JPS63298075A - プリント回路基板検査装置の変換治具 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、プリント回路基板検査装置の変換治具に関し
、詳しくは、必ずしも全試験点がオングリッド状に配置
されていない、チップ部品を未実装のプリント回路基板
（ベアボード）の検査時に使用し、プリント回路基板検
査装置のテストヘッドと被検台用プリント回路基板との
間に介挿して被検査用プリント回路基板上の各試験点と
、これらと個々に対応するテストヘッドのオングリッド
状の各電極部とを導通せしめる変換治具に関する。

［従来の技術］ プリント回路基板は、チップ部品が実装される面に、プ
リント回路基板上に設ける部品取付用穴（スルーホール
）や半田のパッド（フラットパッケージ型ＩＣ？？の取
付に使う）の位置あるいはこれらを接続する回路パター
ンに不良がないかどうかを、プリント回路基板上のスル
ーホール及びパッドを試験点にとってプリント回路基板
検査装置を用いて検査している。

このプリント回路基板検査装置は、そのテストヘッドに
設けられる多数の電極部を被検査用プリント回路基板の
上記試験点に接触させ、これら試験点にテストヘッドの
電極部から電流を流し、その結果を検査装置本体の分析
検査部で分析して被検査用プリント回路基板の良否を判
定するものであり、検査装置のいわゆるユニバーサル形
式のテストヘッドには、多種のプリント回路基板を検査
できるように、プリント回路基板の技術分野において規
格化された２、５４ｍｍ（＋００　ｎ１ｌ）や１、２７
ｍｍ（５０ｎ１ｌ）のピッチで格ｒの交点上に多数の電
極部が設けられている。

なお、検査装置のテストヘッドの電極部には、通常、接
触−ｒがスプリング性をもつスプリングプローブが用い
られるが、近時、スプリング性のない固定端ｒ群の先端
表面に異方性導電ゴムシートを配設した電極部が開発さ
れている。

ところで最近、゛１′−導体製造技術の著しい進歩やＳ
ＭＴ（表面実装技術）の進歩とともに、電ｒ部品は小型
化され、またその端子間隔も小さくなる傾向にあり、こ
のため、電子部品が実装されるプリント回路基板のスル
ーホールやパッドのピッチも小さくなり、ユニバーサル
形式の検査装置のテストヘッドに設けられる電極部群の
基本格子（２，５４ｍｍピッチや１．２７ｍｍピッチ）
から外れるスルーホールやパッドが出現してきた。

なお、基本格子状に配置されたテストヘッドの各電極部
に対し、プリント回路基板上のスルーホールやパッド等
の試験点に位置的に対応する状態、すなわち、テストヘ
ッドと被検査用プリント回路基板とを密着させたときに
特定の試験点とこれに対応する特定の電極部とが接触す
る状態をオングリッドあるいはオングリッドの状態とい
い、両者が位置的に対応せずに接触不能な状態をオフグ
リッドの状態という。

したがって、上記の如（、スルーホールやパッドのピッ
チが細密化したプリント回路基板では、オフグリッドの
試験点とオングリッドの試験点とが混在することになり
（細分化の程度によりオングリッドとオフグリッドの試
験点の混在比率は異なり、オングリッド試験点が全くな
いこともありうる。）、オングリッド状に゛ｊｎ極部が
配置されているテストヘッドをそのまま使用しても検査
が不Ｉｉ丁能である。このため、テストヘッドと被検台
用プリントｆｅｌｌ路基板の間に変換治具を介在して検
査ｊｉｆ能にしている。

第７図は従来の変換治具を示すものである。第７図にお
いて、＋０１は第１の絶縁プレート、！０２は第２の絶
縁プレート、１０３は第３の絶縁プレートであり、これ
ら各絶縁プレートは間隔をおいて゛ト行に設けられ、特
に第２の絶縁プレートｌＯ２と第３の絶縁プレート１０
３との間隔が大きくとられている。

第１の絶縁プレート１０１は、被検査用プリント回路基
板と対面してこれに接触するものであり、そこにはプリ
ント回路基板の試験点の位置に対応して小径の孔＋０４
があけられている。また、第２の絶縁プレート＋０２に
も第１の絶縁プレート１０１の孔１０４の位置と対応さ
せて小径の孔１０５があけられている。

第３の絶縁プレート１０３は、検査装置のテストヘッド
と対面してこれに接触するものであり、そこにはテスト
ヘッドのオングリッド状に配置される電極部の位置に対
応して多数のソケット金具１０６が設けられている。

