JPS6329520A - プラズマ処理装置 - Google Patents
プラズマ処理装置Info
- Publication number
- JPS6329520A JPS6329520A JP17156686A JP17156686A JPS6329520A JP S6329520 A JPS6329520 A JP S6329520A JP 17156686 A JP17156686 A JP 17156686A JP 17156686 A JP17156686 A JP 17156686A JP S6329520 A JPS6329520 A JP S6329520A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cover
- abnormal discharge
- exhausting port
- gas
- opening edge
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000009832 plasma treatment Methods 0.000 title abstract 2
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims abstract description 10
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 238000007664 blowing Methods 0.000 claims 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 abstract description 17
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 2
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 10
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 239000005360 phosphosilicate glass Substances 0.000 description 2
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 1
- 239000012776 electronic material Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、処理技術、特に、プラズマ反応を利用して成
膜処理を行うプラズマCVD技術に関し、例えば、半導
体装置の製造工程において、ウェハに成膜処理を施すの
に利用して有効な技術に関する。
膜処理を行うプラズマCVD技術に関し、例えば、半導
体装置の製造工程において、ウェハに成膜処理を施すの
に利用して有効な技術に関する。
半導体装置の製造工程において、ウェハ上にプラズマシ
リコン酸化(P−5iOi)mを形成するプラズマCV
D装置として、上下に配された平行平板電極の下部電極
でウェハを保持し、両電極間に形成されるプラズマと、
処理室に一方の電極の吹出口から供給される処理ガスと
によるCVD反応によって成膜処理を施すように構成さ
れているものがある。
リコン酸化(P−5iOi)mを形成するプラズマCV
D装置として、上下に配された平行平板電極の下部電極
でウェハを保持し、両電極間に形成されるプラズマと、
処理室に一方の電極の吹出口から供給される処理ガスと
によるCVD反応によって成膜処理を施すように構成さ
れているものがある。
なお、プラズマCVD技術を述べである例としては、株
式会社工業調査会発行「電子材料1981年11月号別
冊」昭和56年11月lO日発行P77〜P84、があ
る。
式会社工業調査会発行「電子材料1981年11月号別
冊」昭和56年11月lO日発行P77〜P84、があ
る。
一般に、このようなプラズマCVD装置においては、両
電極間へ印加させる高周波電圧のパワーを増加させると
、シリコン酸化膜の膜質が良化することが知られている
が、印加電力を増加すると、電極の吹出口における開口
縁に電界が集中して異常放電が起こるため、異物が発生
するという問題点があることが、本発明者によって明ら
かにされた。
電極間へ印加させる高周波電圧のパワーを増加させると
、シリコン酸化膜の膜質が良化することが知られている
が、印加電力を増加すると、電極の吹出口における開口
縁に電界が集中して異常放電が起こるため、異物が発生
するという問題点があることが、本発明者によって明ら
かにされた。
本発明の目的は、異常放電を防止することができるプラ
ズマ処理技術を提供することにある。
ズマ処理技術を提供することにある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
。
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
。
本願において開示される発明のうち代表的なもののff
i嬰を説明すれば、次の通りである。
i嬰を説明すれば、次の通りである。
すなわち、一方の電極のガス吹出口の内周を絶縁材料か
らなるカバーにより被覆したものである。
