てられており、例えば中継装置７１におい
て信号折返しを行なう場合はR＝R1とされ
る。したがつて、マーク率変調回路１３の出力点
ａの信号は、第３図に示すように、周波数Rの
信号の半周期ごとにマーク率が大なる擬似ランダ
ムパルスとマーク率が小なる擬似ランダムパルス
とが交互に切換えられて形成されるパターン信号
となる。プリコード回路１５は該パターン信号の
マーク率を実際の伝送信号のマーク率に近づける
ための回路であり、該パターン信号を１ビツト、
すなわち１／O時間、遅延させる遅延回路１５
１と排他的論理和回路１５２とからなる。
ところで、該プリコード回路１５の入力信号の
マーク率をPi、出力信号のマーク率をPoとする
と、該出力信号は排他的論理和回路１５２の２つ
の入力が互に異符号のときに高レベルになるから Po＝2Pi（１−Pi） …(1) となる。したがつて、例えば各PN発生回路９お
よび１１から発生される擬似ランダムパルスのマ
ーク率をそれぞれ1/4および3/4とすると、これら
のマーク率の値を式(1)のPiに代入すると Po＝２・１／４・３／４＝２・３／４・１／４＝６／
１６…(2) となり、いずれの場合もマーク率Poは6/16すな
わち37.5％になる。すなわち、プリコード回路１
５によつて第３図に示されるようなパターン信号
のマーク率を常に37.5％にすることができるた
め、該プリコード回路１５の出力信号をテスト信
号として用いることにより実際の伝送路信号のマ
ーク率に近い信号で障害探索を行なうことができ
るから光中継伝送システムの信号誤りの検出精度
を高めることができる。
マーク率をPi、出力信号のマーク率をPoとする
と、該出力信号は排他的論理和回路１５２の２つ
の入力が互に異符号のときに高レベルになるから Po＝2Pi（１−Pi） …(1) となる。したがつて、例えば各PN発生回路９お
よび１１から発生される擬似ランダムパルスのマ
ーク率をそれぞれ1/4および3/4とすると、これら
のマーク率の値を式(1)のPiに代入すると Po＝２・１／４・３／４＝２・３／４・１／４＝６／
１６…(2) となり、いずれの場合もマーク率Poは6/16すな
わち37.5％になる。すなわち、プリコード回路１
５によつて第３図に示されるようなパターン信号
のマーク率を常に37.5％にすることができるた
め、該プリコード回路１５の出力信号をテスト信
号として用いることにより実際の伝送路信号のマ
ーク率に近い信号で障害探索を行なうことができ
るから光中継伝送システムの信号誤りの検出精度
を高めることができる。
第４図は、各中継装置に設けられているスイツ
チ制御装置におけるスイツチ制御信号抽出回路の
構成を示す。スイツチ制御信号抽出回路は分周回
路１７およびバンドパス・フイルタ１９からな
り、分周回路１７は例えばＤフリツプ・フロツプ
１７１で構成される。また、バンドパス・フイル
タ１９は各中継装置ごとに割当てられた周波数
Rの信号のみを通過させるものである。
チ制御装置におけるスイツチ制御信号抽出回路の
構成を示す。スイツチ制御信号抽出回路は分周回
路１７およびバンドパス・フイルタ１９からな
り、分周回路１７は例えばＤフリツプ・フロツプ
１７１で構成される。また、バンドパス・フイル
タ１９は各中継装置ごとに割当てられた周波数
Rの信号のみを通過させるものである。
上述のスイツチ制御信号抽出回路においては、
端局から送られてきた前記テスト信号が分周回路
１７の入力すなわちＤフリツプ・フロツプ１７１
のクロツク入力Ｃに印加される。該テスト信号は
分周回路１７で分周されることにより第５図ａに
示すパターン信号が得られ、このパターン信号は
第３図に示すパターン信号と同じものになる。こ
のパターン信号はバンドパス・フイルタ１９に印
加され、第５図ｂに示されるような周波数Rの
信号成分が取出される。この周波数Rの信号成
分は中継装置に設けられた折返しスイツチを動作
させるための制御信号として用いられる。したが
つて、端局から特定の中継装置、例えば第１図の
中継装置７２、の間でループパツク方式による障
害探索を行なう場合は、端局から周波数R2で変
調された前記テスト信号を送信することにより、
中継装置７２の折返しスイツチ７２３を動作させ
ることができる。このようにして、端局より送信
したテスト信号等を折返しスイツチ７２３を介し
て再び端局に返送することができる。したがつ
て、端局においては例えば送信したテスト信号と
受信したテスト信号を比較することにより、符号
誤り率を測定することができるから光中継システ
ムにおける劣化区間の探索および標定を行なうこ
とができる。
端局から送られてきた前記テスト信号が分周回路
１７の入力すなわちＤフリツプ・フロツプ１７１
のクロツク入力Ｃに印加される。該テスト信号は
分周回路１７で分周されることにより第５図ａに
示すパターン信号が得られ、このパターン信号は
第３図に示すパターン信号と同じものになる。こ
のパターン信号はバンドパス・フイルタ１９に印
加され、第５図ｂに示されるような周波数Rの
信号成分が取出される。この周波数Rの信号成
分は中継装置に設けられた折返しスイツチを動作
させるための制御信号として用いられる。したが
つて、端局から特定の中継装置、例えば第１図の
中継装置７２、の間でループパツク方式による障
害探索を行なう場合は、端局から周波数R2で変
調された前記テスト信号を送信することにより、
中継装置７２の折返しスイツチ７２３を動作させ
ることができる。このようにして、端局より送信
したテスト信号等を折返しスイツチ７２３を介し
て再び端局に返送することができる。したがつ
て、端局においては例えば送信したテスト信号と
受信したテスト信号を比較することにより、符号
誤り率を測定することができるから光中継システ
ムにおける劣化区間の探索および標定を行なうこ
とができる。
したがつて、本発明によれば、ループ・バツク
方式による障害監視方式において、端局から実際
の伝送信号のマーク率に近いマーク率のテスト信
号を送ることができ、かつ該テスト信号は各中継
装置の折返しスイツチを動作させるスイツチ制御
