JPS63314490A - 広レンジ放射線測定装置 - Google Patents
広レンジ放射線測定装置Info
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- JPS63314490A JPS63314490A JP62149235A JP14923587A JPS63314490A JP S63314490 A JPS63314490 A JP S63314490A JP 62149235 A JP62149235 A JP 62149235A JP 14923587 A JP14923587 A JP 14923587A JP S63314490 A JPS63314490 A JP S63314490A
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 59
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 23
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 abstract description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 4
- 244000145845 chattering Species 0.000 description 1
- 230000008676 import Effects 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
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-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E30/00—Energy generation of nuclear origin
- Y02E30/30—Nuclear fission reactors
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- Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、複数の放射線検出器を使用したＺレンジ放射
線測定装置に関する。
線測定装置に関する。
原子力発電所等の放射線を発生する施設では。
施設内外での放射線の測定を必要とする。放射線の量は
、微弱なものから強いものまで広範囲にわたる。
、微弱なものから強いものまで広範囲にわたる。
従来の放射線測定装置は、特開昭５９−２１４７８７号
のように、１つの放射線検出器を用いていた。しかし、
放射線検出器は、測定範囲に制限があった。
のように、１つの放射線検出器を用いていた。しかし、
放射線検出器は、測定範囲に制限があった。
例えば、半導体使用の放射線検出器は、線量率で４デ力
−ド程度であった。従って、測定の対象とする測定範囲
毎に、対応する放射線検出器を用意することとした。ま
た、放射線の量を９デカード（１０′″２ｍ Ｒ／ ｈ
〜１０７ｍ Ｒ／ ｈ ）の広範囲にわたっての放射
線検出を行うには、測定範囲の異なる放射線計測装置を
複数個使用していた。
−ド程度であった。従って、測定の対象とする測定範囲
毎に、対応する放射線検出器を用意することとした。ま
た、放射線の量を９デカード（１０′″２ｍ Ｒ／ ｈ
〜１０７ｍ Ｒ／ ｈ ）の広範囲にわたっての放射
線検出を行うには、測定範囲の異なる放射線計測装置を
複数個使用していた。
測定範囲別に別個の装置を使用することは、価額、規模
の増大を招き、好ましくない。
の増大を招き、好ましくない。
本発明の目的は、広い測定範囲にわたって連続的に測定
を可能とした放射線測定装置を提供するものである。
を可能とした放射線測定装置を提供するものである。
本発明は、測定範囲対応の複数個の放射線検出器と、こ
の複数の検出器の１つを選択してその出力を取込み求め
た線量率が当該選択した検出器の測定範囲のものか否か
判定し、範囲内のものであればそのまま測定値とし、範
囲外のものであれば他の放射線検出器の１つを選択して
その出力を取込み線量率を求めるようにした単一の線量
率計と、より成る。