らなるカバーにより被覆したものである。
前記した手段によれば、電極のガス吹出口の内周が絶縁
物により被覆されているため、電界が吹出口の開口縁に
おいて集中せず、異常放電が抑制される。その結果、異
物発生が防止されるとともに、印加電圧のパワーを高め
ることができるため、処理の品質を高めることができる
。
物により被覆されているため、電界が吹出口の開口縁に
おいて集中せず、異常放電が抑制される。その結果、異
物発生が防止されるとともに、印加電圧のパワーを高め
ることができるため、処理の品質を高めることができる
。
第1図は本発明の一実施例であるプラズマCVD装置を
示す縦断面図、第2図はその拡大部分断面図である。
示す縦断面図、第2図はその拡大部分断面図である。
本実施例において、プラズマCVD装置は被処理物とし
てのウェハ1を処理するための処理室2を構成するチャ
ンバ3を備えており、チャンバ3にはその側壁にウェハ
1を出し入れするための搬入口4および搬出口5が、そ
の底壁に処理室2内を排気するための排気口6がそれぞ
れ開設されている0図示しないが、チャンバ3の内面に
は弗素樹脂からなる薄板が内張すされている。
てのウェハ1を処理するための処理室2を構成するチャ
ンバ3を備えており、チャンバ3にはその側壁にウェハ
1を出し入れするための搬入口4および搬出口5が、そ
の底壁に処理室2内を排気するための排気口6がそれぞ
れ開設されている0図示しないが、チャンバ3の内面に
は弗素樹脂からなる薄板が内張すされている。
処理室2内の下部および上部には一対の電極7.8が互
いに平行平板電極を構成するようにそれぞれ水平に配設
されている。下部電極7はチャンバ3の底壁に絶縁体9
を介して摺動自在に挿入された支軸10により上下動か
つ回転回部に支持されており、その上面においてウェハ
1を1枚宛、載置状態に保持し得るように構成されてい
る。上部電極8はチャンバ3に絶縁体11を介して挿入
された支軸12により固定的に吊持されており、下部電
極7との間に高周波型′R13が接続されている。また
、上部電極8およびその支軸12の内部にはガス供給路
14が開設されており、上部電極8の下面には複数のガ
ス吹出口15がガス供給路14のガスをウェハに向けて
吹き出せるように開設されている。
いに平行平板電極を構成するようにそれぞれ水平に配設
されている。下部電極7はチャンバ3の底壁に絶縁体9
を介して摺動自在に挿入された支軸10により上下動か
つ回転回部に支持されており、その上面においてウェハ
1を1枚宛、載置状態に保持し得るように構成されてい
る。上部電極8はチャンバ3に絶縁体11を介して挿入
された支軸12により固定的に吊持されており、下部電
極7との間に高周波型′R13が接続されている。また
、上部電極8およびその支軸12の内部にはガス供給路
14が開設されており、上部電極8の下面には複数のガ
ス吹出口15がガス供給路14のガスをウェハに向けて
吹き出せるように開設されている。
上部電極8における各ガス吹出口15には絶縁材料とし
ての石英ガラスからなるカバー16がその内周面を被覆
するようにそれぞれ被着されており、カバー16の内径
dは吹出口15について所定の流路断面積を確保するよ
うになっている。
ての石英ガラスからなるカバー16がその内周面を被覆
するようにそれぞれ被着されており、カバー16の内径
dは吹出口15について所定の流路断面積を確保するよ
うになっている。
次に作用を説明する。
ウェハlが下部電極7上に載置されて処理室2内が排気
されると、ガス供給路14に処理ガス(例えば、SiH
*+Ot等)が供給されて上部電極8の吹出口15から
吹き出されるとともに、両電極7.8間に高周波電圧が
電源13により印加これる。これにより、プラズマCV
D反応が惹起され、ウェハ1上にプラズマシリコン酸化
膜が被着される。
されると、ガス供給路14に処理ガス(例えば、SiH
*+Ot等)が供給されて上部電極8の吹出口15から
吹き出されるとともに、両電極7.8間に高周波電圧が
電源13により印加これる。これにより、プラズマCV
D反応が惹起され、ウェハ1上にプラズマシリコン酸化
膜が被着される。
ところで、ガス吹出口にカバーが被着されていない場合
、吹出口の内周面相互はきわめて接近するため、吹出口
の開口縁に電界が集中することにより、この開口縁部に
おいて異常放電が発生する。
、吹出口の内周面相互はきわめて接近するため、吹出口
の開口縁に電界が集中することにより、この開口縁部に
おいて異常放電が発生する。
異常放電が発生すると、不適正なプラズマCVD反応に
より異物が発生し、この異物がウェハに付着するため、
製造歩留りが低下するとともに、製品の品質および信頼
性が低下する。
より異物が発生し、この異物がウェハに付着するため、
製造歩留りが低下するとともに、製品の品質および信頼
性が低下する。
しかし、本実施例においては、ガス吹出口15に絶縁材
料からなるカバー16が被着されているため、吹出口の
開口縁において異常放電が発生することは防止される。
料からなるカバー16が被着されているため、吹出口の
開口縁において異常放電が発生することは防止される。
すなわち、第2図に示されているように、ガス吹出口1
5におけるガス流路断面積はカバー16の内径dによっ
て規定されているため、所定の値が確保されているが、
