JPS6336120A - 複光束分光光度計 - Google Patents
複光束分光光度計Info
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- JPS6336120A JPS6336120A JP17837086A JP17837086A JPS6336120A JP S6336120 A JPS6336120 A JP S6336120A JP 17837086 A JP17837086 A JP 17837086A JP 17837086 A JP17837086 A JP 17837086A JP S6336120 A JPS6336120 A JP S6336120A
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Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野]
本発明は、複光束分光光度計に関し、特に、各種波長の
単色光を分割して夫々参照側試料室及び測定側試料室に
入射させ、測定側試料室の入射光束又は透過光と参照側
試料室の入射光束又は透過光を異なる周波数で断続し、
両者断続光束を単一の光検出器に入射させ、その検出出
力に基づき透過率を得る周波数分割方式による複光束分
光光度計に関するものである。
単色光を分割して夫々参照側試料室及び測定側試料室に
入射させ、測定側試料室の入射光束又は透過光と参照側
試料室の入射光束又は透過光を異なる周波数で断続し、
両者断続光束を単一の光検出器に入射させ、その検出出
力に基づき透過率を得る周波数分割方式による複光束分
光光度計に関するものである。
[従来の技術]
従来、複光束分光光度計としては、第4図に示すように
、白色光源lと、この白色光源1に含まれる任意の波長
の単色光を得る回折格子等からなる分光器2と、参照側
試料室3と、分析対象となる試料を収容するための測定
側試料室4と、光検出器としての光電子増倍管5と、分
光器2からの単色光を参照側試料室3及び測定側試料室
4に交互に入射させる回転セクターミラー9と、それに
同期して参照側試料室3及び測定側試料室4の透過光を
交互に光電子増倍管5に導くビームコンバイナー10と
、光電子増倍管5の検出出力を増幅する増幅器6と、そ
の増幅信号から参照側試料室3の透過光量に相当する信
号を取り出す信号分離回路7と、その増幅信号から測定
側試料室4の透過光量に相当する信号を取り出す信号分
離回路8と、を具えた構成である。
、白色光源lと、この白色光源1に含まれる任意の波長
の単色光を得る回折格子等からなる分光器2と、参照側
試料室3と、分析対象となる試料を収容するための測定
側試料室4と、光検出器としての光電子増倍管5と、分
光器2からの単色光を参照側試料室3及び測定側試料室
4に交互に入射させる回転セクターミラー9と、それに
同期して参照側試料室3及び測定側試料室4の透過光を
交互に光電子増倍管5に導くビームコンバイナー10と
、光電子増倍管5の検出出力を増幅する増幅器6と、そ
の増幅信号から参照側試料室3の透過光量に相当する信
号を取り出す信号分離回路7と、その増幅信号から測定
側試料室4の透過光量に相当する信号を取り出す信号分
離回路8と、を具えた構成である。
[解決すべき問題点]
しかしながら、上記従来の複光束分光光度計は、迷光や
光電子増倍管5の暗電流を時分割で零レベル信号どして
逐次測定し、参照側試料室3の透過光量に相当する信号
と零レベル信号の差、測定側試料室4の透過光量に相当
する信号と零レベル信号の差を夫々信号分離回路7,8
に得るのもであるから、例えば第5図に示すように、ミ
ラーMと切欠きSとの間に暗部りを有する回転セクター
ミラー9とビームコンバイナー10が必要とされ、かか
る回転セクターミラー9の使用に伴ない、次の問題点が
あった。
光電子増倍管5の暗電流を時分割で零レベル信号どして
逐次測定し、参照側試料室3の透過光量に相当する信号
と零レベル信号の差、測定側試料室4の透過光量に相当
する信号と零レベル信号の差を夫々信号分離回路7,8
に得るのもであるから、例えば第5図に示すように、ミ
ラーMと切欠きSとの間に暗部りを有する回転セクター
ミラー9とビームコンバイナー10が必要とされ、かか
る回転セクターミラー9の使用に伴ない、次の問題点が
あった。
0回転セクターミラー9の回転数は一般的に数十ヘルツ
程度であり高速回転ができないため、分光器2の波長走
査速度を大きくすると、その断続光束にスペクトルの微
分波形が現われてしまう、したがって、高速波長走査が
