JPS63291225A - 光記録再生装置 - Google Patents
光記録再生装置Info
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- JPS63291225A JPS63291225A JP62126303A JP12630387A JPS63291225A JP S63291225 A JPS63291225 A JP S63291225A JP 62126303 A JP62126303 A JP 62126303A JP 12630387 A JP12630387 A JP 12630387A JP S63291225 A JPS63291225 A JP S63291225A
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 59
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 claims abstract description 34
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 29
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 101100491335 Caenorhabditis elegans mat-2 gene Proteins 0.000 description 1
- 241001164374 Calyx Species 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
この発明は、たとえば追記型光デイスク記録再生装置の
ように、半導体レーザーを用いて光学的な記録および再
生を行う光記録再生装置に関する。
ように、半導体レーザーを用いて光学的な記録および再
生を行う光記録再生装置に関する。
従来の技術
従来のこの種の装置は、第３図に示すように、半導体レ
ーザー１と、モニター用フォト・ダイオード２と、Ｉ−
Ｖ変換器（を流−電圧変換器）３と、差動増幅器４と、
再生電流供給回路５と、記録電流供給回路６と、サンプ
ル・ホールド回路８と、変調回路７と、再生／記録切換
用のスイッチ回路１４，１５．１６．１７とを有し、上
記半導体ノーザー１から発せられる光Ｌｏｕ ｔの出力
を所定のレベルに制御するとともに、その光出力のレベ
ルを再生時と記録時とで変化させることにより、たとえ
ば光ディスクのごとき記録媒体に対する光学的な再生お
よび記録を行っていた。
ーザー１と、モニター用フォト・ダイオード２と、Ｉ−
Ｖ変換器（を流−電圧変換器）３と、差動増幅器４と、
再生電流供給回路５と、記録電流供給回路６と、サンプ
ル・ホールド回路８と、変調回路７と、再生／記録切換
用のスイッチ回路１４，１５．１６．１７とを有し、上
記半導体ノーザー１から発せられる光Ｌｏｕ ｔの出力
を所定のレベルに制御するとともに、その光出力のレベ
ルを再生時と記録時とで変化させることにより、たとえ
ば光ディスクのごとき記録媒体に対する光学的な再生お
よび記録を行っていた。
ここで、再生時には、スイッチ回路１４．１５が閉じら
れ、他のスイッチ回路１６．１７は開らかれる。この状
態では、モニター用フォト・ダイオード２、ｒ−ｖ変換
器３、差動増幅器４、再生電流供給回路５によって、上
記半導体レーザー１の光出力を所定の再生用レベルにす
るようなＡＰＯ（自動光出力制御回路）が形成される。
れ、他のスイッチ回路１６．１７は開らかれる。この状
態では、モニター用フォト・ダイオード２、ｒ−ｖ変換
器３、差動増幅器４、再生電流供給回路５によって、上
記半導体レーザー１の光出力を所定の再生用レベルにす
るようなＡＰＯ（自動光出力制御回路）が形成される。
このＡＰＣは、モニター手段であるフォト・ダイオード
２の出カッベルが所定の目標レベルＶＨ８となるように
、再生電流供給回路５から上記半導体レーザー１に供給
される再生用、ｊ駆動電流ＩＲを負帰還制御 ゛する。
２の出カッベルが所定の目標レベルＶＨ８となるように
、再生電流供給回路５から上記半導体レーザー１に供給
される再生用、ｊ駆動電流ＩＲを負帰還制御 ゛する。
この場合、フォト愉ダイオード２からのモニター出力は