そして、１０７はピンであり、一端部を第３の絶縁プレ
ート１０：３の所定のソケット金具！０６に装着すると
ともに、第２の絶縁プレート！０２及び第１の絶縁プレ
ート＋０１の各々所定の孔１０４．１０５に挿通して他
端部を第１の絶縁プレート１０１の表面により突出させ
ている。

なお、ピン＋０７の他端部側にはスプリング１０８が配
置されている。

図示のように、４本のピン＋０７のうち、両側の２本は
プリント回路基板のオングリッドの試験点と接触するも
のであり、中央の２本はオフグリッドの試験点と接触す
るものである。すなわち、プリント回路基板の試験点が
オングリッドにあるときは孔１０４．１０５とソケット
金具１０６の位置が一致するためピン＋０７は直伸状に
セットされ、試験点がオフグリッドにあるときは孔１０
４．１０５とソケット金具１０６に位置ずれがあるため
ピン１０７は曲げられてセットされる。この装置に於て
、第２の絶縁プレート１０２を設ける意味は、ピン＋０
７を第１の絶縁プレートｌｏｔと第２の絶縁プレート１
０２の間で直伸させてピン＋０７の他端部先端を被検査
用プリント回路基板の試験点と直角に当接させ、正確に
接触できるようにするものであり、第２の絶縁プレート
１０２と第３の絶縁プレート＋０３と間隔を大きくとる
のは、ピン１０７の曲強度を考慮してのことである。

従来は、被検査用プリント回路基板にオフグリッドの試
験点が存在する場合には、上記のような変換治具をテス
トヘッドと被検査用プリント回路基板の間に入れて使用
することで、検査を可能にしていた。

［発明が解決しようとする問題点］ 上記のように構成される従来の変換治具は、基本的に、
ピン１０７に曲げを加えることでオングリッドとオフグ
リッドの位置ずれした対応点の間を導通させるものであ
るが、ピン＋０７の曲強度の関係から、短い距離で急な
曲げができず、ピン１０７の長さをある程度人き（とっ
て漸次曲げなければならないため、変換治具の高さが相
当大きくなって全体の形状が大きくなり、また多数の長
いピン＋０７を使用し、また曲げたピン＋０７を支える
ための強度を持たせるために絶縁プレートを厚くするこ
と等から装置の重量が大きくなり、取扱上不便であり、
価格も高くなる欠点がある。

また、プリント回路基板の試験点のビッヂがさらに細密
化された場合には、ピン１０７自体の径も細くしなけれ
ばならず、加えてピン１０７の曲げを大きくとらなけれ
ばならないが、ピン１０７の径が細くなければ、その分
、曲強度も小さくなるため、ピン１０７の曲がりによる
復元性は著しく低下し寿命も短くなり、結局、従来の変
換治具ではプリント回路基板上の各試験点が微小ピッチ
化されると、ある限度量−Ｌはピン１０７方式では対応
できないという欠点がある。

本発明は、」二記のような従来装置の欠点を解決するも
のであり、高さ及び形状を小さくでき、重；ｉも軽…化
でき、比較的簡単な構造で安価に製作でき、またプリン
ト回路基板の微小ピッチの試験点にも対応して従来検査
不可能な回路基板を含め検査することができるプリント
回路基板検査装置の変換治具を提供することを目的とす
る。

［問題点を解決するための手段］ 上記の［１的を達成するだめの構成を、実施例に対応す
る第３図及び第４図を用いて説明すると、本発明のプリ
ント回路基板検査装置の変換治具２０は、必ずしも全数
がオングリッド状に配置されない被検査用プリント回路
基板ＩＯ上の試験点菖１の位置に対応して第１の絶縁プ
レート２２に多数の孔２３をあけ、これら孔２３に一端
部２５が上記試験点１１と接触可能な第１の接触ピン２
４をその軸方向に移動ｒｉ（能にして挿通した第１の接
触手段２１と、プリント回路基板検査装置１、■′のテ
ストヘッド２のオングリッド状に配置された多数の電極
部３の位置に対応して第２の絶縁プレート３２に多数の
孔３３をあけ、これら孔：３３に上記第１の接触ピン２
４と個々に対応関係をもち一端部３５が上記電極部３と
接触「ｉ（能な第２の接触ピン３４をその軸方向に移動
ＩＩ７能にして挿通した第２の接触手段３Ｉと、上記第
１及び第２の接触ト段２１．３１の間に配設し、第：３
の絶縁プレート４２の上記第１の接触ピン２４との対応
位置に孔４４をあけるとともにこれら孔４４に一端部４
５が上記第１の接触ピン２４の他端部２６と接触可能な
導電性エラストマーからなる第１の導電部４３を配設し
、さらに第４の絶縁プレート５２の上記第２の接触ピン
３４との対応位置にこれら第２の接触ピン３４の他端部
３６と接触可能なスルーホール５５を設けるとともに対
応関係にある上記第１の導電部４３と位置的不対応のも
のについてはスルーホール５５より導電パターン５６を
延設してこれらスルーホール５５あるいは導電パターン
５６からなる第２の導電部５３を導電性エラストマーか
らなる第１の導電部４３の他端部４６と接触させた接続
手段４１とからなることを特徴とする。

