JPS63311710A - 磁気バブル素子 - Google Patents
磁気バブル素子Info
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- JPS63311710A JPS63311710A JP62147096A JP14709687A JPS63311710A JP S63311710 A JPS63311710 A JP S63311710A JP 62147096 A JP62147096 A JP 62147096A JP 14709687 A JP14709687 A JP 14709687A JP S63311710 A JPS63311710 A JP S63311710A
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- magnetic
- magnetic bubble
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- garnet film
- bubble
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Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Thin Magnetic Films (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、磁気バブル素子に係り、特に記憶密度が1
cm’当り16メガビツト以上で、かつ動作温度範囲が
広い広温度域磁気バブル素子に関する。
cm’当り16メガビツト以上で、かつ動作温度範囲が
広い広温度域磁気バブル素子に関する。
磁気バブル素子の記憶密度を1 cm”当り16メガビ
ツト以上とするためには、磁気バブルの直径を約0.6
−以下とする必要がある。このような磁気バブルを保持
することが可能な磁性ガーネット膜を持つ磁気バブル素
子としては、アイ・イー・イー・イー、トランザクショ
ン オン マグネチックス、エム ニー ジー22 (
1986年)第168頁から第174頁(I E E
E 、 Trans、 Magnetics。
ツト以上とするためには、磁気バブルの直径を約0.6
−以下とする必要がある。このような磁気バブルを保持
することが可能な磁性ガーネット膜を持つ磁気バブル素
子としては、アイ・イー・イー・イー、トランザクショ
ン オン マグネチックス、エム ニー ジー22 (
1986年)第168頁から第174頁(I E E
E 、 Trans、 Magnetics。
MAG22 (1986) pp、168−174)記
載の(SmLuGd)、(FeAn)、0.−、膜ある
いは、(BiDySmLu)3(F eAll)s O
1□膜などを用いた磁気バブル素子が知られている。ま
た、(BiDySmLu)、(Fe+’IQ)。
載の(SmLuGd)、(FeAn)、0.−、膜ある
いは、(BiDySmLu)3(F eAll)s O
1□膜などを用いた磁気バブル素子が知られている。ま
た、(BiDySmLu)、(Fe+’IQ)。
0工2膜の磁気バブル転送特性などに関しては、特開昭
61−187305号公報において詳細に述べられてい
る。
61−187305号公報において詳細に述べられてい
る。
上述したごとく、従来技術においては、磁気バブル素子
の動作温度範囲を広げるという点については全く配慮が
なされていなかった。そして、マテリアルス リサーチ
プルテン 第17巻(1982年)第1483頁から
第1490頁(Mat、 Res、 Bull、。
の動作温度範囲を広げるという点については全く配慮が
なされていなかった。そして、マテリアルス リサーチ
プルテン 第17巻(1982年)第1483頁から
第1490頁(Mat、 Res、 Bull、。
Vol、17 (1982) pp、1483〜149
0)に記載の第3図に示されているごと<、(YSmL
uCa)3(FeG e)s○、2膜および(YSmL
uGd)、(FeGa)。
0)に記載の第3図に示されているごと<、(YSmL
uCa)3(FeG e)s○、2膜および(YSmL
uGd)、(FeGa)。
○、2膜において、特に0℃以下の低温で、磁気バブル
が存在し得るバイアス磁界の上限であるバブル消減磁界
H8の温度に対する変化が非線型となることから、磁気
バブル素子の動作温度範囲の下限を、0℃よりも低くす
ることが困難であるという問題があった。
が存在し得るバイアス磁界の上限であるバブル消減磁界
H8の温度に対する変化が非線型となることから、磁気
バブル素子の動作温度範囲の下限を、0℃よりも低くす
ることが困難であるという問題があった。
これに対し、近年、磁気バブル素子の高記憶密度化と同
時に動作温度範囲を広くして、さらにその用途を拡大し