できず、短時間測定が困難であった。また1回転セクタ
ーミラー9の暗部りに基づく零レベル信号の測定が必要
であるから、後段の信号処理回路の構成が複雑になると
共に、時間的な制約が大きくなる。
程度であり高速回転ができないため、分光器2の波長走
査速度を大きくすると、その断続光束にスペクトルの微
分波形が現われてしまう、したがって、高速波長走査が
できず、短時間測定が困難であった。また1回転セクタ
ーミラー9の暗部りに基づく零レベル信号の測定が必要
であるから、後段の信号処理回路の構成が複雑になると
共に、時間的な制約が大きくなる。
l多分光器2からの所定の太さの光束を瞬間的に断続し
、矩形状の検出出力を得るには、回転セクターミラー9
は大型のものを必要とし、これを駆動するパルスモータ
等も大型なものとなる。断続すべき両光束に対して回転
セクターミラー9を直角に位置決めする機構や回転ぶれ
を防止する機構が必要で、光学系の調整も煩雑である。
、矩形状の検出出力を得るには、回転セクターミラー9
は大型のものを必要とし、これを駆動するパルスモータ
等も大型なものとなる。断続すべき両光束に対して回転
セクターミラー9を直角に位置決めする機構や回転ぶれ
を防止する機構が必要で、光学系の調整も煩雑である。
(■また、回転セクターミラー9の回転振動やパルスモ
ータ等のノイズが無視できず、高精度測定の障害となる
。
ータ等のノイズが無視できず、高精度測定の障害となる
。
本発明は、上記問題点を解決するものであり、回転セク
ターミラーを排除し、短時間のうちに高精度の測定と小
型化を実現しうる複光束分光光度計を提供することを目
的とする。
ターミラーを排除し、短時間のうちに高精度の測定と小
型化を実現しうる複光束分光光度計を提供することを目
的とする。
[問題点の解決手段]
L記問題点の解決するため、本発明に係る複光束分光光
度計は、次の構成要件を有するものである。
度計は、次の構成要件を有するものである。
■光源部があることや
■該光源部からの光束のうち任意の単色光を取り出す波
長週択部があること。
長週択部があること。
「波長選択部」には、分光器やフィルタが含まれる。
(■該単色光を2光束に分割するビームスプリフタがあ
ること。
ること。
■その一方の光路中に設けられた参照側試料室及びその
他方の光路中に設けられた測定側試料室があること。
他方の光路中に設けられた測定側試料室があること。
■該参照側試料室の入射光束又は透過光束を微小振動又
は無振動により第1の周波数で断続せしめる参照光束断
続手段があること。
は無振動により第1の周波数で断続せしめる参照光束断
続手段があること。
■該測定側試料室の入射光束又は透過光束を微小振動又
は無振動により第1の周波数とは異なる第2の周波数で
断続せしめる測定光束断続手段があること。
は無振動により第1の周波数とは異なる第2の周波数で
断続せしめる測定光束断続手段があること。
ここで、「微小振動により断続せしめる参照光束断続手
段」としては、明暗の固定平行縞格子と。
段」としては、明暗の固定平行縞格子と。
該固定平行縞格子の一方の半面側に重なる明暗の第1の
可動平行縞格子と、第1の可動平行縞格子を該固定平行
縞格子に対して第1の周波数で平行往復動せしめる第1
の原動節とからなり、「微小振動により断続せしめる測
定光束断続手段」としては、該固定平行縞格子と、該固
定平行縞格子の他方の半面側に重なる明暗の第2の可動
平行縞格子と、第2の可動平行縞格子を該固定平行縞格
子に対して第2の周波数で平行往復動せしめる第2の原
動節とからなるものがあり、かかる場合の原動節として
は、電歪素子やボイスコイルがある。
可動平行縞格子と、第1の可動平行縞格子を該固定平行
縞格子に対して第1の周波数で平行往復動せしめる第1
の原動節とからなり、「微小振動により断続せしめる測
定光束断続手段」としては、該固定平行縞格子と、該固
定平行縞格子の他方の半面側に重なる明暗の第2の可動
平行縞格子と、第2の可動平行縞格子を該固定平行縞格
子に対して第2の周波数で平行往復動せしめる第2の原
動節とからなるものがあり、かかる場合の原動節として
は、電歪素子やボイスコイルがある。
また、「無振動で断続せしめる参照光束断続手段及び測
定光束断続手段」としては、音ツ光学素子や電気光学素
子がある。
定光束断続手段」としては、音ツ光学素子や電気光学素
子がある。
■該参照光束の断続光束と該測定光束の断続光束とを共
に受光する単一の光検出器があること。
に受光する単一の光検出器があること。
■該光検出器の検出信号を増幅する増幅器があること。