信号を含んでいるから、スイツチ制御信号を各中
継装置に確実に送ることができる。そのため、テ
スト信号の折返しループを適確に形成することが
できるとともに、実際の信号伝送状態に近い条件
下で障害箇所の探索および標定を行なうことがで
きる。
方式による障害監視方式において、端局から実際
の伝送信号のマーク率に近いマーク率のテスト信
号を送ることができ、かつ該テスト信号は各中継
装置の折返しスイツチを動作させるスイツチ制御
信号を含んでいるから、スイツチ制御信号を各中
継装置に確実に送ることができる。そのため、テ
スト信号の折返しループを適確に形成することが
できるとともに、実際の信号伝送状態に近い条件
下で障害箇所の探索および標定を行なうことがで
きる。
第１図は、本発明の方式を実施するための光中
継伝送システムの１例を示す概略的ブロツク回路
図、第２図は、第１図のシステムにおける端局内
に設けられていテスト信号発生装置の概略的ブロ
ツク回路図、第３図は、第２図のテスト信号発生
装の動作を説明するための波形図、第４図は、第
１図のシステムにおける各中継装置に設けられて
いるスイツチ制御信号抽出回路を示す概略的ブロ
ツク回路図、そして第５図は、第４図の回路の動
作を説明するための波形図である。 １：端局、３：往路用の光中継線路、５：復路
用の中継線路、７１，７２，…：中継装置、７１
１，７２１，…：往路用中継器、７１２，…：復
路用中継器、７１３，７２３，…：折返しスイツ
チ、７１４，７２４，…：スイツチ制御回路、
９，１１：擬似ランダムパルス発生回路、１３：
マーク率変調回路、１５：プリコード回路、１５
１：遅延回路、１５２：排他的論理和回路、１
７：分周回路、１７１：Ｄフリツプ・フロツプ、
１９：バンドパス・フイルタ。
継伝送システムの１例を示す概略的ブロツク回路
図、第２図は、第１図のシステムにおける端局内
に設けられていテスト信号発生装置の概略的ブロ
ツク回路図、第３図は、第２図のテスト信号発生
装の動作を説明するための波形図、第４図は、第
１図のシステムにおける各中継装置に設けられて
いるスイツチ制御信号抽出回路を示す概略的ブロ
ツク回路図、そして第５図は、第４図の回路の動
作を説明するための波形図である。 １：端局、３：往路用の光中継線路、５：復路
用の中継線路、７１，７２，…：中継装置、７１
１，７２１，…：往路用中継器、７１２，…：復
路用中継器、７１３，７２３，…：折返しスイツ
チ、７１４，７２４，…：スイツチ制御回路、
９，１１：擬似ランダムパルス発生回路、１３：
マーク率変調回路、１５：プリコード回路、１５
１：遅延回路、１５２：排他的論理和回路、１
７：分周回路、１７１：Ｄフリツプ・フロツプ、
１９：バンドパス・フイルタ。
Claims (1)
- １ 端局から送信したテスト信号を中継装置に設
けた折返しスイツチを介して該端局に折返すこと
によつて障害探索を行なう障害監視方式におい
て、該端局において互にマーク率の異なる擬似ラ
ンダムパルスを該中継装置対応に割当てた周波数
の信号の半周期ごとに交互に切換えてパターン信
号を形成し、該パターン信号と該パターン信号を
１ビツト遅延させた信号とを排他的論理和演算し
た信号を該テスト信号として該端局から送信し、
該中継装置において受信した該テスト信号をＴ・
タイプフリツプフロツプに入力し、その出力より
割当てられた周波数の帯域フイルタを用いて該周
波数の信号を抽出し、抽出した該周波数の信号を
制御信号として前記折返しスイツチを動作させる
ことを特徴とする障害監視方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14623480A JPS5769946A (en) | 1980-10-21 | 1980-10-21 | Failure monitor system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14623480A JPS5769946A (en) | 1980-10-21 | 1980-10-21 | Failure monitor system |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5769946A JPS5769946A (en) | 1982-04-30 |
| JPS6130778B2 true JPS6130778B2 (ja) | 1986-07-16 |
Family
ID=15403132
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14623480A Granted JPS5769946A (en) | 1980-10-21 | 1980-10-21 | Failure monitor system |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5769946A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58215829A (ja) * | 1982-06-09 | 1983-12-15 | Nec Corp | 中継器障害探索方式 |
| JPS62236240A (ja) * | 1986-04-08 | 1987-10-16 | Nec Corp | リモ−トエラ−レイト測定回路 |
| US5394120A (en) * | 1993-04-13 | 1995-02-28 | Japan Radio Co., Ltd. | Device for testing an amplifier |
-
1980
- 1980-10-21 JP JP14623480A patent/JPS5769946A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5769946A (en) | 1982-04-30 |
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