［作　　　用］ 上記のように構成した本発明の変換治具をプリント回路
基板検査装置１．！′のテストヘッド２と被検査用プリ
ント回路基板ｌＯとの間に所定の方向にセットしてこれ
らを互いに密着させると、第１の接触手段の多数の第１
の接触ピンが対応する被検査用プリント回路基板ｌＯの
対応する試験点１１と・端部で接触し、また第２の接触
手段の多数の第２の接触ピンが対応するプリント回路基
板検査装置の１．１′のテストヘッド２の電極部；３と
一端部で接触し、対応関係にある第１の接触ピン２４と
第２の接触ピン３４とは他端部２６゜ご３６で接続手段
４１の第３の絶縁プレート４２の第１の導電部４３（導
電性エラストマー）の−・端部４５及び第４の絶縁プレ
ート５２の第２の導電部５３（スルーホール５５）に接
触し、これら第１の導電部４３と第２の導電部５３の位
置が一致する場合には、第１の導電部４：３（導電性エ
ラストマー）の他端部４６と第２の導電部５：３（スル
ーホール）が直接に接触し、また不一致の場合には、第
１の導電部４３の他端部４６と第２の導電部５３のスル
ーホール５５から延設した導電パターン５６とが接触す
ることにより、対応するプリント回路基板検査装置のテ
ストヘッド２の電極部３と、被検査用プリント回路基板
１０の試験点１！との導通が変換治具を介してなされて
検査ｉｉＪ能になる。

そして、第１の接触ピン２４及び第２の接触ピン３４は
、軸方向に移動調整可能とされるため、さらに接続手段
４１の第２の接触ピン３４との接触部を導電性エラスト
マーとすることで、弾性をもつため、第１の接触ピン及
び第２の接触ピンの寸法誤差が吸収されて接触各部が確
実な接触となり、ＩＦ確な検査が可能になる。

［実　施　例］ 以Ｆ、本発明の実施例を図面について説明する。

まず、第１図及び第２図は、プリント回路基板検査装置
について説明する図であり。これら図に基いて検査装置
と被検査用プリント基板と変換治具との関係を簡単に説
明する。

第１図は押上テーブルｌａ上に位置決めして載置する被
検査用プリント回路基板１０を、下向きに固定されたテ
ストヘッド２に向かって押付ける形式のプリント回路基
板検査装置である。テストヘッド２にはＦ向きにしてオ
ングリッド状に多数のスプリングプローブ（電極部３）
が配設されており、この各電極部３は配線６で図示しな
い検査装置１本体の分析検査部に接続されている。４は
押」−テーブル１ａを駆動するシリンダー、５は押トチ
ープルｌａ上で被検査用プリント回路基板１０のドに敷
設する緩衝材であり、本発明に係る変換治具２０は、ナ
ス１〜ヘツド２のＦ面に位置決めしてセットされる。

また、第２図で図示するプリント回路基板検査装置ドは
５上向きに固定されたテストヘッド２１−に被検査用プ
リント回路基板ＩＱをセットしてＬ方からブレスポード
７を押付ける形式のものである。８はテストヘッド２を
固定するテスターテーブル、３はテストヘッド２に」二
向きにしてオングリッド状に配設した多数のスプリング
プローブ（電極部）、６は各電極部３と図示しない測定
器とを接続する配線、４はブレスポード７を押下げるシ
リンダー、９はブレスポード７の表面に配設した緩衝材
であり、本発明に係る変換治具２０は、テストヘッド２
と被検森川プリント回路基板１０の間に位置決めしてセ
ットされる。