■該増幅器の増幅信号を第1の周波数で同期整流する参
照側増幅器があること。
照側増幅器があること。
[相]該増幅器の増幅信号を第2の周波数で同期整流す
る測定側増幅器があること。
る測定側増幅器があること。
[作用]
かかる複光束分光光度計によれば、光源部からの光束の
うち任意の単色光は波長選択部で取り出され、ビームス
プリフタで2光束に分割されて夫々参照側試料室及び測
定側試料室へ向けて集光するが、参照側試料室の入射光
束又は透過光束は微小振動又は無振動により第1の周波
数で断続され振幅変調が行われると共に、測定側試料室
の入射光束又は透過光束は微小振動又は無振動により第
1の周波数とは異なる第2の周波数で断続され振幅変調
が行われ、両断続光束は同時に単一の光検出器に入射さ
れ、その光検出器の検出信号が増幅され、しかる後、参
照側増幅器にて上記増幅器の増幅信号を第1の周波数で
同期整流して参照側試料室の透過光量に比例する直流電
圧と測定側増幅器にて上記増幅器の増幅信号を第2の周
波数で同期整流して測定側試料室の透過光量に比例する
直流電圧とが出力されることとなる。
うち任意の単色光は波長選択部で取り出され、ビームス
プリフタで2光束に分割されて夫々参照側試料室及び測
定側試料室へ向けて集光するが、参照側試料室の入射光
束又は透過光束は微小振動又は無振動により第1の周波
数で断続され振幅変調が行われると共に、測定側試料室
の入射光束又は透過光束は微小振動又は無振動により第
1の周波数とは異なる第2の周波数で断続され振幅変調
が行われ、両断続光束は同時に単一の光検出器に入射さ
れ、その光検出器の検出信号が増幅され、しかる後、参
照側増幅器にて上記増幅器の増幅信号を第1の周波数で
同期整流して参照側試料室の透過光量に比例する直流電
圧と測定側増幅器にて上記増幅器の増幅信号を第2の周
波数で同期整流して測定側試料室の透過光量に比例する
直流電圧とが出力されることとなる。
[実施例]
次に、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第1図は1本発明に係る複光束分光光度計の一実施例を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
■は白色光源で、分光分析の目的により極紫外光源、紫
外争可視光源、赤外・遠赤外光源等が利用される。2は
、白色光源1からの光束のうち任意の波長の単色光を得
る回折格子等からなる分光器である。11は、分光器2
からの単色光を2光束に分割するビームスプリッタとし
ての半透鏡である。 +2a 、 12bは、分割され
た単色光を導き参照側試料室3の中心に焦点を結ばすた
めの反射鏡であり、参照側の集光系を構成している。1
2Cは、分割された単色光を導き分析対象となる試料を
収容するための測定側試料室4の中心に焦点を結ばすた
めの反射鏡であり、測定側の集光系を構成している。ま
た、12d 、 12e 、 12fは反射鏡で、反射
鏡12d 、 12fは参照側試料室3の透過光を光検
出器としての光電子増倍管5の受光面に向ける集光系を
構成しており1反射鏡+2e 、 12fは測定側試料
室4の透過光を光電子増倍管5の受光面に向ける集光系
を構成している。
外争可視光源、赤外・遠赤外光源等が利用される。2は
、白色光源1からの光束のうち任意の波長の単色光を得
る回折格子等からなる分光器である。11は、分光器2
からの単色光を2光束に分割するビームスプリッタとし
ての半透鏡である。 +2a 、 12bは、分割され
た単色光を導き参照側試料室3の中心に焦点を結ばすた
めの反射鏡であり、参照側の集光系を構成している。1
2Cは、分割された単色光を導き分析対象となる試料を
収容するための測定側試料室4の中心に焦点を結ばすた
めの反射鏡であり、測定側の集光系を構成している。ま
た、12d 、 12e 、 12fは反射鏡で、反射
鏡12d 、 12fは参照側試料室3の透過光を光検
出器としての光電子増倍管5の受光面に向ける集光系を
構成しており1反射鏡+2e 、 12fは測定側試料
室4の透過光を光電子増倍管5の受光面に向ける集光系
を構成している。
20は光束断続手段で、固定平行縞格子21.第1の可
動平行縞格子22.電歪素子23.第2の可動平行縞格
子24.及び電歪素子25から構成されている。固定平
行縞格子21.第1の可動平行縞格子22、及び電歪素
子23は、参照側試料室3の透過光束を微小振動により
第1の周波数f1で断続せしめる参照光束断続手段を構
成しており、固定平行縞格子21.第2の可動平行縞格