、 Ｉ−Ｖ変換器３でば流ＩＭから電圧ｖＭに変換さ
れた後、上記目標レベルＶＲ８とともに上記差動増幅器
４に入力される。
、 Ｉ−Ｖ変換器３でば流ＩＭから電圧ｖＭに変換さ
れた後、上記目標レベルＶＲ８とともに上記差動増幅器
４に入力される。
一方、記録時には、スイッチ回路１４．１５が開かれ、
他のスイッチ回路１６．１７は閉じられる。この状態に
なると、上記ＡＰＯＫよって制御されていた再生用駆動
電流ＩＲがサンプル・ホールド回路７によって一定の電
流値に固定されるとともに、この固定された再生用駆動
電流ＩＲに記録電流供給回路６からの記録用駆動電流Ｉ
Ｗが重畳されて、この合計駆動電流Ｉｎ＋Ｉｗが半導体
レーザー１に供給されるようになる。これにより。
他のスイッチ回路１６．１７は閉じられる。この状態に
なると、上記ＡＰＯＫよって制御されていた再生用駆動
電流ＩＲがサンプル・ホールド回路７によって一定の電
流値に固定されるとともに、この固定された再生用駆動
電流ＩＲに記録電流供給回路６からの記録用駆動電流Ｉ
Ｗが重畳されて、この合計駆動電流Ｉｎ＋Ｉｗが半導体
レーザー１に供給されるようになる。これにより。
半導体レーザー１からの光出力は所定の記録用レベルま
で増大させられるようになる。したがって、上記合計１
駆動を流Ｉ ａ ＋ Ｉ ｗを、変調回路７を介して、
外部からの入力データ１）ＡＴＡでスイッチングするこ
とにより、たとえば追記型光ディスクにデータＤＡＴＡ
の記録を行うことができる。
で増大させられるようになる。したがって、上記合計１
駆動を流Ｉ ａ ＋ Ｉ ｗを、変調回路７を介して、
外部からの入力データ１）ＡＴＡでスイッチングするこ
とにより、たとえば追記型光ディスクにデータＤＡＴＡ
の記録を行うことができる。
ところで、この種の光記録再生装置では、上記半導体レ
ーザー１の特性がその再生および記録の信頼性に大きく
影響する。したがって、上記半導体ノーザー１の特性が
劣化した場合には、これをできるだけ早期に発見して交
換等の対策を施す必要がある。
ーザー１の特性がその再生および記録の信頼性に大きく
影響する。したがって、上記半導体ノーザー１の特性が
劣化した場合には、これをできるだけ早期に発見して交
換等の対策を施す必要がある。
そこで、上述した光記録再生装置では、第３図に示すよ
うに、上述した構成に加えて、半導体レーザー劣化検出
装置２０が設けられている。
うに、上述した構成に加えて、半導体レーザー劣化検出
装置２０が設けられている。
この劣化検出装置２０は、半導体レーザーの発光効率が
劣化によって低下することに着目したものであって、半
導体ノーザーＩＫ重畳される再生用！駆動１流ＩＲを検
出する駆動電流検出回路２２と、この、駆動電流検出回
路２２の検出出力を所定の基準値ｖ２と比較する比較器
２３とを有し、上記再生用駆動電流ＩＲが上記基準値ｖ
２によって定められる所定のしきい値を越えたときく劣
化と判定するようにしていた。半導体レーザー１が劣化
すると１発光効率が低下して一定の光出力を得るのに必
要な駆動電流が増大し、これにより上記再生用駆動電流
ＩＲが所定のしきい値を越えるようになるからである。
劣化によって低下することに着目したものであって、半
導体ノーザーＩＫ重畳される再生用！駆動１流ＩＲを検
出する駆動電流検出回路２２と、この、駆動電流検出回
路２２の検出出力を所定の基準値ｖ２と比較する比較器
２３とを有し、上記再生用駆動電流ＩＲが上記基準値ｖ
２によって定められる所定のしきい値を越えたときく劣
化と判定するようにしていた。半導体レーザー１が劣化
すると１発光効率が低下して一定の光出力を得るのに必
要な駆動電流が増大し、これにより上記再生用駆動電流
ＩＲが所定のしきい値を越えるようになるからである。
以上のようにして判定される劣化の検出出力５ｏｕｌは
、上記比較器２３の比較出力から得られる。この検出出
力５ｏｕｔは、要すれは、適当な表示装置あるいは診断
システムに入力される。
、上記比較器２３の比較出力から得られる。この検出出
力５ｏｕｔは、要すれは、適当な表示装置あるいは診断
システムに入力される。
発明が解決しようとする問題点
しかし、かかる構成によれば、半導体レーザーの劣化を
精度良く検出することが困離であるという問題があった
。
精度良く検出することが困離であるという問題があった
。