なお、１１？ｉ述のように、テストヘッド２の電極部：
３には、コンタクトプローブの他に固定端子と異方導電
性ゴムシートとを組合せたものも使用される。

次に本発明の実施例に係る変換治具２ｏを図面に基づい
て説明する。

第３図は検査装置のテストヘッド２及び被検査用プリン
ト回路基板１０と対応して示す変換治具２０の断面図、
第４図は拡大断面図である。

この変換治具２０は、基本的に、第１の接触手段２Ｉと
、第２の接触手段３■と、接続手段４１とで構成される
。

第１の接触手段２１は、薄手の第１の絶縁プレート２２
に必ずしも全部がオングリッド状に配置されない、被検
査用プリント回路基板】０上の多数の試験点１１の位置
に対応して多数の小径の孔２３をあけ、これら孔２３内
に軸方向に遊動可能にして小径で短い長さの第１の接触
ピン２４を設けたものであり、第２の接触手段３１は、
薄手の第２の絶縁プレート３２に、テストヘッド２にオ
ングリッド状に配置される多数の電極部３の位置に対応
して多数の小径の孔３３をあけ、この孔３３内に＋ｔｑ
ｂ方向に遊動可能にして小径で短い長さの第２の接触ピ
ン３４を設けたものである。

第１の絶縁プレート２２及び第２の絶縁プレート３３２
はガラスエポキシ積層板やベークライト板界からなり、
また、第１の接触ピン２４及び第２の接触ピン３４は導
電性の良い金属材料からなり、あるいは接触抵抗を小さ
くするために表面に金メッキ等が施される。そして、第
１及び第２の接触ピン２４．３４は、孔２３．３３内で
軸方向に遊動できるように、その径が孔２３．３３の内
径より若干小さくされ、夫々長さが揃えられており、第
１及び第２の絶縁プレート２２．３２の孔２：３．３３
からの抜けを防ぐとともに、その一端部２５．３５の第
１及び第２の絶縁プレート２２．３２表面からの突出長
さが一定するように、その他端部２６．：３６に鍔部２
７，３７が形成され、孔２３．３３の縁部に係止できる
ようにされている。

なお、第１の接触ピン２４には他端部２６の接続手段４
１に設けられる第２の導電部５３との接触性を高めるた
めに鍔部２７より小径の接点部２８が設けられ、また第
２の接触ピン３４の他端部３６も同様のことで小径とさ
れている。

なおまた第２の接触手段３１に比べて第１の接触手段２
１の方が、部分的により高密度で接触ピンが配置される
ため、第１の接触ピン２４は第２の接触ピン３４に比べ
て自ら小径のものとなる。

また、接続手段４１は、第１及び第２の接触手段２１．
３１の間に配設されるものであり、第３及び第４の絶縁
プレート４２．５２並びにこれら絶縁プレートに配設さ
れ対応関係にある多数の第１及び第２の接触ピン２４．
３４の個々を接続する多数の第１及び第２の導電部４３
．５３とで構成される。以下詳述すると、第３の絶縁プ
レート４２は、薄手のガラスエポキシ積層板やベークラ
イト板等からなり、この絶縁プレート４２には、第１の
接触ピン２４の位置に対応して多数の小径の孔４４があ
けられ、これらの孔４４に導電性エラストマーが充填さ
れて多数の第１の導電部４３が形成される。これらの第
１の導電部４３の一端部４５及び他端部４６は、第３の
絶縁プレート４２の表裏面より若Ｅ突出されており、一
端部４：３は対向する第１の接触ピン２４の他端部２６
と接触ｕＪ能にされている。また第４の絶縁プレート５
２は、例えば、フレキシブルブ；ノント基板（Ｆ、Ｐ、
Ｃ）の製造に用いられているポリイミドフィルム（両面
鋼張り）、あるいは薄いがラスエポキシ積層板よりなり
、この第４の絶縁プレート５２には、第２の接触ピン３
４との対応位置に第２の接触ピン３４の他端部３６と対
向してこれに接触可能に、多数のスルーホール５４が１
没けられ、あるいは対応関係にある上記第１の導電部４
：３と位置的に不対応のものについては対応する第１の
導電部４３の他端部４６に対応する位置までスルーホー
ル５４より導電パターン５５が延設されて第２の導電部
５：３が形成される。すなわち、第２の導電；’１（Ｓ
５３は、対応する第１及び第２の接触ピン２４．３４が
位置的に対応するオングリッド−オングリッドの関係に
あるときは、スルーホール５４のみが設けられ、前記２
つのピンが位置的に対応しないオフグリッド−オングリ
ッドの関係にあるときは、スルーホール５４に続いて導
電パターン５５が設けられる。