子24.及び電歪素子25は、測定側試料室4の透過光
束を微小振動により第1の周波数f1とは異なる第2の
周波r2数で断続せしめる測定光束断続手段を構成して
いる。
動平行縞格子22.電歪素子23.第2の可動平行縞格
子24.及び電歪素子25から構成されている。固定平
行縞格子21.第1の可動平行縞格子22、及び電歪素
子23は、参照側試料室3の透過光束を微小振動により
第1の周波数f1で断続せしめる参照光束断続手段を構
成しており、固定平行縞格子21.第2の可動平行縞格
子24.及び電歪素子25は、測定側試料室4の透過光
束を微小振動により第1の周波数f1とは異なる第2の
周波r2数で断続せしめる測定光束断続手段を構成して
いる。
第2図に示すように、固定平行縞格子21は等しいピッ
チPで暗部21aと透明部21bとが交互に配列された
格子で、例えば石英板上にフォトエツチングを施して得
られる。この固定平行縞格子21は、光電子増倍管5の
受光面に向う参照側試料室3の透過光束及び測定側試料
室4の透過光束を横断するよう両光路中に介在している
。第1の可動平行縞格子22及び第2の可動平行縞格子
24は、固定平行縞格子21と同様に、空間周波数とピ
ッチPが等しく、暗部22a 、 24aと透明部22
b、24bとが交互に配列された格子であり、第1の可
動平行縞格子22は固定平行縞格子21の一方の半面側
に重なるよう対向配置され、参照側試料室3の透過光束
の光路中に介在している。また、第2の可動平行縞格子
24は固定平行縞格子21の他方の半面側に重なるよう
対向配置され、測定側試料室4の透過光束の光路中に介
在している。第1の可動平行縞格子22の一端には原動
節としての電歪素子23が接合しており、この電歪素子
23はドライブ回路30より駆動される。また、第2の
可動平行縞格子24の一端には原動節としての電歪素子
25が接合しており、この電歪素子25はドライブ回路
31より駆動される。なお、電歪素子の代りにボイスコ
イルを用いてもよい。
チPで暗部21aと透明部21bとが交互に配列された
格子で、例えば石英板上にフォトエツチングを施して得
られる。この固定平行縞格子21は、光電子増倍管5の
受光面に向う参照側試料室3の透過光束及び測定側試料
室4の透過光束を横断するよう両光路中に介在している
。第1の可動平行縞格子22及び第2の可動平行縞格子
24は、固定平行縞格子21と同様に、空間周波数とピ
ッチPが等しく、暗部22a 、 24aと透明部22
b、24bとが交互に配列された格子であり、第1の可
動平行縞格子22は固定平行縞格子21の一方の半面側
に重なるよう対向配置され、参照側試料室3の透過光束
の光路中に介在している。また、第2の可動平行縞格子
24は固定平行縞格子21の他方の半面側に重なるよう
対向配置され、測定側試料室4の透過光束の光路中に介
在している。第1の可動平行縞格子22の一端には原動
節としての電歪素子23が接合しており、この電歪素子
23はドライブ回路30より駆動される。また、第2の
可動平行縞格子24の一端には原動節としての電歪素子
25が接合しており、この電歪素子25はドライブ回路
31より駆動される。なお、電歪素子の代りにボイスコ
イルを用いてもよい。
6は、光電子増倍管5の検出出力を電流・電圧変換して
増幅せしめる増幅器である。32は、増幅器6の増幅信
号を第1の周波数f1で同期整流する参照側ロックイン
増幅器で、33は、増幅器6の増幅信号を第2の周波数
f2で同期整流する測定側ロックイン増幅器である。ま
た、34は、ドライブ回路30及び参照側ロックイン増
幅器32に対して第1の周波数f1で同期パルスを印加
せしめるパルス発生器であり、35は、ドライブ回路3
1及び測定側ロックイン増幅器33に対して第2の周波
af2で同tlJIパルスを印加せしめるパルス発生器
である。
増幅せしめる増幅器である。32は、増幅器6の増幅信
号を第1の周波数f1で同期整流する参照側ロックイン
増幅器で、33は、増幅器6の増幅信号を第2の周波数
f2で同期整流する測定側ロックイン増幅器である。ま
た、34は、ドライブ回路30及び参照側ロックイン増
幅器32に対して第1の周波数f1で同期パルスを印加
せしめるパルス発生器であり、35は、ドライブ回路3
1及び測定側ロックイン増幅器33に対して第2の周波
af2で同tlJIパルスを印加せしめるパルス発生器
である。
次に上記実施例の動作を説明するに、まず白色光源1か
らの光束のうち任意の単色光が分光器?で選択され、そ
の単色光は半3!i鏡11で2分割され、一方の分割光
は反射鏡12a 、 +2bを介して参照側試料室3