の複数の検出器の１つを選択してその出力を取込み求め
た線量率が当該選択した検出器の測定範囲のものか否か
判定し、範囲内のものであればそのまま測定値とし、範
囲外のものであれば他の放射線検出器の１つを選択して
その出力を取込み線量率を求めるようにした単一の線量
率計と、より成る。
線量率計は、逐次に放射線検出器の出力を取込み、線量
率に合った検出器を自動的に選択でき、この結果、正し
い放射線測定を可能とする。
率に合った検出器を自動的に選択でき、この結果、正し
い放射線測定を可能とする。
第１図は本発明の実施例図を示す。この放射線計測装置
は、３個の放射線検出器ＬＡ、ＩＢ。
は、３個の放射線検出器ＬＡ、ＩＢ。
ＩＣ５３個の切替スイッチ４Ａ、４Ｂ、４Ｃ５前処理部
２．線量率計３より成る。
２．線量率計３より成る。
放射線検出器ＬＡ、ＩＢ、ＩＣは半導体使用の放射線検
出器であり、放射線を受ける面積の大きさによって区分
けしである。小面積の検出器ＩＡは小さい線量率の範囲
の検出、中面績の検出器ＩＢは中程度の線量率の範囲の
検出、大面積の検出器ＩＣは大きい線量率の範囲の検出
に供する。
出器であり、放射線を受ける面積の大きさによって区分
けしである。小面積の検出器ＩＡは小さい線量率の範囲
の検出、中面績の検出器ＩＢは中程度の線量率の範囲の
検出、大面積の検出器ＩＣは大きい線量率の範囲の検出
に供する。
単位時間当り同一のパルス数を発生させるためには１例
えば、小面積の検出器ＩＡは１０２ｍＲ／ｈ、中面績の
検出器ＩＢは１０°ｍＲ／ｈ、大面積の検出器ＩＣは１
０”ｍＲ／ｈの放射線量となる。従って、ある線量が照
射された場合、大面積の検出器ＩＣでは大きなパルス数
となり、小面積の検出器ＩＡでは小さなパルス数となる
。
えば、小面積の検出器ＩＡは１０２ｍＲ／ｈ、中面績の
検出器ＩＢは１０°ｍＲ／ｈ、大面積の検出器ＩＣは１
０”ｍＲ／ｈの放射線量となる。従って、ある線量が照
射された場合、大面積の検出器ＩＣでは大きなパルス数
となり、小面積の検出器ＩＡでは小さなパルス数となる
。
この検出器ＬＡ、ＩＢ、ＩＣには直流電圧Ｖｄが切替ス
イッチ４Ａ、４Ｂ、４Ｇを介して印加する。更に各検出
器ＬＡ、ＩＢ、Ｉｃは共通に接地し、前処理部２と共通
接地をなす。
イッチ４Ａ、４Ｂ、４Ｇを介して印加する。更に各検出
器ＬＡ、ＩＢ、Ｉｃは共通に接地し、前処理部２と共通
接地をなす。
切替スイッチ４Ａ、４Ｂ、４Ｇは、どれか１つが選択さ
れ、ＯＮとなる。この選択は、線量率計３の出力回路９
の出力によって行う、ＯＮとなった切替スイッチに接続
しである検出器には、直流電圧Ｖ−が印加され、この結
果、当該検出器は、放射線の入射があれば、その線量対
応の検出を行う。
れ、ＯＮとなる。この選択は、線量率計３の出力回路９
の出力によって行う、ＯＮとなった切替スイッチに接続
しである検出器には、直流電圧Ｖ−が印加され、この結
果、当該検出器は、放射線の入射があれば、その線量対
応の検出を行う。
前処理部２は、コンデンサ１２と前置増巾器６とより成
る。コンデンサ１２は直流除去を行う。
る。コンデンサ１２は直流除去を行う。
前置増巾器１６は、検出器ＬＡ、ＩＢ、ＩＣの微小出力
の増巾を行う、この増巾器１６の出力は、放射線量に比
例した数のパルスである。
の増巾を行う、この増巾器１６の出力は、放射線量に比
例した数のパルスである。
線量率計３は、コンピュータにより成り、具体的には、
ＣＰＵｌ０．メモリ１１．タイマ７、カウンタ８．出力
回路９１表示器１４．及び共通バス１３より成る。Ｃ’
Ｐ Ｕ １０は各種制御処理を行う、メモリ１１はプロ
グラム、各種データを格納する０表示器１４は、線量率
表示を行う。カウンタ８はタイマ７のタイマ時間の間、
前置増巾器６から出力するパルスを計数する。出力回路
９は切替スイッチ４Ａ、４Ｂ、４Ｇの切替えを行う。
ＣＰＵｌ０．メモリ１１．タイマ７、カウンタ８．出力
回路９１表示器１４．及び共通バス１３より成る。Ｃ’
Ｐ Ｕ １０は各種制御処理を行う、メモリ１１はプロ
グラム、各種データを格納する０表示器１４は、線量率
表示を行う。カウンタ８はタイマ７のタイマ時間の間、
前置増巾器６から出力するパルスを計数する。出力回路
９は切替スイッチ４Ａ、４Ｂ、４Ｇの切替えを行う。
動作を説明する。出力回路９は、先ず切替スイッチ４Ａ
、４Ｂ、４Ｇの中の１つをＯＮにする。