たいとする要請が高まっている。
時に動作温度範囲を広くして、さらにその用途を拡大し
たいとする要請が高まっている。
本発明の目的は、従来技術における磁気バブル素子の問
題点を解消し、かつ用途拡大の要求を満足させ高記憶密
度で、しかも動作温度範囲の広い広温度域磁気バブル素
子を提供することにある。
題点を解消し、かつ用途拡大の要求を満足させ高記憶密
度で、しかも動作温度範囲の広い広温度域磁気バブル素
子を提供することにある。
本発明者らは、上記本発明の目的を達成するために2種
々の組成の磁性ガーネット膜を含む磁気バブル素子につ
いて、その特性を調査した。その結果、磁性ガーネット
膜の組成を。
々の組成の磁性ガーネット膜を含む磁気バブル素子につ
いて、その特性を調査した。その結果、磁性ガーネット
膜の組成を。
一般式
%式%
(式中9MはAn、Gaの2種の元素のうちより選ばれ
る少なくとも1種の元素を表わし、w、x。
る少なくとも1種の元素を表わし、w、x。
yおよび2は、それぞれ
0.02≦W≦0.2
0(x≦1.0
0.2≦y≦0.8
0 ≦2≦0.6
の範囲内の数値を表わす。)
で示される組成の磁性ガーネット膜とすることにより、
高記憶密度で、しかも動作温度範囲の広い広温度域磁気
バブル素子が得られることを見い出した。
高記憶密度で、しかも動作温度範囲の広い広温度域磁気
バブル素子が得られることを見い出した。
磁気バブル素子の動作温度範囲を広げるためには、磁気
バブルが存在し得るバイアス磁界の上限および下限(そ
れぞれ、バブル消減磁界H8およびストリップアウト磁
界H2と呼ぶ)の温度に対する変化が直線的であること
が重要な要素となる。
バブルが存在し得るバイアス磁界の上限および下限(そ
れぞれ、バブル消減磁界H8およびストリップアウト磁
界H2と呼ぶ)の温度に対する変化が直線的であること
が重要な要素となる。
すなわち、磁気バブル素子においては9通常、キュリ一
温度が十分高い永久磁石によって、バイアス磁界)IB
を発生させているので、HBの温度に対する変化は直線
的である。したがって、 Ho、Hzの温度変化が第2
図に示すごとく非線型であると。
温度が十分高い永久磁石によって、バイアス磁界)IB
を発生させているので、HBの温度に対する変化は直線
的である。したがって、 Ho、Hzの温度変化が第2
図に示すごとく非線型であると。
H2(曲線3 ) < HB(直線2)<Ho(曲線1
)の条件を広い温度範囲で成立させることが困難となり
。
)の条件を広い温度範囲で成立させることが困難となり
。
磁2バブル素子の動作可能な温度範囲が狭くなってしま
う。
う。
ところで、HoおよびH7は磁性ガーネット膜の磁化に
ほぼ比例することが知られている。そして。
ほぼ比例することが知られている。そして。
従来の磁性ガーネット膜である( S m L u G
d)3(F eAIl)s O、、および(BiDy
SmLu)3(FeAQ)。
d)3(F eAIl)s O、、および(BiDy
SmLu)3(FeAQ)。
01□に含まれるGd3+あるいは’Dy3+は4面体
位首のFeの磁化とは逆向きの磁化を持っており、温度
変化率も逆符号になっている。上記従来の磁性ガーネッ
ト膜では、これらの元素の濃度を適当な範囲にすること
によって、室温付近でのH8およびH2の温度変化率を
、安価なりaフェライト磁石によるバイアス磁界の温度
変化率(−0,2%/℃)に適合させていた。しかし、
これらの磁性ガーネット膜のHoの温度に対する変化を
詳細に調べてみると、Hoは一30℃付近で最大となり
、それ以下の温度では温度変化率が逆転してしまう。先
に述べたように、永久磁石によるバイアス磁界の温度変
化率は、直線的であるため、このような磁性ガーネット
膜を用いた場合、−30°C以下の温度で磁気バブル素
子を動作させることは困難となる。
位首のFeの磁化とは逆向きの磁化を持っており、温度
変化率も逆符号になっている。上記従来の磁性ガーネッ
ト膜では、これらの元素の濃度を適当な範囲にすること
によって、室温付近でのH8およびH2の温度変化率を
、安価なりaフェライト磁石によるバイアス磁界の温度
変化率(−0,2%/℃)に適合させていた。しかし、
これらの磁性ガーネット膜のHoの温度に対する変化を
詳細に調べてみると、Hoは一30℃付近で最大となり
、それ以下の温度では温度変化率が逆転してしまう。先
に述べたように、永久磁石によるバイアス磁界の温度変
化率は、直線的であるため、このような磁性ガーネット
膜を用いた場合、−30°C以下の温度で磁気バブル素
子を動作させることは困難となる。
それで、磁性ガーネット膜中のGdiあるいはDy量を
変化させて、Hoの温度変化を調べた結果。
変化させて、Hoの温度変化を調べた結果。
第3図に見られるように、Gdを含む磁性ガーネット膜
(SmLuGd)3(FeAQ)soxzに対して、
Gd(あるいはDy)を含まない組成((S m L