したがって、第３及び第４の絶縁プレート４２．５２の
第１及び第２の導電部４３．５３は、これら絶縁プレー
ト４２．５２が重ねて配設されることにより、第１の導
電部４３の他端部４６が第２の導電部５３の導電パター
ン５５と接触したり（才）・オン対応）、第１の導電部
４３の他端部４６が第２の導電部５：３のスルーホール
５４と接触する（才）・オン対応）ことになる。

そして、これら接続手段４Ｉが第１及び第２の接触手段
２１．３１の間に位置決めして配設されることで、対応
関係にある第１の接触ピン２４と第２の接触ピン３４と
は第１及び第２の導電部４３．５３を介して接続される
。

なお、第１の導電部４３の導電材として使われる導電性
エラストマーは１例えば、シリコンゴム等の基材中に繊
維状やビーズ状等の金、銀、ニッケル、カーボン等の金
属材を含ませたもので、弾力性をもつ導電材であり、適
宜な形状にすることができるため、上記のような第３の
絶縁プレート４２の任意形状の孔４４内に詰めて導電部
分を形成するのに都合がよく、また、金属製の第１の接
触ピン２４との接触が安定する点でも都合がよい。

これら第１及び第２の接触手段２］、：３１並びに接続
ｆ段４１は一つに組合されて変換治具２０を構成するが
、第３図のように、第１ないし第４の絶縁プレート２２
．：３２．４２．５２を所定の間隔で１行に対面させ、
間に、第１及び第２の接触ピン２４．３４がその軸方向
に遊動１可能なように、鍔部２７．３７より厚い、絶縁
材からなるスペーサー６０．６１を介挿し、これらを仔
いに位置合せした状態でボルト、ナツトで締付固定した
り、接着剤で固着したりする。

第３図で図示する検査装置は第２図の形式に対応するも
のであり、ここで図示する押上テーブルｌ上の被検査用
プリント回路基板１０に於て、左側の試験点１１は、Ｉ
Ｃフラットパッケージ用のバッドであり、このパッドは
テストヘッド２の電極部３に対してオフグリッドの関係
にある。また、右側の試験点Ｉ■は、スルーホールであ
り、テストヘッド２の電極部３に対してオングリッドの
関係にある。

なお、第３図に示すガラスエポキシ樹脂等の絶縁材から
なるスペーサー６０．６１は、第１及び第２の絶縁プレ
ート２２．３２の内側に配置するものであるが、このス
ペーサーは、第１及び第２の絶縁プレーｈ２２．３２の
多数の孔２３．３３と巾なる位置で、これらの孔２３．
３３より若干径の大きな孔６２．６３を穿設し、第１及
び第２の絶縁プレート２２．３２の夫々の内面に貼設し
たものである。このスペーサーについては、必ずしも図
示するものに限定されず、要は対面する第１及び第３の
絶縁プレート２２．４１１２びに第２及び第４の絶縁プ
レート３２．５２間に配設して所定の間隙を作ればよい
から、これら対応する絶縁プレート間の適所に部分的に
配設することもできる。ただ、第３図に図示するスペー
サー６０゜６１は第１及び第２、第３及び第４の絶縁プ
レー１−２２．３２，４２．５２の全面の間に介挿され
るので、これら絶縁プレートの間隔が全面にわたって−
・定に保持され好ましい。

次に、第５図及び第６図は、本発明に係る変換治具２０
に付設することができる異方導電性弾性体シートを示す
ものであり、このシート７０は、厚さ方向の同一対応点
間のみで導通可能な特性をもつもので、第：３図及び第
４図に図示する変換治具２０の第１の絶縁プレート２２
の外表面に配設する。この弾性体シート７０は５゛４方
導電性ゴムシートとして、電ｒ部品のコネクターに便用
されている公知のものであって１例えば、第５図に図示
するように、絶縁性ゴムシート７１の而に対して実質的
に東向方向に多数本の導電性線条７２がゴムシートの両
面に１“１通して配列されたものや、第６図に図示する
ように、絶縁性ゴムシート７：３の面に対して実質的に
垂直方向に複数本の導電性粒子７４を連続して配列され
たであり、第６図のものは、所定の導通を得るにはゴム
シート両面の対応する位置で加圧しなければならない。

