JPS63305510A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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Publication number
JPS63305510A
JPS63305510A JP14123887A JP14123887A JPS63305510A JP S63305510 A JPS63305510 A JP S63305510A JP 14123887 A JP14123887 A JP 14123887A JP 14123887 A JP14123887 A JP 14123887A JP S63305510 A JPS63305510 A JP S63305510A
Authority
JP
Japan
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wafer
barcode
center
reader
bar codes
Prior art date
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Pending
Application number
JP14123887A
Other languages
English (en)
Inventor
Akihiro Yamaguchi
晶大 山口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPS63305510A publication Critical patent/JPS63305510A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2223/00Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
    • H01L2223/544Marks applied to semiconductor devices or parts
    • H01L2223/54493Peripheral marks on wafers, e.g. orientation flats, notches, lot number

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はウェハー認識用のバーコードを備えた半導体装
置に関し、特にバーコードを読み取る際の位置合せを不
要にし、かつバーコード読取装置の構成の簡略化が図れ
るようにした半導体装置に関する。
〔従来の技術〕
従来の半導体装置として、例えば、第4図に示すものが
あり、円板形のウェハー31の周縁部の一部にオリエン
テーションフラット34が形成され、このオリエンテー
ションフラット34に平行させてバーコード32が一列
に配設されている(なお、33はバーコードの中心線で
ある)。
発光部と受光部を有する読取装置は、このようなバーコ
ード32に対し、ウェハー31の面に対し垂直な方向か
らバーコード32の読み取りを行う。その読み取りは中
心線33上を移動させるようにして行なう。
ウェハー31はその中心をターンテーブルの回転中心に
合致させてターンテーブル(不図示)上に載置される。
バーコード32を読み取るに際しては、読取る装置の読
取部の移動方向とウェハー31のオリエンテーションフ
ラット34とが平行するようにターンテーブルを回転さ
せる。ここで読取部を移動させてバーコード32の読み
取りを行なう。
第5図に示すように、読取部を移動させることにより軌
跡35が得られ、この軌跡35とバーコード32の中心
線33とが一致する必要がある。このためには、ターン
テーブルの中心とウェハー31の中心とが一致するよう
にターンテーブル上にウェハー31を固定したとき、ウ
ェハー中心と光軸の軌跡との間の距離りが、ウェハー3
1の中心からバーコード32の中心線までの距離と等し
くなる必要がある。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし、従来の半導体装置によると、円形のウェハーに
対し直線状にバーコードを配列しているため、バーコー
ド読取装置の位置合せが難しいと共に、読取装置の構造
が複雑になるという不具合がある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は上記に鑑みてなされたものであり、バーコード
読取装置の位置合せを容易にし、読取装置の構成の簡略
化が図れるようにするため、バーコードを、その中心線
がウェハーの中心に対し円軌道を描(ように配設した半
導体装置を提供する。
即ち、本発明の半導体装置は以下の手段を備えている。
バーコード ウェハーの認識のために設けられるものである。従来の
直線状に対し、例えば、半導体ウェハーの回転中心を中
心とした円として、円弧状に形成しても円環状に形成し
てもよい。
〔作 用〕
バーコードを半導体ウェハーの中心を中心とする円周に
沿って形成したため、読取装置の光軸軌跡とバーコード
の中心線が一致し、半導体ウェハーを回転中心にして回
転させることにより、読取装置を固定したままバーコー
ドの読み取りが可能になる。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例を詳細に説明する。
第1図は本発明の一実施例を示し、円板状のウェハー1
)は、その外縁部の一部がカントされてオリエンテーシ
ョンフラン目5が形成されている。一方、ウェハー1)
の回転中心に対し、半径L1の円軌道上で且つオリエン
テーションフラット15に面した部位に、円弧状にバー
コード12が形成される。このバーコード12の中心線
が13である。
第2図は本発明の半導体装置に対する読取装置21の位
置決め説明図であり、ウェハー1)はターンテーブル2
2に載置されている。ターンテーブル22は、中心軸2
3を回転中心として回転する。この中心軸23に対し、
距MLtの線上すなわちバーコードの中心線13上に読
取装置21が垂直に設置される。24は読取装置21の
光軸である。
以上の構成において、バーコード12を読み取る場合、
読取装置i:21をバーコード12の始端に位置させ、
バーコード12が順次読取装置21の直下を通過するよ
うにターンテーブル22を回転させる。このように、タ
ーンテーブル22を回転させるのみで、読取装置21を
固定したままバーコード12を読み取ることができる。
第3図は本発明の他の実施例を示し、第1図と同一の部
分は同一の引用数字で示したので重複する説明は省略す
るが、オリエンテーションフラット15の部分を除くウ
ェハー1)の周辺の全域に及んでバーコード16を設け
るようにしたものである。
本実施例によれば、バーコードを長くすることができる
ため、多くの情報量をウェハー1)上に記録することが
できる。
〔発明の効果〕
以上説明した通り、本発明によれば、ウェハーの回転中
心を中心とする円周に沿ってバーコードを円弧状に形成
したため、ウェハーと読取装置の位置合せが不要になる
。さらに、読取装置を固定したままで読み取りができる
ため、読取装置の構成を簡略化することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す平面図、第2図は本発
明の半導体装直に対する読取装置21の位置決め説明図
、第3図は本発明の他の実施例を示す平面図、第4図は
従来の半導体装置を示す平面図、第5図は従来の半導体
装置におとけるバーコードの読み取り説明図。 符号の説明