、４Ｂ、４Ｇの中の１つをＯＮにする。
このＯＮ対応の検出器の出力は前処理部２を介して線量
率計３に接続する。そこで、該検出器で放射線検出がな
されると、コンデンサ１２で直流除去を行い、前置増巾
器１６で増巾を行う。一方、カウンタ８は、タイマ７の
タイマ時間Ｔの間、前置増巾器６の出力パルスを計数す
る。このパルスの数は、放射線の線量を示す、この計数
から＃ｌｆｆ１率の算出及び線量率に応じた切替スイッ
チの選択の処理は、ＣＰＵｌ０によって行う。その処理
内容を第２図に示す。
率計３に接続する。そこで、該検出器で放射線検出がな
されると、コンデンサ１２で直流除去を行い、前置増巾
器１６で増巾を行う。一方、カウンタ８は、タイマ７の
タイマ時間Ｔの間、前置増巾器６の出力パルスを計数す
る。このパルスの数は、放射線の線量を示す、この計数
から＃ｌｆｆ１率の算出及び線量率に応じた切替スイッ
チの選択の処理は、ＣＰＵｌ０によって行う。その処理
内容を第２図に示す。
第２図で、カウンタ８は、タイマ時間Ｔの間、前置増巾
器６の出力パルスを計数させる。次に、計算率（出力パ
ルス率）Ｒを（１）式で算出する。
器６の出力パルスを計数させる。次に、計算率（出力パ
ルス率）Ｒを（１）式で算出する。
Ｒ＝Ｘ／Ｔ ・・・（１）計数
率Ｒを利用して（２）式で線量率Ｍを検出する。
率Ｒを利用して（２）式で線量率Ｍを検出する。
Ｍ＝Ｇ−Ｒ十Ｂ ・・・（２）（２
）式で、Ｇ、Ｂは検出器ＬＡ、ＩＢ、ＩＣそれぞれに個
有の定数であり、Ｇはゲイン、Ｂはバイアスである。具
体的には、 検出器ＩＡ・・・Ｇ１． Ｂｌ 検出器ＩＢ・・・（Ｊ２．Ｂ２ 検出器ＩＣ・・・Ｇｓ、 Ｂｓ とする。これらの定数は、メモリ１１の中に格納させて
おく。従って、（２）式のＧ、Ｂは、メモリ１１中に格
納された検出器対応値であり、読出して使用した。
）式で、Ｇ、Ｂは検出器ＬＡ、ＩＢ、ＩＣそれぞれに個
有の定数であり、Ｇはゲイン、Ｂはバイアスである。具
体的には、 検出器ＩＡ・・・Ｇ１． Ｂｌ 検出器ＩＢ・・・（Ｊ２．Ｂ２ 検出器ＩＣ・・・Ｇｓ、 Ｂｓ とする。これらの定数は、メモリ１１の中に格納させて
おく。従って、（２）式のＧ、Ｂは、メモリ１１中に格
納された検出器対応値であり、読出して使用した。
この線量率Ｍを、表示器１４に表示させる。
次に線量率Ｍのレベル判定を行う。線量率Ｍと計数率Ｒ
との関係を第３図に示す、この第３図から明らかなよう
に、検出器ＬＡ、ＩＢ、ＩＣのそれぞれで計数率の差は
それ程大きくはない。検出器ＬＡ、ＩＢ、ＩＣの差は、
ｇ量率の差として現われる。即ち、特性１７Ａは検出器
ＩＡの特性、特性１７Ｂは検出器ＩＢの特性、特性１７
Ｃは検出器１Ｃの特性であり、検出器の種類の違いは、
線量率の違いとして現われる。
との関係を第３図に示す、この第３図から明らかなよう
に、検出器ＬＡ、ＩＢ、ＩＣのそれぞれで計数率の差は
それ程大きくはない。検出器ＬＡ、ＩＢ、ＩＣの差は、
ｇ量率の差として現われる。即ち、特性１７Ａは検出器
ＩＡの特性、特性１７Ｂは検出器ＩＢの特性、特性１７
Ｃは検出器１Ｃの特性であり、検出器の種類の違いは、
線量率の違いとして現われる。
そこで、各特性の中で計測有効範囲を予じめ求めておく
。第３図では線量率Ｍの大きさで次のように区分けして
おく。各範囲は線形を特性範囲であり、範囲外であれば
、非線形となり、算出は困雉となる。
。第３図では線量率Ｍの大きさで次のように区分けして
おく。各範囲は線形を特性範囲であり、範囲外であれば
、非線形となり、算出は困雉となる。
２５Ｍ ＜ ｑ・・・検出器ＩＡ
９６Ｍ ＜ ｒ・・・検出器ＩＢ
１５Ｍ ＜ ｓ・・・検出器Ｉに
の第３図の基準に従って、（２）式で算出した線量率が
どの範囲に入るかを判定する。例えば、切替スイッチ４
ＡをＯＮとし、検出器ＩＡを選択しているとする。そこ
で算出線量率Ｍが、２５Ｍ〈ｑであれば、この選択は正
しいものと判定し、そのまま切替スイッチ４ＡをＯＮＬ
、続け、引き続き放射線の検出を行う。
どの範囲に入るかを判定する。例えば、切替スイッチ４
ＡをＯＮとし、検出器ＩＡを選択しているとする。そこ
で算出線量率Ｍが、２５Ｍ〈ｑであれば、この選択は正
しいものと判定し、そのまま切替スイッチ４ＡをＯＮＬ
、続け、引き続き放射線の検出を行う。
一方、算出線量率Ｍが９６Ｍ（ｒであったとすると、選
択中の検出器ＩＡは該当せず１次に切替スイッチＩＢを