この弾性体シート７０は、弔に被検査用プリント回路基
板１０と変換治具２０の間に敷いてもよい。

なお、本発明の変換治具は、第３図において、第１の接
触手段２１をなくし、すなわち、接触手段３１と接続手
段４１のみにして、接続手段４１の第１の導電部４３の
一端部４５を直接に試験点１１に接触させるようにして
もよい。

ここで、本発明を具体化したものと第７図に示す従来の
変換治具とを比較すると１例えば、従来品の高さく厚さ
）が８０−１５０　ｍ　／　ｍであるのに対して本発明
品は大きくともＩＯｍ／ｍ位になり、接触ピンの径や長
さとも本発明品の方が（特に長さにおいて）小さく、当
然に手頃も本発明品の方が軽晴化される。また、例えば
、従来品が１．０〜１．５ｍ／ｍ迄の試験点の小ピツチ
に対応できるのに対して、本発明品が０．６３５ｍ／ｍ
位の微小ピッチまで可能（現時点での確認）である。

［発明の効果］ 以上述べたように、本発明のプリント回路基板検査装置
の変換治具は、特許請求の範囲のように構成したので、
従来の変換治具に比べて高さを小さくして小型化でき、
軽：ｉ【化もでき、より安価に製作できる。

また、微小ピッチの試験点にも対応することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はプリント回路基板検査装置の説明図、第２図は
他の形式のプリント回路基板検査装置の説明図、第３図
はプリント回路基板検査装置のテストヘッド及び検査用
プリント回路基板と対応して示す変換治具の部分断面図
、第４図は同じく部分拡大断面図、第５図及び第６図は
１７さ方向の同一対応点間のみで導通可能な弾性材シー
トの説明的断面図、第７図は従来の変換治具の断面図で
ある。 １、Ｉ’〜　プリント回路基板検査装置２　　〜　テス
トヘッド ３〜電極部 １０　　〜　被検査用プリント回路基板１１　〜試験点 ２０　〜変換治具 ２！　　〜　第１の接触手段 ２２　〜　第１の絶縁プレート ２３　〜孔 ２４　〜　第１の接触ピン ２５　〜　第１の接触ピンの一端部 ２６　〜　第１の接触ピンの他端部 ２７　〜鍔　部 ３１　〜　第２の接触手段 ３２　〜　第２の絶縁プレート ３；３　〜孔 ３４　〜　第２の接触ピン ：３５　〜　第２の接触ピンの一端部 ：３６　〜　第２の接触ピンの他端部 ：３７　〜鍔　部 ４１　〜　接続手段 ４２　〜　第３の絶縁プレート ４コ３　〜　第１の導電部 ４４　〜孔 ５２　〜　第４の絶縁プレート ５コ３　〜　第２の導電部 ５５　〜　スルーホール ５６　〜　導電パターン 特許出願人　　理化電子玉業株式会社 第１図 第２図 第５図 第６図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 必ずしも全数がオングリッド状に配置されない被検査用
   プリント回路基板上の試験点の位置に対応して第１の絶
   縁プレートに多数の孔をあけ、これら孔に一端部が上記
   試験点と接触可能な第１の接触ピンをその軸方向に移動
   可能にして挿通した第１の接触手段と、プリント回路基
   板検査装置のテストヘッドのオングリッド状に配置され
   た多数の電極部の位置に対応して第２の絶縁プレートに
   多数の孔をあけ、これら孔に上記第１の接触ピンと個々
   に対応関係をもち一端部が上記電極部と接触可能な第２
   の接触ピンをその軸方向に移動可能にして挿通した第２
   の接触手段と、上記第１及び第２の接触手段の間に配設
   し、第３の絶縁プレートの上記第１の接触ピンとの対応
   位置に孔をあけるとともにこれら孔に一端部が上記第１
   の接触ピンの他端部と接触可能な導電性エラストマーか
   らなる第１の導電部を配設し、さらに第４の絶縁プレー
   トの上記第２の接触ピンとの対応位置にこれら第２の接
   触ピンの他端部と接触可能なスルーホールを設けるとと
   もに対応関係にある上記第１の導電部と位置的不対応の
   ものについてはスルーホールより導電パターンを延設し
   た第２の導電部を設け、これらスルーホールあるいはス
   ルーホールと導電パターンからなる第２の導電部を上記
   導電性エラストマーからなる第１の導電部の他端部と接
   触させた接続手段とからなることを特徴とするプリント
   回路基板検査装置の変換治具。