ガス吹出口15における上部電極8自体の開口縁間隔り
はカバー16の肉厚tの2倍に相当する分大きくなって
いる。したがって、放電に対する吹出口l5の開口縁に
おけるエアギャップが大きくなるため、異常放電の発生
は抑制される。しかも、吹出口15の開口縁はカバー1
6によって被覆されているため、異常放電の発生は一層
抑制されることになる。
5におけるガス流路断面積はカバー16の内径dによっ
て規定されているため、所定の値が確保されているが、
ガス吹出口15における上部電極8自体の開口縁間隔り
はカバー16の肉厚tの2倍に相当する分大きくなって
いる。したがって、放電に対する吹出口l5の開口縁に
おけるエアギャップが大きくなるため、異常放電の発生
は抑制される。しかも、吹出口15の開口縁はカバー1
6によって被覆されているため、異常放電の発生は一層
抑制されることになる。
このようにして、本実施例においては、吹出口15にお
ける異常放電が抑制されるため、それに伴う異物の発生
は未然に防止される。
ける異常放電が抑制されるため、それに伴う異物の発生
は未然に防止される。
前記実施例によれば次の効果が得られる。
fl) 一方の電極に開設されたガス吹出口を絶縁材
料からなるカバーによって被覆することにより、吹出口
における異常放電を防止することができるため、それに
伴う異物の発生を抑制することができる。
料からなるカバーによって被覆することにより、吹出口
における異常放電を防止することができるため、それに
伴う異物の発生を抑制することができる。
(2)異物の発生を抑制することにより、ウェハに異物
が付着するのを低減させることができるため、製造歩留
りを改善させることができるとともに、製品の品質およ
び信頼性を高めることができる。
が付着するのを低減させることができるため、製造歩留
りを改善させることができるとともに、製品の品質およ
び信頼性を高めることができる。
(3)異常放電の発生を防止することにより、その分、
電極間に印加される電力を高めることができるため、膜
質を改善させることができる。
電極間に印加される電力を高めることができるため、膜
質を改善させることができる。
(4)絶縁物の内径によってガス吹出口についての所望
の流路断面積を確保することにより、吹出口のガス吹出
流量を変更しなくて済むため、処理条件を改変しなくて
済む。
の流路断面積を確保することにより、吹出口のガス吹出
流量を変更しなくて済むため、処理条件を改変しなくて
済む。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
例えば、カバーは石英ガラスを用いて形成するに躍らず
、弗素樹脂等の絶縁材料を用いて形成することができる
。その場合、電極間のプラズマ形成および処理純度等に
対する影響、処理ガスに対しての耐蝕性および耐熱性等
を考慮して適正な材料を選定することが望ましい。
、弗素樹脂等の絶縁材料を用いて形成することができる
。その場合、電極間のプラズマ形成および処理純度等に
対する影響、処理ガスに対しての耐蝕性および耐熱性等
を考慮して適正な材料を選定することが望ましい。
カバーの形状、構造および形成方法等に限定はなく、電
極およびガス吹出口の形状、構造に応じて最適のものを
適宜選定すべきである。
極およびガス吹出口の形状、構造に応じて最適のものを
適宜選定すべきである。
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野であるプラズマシリコン酸
化膜を形成するプラズマCVD技術に通用した場合につ
いて説明したが、それに限定されるものではなく、プラ
ズマシリコン窒化(P−5iN)II、プラズマリンシ
リケートガラス(P−PSG)Illを成形するプラズ
マCVD技術は勿論、ドライエツチング技術やスパッタ
リング技術等にも通用することができる。本発明は少な
くとも一方の電極にガス吹出口が開設されているプラズ
マ処理装置全般に通用することができる。
をその背景となった利用分野であるプラズマシリコン酸
化膜を形成するプラズマCVD技術に通用した場合につ
いて説明したが、それに限定されるものではなく、プラ
ズマシリコン窒化(P−5iN)II、プラズマリンシ
リケートガラス(P−PSG)Illを成形するプラズ
マCVD技術は勿論、ドライエツチング技術やスパッタ
リング技術等にも通用することができる。本発明は少な
くとも一方の電極にガス吹出口が開設されているプラズ
マ処理装置全般に通用することができる。
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、次の通りである。
て得られる効果を簡単に説明すれば、次の通りである。
一方の電極に開設されたガス吹出口を絶縁材料からなる
カバーによって被覆することにより、吹出口における異
常放電を防止することができるため、それに伴う異物の
発生を抑制することができる。
カバーによって被覆することにより、吹出口における異
常放電を防止することができるため、それに伴う異物の
発生を抑制することができる。
第1図は本発明の一実施例であるプラズマCVD装置を
示す縦断面図、 第2図はその拡大部分断面図である。 1・・・ウェハ(被処理物)、2・・・処理室、3・・
・チャンバ、4・・・搬入口、5・・・搬出口、6・・
・排気口、7・・・下部電極、8・・・上部電極、9.
