JPS6331356A - 原稿検出装置 - Google Patents
原稿検出装置Info
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- JPS6331356A JPS6331356A JP61176038A JP17603886A JPS6331356A JP S6331356 A JPS6331356 A JP S6331356A JP 61176038 A JP61176038 A JP 61176038A JP 17603886 A JP17603886 A JP 17603886A JP S6331356 A JPS6331356 A JP S6331356A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 20
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 235000014676 Phragmites communis Nutrition 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、平面走査型ファクシミリ等における原稿検出
装置に関する。
装置に関する。
従来、この種の装置において、原稿を検出する方法とし
て、受光素子と発光素子とを組合せた光学七ンテを用い
る方法や、マイクロスイッチを用いる方法があるが、原
稿読取位置に設置できないため、距離的誤差をカウンタ
を用いて補正していた。
て、受光素子と発光素子とを組合せた光学七ンテを用い
る方法や、マイクロスイッチを用いる方法があるが、原
稿読取位置に設置できないため、距離的誤差をカウンタ
を用いて補正していた。
上述した従来の方法では、−学センプ等の取付位置と、
原稿読取位置までを補正するカウンタの調整を必要とし
、その誤差も起りやすく、機構部の制御の点でも複雑に
なるため好ましくなかった。
原稿読取位置までを補正するカウンタの調整を必要とし
、その誤差も起りやすく、機構部の制御の点でも複雑に
なるため好ましくなかった。
また％機構部製造上においても、前記光学センナの取付
位置の精度を考慮する必要があるという欠点があった。
位置の精度を考慮する必要があるという欠点があった。
本発明の原稿検出装置は、原稿読取位置に設置した鏡部
材小片と、前記原稿読取位置からの光量が、前記説面材
小片からの反射光による時に出力電圧レベルが最高レベ
ルになシ、前記鏡部材小片をさえきった原稿からの反射
光による時ボの出力電圧レベルが前記最高レベルより低
くなるように設定した光学読取部と、前記光学読取部か
らの出力電圧レベルに対し、最高レベルか否かを検出す
る手段とを有し、前記出力電圧レベルが最高レベルなら
ば原稿なし、最高レベル以下ならば原稿ありとすること
で、前記原稿読取位置にて原稿検出を可能とすることを
特徴とする。
材小片と、前記原稿読取位置からの光量が、前記説面材
小片からの反射光による時に出力電圧レベルが最高レベ
ルになシ、前記鏡部材小片をさえきった原稿からの反射
光による時ボの出力電圧レベルが前記最高レベルより低
くなるように設定した光学読取部と、前記光学読取部か
らの出力電圧レベルに対し、最高レベルか否かを検出す
る手段とを有し、前記出力電圧レベルが最高レベルなら
ば原稿なし、最高レベル以下ならば原稿ありとすること
で、前記原稿読取位置にて原稿検出を可能とすることを
特徴とする。
次に本発明について１図面を参照して説明する。
第１図は本発明の一実施例のブロック図である。
第２図は本発明の一実施例における機構部の斜視図であ
る。
る。
原稿３が原稿読取位置９に達していないとき。
光源４の光ｒｉ、原稿ガイド１上に設定された鏡部材小
片２により、はぼ全反射され、集光レンズ５よｆｉ、Ｃ
ＣＤ等のイメージセンナよりなる光学読取部６に入力さ
れる。また、原稿３が原稿読取位置９に達し、鏡部材小
片２をさえぎったとき、光源４の光は、原稿３で反射さ
れ鏡部材小片２による反射光より光量の小さい反射光が
集光レンズ５よυ、光学読取部６に原稿３の画像データ
として人力される。光学読取部６の出力信号は１時系列
のアナログ信号として出力されるが、光学読取部６にお
いて走査中に、前記原稿が無い場合鏡面材小片２による
光源４の光がほぼ全反射で入力されるため、その出力信
号ｒｉ最高レベル（飽和レベル）となる。また、原稿３
が有る場合光学読取部６への入力は、原稿３による反射
光のため、光量が。
片２により、はぼ全反射され、集光レンズ５よｆｉ、Ｃ
ＣＤ等のイメージセンナよりなる光学読取部６に入力さ
れる。また、原稿３が原稿読取位置９に達し、鏡部材小
片２をさえぎったとき、光源４の光は、原稿３で反射さ
れ鏡部材小片２による反射光より光量の小さい反射光が
集光レンズ５よυ、光学読取部６に原稿３の画像データ
として人力される。光学読取部６の出力信号は１時系列
のアナログ信号として出力されるが、光学読取部６にお
いて走査中に、前記原稿が無い場合鏡面材小片２による
光源４の光がほぼ全反射で入力されるため、その出力信
号ｒｉ最高レベル（飽和レベル）となる。また、原稿３
が有る場合光学読取部６への入力は、原稿３による反射
光のため、光量が。
全反射のときよ勺小さくその出力信号も最高レベル（飽
和レベル）まで至らない。したがって、光学読取部６の
出力信号が最高レベル（飽和レベル）か否かによ）、原
稿３が原稿読取位１１９に達しているかが識別できるこ
とになる。前記出力信号は。
和レベル）まで至らない。したがって、光学読取部６の
出力信号が最高レベル（飽和レベル）か否かによ）、原
稿３が原稿読取位１１９に達しているかが識別できるこ
とになる。前記出力信号は。
次段の検出回路７と画処理部８とに入力される。
検出回路７において光学読取部６からの出力信号が、最