上述の問題は以下の理由で生じる。
すなわち、第２図に半導体レーザーの駆動電流と光出力
の特性を温匿別に示すように、半導体レーザーの劣化以
外に、温度によっても大きく変化する。このため、半導
体レーザーの発光効率に基づいて劣化の判定を行う上述
の装置では、温度による変化分を見込んで劣化の判定を
行わなければならず、したがって劣化の検出は非常に大
まかにしか行ない得なかった。
の特性を温匿別に示すように、半導体レーザーの劣化以
外に、温度によっても大きく変化する。このため、半導
体レーザーの発光効率に基づいて劣化の判定を行う上述
の装置では、温度による変化分を見込んで劣化の判定を
行わなければならず、したがって劣化の検出は非常に大
まかにしか行ない得なかった。
この発明は、上述の問題点に鑑みてなされたもので、光
学的な再生および記録を行うための光を発する半導体ノ
ーザーの劣化を、温度等の影響を受けずに精度良く検出
することができる光記録再生装置を提供することを目的
とする。
学的な再生および記録を行うための光を発する半導体ノ
ーザーの劣化を、温度等の影響を受けずに精度良く検出
することができる光記録再生装置を提供することを目的
とする。
問題点を解決するための手段
この発明は、上述の問題点を解決するため、光学的な記
録および再生を行うための光を発する半導体ノーザーの
光出力を再生時と記録時とでそれぞれに検出し、再生時
に検出される光出力のレベルと記録時に検出される光出
力のピーク・レベルを相対比較することによって上記半
導体レーザーの劣化の有無を判定するという構成を備え
たものである。
録および再生を行うための光を発する半導体ノーザーの
光出力を再生時と記録時とでそれぞれに検出し、再生時
に検出される光出力のレベルと記録時に検出される光出
力のピーク・レベルを相対比較することによって上記半
導体レーザーの劣化の有無を判定するという構成を備え
たものである。
作用
この発明は上述の構成によって、半導体ンーザーの劣化
の判定が、再生時と駆動時の駆動直流の変化に対する光
出力の変化率の大きさに基づいて行われる。この駆動電
流の変化に対する光出力の変化率は、第２図に示すよう
に、半導体レーザーに固有のものであって、温度の影響
はほとんど受けない。これにより、光学的な再生および
記録を行うための光を発する半導体レーザーの劣化を、
温度等の影Ｗｔ−受けずに精度良く検出することが可能
になる。
の判定が、再生時と駆動時の駆動直流の変化に対する光
出力の変化率の大きさに基づいて行われる。この駆動電
流の変化に対する光出力の変化率は、第２図に示すよう
に、半導体レーザーに固有のものであって、温度の影響
はほとんど受けない。これにより、光学的な再生および
記録を行うための光を発する半導体レーザーの劣化を、
温度等の影Ｗｔ−受けずに精度良く検出することが可能
になる。
実施例
第１図はこの発明の一実施例による光記録再生装置の概
略構成を示すものでろって、１は光学的な再生および記
録を行うための光Ｌｏ旧を発する半導体レーザー、２は
先出力のモニター手段であるフォト・ダイオード、３は
フォト・ダイオード２の検出出力電流ＩＭを電圧Ｖｙｔ
Ｋ変換するＩ −Ｖ変換器（を流−電圧変換器）、４は
Ｉ −４変換された検出電圧ｖＭと所定の目標レベルＶ
Ｒ８との差を増幅する差動増幅器、５は再生用駆動電流
ＩＲを供給する再生電流供給回路、６は記録用駆動電流
Ｉｗを供給する記録電流供給回路、８は記録時に上記再
生用駆動電流ＩＲを一定値に固定させるサンプＭホール
ド回路、７は記録時に上記半導体レーザー１の駆動電流
ＩＲ＋ＩＷを入力データＤＡＴＡによってスイッチング
する変調回路、１４．１５．１６．１７は再生／記録切
換用のスイッチ回路、１００は上記半導体レーザーｌの
劣化検出装置である。
略構成を示すものでろって、１は光学的な再生および記
録を行うための光Ｌｏ旧を発する半導体レーザー、２は
先出力のモニター手段であるフォト・ダイオード、３は
フォト・ダイオード２の検出出力電流ＩＭを電圧Ｖｙｔ
Ｋ変換するＩ −Ｖ変換器（を流−電圧変換器）、４は
Ｉ −４変換された検出電圧ｖＭと所定の目標レベルＶ
Ｒ８との差を増幅する差動増幅器、５は再生用駆動電流
ＩＲを供給する再生電流供給回路、６は記録用駆動電流
Ｉｗを供給する記録電流供給回路、８は記録時に上記再