u)i(FeAQ)ioxz)の磁性ガーネット膜にお
いては。
(SmLuGd)3(FeAQ)soxzに対して、
Gd(あるいはDy)を含まない組成((S m L
u)i(FeAQ)ioxz)の磁性ガーネット膜にお
いては。
Hoの温度に対する変化を極めて直線に近いものにする
ことができた。第1図は、温度とH8の関係を示す曲線
と、この曲線の室温(25℃)で接するように引いた直
線(25℃における接線)aからのずれ率ΔHO/HO
(%)と温度との関係を示した図である。この図に見ら
れるようにGdあるいはDyを含まない組成の磁性ガー
ネット膜((SmL u)3(F eAQ)s O□z
)に、さらにpbおよびBiを添加した本発明の磁性
ガーネット膜である(pbB i S m L u)、
(F eAり、 01□膜においてはHoの25℃に
おける接線aからのずれ率ΔH,/H,を一層小さなも
のとすることができる。これは、PbおよびBiの添加
によってFe’+間の磁気的な相互作用が影響を受け、
磁化の温度に対する変化が小さくなったためではないか
と考えられるが、詳細は明らかではない。
ことができた。第1図は、温度とH8の関係を示す曲線
と、この曲線の室温(25℃)で接するように引いた直
線(25℃における接線)aからのずれ率ΔHO/HO
(%)と温度との関係を示した図である。この図に見ら
れるようにGdあるいはDyを含まない組成の磁性ガー
ネット膜((SmL u)3(F eAQ)s O□z
)に、さらにpbおよびBiを添加した本発明の磁性
ガーネット膜である(pbB i S m L u)、
(F eAり、 01□膜においてはHoの25℃に
おける接線aからのずれ率ΔH,/H,を一層小さなも
のとすることができる。これは、PbおよびBiの添加
によってFe’+間の磁気的な相互作用が影響を受け、
磁化の温度に対する変化が小さくなったためではないか
と考えられるが、詳細は明らかではない。
以下に本発明の一実施例を挙げ、さらに詳細に説明する
。
。
(実施例1)
第1表の融液1に示す組成の融液を用いて。
P b6.57 B i6、@ Lu1,71 S m
6.7@ F e4.@、AJ16.1@0□2膜を(
111)面のGd、Ga、O,、基板上にエピタキシャ
ル成長させた。この融液の飽和温度は850℃であり、
磁性ガーネット膜は819℃で成長させた。磁性ガーネ
ット膜の膜厚は0.50,1/II+、磁気バブルの直
径は0.49.であった。
6.7@ F e4.@、AJ16.1@0□2膜を(
111)面のGd、Ga、O,、基板上にエピタキシャ
ル成長させた。この融液の飽和温度は850℃であり、
磁性ガーネット膜は819℃で成長させた。磁性ガーネ
ット膜の膜厚は0.50,1/II+、磁気バブルの直
径は0.49.であった。
第1表
この磁性ガーネット膜に、 40keV : 2.5
X 10” D。
X 10” D。
(重水素)”/cn+” + 17keV : 4 X
10” Dz”7 eml”の2重イオン打込みを行
い、24周期のコンティギュアス・ディスク(連続円形
状パターン)型の磁気バブル転送路を形成した。第1図
に示すごとく。
10” Dz”7 eml”の2重イオン打込みを行
い、24周期のコンティギュアス・ディスク(連続円形
状パターン)型の磁気バブル転送路を形成した。第1図
に示すごとく。
この磁気バブル転送路における消減磁界H0の25℃に
おける温度変化率は−0,25%/℃であり、この温度
変化率を示す直線からのH,のずれ率ΔH。
おける温度変化率は−0,25%/℃であり、この温度
変化率を示す直線からのH,のずれ率ΔH。
/H,の絶対値は、−50℃〜100℃の温度範囲にお
いて2%以下であった。また、ストリップアウト磁界H
2はHoにほぼ比例しており2本実施例による磁気バブ
ル素子は、−50℃〜100℃の広い温度範囲において
、バブル消減磁界の温度変化の非線型効果によるマージ
ンロスを2%以下に抑えることができた。
いて2%以下であった。また、ストリップアウト磁界H
2はHoにほぼ比例しており2本実施例による磁気バブ
ル素子は、−50℃〜100℃の広い温度範囲において
、バブル消減磁界の温度変化の非線型効果によるマージ
ンロスを2%以下に抑えることができた。
(実施例2)
第1表の融液2に示す組成の融液を用いて。
Pbo、11Bio、、、 Sm1..7Lu、、、、
Fe4.、gAfl。、、□o工2膜を(111)面の
(GdCa)、(GaMgZr)。
Fe4.、gAfl。、、□o工2膜を(111)面の
(GdCa)、(GaMgZr)。
O工2基板(格子定数12,497人)上にエピタキシ
ャル成長させた。この融液の飽和温度は853℃であり
、磁性ガーネット膜は821℃で成長させた。膜厚は0
.41−であり、磁気バブル直径は0.42/711で
あった。この磁性ガーネット膜に30keV : 2.
