JPS6329520A - プラズマ処理装置 - Google Patents

プラズマ処理装置

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Publication number
JPS6329520A
JPS6329520A JP17156686A JP17156686A JPS6329520A JP S6329520 A JPS6329520 A JP S6329520A JP 17156686 A JP17156686 A JP 17156686A JP 17156686 A JP17156686 A JP 17156686A JP S6329520 A JPS6329520 A JP S6329520A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cover
abnormal discharge
exhausting port
gas
opening edge
Prior art date
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Pending
Application number
JP17156686A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Ikeda
洋 池田
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPS6329520A publication Critical patent/JPS6329520A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、処理技術、特に、プラズマ反応を利用して成
膜処理を行うプラズマCVD技術に関し、例えば、半導
体装置の製造工程において、ウェハに成膜処理を施すの
に利用して有効な技術に関する。
〔従来の技術〕
半導体装置の製造工程において、ウェハ上にプラズマシ
リコン酸化(P−5iOi)mを形成するプラズマCV
D装置として、上下に配された平行平板電極の下部電極
でウェハを保持し、両電極間に形成されるプラズマと、
処理室に一方の電極の吹出口から供給される処理ガスと
によるCVD反応によって成膜処理を施すように構成さ
れているものがある。
なお、プラズマCVD技術を述べである例としては、株
式会社工業調査会発行「電子材料1981年11月号別
冊」昭和56年11月lO日発行P77〜P84、があ
る。
〔発明が解決しようとする問題点〕
一般に、このようなプラズマCVD装置においては、両
電極間へ印加させる高周波電圧のパワーを増加させると
、シリコン酸化膜の膜質が良化することが知られている
が、印加電力を増加すると、電極の吹出口における開口
縁に電界が集中して異常放電が起こるため、異物が発生
するという問題点があることが、本発明者によって明ら
かにされた。
本発明の目的は、異常放電を防止することができるプラ
ズマ処理技術を提供することにある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
〔問題点を解決するための手段〕
本願において開示される発明のうち代表的なもののff
i嬰を説明すれば、次の通りである。
すなわち、一方の電極のガス吹出口の内周を絶縁材料か
らなるカバーにより被覆したものである。
〔作用〕
前記した手段によれば、電極のガス吹出口の内周が絶縁
物により被覆されているため、電界が吹出口の開口縁に
おいて集中せず、異常放電が抑制される。その結果、異
物発生が防止されるとともに、印加電圧のパワーを高め
ることができるため、処理の品質を高めることができる
〔実施例〕
第1図は本発明の一実施例であるプラズマCVD装置を
示す縦断面図、第2図はその拡大部分断面図である。
本実施例において、プラズマCVD装置は被処理物とし
てのウェハ1を処理するための処理室2を構成するチャ
ンバ3を備えており、チャンバ3にはその側壁にウェハ
1を出し入れするための搬入口4および搬出口5が、そ
の底壁に処理室2内を排気するための排気口6がそれぞ
れ開設されている0図示しないが、チャンバ3の内面に
は弗素樹脂からなる薄板が内張すされている。
処理室2内の下部および上部には一対の電極7.8が互
いに平行平板電極を構成するようにそれぞれ水平に配設
されている。下部電極7はチャンバ3の底壁に絶縁体9
を介して摺動自在に挿入された支軸10により上下動か
つ回転回部に支持されており、その上面においてウェハ
1を1枚宛、載置状態に保持し得るように構成されてい
る。上部電極8はチャンバ3に絶縁体11を介して挿入
された支軸12により固定的に吊持されており、下部電
極7との間に高周波型′R13が接続されている。また
、上部電極8およびその支軸12の内部にはガス供給路
14が開設されており、上部電極8の下面には複数のガ
ス吹出口15がガス供給路14のガスをウェハに向けて
吹き出せるように開設されている。
上部電極8における各ガス吹出口15には絶縁材料とし
ての石英ガラスからなるカバー16がその内周面を被覆
するようにそれぞれ被着されており、カバー16の内径
dは吹出口15について所定の流路断面積を確保するよ
うになっている。
次に作用を説明する。
ウェハlが下部電極7上に載置されて処理室2内が排気
されると、ガス供給路14に処理ガス(例えば、SiH
*+Ot等)が供給されて上部電極8の吹出口15から
吹き出されるとともに、両電極7.8間に高周波電圧が
電源13により印加これる。これにより、プラズマCV
D反応が惹起され、ウェハ1上にプラズマシリコン酸化
膜が被着される。
ところで、ガス吹出口にカバーが被着されていない場合
、吹出口の内周面相互はきわめて接近するため、吹出口
の開口縁に電界が集中することにより、この開口縁部に
おいて異常放電が発生する。
異常放電が発生すると、不適正なプラズマCVD反応に
より異物が発生し、この異物がウェハに付着するため、
製造歩留りが低下するとともに、製品の品質および信頼
性が低下する。
しかし、本実施例においては、ガス吹出口15に絶縁材
料からなるカバー16が被着されているため、吹出口の
開口縁において異常放電が発生することは防止される。
すなわち、第2図に示されているように、ガス吹出口1
5におけるガス流路断面積はカバー16の内径dによっ
て規定されているため、所定の値が確保されているが、
ガス吹出口15における上部電極8自体の開口縁間隔り
はカバー16の肉厚tの2倍に相当する分大きくなって
いる。したがって、放電に対する吹出口l5の開口縁に
おけるエアギャップが大きくなるため、異常放電の発生