11・・・絶縁体、l0112・・・支軸、13・・・
高周波電源、14・・・ガス供給路、15・・・ガス吹
出口、16・・・カバー。
示す縦断面図、 第2図はその拡大部分断面図である。 1・・・ウェハ(被処理物)、2・・・処理室、3・・
・チャンバ、4・・・搬入口、5・・・搬出口、6・・
・排気口、7・・・下部電極、8・・・上部電極、9.
11・・・絶縁体、l0112・・・支軸、13・・・
高周波電源、14・・・ガス供給路、15・・・ガス吹
出口、16・・・カバー。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、プラズマを形成する一対の電極の一方に処理ガスを
吹き出す吹出口が複数個開設されており、各吹出口の内
周が絶縁材料からなるカバーにより被覆されていること
を特徴とするプラズマ処理装置。 2、カバーの内径が、吹出口についての所望の流路断面
積を規定していることを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載のプラズマ処理装置。 3、カバーが、石英ガラスを用いて形成されていること
を特徴とする特許請求の範囲第1項記載のプラズマ処理
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17156686A JPS6329520A (ja) | 1986-07-23 | 1986-07-23 | プラズマ処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17156686A JPS6329520A (ja) | 1986-07-23 | 1986-07-23 | プラズマ処理装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6329520A true JPS6329520A (ja) | 1988-02-08 |
Family
ID=15925516
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17156686A Pending JPS6329520A (ja) | 1986-07-23 | 1986-07-23 | プラズマ処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6329520A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000195807A (ja) * | 1998-12-28 | 2000-07-14 | Kyocera Corp | 半導体製造装置用ガス導入ノズル |
JP2006502529A (ja) * | 2001-12-19 | 2006-01-19 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | 半導体ワークピースを処理するためのプラズマリアクタ |
JP2013251367A (ja) * | 2012-05-31 | 2013-12-12 | Shimadzu Corp | プラズマcvd成膜装置 |
JP2022533584A (ja) * | 2019-05-15 | 2022-07-25 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | 基板処理チャンバの漂遊プラズマ防止装置 |
-
1986
- 1986-07-23 JP JP17156686A patent/JPS6329520A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000195807A (ja) * | 1998-12-28 | 2000-07-14 | Kyocera Corp | 半導体製造装置用ガス導入ノズル |
JP2006502529A (ja) * | 2001-12-19 | 2006-01-19 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | 半導体ワークピースを処理するためのプラズマリアクタ |
JP2013251367A (ja) * | 2012-05-31 | 2013-12-12 | Shimadzu Corp | プラズマcvd成膜装置 |
JP2022533584A (ja) * | 2019-05-15 | 2022-07-25 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | 基板処理チャンバの漂遊プラズマ防止装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3266163B2 (ja) | プラズマ処理装置 | |
JP4470970B2 (ja) | プラズマ処理装置 | |
KR100198862B1 (ko) | 플라즈마 처리장치 | |
US20010054382A1 (en) | Chemical vapor deposition system | |
US5044311A (en) | Plasma chemical vapor deposition apparatus | |
JPH09180897A (ja) | 高密度プラズマリアクタのためのガス供給装置 | |
JP4114972B2 (ja) | 基板処理装置 | |
JPS6329520A (ja) | プラズマ処理装置 | |
JPH0473289B2 (ja) | ||
JPS63283025A (ja) | 多接点カソードを備えたプラズマストリッパー | |
JPS6247130A (ja) | 反応性イオンエツチング装置 | |
JPS6056793B2 (ja) | プラズマ表面処理装置 | |
JPH0758016A (ja) | 成膜処理装置 | |
JPH1022263A (ja) | プラズマエッチング装置 | |
JP3317935B2 (ja) | プラズマ処理装置 | |
JPS63111621A (ja) | エツチング処理装置 | |
JPH11317396A (ja) | エッチング装置 | |
JP3948296B2 (ja) | プラズマエッチング処理方法及び装置 | |
JP7326106B2 (ja) | スパッタリング装置 | |
JPS6295828A (ja) | プラズマ処理装置 | |
JP3108466B2 (ja) | 縦型熱処理装置 | |
JPH06299356A (ja) | 常圧cvd装置およびそのクリーニング方法 | |
JPH09321034A (ja) | 薄膜形成装置およびそれを用いた半導体装置の製造方法 | |
JP2000323453A (ja) | 処理装置 | |
JP2000216146A (ja) | エッチング装置 |