生用駆動電流ＩＲを一定値に固定させるサンプＭホール
ド回路、７は記録時に上記半導体レーザー１の駆動電流
ＩＲ＋ＩＷを入力データＤＡＴＡによってスイッチング
する変調回路、１４．１５．１６．１７は再生／記録切
換用のスイッチ回路、１００は上記半導体レーザーｌの
劣化検出装置である。
ここで、上記半導体レーザー劣化検出装置１００は、再
生時に検出される光出力のレベルＰ１と記録時に検出さ
れる光出力のピーク・レベルＰ２を相対比較することに
よって上記半導体レーザー１の劣化の有無を判定するも
のであって、再生時に検出される光出力のレベルＰ１を
保持するサンプル・ホールド回路９と、記録時に検出さ
れる光出力のピーク・レベルＰ２を検出するピーク検出
回路１０と、このピーク検出回路１０によって検出され
たピーク・レベルＰ２を上記サンプル・ホールド回路９
によって保持されたレベルＰ１で除算する演算回路１１
と、この演算回路１１の演算結果Ｐ ２／Ｐ １を所定
の基準値ｖ１と比較する比較回路１２と、再生時の光出
力を上記サンプル・ホールド回路１０に入力させるスイ
ッチ回路１３とによって構成される。そして、上記比較
回路１２の比較出力が劣化検出出力５ｏｕｔとして、た
とえば診断システム２００などに与えられるようになっ
ている。
生時に検出される光出力のレベルＰ１と記録時に検出さ
れる光出力のピーク・レベルＰ２を相対比較することに
よって上記半導体レーザー１の劣化の有無を判定するも
のであって、再生時に検出される光出力のレベルＰ１を
保持するサンプル・ホールド回路９と、記録時に検出さ
れる光出力のピーク・レベルＰ２を検出するピーク検出
回路１０と、このピーク検出回路１０によって検出され
たピーク・レベルＰ２を上記サンプル・ホールド回路９
によって保持されたレベルＰ１で除算する演算回路１１
と、この演算回路１１の演算結果Ｐ ２／Ｐ １を所定
の基準値ｖ１と比較する比較回路１２と、再生時の光出
力を上記サンプル・ホールド回路１０に入力させるスイ
ッチ回路１３とによって構成される。そして、上記比較
回路１２の比較出力が劣化検出出力５ｏｕｔとして、た
とえば診断システム２００などに与えられるようになっ
ている。
以上のように構成された光記録再生装置について、以下
その動作を説明する。
その動作を説明する。
先ず、再生時には、スイッチ回路１３．１４と１５が閉
じられ、他のスイッチ回路１６．１７は開らかれる。こ
の状態では、モニター用フォト・ダイオード２、Ｉ−Ｖ
変換器３、差動増幅器４、再生電流供給回路５によって
、上記半導体レーザー１の光出力を所定の再生用レベル
（Ｐｌ）にするようなＡＰＣ（自動光出力制御回路）が
形成される。このＡＰＯは、モニター手段であるフォト
・ダイオード２の出力レベルが所定の目標レベルＶＢ２
となるように、再生電流供給回路５から上記半導体
レーザー１に供給される再生用駆動電流ＩＲを負帰還制
御する。この場合、フォト・ダイオード２からのモニタ
ー出力は、Ｉ−Ｖ変換器３で電流ＩＭから電圧ＶＭに変
換された後、上記目標レベルＶＲＳ とともに上記差
動増幅器４に入力されろ。
じられ、他のスイッチ回路１６．１７は開らかれる。こ
の状態では、モニター用フォト・ダイオード２、Ｉ−Ｖ
変換器３、差動増幅器４、再生電流供給回路５によって
、上記半導体レーザー１の光出力を所定の再生用レベル
（Ｐｌ）にするようなＡＰＣ（自動光出力制御回路）が
形成される。このＡＰＯは、モニター手段であるフォト
・ダイオード２の出力レベルが所定の目標レベルＶＢ２
となるように、再生電流供給回路５から上記半導体
レーザー１に供給される再生用駆動電流ＩＲを負帰還制
御する。この場合、フォト・ダイオード２からのモニタ
ー出力は、Ｉ−Ｖ変換器３で電流ＩＭから電圧ＶＭに変
換された後、上記目標レベルＶＲＳ とともに上記差
動増幅器４に入力されろ。
このようにして、再生時の半導体レーザー１には、第３
図に示すように、所定の再生用光出力レベルＰ１を保つ
ような再生用駆動電流ＩＲが供給される。このとき、そ
の再生時の光出力レベルＰ１は、上記フォト・ダイオー
ド２によって検出され、スイッチ回路１３ｆ：介して上
記劣化検出装置１００内のサンプル・ホールド回路９に
入力される。
図に示すように、所定の再生用光出力レベルＰ１を保つ
ような再生用駆動電流ＩＲが供給される。このとき、そ