ＯＮとする。このＯＮ対応の検出器ＩＢの出力パルスを
前処理部２を介して取込み線量率Ｍを算出する。このＭ
の算出には、Ｇ２゜Ｂ２を使用する。算出線量率Ｍは、
９６Ｍ （ｒとなれば、検出器ＩＢは正しい測定範囲の
ものとなる。
択中の検出器ＩＡは該当せず１次に切替スイッチＩＢを
ＯＮとする。このＯＮ対応の検出器ＩＢの出力パルスを
前処理部２を介して取込み線量率Ｍを算出する。このＭ
の算出には、Ｇ２゜Ｂ２を使用する。算出線量率Ｍは、
９６Ｍ （ｒとなれば、検出器ＩＢは正しい測定範囲の
ものとなる。
同様に、１５Ｍ ＜ ｓであれば、切替スイッチ４Ｃに
よる検出器ＩＣの選択時に、適合した線量率を得る。
よる検出器ＩＣの選択時に、適合した線量率を得る。
第４図は半導体使用の放射線検出器の構成図を示す。第
４図（イ）は積層構造の検出器の例を示す。第４図（イ
）でケース１５を３層とし、各ケース毎に半導体検出器
ＩＡ、ＩＢ、 ＩＣを搭載した。更に、ケースは共通ア
ース化し、増巾器６と共通アース化させた。各検出器Ｉ
Ａ、ＩＢ、ＩＣからは、絶縁物１６を介してリード線を
導出し、スイッチ４Ａ、４Ｂ、４Ｇへと導いた。
４図（イ）は積層構造の検出器の例を示す。第４図（イ
）でケース１５を３層とし、各ケース毎に半導体検出器
ＩＡ、ＩＢ、 ＩＣを搭載した。更に、ケースは共通ア
ース化し、増巾器６と共通アース化させた。各検出器Ｉ
Ａ、ＩＢ、ＩＣからは、絶縁物１６を介してリード線を
導出し、スイッチ４Ａ、４Ｂ、４Ｇへと導いた。
かかる構成で、各検出器ＩＡ、ＩＢ、ＩＣへは、ケース
１５を突きぬけて放射線が照射する。照射面の大きさは
、（Ｌ Ａ）＜（Ｉ Ｂ）＜（Ｉ Ｃ）とした。
１５を突きぬけて放射線が照射する。照射面の大きさは
、（Ｌ Ａ）＜（Ｉ Ｂ）＜（Ｉ Ｃ）とした。
第４図（ロ）、（ハ）は平面配置の検出器の例を示す。
第４図（ロ）は上面図、第４図（ハ）は断面図を示す。
記号は第４図（イ）と同じである。
測定範囲と切替とは、第３図のｐ−５の範囲で前述した
如き切替えを行う方法以外に、この切替えを行う線量率
にヒステリシス特性を持たせるやり方もある。この結果
、Ｐ＋ ｑ＋ Ｐ＋ ”の各測定境界値でのチャタリ
ングを防止できる。
如き切替えを行う方法以外に、この切替えを行う線量率
にヒステリシス特性を持たせるやり方もある。この結果
、Ｐ＋ ｑ＋ Ｐ＋ ”の各測定境界値でのチャタリ
ングを防止できる。
本実施例によれば、次の効果を持つ。
（ｉ）従来の測定では、ｐ−ｑ又はｑ −ｒ又はｒ〜Ｓ
の単独測定範囲であったが、本実施例によれば、ｐ−８
の３倍の測定範囲の測定が可能となった。
の単独測定範囲であったが、本実施例によれば、ｐ−８
の３倍の測定範囲の測定が可能となった。
（ｉｔ）スイッチ４Ａ、４Ｂ、４Ｃは使用するときのみ
１個ＯＮとなる。半導体放射線検出器は直流電圧Ｖ、印
加を継続した場合、測定寿命が短くなる。然るに、本実
施例では使用時のみＯＮとなることから、このようなこ
とはなく、長寿命化を達成できる。スイッチ４Ａ、４Ｂ
、４Ｃはリレーの接点を使用する。
１個ＯＮとなる。半導体放射線検出器は直流電圧Ｖ、印
加を継続した場合、測定寿命が短くなる。然るに、本実
施例では使用時のみＯＮとなることから、このようなこ
とはなく、長寿命化を達成できる。スイッチ４Ａ、４Ｂ
、４Ｃはリレーの接点を使用する。
また、本発明は、数台の測定範囲の異なる放射線検出器
を切り替えることもできる。さらに半導体放射線検出器
だけでなく、電離霜検出器、シンチレーション検出器等
各種の放射線検出器においても考えられる。同一測定範
囲を有する放射線検出器を数台使用し、切替を行うこと
で検出器の診断、バックアップを行うこともできる。
を切り替えることもできる。さらに半導体放射線検出器
だけでなく、電離霜検出器、シンチレーション検出器等
各種の放射線検出器においても考えられる。同一測定範
囲を有する放射線検出器を数台使用し、切替を行うこと
で検出器の診断、バックアップを行うこともできる。
本発明によれば、一台の放射線測定装置で放射線線量の
広い範囲にわたって測定が可能となるので、装置の小型
化及び操作員の省力化の効果がある。また、使用しない
放射線検出器に電圧を印加しないことで、検出器の損傷
を小さクシ、長寿命の効果もある。
広い範囲にわたって測定が可能となるので、装置の小型