は抑制される。しかも、吹出口15の開口縁はカバー1
6によって被覆されているため、異常放電の発生は一層
抑制されることになる。
このようにして、本実施例においては、吹出口15にお
ける異常放電が抑制されるため、それに伴う異物の発生
は未然に防止される。
前記実施例によれば次の効果が得られる。
fl)  一方の電極に開設されたガス吹出口を絶縁材
料からなるカバーによって被覆することにより、吹出口
における異常放電を防止することができるため、それに
伴う異物の発生を抑制することができる。
(2)異物の発生を抑制することにより、ウェハに異物
が付着するのを低減させることができるため、製造歩留
りを改善させることができるとともに、製品の品質およ
び信頼性を高めることができる。
(3)異常放電の発生を防止することにより、その分、
電極間に印加される電力を高めることができるため、膜
質を改善させることができる。
(4)絶縁物の内径によってガス吹出口についての所望
の流路断面積を確保することにより、吹出口のガス吹出
流量を変更しなくて済むため、処理条件を改変しなくて
済む。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
例えば、カバーは石英ガラスを用いて形成するに躍らず
、弗素樹脂等の絶縁材料を用いて形成することができる
。その場合、電極間のプラズマ形成および処理純度等に
対する影響、処理ガスに対しての耐蝕性および耐熱性等
を考慮して適正な材料を選定することが望ましい。
カバーの形状、構造および形成方法等に限定はなく、電
極およびガス吹出口の形状、構造に応じて最適のものを
適宜選定すべきである。
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野であるプラズマシリコン酸
化膜を形成するプラズマCVD技術に通用した場合につ
いて説明したが、それに限定されるものではなく、プラ
ズマシリコン窒化(P−5iN)II、プラズマリンシ
リケートガラス(P−PSG)Illを成形するプラズ
マCVD技術は勿論、ドライエツチング技術やスパッタ
リング技術等にも通用することができる。本発明は少な
くとも一方の電極にガス吹出口が開設されているプラズ
マ処理装置全般に通用することができる。
〔発明の効果〕
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、次の通りである。
一方の電極に開設されたガス吹出口を絶縁材料からなる
カバーによって被覆することにより、吹出口における異
常放電を防止することができるため、それに伴う異物の
発生を抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例であるプラズマCVD装置を
示す縦断面図、 第2図はその拡大部分断面図である。 1・・・ウェハ(被処理物)、2・・・処理室、3・・
・チャンバ、4・・・搬入口、5・・・搬出口、6・・
・排気口、7・・・下部電極、8・・・上部電極、9.
11・・・絶縁体、l0112・・・支軸、13・・・
高周波電源、14・・・ガス供給路、15・・・ガス吹
出口、16・・・カバー。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、プラズマを形成する一対の電極の一方に処理ガスを
    吹き出す吹出口が複数個開設されており、各吹出口の内
    周が絶縁材料からなるカバーにより被覆されていること
    を特徴とするプラズマ処理装置。 2、カバーの内径が、吹出口についての所望の流路断面
    積を規定していることを特徴とする特許請求の範囲第1
    項記載のプラズマ処理装置。 3、カバーが、石英ガラスを用いて形成されていること
    を特徴とする特許請求の範囲第1項記載のプラズマ処理
    装置。
JP17156686A 1986-07-23 1986-07-23 プラズマ処理装置 Pending JPS6329520A (ja)

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JP17156686A JPS6329520A (ja) 1986-07-23 1986-07-23 プラズマ処理装置

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JP17156686A JPS6329520A (ja) 1986-07-23 1986-07-23 プラズマ処理装置

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JPS6329520A true JPS6329520A (ja) 1988-02-08

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ID=15925516

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JP17156686A Pending JPS6329520A (ja) 1986-07-23 1986-07-23 プラズマ処理装置

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JP (1) JPS6329520A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000195807A (ja) * 1998-12-28 2000-07-14 Kyocera Corp 半導体製造装置用ガス導入ノズル
JP2006502529A (ja) * 2001-12-19 2006-01-19 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 半導体ワークピースを処理するためのプラズマリアクタ
JP2013251367A (ja) * 2012-05-31 2013-12-12 Shimadzu Corp プラズマcvd成膜装置
JP2022533584A (ja) * 2019-05-15 2022-07-25 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 基板処理チャンバの漂遊プラズマ防止装置

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JP2013251367A (ja) * 2012-05-31 2013-12-12 Shimadzu Corp プラズマcvd成膜装置
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