の再生時の光出力レベルＰ１は、上記フォト・ダイオー
ド２によって検出され、スイッチ回路１３ｆ：介して上
記劣化検出装置１００内のサンプル・ホールド回路９に
入力される。
一方、記録時には、スイッチ回路１３．１４と１５が開
かれ、他のスイッチ回路１６．１７は閉じられる。この
状態になると、再生時に検出されていた光出力レベルＰ
１がサンプル・ホールド回路９によって保持される。こ
れとともに１上記ＡＰＣによって制御されていた再生用
駆動電流■Ｒがサンプル・ホールド回路８によって一定
の電流値に固定される。そして、この固定された再生用
駆動電流ＩＲＫ記録電流供給回路７からの記録用駆動電
流Ｉｗが重畳されて、この合計１駆動電流Ｉ ｎ ＋
Ｉ ｗが半導体レーザー１に供給されるようになる。こ
れにより、半導体レーザー１からの光出力は所定の記録
用レベルまで増大させられるようＫなる。したがって、
上記合計駆動電流ＩＲ＋Ｉｗ’ｋ、変調回路８を介して
、外部からの入力データＤＡＴＡでスイッチングするこ
と釦より、たとえは追記型光デイスクデータＤＡＴＡの
記録を行うことができる。
かれ、他のスイッチ回路１６．１７は閉じられる。この
状態になると、再生時に検出されていた光出力レベルＰ
１がサンプル・ホールド回路９によって保持される。こ
れとともに１上記ＡＰＣによって制御されていた再生用
駆動電流■Ｒがサンプル・ホールド回路８によって一定
の電流値に固定される。そして、この固定された再生用
駆動電流ＩＲＫ記録電流供給回路７からの記録用駆動電
流Ｉｗが重畳されて、この合計１駆動電流Ｉ ｎ ＋
Ｉ ｗが半導体レーザー１に供給されるようになる。こ
れにより、半導体レーザー１からの光出力は所定の記録
用レベルまで増大させられるようＫなる。したがって、
上記合計駆動電流ＩＲ＋Ｉｗ’ｋ、変調回路８を介して
、外部からの入力データＤＡＴＡでスイッチングするこ
と釦より、たとえは追記型光デイスクデータＤＡＴＡの
記録を行うことができる。
このようにして、記録時の半導体レーザー１には、第３
図に示すように、その光出力のピーク・レベルＰ２が所
定の記録レベルに達するような駆動電流Ｉａ＋Ｉｗが供
給される。このとき、その記録時のピーク・レベルＰ２
は、上記劣化検出装置１００内のピーク検出回路１０に
よって検出・保持される□。
図に示すように、その光出力のピーク・レベルＰ２が所
定の記録レベルに達するような駆動電流Ｉａ＋Ｉｗが供
給される。このとき、その記録時のピーク・レベルＰ２
は、上記劣化検出装置１００内のピーク検出回路１０に
よって検出・保持される□。
ここで、上記劣化検出装置１００内では、演算回路１１
によって、上記ピーク検出回路１０によって検出された
ピーク・ＶペルＰ２が上記サンプル・ホールド回路９に
よって保持されたレベルＰＩで除算される。この除算結
果Ｐ２／Ｐｉは、比較器１２によって所定の基準値ｖ１
と大小比較される。この比較器１２の動作により、上記
除算結果Ｐ ２／Ｐ １が基準値ｖ１を下回っているこ
とが検出された場合には、上記半導体レーザー１が劣化
と判定される。そうでない場合には、上記半導体シーザ
ー１が劣化罠至りていないと判定される。なお、上記基
準値ｖ１は、半導体レーザー１０種類および使用状態な
どに応じてあらかじめ設定される。
によって、上記ピーク検出回路１０によって検出された
ピーク・ＶペルＰ２が上記サンプル・ホールド回路９に
よって保持されたレベルＰＩで除算される。この除算結
果Ｐ２／Ｐｉは、比較器１２によって所定の基準値ｖ１
と大小比較される。この比較器１２の動作により、上記
除算結果Ｐ ２／Ｐ １が基準値ｖ１を下回っているこ
とが検出された場合には、上記半導体レーザー１が劣化
と判定される。そうでない場合には、上記半導体シーザ
ー１が劣化罠至りていないと判定される。なお、上記基
準値ｖ１は、半導体レーザー１０種類および使用状態な
どに応じてあらかじめ設定される。
以上のようにして、半導体レーザー１の劣化の判定が、
再生時と駆動時の駆動電流の変化に対する光出力の変化
率の大きさに基づいて行われる。
再生時と駆動時の駆動電流の変化に対する光出力の変化
率の大きさに基づいて行われる。
このとき注目すべきことは、第２図に示したように、そ
の駆動電流の変化に対する光出力の変化率が半導体レー