高レベル（飽和レベル）ならば、ハイ・レベルの出力、
最高レベル（飽和レベル）以下ならばローレベルの出力
とし、ハイ・レベルならば原稿無し、ロー・レベルなら
ば原稿布シとする識別信号を、画処理部８へ出力する。
高レベル（飽和レベル）ならば、ハイ・レベルの出力、
最高レベル（飽和レベル）以下ならばローレベルの出力
とし、ハイ・レベルならば原稿無し、ロー・レベルなら
ば原稿布シとする識別信号を、画処理部８へ出力する。
画処理部８において、検出回路７からの識別信号により
、原稿有シの時のみ光学読取部６からの原稿の画像デー
タの処理をすることになる。
、原稿有シの時のみ光学読取部６からの原稿の画像デー
タの処理をすることになる。
以上のように光学読取部６の出力を検出回路７にてコン
パレートすることで、原稿の有無を検出することになる
。
パレートすることで、原稿の有無を検出することになる
。
第２図において、鏡面付小片２ｒｉ原稿読取位置９のほ
ぼ中央部に設置するが、取付位置の精度は厳密でなくて
よい。
ぼ中央部に設置するが、取付位置の精度は厳密でなくて
よい。
以上説明したように、本発明は原稿読取位置に鏡部材小
片を設置し、原稿なしの時イメージセンナの出力を飽和
レベルにし、原稿検出部で原稿なしの識別信号を出力し
、そうでないなら原稿あシの識別信号を出力することに
より、原稿が読取位置に達するまでマイクロスイッチ等
の余計な原稿検出手段がいらないため、機構部の複雑な
制御がいらない。また、イメージセンナを原稿検出セン
ナと並用していることから、原稿先端、後端の検出がよ
り簡単により正確になる。また、原稿読取位置に鏡部材
小片を設置するだけであり、鏡部材小片の形状、材質に
特別な配慮はいらないことから、原稿検出に関する機構
部製造上の精度問題は回避できるといった効果がある。
片を設置し、原稿なしの時イメージセンナの出力を飽和
レベルにし、原稿検出部で原稿なしの識別信号を出力し
、そうでないなら原稿あシの識別信号を出力することに
より、原稿が読取位置に達するまでマイクロスイッチ等
の余計な原稿検出手段がいらないため、機構部の複雑な
制御がいらない。また、イメージセンナを原稿検出セン
ナと並用していることから、原稿先端、後端の検出がよ
り簡単により正確になる。また、原稿読取位置に鏡部材
小片を設置するだけであり、鏡部材小片の形状、材質に
特別な配慮はいらないことから、原稿検出に関する機構
部製造上の精度問題は回避できるといった効果がある。
第１図は本発明の一実施例のブロック図、第２図は第１
図中の機構部を示す斜視図である。 ｌ・・・・・・原稿ガイド、２・・・・・・鏡部材小片
、３・・・・・・原稿、４・・・・・・光源、５・・・
・・・集光レンズ、６・・・・・・光学読取部、７・・
・・・・検出回路、８・・・・・・画処理部、９・・・
・・・原稿読取位置。
図中の機構部を示す斜視図である。 ｌ・・・・・・原稿ガイド、２・・・・・・鏡部材小片
、３・・・・・・原稿、４・・・・・・光源、５・・・
・・・集光レンズ、６・・・・・・光学読取部、７・・
・・・・検出回路、８・・・・・・画処理部、９・・・
・・・原稿読取位置。
Claims (1)
- 原稿読取位置に設置した鏡面材小片と、前記原稿読取位
置からの光量が、前記鏡面材小片からの反射光による時
に出力電圧レベルが最高レベルになり、前記鏡面材小片
をさえぎった原稿からの反射光による時に出力電圧レベ
ルが前記最高レベルより低くなるように設定した光学読
取部と、前記光学読取部からの出力電圧レベルに対し、
最高レベルか否かを検出する手段とを有し、前記出力電
圧レベルが最高レベルならば原稿なし、最高レベル以下
ならば原稿ありとすることで、前記原稿読取位置にて原
稿検出を可能とすることを特徴とする原稿検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61176038A JPS6331356A (ja) | 1986-07-25 | 1986-07-25 | 原稿検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61176038A JPS6331356A (ja) | 1986-07-25 | 1986-07-25 | 原稿検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6331356A true JPS6331356A (ja) | 1988-02-10 |
Family
ID=16006633
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61176038A Pending JPS6331356A (ja) | 1986-07-25 | 1986-07-25 | 原稿検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6331356A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100447611C (zh) * | 2001-09-20 | 2008-12-31 | 丽兹姆股份有限公司 | 放射标准激光线用的合成树脂凹面锥形透镜 |
-
1986
- 1986-07-25 JP JP61176038A patent/JPS6331356A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100447611C (zh) * | 2001-09-20 | 2008-12-31 | 丽兹姆股份有限公司 | 放射标准激光线用的合成树脂凹面锥形透镜 |
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