4 X 10”D、”/ cm’ + 15keV :
4 X 10” D、”/ c+ajの2重イオン打
込みを行い1.6−周期のコンティギュアス・ディスク
型の磁気バブル転送路を形成した。この転送路における
バブル消減磁界H0の25℃における温度変化率は−0
,21%/℃であり、この温度変化率を示す直線からの
Hoのずれ率ΔHQ/H0の絶対値は、−50℃〜10
0℃の温度範囲において2%以下であった。そして、ス
トリップアウト磁界H2はHoにほぼ比例しており1本
実施例による磁気バブル素子は、−50℃〜100℃の
広い温度範囲において、バブル消減磁界の温度変化の非
線型効果によるマージンロスを2%以下に抑えることが
できた。
ャル成長させた。この融液の飽和温度は853℃であり
、磁性ガーネット膜は821℃で成長させた。膜厚は0
.41−であり、磁気バブル直径は0.42/711で
あった。この磁性ガーネット膜に30keV : 2.
4 X 10”D、”/ cm’ + 15keV :
4 X 10” D、”/ c+ajの2重イオン打
込みを行い1.6−周期のコンティギュアス・ディスク
型の磁気バブル転送路を形成した。この転送路における
バブル消減磁界H0の25℃における温度変化率は−0
,21%/℃であり、この温度変化率を示す直線からの
Hoのずれ率ΔHQ/H0の絶対値は、−50℃〜10
0℃の温度範囲において2%以下であった。そして、ス
トリップアウト磁界H2はHoにほぼ比例しており1本
実施例による磁気バブル素子は、−50℃〜100℃の
広い温度範囲において、バブル消減磁界の温度変化の非
線型効果によるマージンロスを2%以下に抑えることが
できた。
本発明の一般式
%式%
(式中2MはAll、Gaの2種の元素から選ばれる少
なくとも1種の元素を表わす。)で示される組成の磁性
ガーネット膜において、Wの値が0.02未満であると
本発明の効果はほとんど認められなかった。また、Wが
0.2を超えると保磁力Heが20s以上となり、磁気
バブルを正常に転送させることができなくなった。Xの
値が1.0を超えるとガーネット膜の結晶性が悪くなり
、やはりHeが20e以上となるので好ましくない。y
(0,2あるいはy)0.8においては異方性エネル
ギーが小さくなり、磁気バブル発生器において不要なバ
ブルが発生し、エラーが多発するので好ましくない。
なくとも1種の元素を表わす。)で示される組成の磁性
ガーネット膜において、Wの値が0.02未満であると
本発明の効果はほとんど認められなかった。また、Wが
0.2を超えると保磁力Heが20s以上となり、磁気
バブルを正常に転送させることができなくなった。Xの
値が1.0を超えるとガーネット膜の結晶性が悪くなり
、やはりHeが20e以上となるので好ましくない。y
(0,2あるいはy)0.8においては異方性エネル
ギーが小さくなり、磁気バブル発生器において不要なバ
ブルが発生し、エラーが多発するので好ましくない。
また、z)0.6では磁気バブル直径が0.7/71m
以上となってしまい、16メガビツト/Cm2以上の記
憶密度を実現することが困難となるので好ましくない。
以上となってしまい、16メガビツト/Cm2以上の記
憶密度を実現することが困難となるので好ましくない。
なお、上記実施例1および実施例2における融液中には
v20.(酸化バナジウム)を含んでいる。
v20.(酸化バナジウム)を含んでいる。
このV2O5を添加した融液は、ガーネット膜中に取り
込まれるPbを増加さぜる効果がある。すなわち、ガー
ネット膜の液相におけるエピタキシャル成長には、従来
からpb量(酸化鉛)を主体とするフラックスが用いら
れていたため、磁性ガーネット膜中にはpbがある程度
混入される。しかし、この量は通常、非常に少ない量(
0,01原子/組成式以下)である。本発明のV2O5
を添加した融液を用いることによりガーネット膜中のp
b量を増加させることができ2本発明の組成の磁性ガー
ネット膜を容易に得ることが可能になった。
込まれるPbを増加さぜる効果がある。すなわち、ガー
ネット膜の液相におけるエピタキシャル成長には、従来
からpb量(酸化鉛)を主体とするフラックスが用いら
れていたため、磁性ガーネット膜中にはpbがある程度
混入される。しかし、この量は通常、非常に少ない量(
0,01原子/組成式以下)である。本発明のV2O5
を添加した融液を用いることによりガーネット膜中のp
b量を増加させることができ2本発明の組成の磁性ガー
ネット膜を容易に得ることが可能になった。