ザー１に固有のものであって、温度の影響をほとんど受
けないということである。これにより、光学的な再生お
よび記録を行うための光を発する半導体レーザーの劣化
を、温度等の影響を受けずに精度良く検出することがで
きる。
の駆動電流の変化に対する光出力の変化率が半導体レー
ザー１に固有のものであって、温度の影響をほとんど受
けないということである。これにより、光学的な再生お
よび記録を行うための光を発する半導体レーザーの劣化
を、温度等の影響を受けずに精度良く検出することがで
きる。
なお、上述した実砲例では、再生時に検出される光出力
のレベルと記録時に検出される光出力のピーク・レベル
を相対比較するために、演算回路１１による除算処理を
行っていた。しかし、再生時に検出される光出力のレベ
ルＰ１が常に一定ノベルに設定されるような場合には、
第４図に示す別の実施例のように、その再生時の光出力
レベルＰ１を定数として扱うとともに、上記基準値ｖ１
に再生時の光レベルＰ１などに応じた補正を加えること
により、上記演算回路１１を省略することも可能である
。
のレベルと記録時に検出される光出力のピーク・レベル
を相対比較するために、演算回路１１による除算処理を
行っていた。しかし、再生時に検出される光出力のレベ
ルＰ１が常に一定ノベルに設定されるような場合には、
第４図に示す別の実施例のように、その再生時の光出力
レベルＰ１を定数として扱うとともに、上記基準値ｖ１
に再生時の光レベルＰ１などに応じた補正を加えること
により、上記演算回路１１を省略することも可能である
。
発明の効果
以上の説明から明らかなように、この発明は、光学的な
記録および再生を行うための光を発する半導体レーザー
の光出力を再生時と記録時とでそれぞれに検出し、再生
時に検出される光出力のしベルと記録時に検出される光
出力のピーク・ノベルを相対比較することによって上記
半導体レーザの劣化の有無を判定することにより、上記
半導体レーザーの劣化を温度差の影＃を受けずに精度良
く検出することができる、という効果を有するものであ
る。
記録および再生を行うための光を発する半導体レーザー
の光出力を再生時と記録時とでそれぞれに検出し、再生
時に検出される光出力のしベルと記録時に検出される光
出力のピーク・ノベルを相対比較することによって上記
半導体レーザの劣化の有無を判定することにより、上記
半導体レーザーの劣化を温度差の影＃を受けずに精度良
く検出することができる、という効果を有するものであ
る。
第１図はこの発明の一実施例による光記録再生装置の概
略構成図、第２図は同装置に使われている半導体レーザ
ーの特性を例示するグラフ、第３図は従来の光記録再生
装置の概略構成図、第４図はこの発明の別の実施例によ
る光記録再生装置の概略構成図である。 １・・・半導体レーザー、２・・・モニター用フォト・
ダイオード、３・・・Ｉ−Ｖ（電流−電圧）変換器、４
・・・差動増幅器、５・・・再生電流供給回路、６・・
・記録電流供給回路、７・・・サンプル・ホールド回路
、１００・・・半導体レーザー劣化検出装置、９・・・
サンプル・ホールド回路、１０・・・ピーク検出回路、
１１・・・演算回路、１２・・・比較器、５ｏｕｌ・・
・劣化検出出力、ｖｌ・・・基準値。 第１図 ／−−−キ勇ｑ番−ブー ２−−−モニター用フォト・ダイオードＬ
＋
Ｊ第２図 駆’１１３ ａ ’ｔ？ｔ （ｍｘ） 第３図 ／−−一キ萼体レーザー −で４！讐−２０−ｊ
略構成図、第２図は同装置に使われている半導体レーザ
ーの特性を例示するグラフ、第３図は従来の光記録再生
装置の概略構成図、第４図はこの発明の別の実施例によ
る光記録再生装置の概略構成図である。 １・・・半導体レーザー、２・・・モニター用フォト・
ダイオード、３・・・Ｉ−Ｖ（電流−電圧）変換器、４
・・・差動増幅器、５・・・再生電流供給回路、６・・
・記録電流供給回路、７・・・サンプル・ホールド回路
、１００・・・半導体レーザー劣化検出装置、９・・・
サンプル・ホールド回路、１０・・・ピーク検出回路、
１１・・・演算回路、１２・・・比較器、５ｏｕｌ・・
・劣化検出出力、ｖｌ・・・基準値。 第１図 ／−−−キ勇ｑ番−ブー ２−−−モニター用フォト・ダイオードＬ
＋
Ｊ第２図 駆’１１３ ａ ’ｔ？ｔ （ｍｘ） 第３図 ／−−一キ萼体レーザー −で４！讐−２０−ｊ