化及び操作員の省力化の効果がある。また、使用しない
放射線検出器に電圧を印加しないことで、検出器の損傷
を小さクシ、長寿命の効果もある。
第１図は本発明の放射線測定装置の実施例図。
第２図はコンピュータによる処理フロー図、第３図は線
量率Ｍと計数率Ｒと検出器ＩＡ、ＩＢ。 ＩＣとの関係を示す図、第４図は半導体使用の放射線検
出器の実施例図である。 ＬＡ、ＩＢ、ＩＣ・・・放射線検出器、４Ａ、４Ｂ。 ４Ｃ・・・切替スイッチ、３・・・線量率計。
量率Ｍと計数率Ｒと検出器ＩＡ、ＩＢ。 ＩＣとの関係を示す図、第４図は半導体使用の放射線検
出器の実施例図である。 ＬＡ、ＩＢ、ＩＣ・・・放射線検出器、４Ａ、４Ｂ。 ４Ｃ・・・切替スイッチ、３・・・線量率計。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、測定線量率範囲が互いに異なる複数の放射線検出器
と、該複数の放射線検出器を切替える切替えスイッチと
、該切替スイッチで選択された放射線検出器の出力パル
スを取込み計数率Ｒを算出する第１の手段と、該算出計
数率Ｒと各放射線検出器毎の固有の算出定数Ｇ、Ｂとを
もとに線量率Ｍを算出する第２の手段と、該算出線量率
Ｍが、選択中の放射線検出器の測定線量率範囲内か否か
判定し、範囲内ならばそのまま切替スイッチの選択状態
を維持させ、範囲外ならば他の切替スイッチを選択する
第３の手段と、より成る広レンジ放射線測定装置。 ２、上記線量率Ｍの算出式は、Ｍ＝Ｇ・Ｒ＋Ｂとする特
許請求の範囲第１項記載の広レンジ放射線測定装置。 ３、上記切替スイッチは、放射線検出器用直流電圧源と
放射線検出器の出力信号線との間に設けてなる特許請求
の範囲第１項記載の広レンジ放射線測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62149235A JPS63314490A (ja) | 1987-06-17 | 1987-06-17 | 広レンジ放射線測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62149235A JPS63314490A (ja) | 1987-06-17 | 1987-06-17 | 広レンジ放射線測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63314490A true JPS63314490A (ja) | 1988-12-22 |
Family
ID=15470832
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62149235A Pending JPS63314490A (ja) | 1987-06-17 | 1987-06-17 | 広レンジ放射線測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63314490A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20180059140A (ko) * | 2016-11-25 | 2018-06-04 | 국방과학연구소 | 고속 핵폭발 검출 장치 및 그 방법 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6161485B2 (ja) * | 1981-11-10 | 1986-12-25 | Yazaki Corp |
-
1987
- 1987-06-17 JP JP62149235A patent/JPS63314490A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6161485B2 (ja) * | 1981-11-10 | 1986-12-25 | Yazaki Corp |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20180059140A (ko) * | 2016-11-25 | 2018-06-04 | 국방과학연구소 | 고속 핵폭발 검출 장치 및 그 방법 |
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