以上詳細に説明したごとく9本発明の磁気バブル素子は
、バブル消減磁界H3の温度変化率を示す直線からのず
れ率ΔHo/Hoの絶対値を、−50℃〜100℃の温
度範囲で2%以下にすることができる。これにより、H
oの非線型効果による磁気バブル素子動作のバイアス磁
界マージンのロスを2%以下に抑えられることができ、
広い温度範囲で良好な磁気バブル転送特性を示す記憶密
度の高い広温度域磁気バブル素子が得られる。
、バブル消減磁界H3の温度変化率を示す直線からのず
れ率ΔHo/Hoの絶対値を、−50℃〜100℃の温
度範囲で2%以下にすることができる。これにより、H
oの非線型効果による磁気バブル素子動作のバイアス磁
界マージンのロスを2%以下に抑えられることができ、
広い温度範囲で良好な磁気バブル転送特性を示す記憶密
度の高い広温度域磁気バブル素子が得られる。
第1図は本発明の実施例1にお+iる磁気バブル素子に
おいて、バブル消減磁界H9の25℃における接線から
のずれ率ΔHo / H、の温度に対する変化を示すグ
ラフ、第2図は従来の磁気バブル素子におけるバブル消
減磁界H8,ストリップアウト磁界I■2および永久磁
石によるバイアス磁界I−I Bの温度に対する変化を
示すグラフ、第3図は従来の磁気バブル素子におけるバ
ブル消減磁界H8の温度に対する変化を示すグラフであ
る。 符号の説明 1・・バブル消減磁界H0の温度に対する変化を示す曲
線 2・・永久磁石によるバイアス磁界HBの温度に対する
変化を示す直線 3 ストリップアウト磁界■■2の温度に対する変化を
示す曲線
おいて、バブル消減磁界H9の25℃における接線から
のずれ率ΔHo / H、の温度に対する変化を示すグ
ラフ、第2図は従来の磁気バブル素子におけるバブル消
減磁界H8,ストリップアウト磁界I■2および永久磁
石によるバイアス磁界I−I Bの温度に対する変化を
示すグラフ、第3図は従来の磁気バブル素子におけるバ
ブル消減磁界H8の温度に対する変化を示すグラフであ
る。 符号の説明 1・・バブル消減磁界H0の温度に対する変化を示す曲
線 2・・永久磁石によるバイアス磁界HBの温度に対する
変化を示す直線 3 ストリップアウト磁界■■2の温度に対する変化を
示す曲線
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、磁気バブルを保持し得る磁性ガーネット膜および上
記磁性ガーネット膜に発生した磁気バブルを移動させる
手段を設けた磁気バブル素子において、上記磁性ガーネ
ット膜は、 一般式 Pb_wBi_x(Sm_yLu_1_−_y)_3_
−_w_−_xFe_s_−_zM_zO_1_2(式
中、MはAl、Gaのうちより選ばれる少なくとも1種
の元素を表わし、w、x、yおよびzは、それぞれ 0.02≦w≦0.2 0<x≦1.0 0.2≦y≦0.8 0≦z≦0.6 の範囲内の数値を表わす。) で示される組成の磁性ガーネット膜であることを特徴と
する磁気バブル素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62147096A JPS63311710A (ja) | 1987-06-15 | 1987-06-15 | 磁気バブル素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62147096A JPS63311710A (ja) | 1987-06-15 | 1987-06-15 | 磁気バブル素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63311710A true JPS63311710A (ja) | 1988-12-20 |
Family
ID=15422394
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62147096A Pending JPS63311710A (ja) | 1987-06-15 | 1987-06-15 | 磁気バブル素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63311710A (ja) |
-
1987
- 1987-06-15 JP JP62147096A patent/JPS63311710A/ja active Pending
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