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)円板状の半導体ウェハー上にウェハー認識用のバ
    ーコードが形成された半導体装置において、 前記バーコードを前記半導体ウェハーの中心を中心とす
    る円周上に形成したことを特徴とする半導体装置。
  2. (2)前記バーコードが、前記半導体ウェハーに設けら
    れているオリエンテーションフラットの近傍に円弧状に
    設けられていることを特徴とする特許請求の範囲第1項
    記載の半導体装置。
  3. (3)前記バーコードが、前記半導体ウェハーに設けら
    れたオリエンテーションフラットを除く周縁の所定長に
    設けられていることを特徴とする特許請求の範囲第1項
    記載の半導体装置。
JP14123887A 1987-06-05 1987-06-05 半導体装置 Pending JPS63305510A (ja)

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JP14123887A JPS63305510A (ja) 1987-06-05 1987-06-05 半導体装置

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JPS63305510A true JPS63305510A (ja) 1988-12-13

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ID=15287314

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JP14123887A Pending JPS63305510A (ja) 1987-06-05 1987-06-05 半導体装置

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JP (1) JPS63305510A (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH035893A (ja) * 1989-05-15 1991-01-11 Internatl Business Mach Corp <Ibm> バーコードのマーク付け及び読み取りの方法及び装置
JPH0540963U (ja) * 1991-11-05 1993-06-01 株式会社オプトエレクトロニクス 情報パターン表示部材
US5690892A (en) * 1995-09-15 1997-11-25 Accumed, Inc. Cassette for use with automated specimen handling system
US5798514A (en) * 1996-01-11 1998-08-25 Accumed Inc. Circular bar code
US5930732A (en) * 1995-09-15 1999-07-27 Accumed International, Inc. System for simplifying the implementation of specified functions
US5963368A (en) * 1995-09-15 1999-10-05 Accumed International, Inc. Specimen management system
US6091842A (en) * 1996-10-25 2000-07-18 Accumed International, Inc. Cytological specimen analysis system with slide mapping and generation of viewing path information
US6118581A (en) * 1995-09-15 2000-09-12 Accumed International, Inc. Multifunctional control unit for a microscope

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH035893A (ja) * 1989-05-15 1991-01-11 Internatl Business Mach Corp <Ibm> バーコードのマーク付け及び読み取りの方法及び装置
JPH0540963U (ja) * 1991-11-05 1993-06-01 株式会社オプトエレクトロニクス 情報パターン表示部材
US5690892A (en) * 1995-09-15 1997-11-25 Accumed, Inc. Cassette for use with automated specimen handling system
US5930732A (en) * 1995-09-15 1999-07-27 Accumed International, Inc. System for simplifying the implementation of specified functions
US5963368A (en) * 1995-09-15 1999-10-05 Accumed International, Inc. Specimen management system
US6118581A (en) * 1995-09-15 2000-09-12 Accumed International, Inc. Multifunctional control unit for a microscope
US5798514A (en) * 1996-01-11 1998-08-25 Accumed Inc. Circular bar code
US6091842A (en) * 1996-10-25 2000-07-18 Accumed International, Inc. Cytological specimen analysis system with slide mapping and generation of viewing path information

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