に案内され、他方の分割光は反射鏡12cを介して測定
側試料室4に案内される。ここに、任意の単色光につい
ての#開側透過光量I。
らの光束のうち任意の単色光が分光器?で選択され、そ
の単色光は半3!i鏡11で2分割され、一方の分割光
は反射鏡12a 、 +2bを介して参照側試料室3
に案内され、他方の分割光は反射鏡12cを介して測定
側試料室4に案内される。ここに、任意の単色光につい
ての#開側透過光量I。
と測定側透過光量Isが直流的に得られる。参照側透過
光束は反射鏡1.2d 、 12fを介して、測定側透
過光束は反射鏡12e 、 12fを介して夫々電子増
倍管5の受光面に対して偏向して同一焦点に集光する。
光束は反射鏡1.2d 、 12fを介して、測定側透
過光束は反射鏡12e 、 12fを介して夫々電子増
倍管5の受光面に対して偏向して同一焦点に集光する。
ここで、パルス発生器34からの第1の周波数f1の同
期パルスに基づき、電歪素子23すなわち第1の可動平
行縞格子22が第1の周波数flでピッチPの振幅の往
復微小振動をしており、また、パルス発生器35からの
第2の周波数12の同期パルスに基づき、電歪素子25
すなわち第2の可動平行縞格子24が第2の周波数f2
でピッチPの振幅の往復微小振動をしている。ここでは
、理解を容易にするためにf2= FIX l/2とし
であるが、一般的には、flとf2とはそれらの高周波
成分が検出器の周波数応答範囲内で一致しないように選
択される。
期パルスに基づき、電歪素子23すなわち第1の可動平
行縞格子22が第1の周波数flでピッチPの振幅の往
復微小振動をしており、また、パルス発生器35からの
第2の周波数12の同期パルスに基づき、電歪素子25
すなわち第2の可動平行縞格子24が第2の周波数f2
でピッチPの振幅の往復微小振動をしている。ここでは
、理解を容易にするためにf2= FIX l/2とし
であるが、一般的には、flとf2とはそれらの高周波
成分が検出器の周波数応答範囲内で一致しないように選
択される。
したがって、参照側透過光束は第1の可動平行縞格子2
2によって第1の周波数f1で断続され、電子増倍管5
の受光面には、フォトエツチングの仕方にもよるが第3
図(A)に示す如くのサインカーブ的に変動する光量I
Q’の断続光束が達することとなり、また、測定側透過
光束は第2の可動平行縞格子24によって第2の周波数
f2で断続され、電子増倍管5の受光面には、第3図(
B)に示す如くのサインカーブ的に変動する光量Is
′の断続光束が達することとなる。これにより、電子増
倍管5の受光面上では両断続光束が重畳混合され、第3
図(C)に示すように、結果的に光1(Io’+Is
’)を受光することとなる。電子増倍管5は第3図(
D)に示すようなこの光量に相当する検出TL流Iを出
力するが、当該検出電流1には電子増倍管5自体の暗電
流Idが重畳されている。増幅器6はこの検出電流工を
増幅して増幅電圧を出力し、増@電圧は参照側ロックイ
ンfe4幅器32及び測定側ロー2クイン#l@器33
に供給される。ここで、参照側ロックイン増幅器32に
は、参照側透過光束の断続周波数と等しい第1の周波数
r1の同期パルスをパルス発生器34より印加されてお
り、この同期パルスと入力信号との同期整流が行われ、
第3図(E)に示すような参照側透過光量IOに比例す
る直流の参照側電圧Io”が得られる。また、測定側ロ
ックイン増幅器33には、測定側透過光束の断続周波数
と等しい第2の周波数r2の同期パルスをパルス発生器
35より印加されており、この同期パルスと入力信号と
の同期整流が行われ、第3図(F)に示すような測定側
透過光量Isに比例する直流の測定側電圧Is”が得ら
れる。
2によって第1の周波数f1で断続され、電子増倍管5
の受光面には、フォトエツチングの仕方にもよるが第3
図(A)に示す如くのサインカーブ的に変動する光量I
Q’の断続光束が達することとなり、また、測定側透過
光束は第2の可動平行縞格子24によって第2の周波数
f2で断続され、電子増倍管5の受光面には、第3図(
B)に示す如くのサインカーブ的に変動する光量Is
′の断続光束が達することとなる。これにより、電子増
倍管5の受光面上では両断続光束が重畳混合され、第3
図(C)に示すように、結果的に光1(Io’+Is
’)を受光することとなる。電子増倍管5は第3図(
D)に示すようなこの光量に相当する検出TL流Iを出
力するが、当該検出電流1には電子増倍管5自体の暗電
流Idが重畳されている。増幅器6はこの検出電流工を