Claims (2)
- （１）光学的な記録および再生を行うための光を発する
半導体レーザーと、再生時に上記半導体レーザーの光出
力を所定の再生用レベルに制御する自動光出力制御手段
と、記録時に上記半導体レーザーに所定の駆動電流を重
畳させることにより上記半導体レーザーの光出力を所定
の記録用レベルまで増大させる記録電流供給手段と、上
記半導体レーザーの光出力を検出するモニター手段と、
再生時に検出される光出力のレベルと記録時に検出され
る光出力のピーク・レベルを相対比較することによって
上記半導体レーザーの劣化の有無を判別する劣化検出手
段とを備えた光記録再生装置。 - （２）光学的な記録および再生を行うための光を発する
半導体レーザーと、再生時に上記半導体レーザーの光出
力を所定の再生用レベルに制御する自動光出力制御手段
と、記録時に上記半導体レーザーに所定の駆動電流を重
畳させることにより上記半導体レーザーの光出力を所定
の記録用レベルまで増大させる記録電流供給手段と、上
記半導体レーザーの光出力を検出するモニター手段と、
再生時に検出される光出力のレベルと記録時に検出され
る光出力のピーク・レベルを相対比較することによって
上記半導体レーザーの劣化の有無を判別する劣化検出手
段とを備えるとともに、この劣化検出手段として、再生
時に検出される光出力のレベルを保持するサンプル・ホ
ールド回路と、記録時に検出される光出力のピーク・レ
ベルを検出するピーク検出回路と、このピーク検出回路
によって検出されたピーク・レベルを上記サンプル・ホ
ールド回路によって保持されたレベルで除算する演算手
段と、この演算手段の演算結果を所定の基準値と比較す
る比較手段とを備えた特許請求の範囲第１項記載の光記
録再生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62126303A JPS63291225A (ja) | 1987-05-22 | 1987-05-22 | 光記録再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62126303A JPS63291225A (ja) | 1987-05-22 | 1987-05-22 | 光記録再生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63291225A true JPS63291225A (ja) | 1988-11-29 |
Family
ID=14931860
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62126303A Pending JPS63291225A (ja) | 1987-05-22 | 1987-05-22 | 光記録再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63291225A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001059777A1 (fr) * | 2000-02-09 | 2001-08-16 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Dispositif de commande laser |
-
1987
- 1987-05-22 JP JP62126303A patent/JPS63291225A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001059777A1 (fr) * | 2000-02-09 | 2001-08-16 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Dispositif de commande laser |
| US6683836B2 (en) | 2000-02-09 | 2004-01-27 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Laser control device |
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