増幅して増幅電圧を出力し、増@電圧は参照側ロックイ
ンfe4幅器32及び測定側ロー2クイン#l@器33
に供給される。ここで、参照側ロックイン増幅器32に
は、参照側透過光束の断続周波数と等しい第1の周波数
r1の同期パルスをパルス発生器34より印加されてお
り、この同期パルスと入力信号との同期整流が行われ、
第3図(E)に示すような参照側透過光量IOに比例す
る直流の参照側電圧Io”が得られる。また、測定側ロ
ックイン増幅器33には、測定側透過光束の断続周波数
と等しい第2の周波数r2の同期パルスをパルス発生器
35より印加されており、この同期パルスと入力信号と
の同期整流が行われ、第3図(F)に示すような測定側
透過光量Isに比例する直流の測定側電圧Is”が得ら
れる。
これら参照側電圧工0″及び測定側電圧Is ″に基づ
き透過率Is “/ I o ”やその対数の吸光度が
算出されることとなるが、ロックイン増幅器32及びロ
ックイン増幅器33による検出により、暗電流1dが自
動的に除去されている。したがって、かかる実施例によ
れば、零レベルの検出が不要であり、且つ電歪素子23
.25と第1の可動平行縞格子22及び第2の可動平行
縞格子24とからなる断続手段は1OKHz程度の高速
断続を実行できるから、断続光束にはスペクトルの微分
波形が伴なわずに、分光器2の波長走査を高速を行なう
ことができ、短時間の分光測定が可能となる。また、第
1の可動平行縞格子22及び第2の可動平行縞格子24
による断続手段によれば、光量の利用率は50%であり
、従来の方式と同様である。上記実施例における固定平
行縞格子21.第1の可動平行縞格子22及び第2の可
動平行縞格子24のピッチPは50ル層程度としてあり
、その微小振動の振幅はそのピッチPに等しくしである
から、はとんど静的な断続に近く、且つ断続手段は小型
にできるから、他の構成要素に対する振動やノイズの影
響を少なくできる。
き透過率Is “/ I o ”やその対数の吸光度が
算出されることとなるが、ロックイン増幅器32及びロ
ックイン増幅器33による検出により、暗電流1dが自
動的に除去されている。したがって、かかる実施例によ
れば、零レベルの検出が不要であり、且つ電歪素子23
.25と第1の可動平行縞格子22及び第2の可動平行
縞格子24とからなる断続手段は1OKHz程度の高速
断続を実行できるから、断続光束にはスペクトルの微分
波形が伴なわずに、分光器2の波長走査を高速を行なう
ことができ、短時間の分光測定が可能となる。また、第
1の可動平行縞格子22及び第2の可動平行縞格子24
による断続手段によれば、光量の利用率は50%であり
、従来の方式と同様である。上記実施例における固定平
行縞格子21.第1の可動平行縞格子22及び第2の可
動平行縞格子24のピッチPは50ル層程度としてあり
、その微小振動の振幅はそのピッチPに等しくしである
から、はとんど静的な断続に近く、且つ断続手段は小型
にできるから、他の構成要素に対する振動やノイズの影
響を少なくできる。
上記実施例の光束断続手段は、平行縞格子往復を用いて
微小振動により光束を高周波数で断続せしめるものであ
るが、音響光学素子やポッケルスセル又はカーセル等の
電気光学素子を用いてもよい、また、2次元の明暗ビッ
トパターンを上記平行縞格子の代りに使用しても同様に
目的が達せられる。上記実施例において光束断続手段は
谷間側透過光及び測定側透過光を断続せしめるものであ
るが、予めそれら入射光を断続せしめるように配置“4
してもよい、なお、固定平行縞格子21.第1の可動平
行縞格子22及び第2の可動平行縞格子24の格子本数
は少ないため、回折による散乱光の影響は少ないが、電
子増倍管5の前に遮光板を配置してもよい。
微小振動により光束を高周波数で断続せしめるものであ
るが、音響光学素子やポッケルスセル又はカーセル等の
電気光学素子を用いてもよい、また、2次元の明暗ビッ
トパターンを上記平行縞格子の代りに使用しても同様に
目的が達せられる。上記実施例において光束断続手段は
谷間側透過光及び測定側透過光を断続せしめるものであ
るが、予めそれら入射光を断続せしめるように配置“4
してもよい、なお、固定平行縞格子21.第1の可動平
行縞格子22及び第2の可動平行縞格子24の格子本数
は少ないため、回折による散乱光の影響は少ないが、電
子増倍管5の前に遮光板を配置してもよい。
[発明の効果]
以上税引したように、本発明に係る複光束分光光度計は
、単一の光検出器を用いた周波数分割方式複光束分光光
度計であり、光束断続手段が微小振動又は無振動で光束
を静的に高速断続する点に特長を有するものであるから
、次の効果を奏する。
、単一の光検出器を用いた周波数分割方式複光束分光光
度計であり、光束断続手段が微小振動又は無振動で光束
を静的に高速断続する点に特長を有するものであるから
、次の効果を奏する。
■参照側試料室の透過光量に比例する直流電圧と測定側
試料室の透過光量に比例する直流電圧を直接得ることが
でき、暗電流の測定が不要であるから、後処理が簡単で
あることはもとより、高速断続が可能な参照光束断続手
段及び測定光束断続手段の存在と相まって、スペクトル
の微分波形が現われない状態で、高速波長走査が可能と
なり、高精度の短時間測定を実現できる。
試料室の透過光量に比例する直流電圧を直接得ることが
でき、暗電流の測定が不要であるから、後処理が簡単で
あることはもとより、高速断続が可能な参照光束断続手
段及び測定光束断続手段の存在と相まって、スペクトル
の微分波形が現われない状態で、高速波長走査が可能と
なり、高精度の短時間測定を実現できる。
くめ断続手段としては、原動節としての電歪素子やボイ
スコイルと平行縞格子とからなる微小振動を利用するも
のや、音響光学素子や電気光学素子の無振動で光束断続
を行なうものであるから、断続手段自体を小型構成でき
、また、2つ断続手段においては相互に同期をとる必要
がないから、部品点数も少なくて済み、装置の小型化及
び低コスト化を図りうる。
スコイルと平行縞格子とからなる微小振動を利用するも
のや、音響光学素子や電気光学素子の無振動で光束断続
を行なうものであるから、断続手段自体を小型構成でき
、また、2つ断続手段においては相互に同期をとる必要
がないから、部品点数も少なくて済み、装置の小型化及
び低コスト化を図りうる。
(■微小振動又は無振動の静的断続手段の存在により、
他の光学部品等にはその振動が波及せず、また、モータ
を使用しないので、ノイズ発生の問題もほとんどなく、
高精度測定を図りうる。従来の回転セクターミラーを用
いた場合、断続すべき光束に対する直角度を維持する機
構や回転ぶれを防1卜する機構が必要であるが、上記断
続手段を用いた場合、比咬的ラフにその配冴角度を設定
でき、光学系の調整が簡単なものとなる。
他の光学部品等にはその振動が波及せず、また、モータ
を使用しないので、ノイズ発生の問題もほとんどなく、
高精度測定を図りうる。従来の回転セクターミラーを用
いた場合、断続すべき光束に対する直角度を維持する機
構や回転ぶれを防1卜する機構が必要であるが、上記断
続手段を用いた場合、比咬的ラフにその配冴角度を設定
でき、光学系の調整が簡単なものとなる。
第1図は、本発明に係る複光束分光光度計の一実施例を
示すブロック図である。 第2図は、同実施例における光束断続手段としての固定
平行縞格子、第1の可動平行縞格子及び第2の可動平行
縞路を示す拡大斜視図である。 第3図(A)乃至(F)は、同実施例の動作を説明する
ための各部の波形を示す波形図である。 第4図は、従来の複光束分光光度計の一例を示すブロッ
ク図である。 第5図は、同従来例において使用される回転セクターミ
ラーを示す平面図である。 1令番・白色光源、2・・φ分光器、3・・・参照側試
料室、4・・・測定側試ネ4室、5・・會光電子増倍管
、6拳・拳増幅器、 11・・φ半透鏡、12a〜12
f φ・・反射鏡、20・・・光束断続手段、21・・
Φ固定平行縞格子、22・・・第1の可動平行縞格子、
23.25・・・電歪素子、24争・−第2の可動平行
縞格子、30,31φ・・ドライブ回路、34,35・
−・パルス発生器、32.33@・Φロックイン増幅器
。
示すブロック図である。 第2図は、同実施例における光束断続手段としての固定
平行縞格子、第1の可動平行縞格子及び第2の可動平行
縞路を示す拡大斜視図である。 第3図(A)乃至(F)は、同実施例の動作を説明する
ための各部の波形を示す波形図である。 第4図は、従来の複光束分光光度計の一例を示すブロッ
ク図である。 第5図は、同従来例において使用される回転セクターミ
ラーを示す平面図である。 1令番・白色光源、2・・φ分光器、3・・・参照側試
料室、4・・・測定側試ネ4室、5・・會光電子増倍管
、6拳・拳増幅器、 11・・φ半透鏡、12a〜12
f φ・・反射鏡、20・・・光束断続手段、21・・
Φ固定平行縞格子、22・・・第1の可動平行縞格子、
23.25・・・電歪素子、24争・−第2の可動平行
縞格子、30,31φ・・ドライブ回路、34,35・
−・パルス発生器、32.33@・Φロックイン増幅器
。
Claims (6)
- (1)光源部と、該光源部からの光束のうち任意の単色
光を取り出す波長選択部と、該単色光を2光束に分割す
るビームスプリッタと、その一方の光路中に設けられた
参照側試料室及びその他方の光路中に設けられた測定側
試料室と、該参照側試料室の入射光束又は透過光束を微
小振動又は無振動により第1の周波数で断続せしめる参
照光束断続手段と、該測定側試料室の入射光束又は透過
光束を微小振動又は無振動により第1の周波数とは異な
る第2の周波数で断続せしめる測定光束断続手段と、該
参照光束の断続光束と該測定光束の断続光束とを共に受
光する単一の光検出器と、該光検出器の検出信号を増幅
する増幅器と、該増幅器の増幅信号を第1の周波数で同
期整流する参照側増幅器と、該増幅器の増幅信号を第2
の周波数で同期整流する測定側増幅器と、を有すること
を特徴とする複光束分光光度計。 - (2)前記参照光束断続手段は、明暗の固定平行縞格子
と、該固定平行線格子の一方の半面側に重なる明暗の第
1の可動平行線格子と、第1の可動平行線格子を該固定
平行線格子に対して第1の周波数で平行往復動せしめる
第1の原動節とからなり、前記測定光束断続手段は、該
固定平行線格子と、該固定平行線格子の他方の半面側に
重なる明暗の第2の可動平行縞格子と、第2の可動平行
縞格子を該固定平行縞格子に対して第2の周波数で平行
往復動せしめる第2の原動節とからなることを特徴とす
る特許請求の範囲第(1)項に記載の複光束分光光度計
。 - (3)前記第1及び第2の原動節は、電歪素子であるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第(2)項に記載の複光
束分光光度計。 - (4)前記第1及び第2の原動節は、ボイスコイルであ
ることを特徴とする特許請求の範囲第(2)項に記載の
複光束分光光度計。 - (5)前記参照光束断続手段及び測定光束断続手段は、
音響光学素子であることを特徴とする特許請求の範囲第
(1)項に記載の複光束分光光度計。 - (6)前記参照光束断続手段及び測定光束断続手段は、
電気光学素子であることを特徴とする特許請求の範囲第
(1)項に記載の複光束分光光度計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17837086A JPS6336120A (ja) | 1986-07-29 | 1986-07-29 | 複光束分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17837086A JPS6336120A (ja) | 1986-07-29 | 1986-07-29 | 複光束分光光度計 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6336120A true JPS6336120A (ja) | 1988-02-16 |
Family
ID=16047306
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17837086A Pending JPS6336120A (ja) | 1986-07-29 | 1986-07-29 | 複光束分光光度計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6336120A (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5832131A (ja) * | 1981-08-20 | 1983-02-25 | Sanyo Electric Co Ltd | 赤外線検出器 |
JPS59162424A (ja) * | 1983-03-05 | 1984-09-13 | Japan Spectroscopic Co | 位相補償型レシオ式分光光度計 |
-
1986
- 1986-07-29 JP JP17837086A patent/JPS6336120A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5832131A (ja) * | 1981-08-20 | 1983-02-25 | Sanyo Electric Co Ltd | 赤外線検出器 |
JPS59162424A (ja) * | 1983-03-05 | 1984-09-13 | Japan Spectroscopic Co | 位相補償型レシオ式分光光度計 |
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