JPS63281063A - 絶縁劣化関係量測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 見匪夏且孜 （産業上の利用分野） この発明は、ケーブル、電気機器（たとえば、変圧器）
等の絶縁抵抗、誘電正接、ケーブルの絶縁劣化に基づく
水トリー電流等の絶縁劣化関係量を、活線状態すなわち
ケーブルに電力を供給している状態あるいは電気機器に
電源電力を供給している状態で、測定することのできる
絶縁劣化関係量測定装置の・改良に関する。

（従来の技術） 従来から、ケーブル、電気機器等の測定対象回路の絶縁
抵抗、誘電正接等の絶縁劣化関係量を測定する手段とし
ては、ケーブル、電気機器を無課電の状態として電力の
供給を停止し、交流又は直流の高電圧を測定対象回路に
印加し、その絶縁抵抗、誘電正接等の絶縁劣化関係量を
測定するようにしたものが知られている。

次に、活線状態で絶縁劣化関係量を測定する手段として
は、たとえば、Ｃｖケーブルの絶縁抵抗を活線状態で測
定するために、ＧＰＴ中性点に直流低電圧を重畳し、Ｃ
ｖケーブルの遮蔽鋼と大地との間の接地線に流れる直流
成分電流を測定し、絶縁劣化関係量としての絶縁抵抗を
測定するようにしたものがある。また、絶縁劣化関係量
としてのＣｖケーブルの水トリー電流を測定する絶縁劣
化関係量測定装置としては、交流電圧を印加して遮蔽鋼
と大地との間の接地線に流れる直流成分電流を検出して
測定するようにしたものがある。

（発明が解決しようとする問題点） ところで、絶縁劣化関係量測定装置としては、Ｃｖケー
ブル、電気機器等を活線状態で測定できるようにするこ
とが望ましいのであるが、しかしながら、従来のＣｖケ
ーブルの絶縁抵抗を活線状態で測定するために、ＧＰＴ
中性点に直流低電圧を重畳し、Ｃｖケーブルの遮蔽鋼と
大地との間の接地線に流れる直流電流成分を測定し、絶
縁劣化関係量としての絶縁抵抗（シース抵抗）を測定す
るようにしたものでは、電池作用に基づく迷走電流、絶
縁劣化に基づく水トリー電流が生じていると。

ＧＰＴ中性点に印加された直流低電圧に基づく直流測定
電流にその電池作用に基づく迷走電流、絶縁劣化に基づ
く水トリー電流が重畳されるため、測定した絶縁抵抗値
に電池作用による迷走電流、水トリー電流に基づく誤差
が含まれる不具合がある。

また、絶縁劣化関係量としてのＣｖケーブルの水トリー
電流を測定するために、交流電圧を印加して遮蔽鋼と大
地との間の接地線に流れる直流成分電流を検出するもの
では、迷走電流があると以下に説明する不具合がある。

第１図、第２図に示すように、たとえば、Ｃｖケーブル
１は、導体２を内部半導体層３で被覆し、外部半導体層
４と内部半導体層３との間に絶縁体としての架橋ポリエ
チレン５を介在させ、外部半導体層４を遮蔽鋼テープ６
により被覆してシールドし、その遮蔽鋼テープ６に押さ
え布７を巻き。

その押さえ布７を絶縁ビニールシース８により被覆して
形成されている。なお、Ｃｖケーブル１には第３図に示
すように遮蔽鋼テープ６まで構成した構成体を３個設け
、その遮蔽鋼、テープ６を互いに接融させてその３個の
構成体に押さえ布７を巻いて、その押さえ布７を絶縁ビ
ニールシース８により被覆したＣｖケーブルである。ま
た、いわゆるトリプレックス形のＣｖケーブル（ｃｖＴ
）もある。符号９は介在物である。

このＣｖケーブル１はそれが絶縁劣化すると、第４図に
示すように水トリー電流工、が発生する。

この第４図に示す例は、遮蔽鋼テープ６の側が＋電位、
導体２の側が一電位である。また、逆方向に流れる場合
もある。この水トリー電流工、を測定するために、第５
図に示すように、高圧配電線１０に一方側が接続されか
つ他方側が負荷に接続されたＣｖケーブル１の他方側の
遮蔽鋼テープ６から接地線１１を引き出し、その接地線
１１の途中に絶縁劣化関係量としての水トリー電流工、
を測定するための測定器１２を接続する。この測定器１
２は検出抵抗１３とフィルタを有する増幅器１４及び記
録装置１５とから概略構成される。

ところが、絶縁ビニールシース８と大地との間には電池
作用起電力ＥいＧＰＴ１６の接地線１７と大地との間に
は系統負荷のアンバランスによる商用周波起電力ＥＡ！
があり、ＧＰＴ１６の接地部分には電池作用起電力Ｅ、
がある。この状態を等価回路で示したのが第６図である
。この第６図において、Ｒ５はＣｖケーブル１の架橋ポ
リエチレン５を含む絶縁抵抗、Ｒ３は絶縁ビニールシー
ス８の部分のシース抵抗であり、起電力Ｅい絶縁抵抗Ｒ
【と並列にコンデンサＣＬがあると考えられ、電池作用
起電力Ｅいシース抵抗Ｒ３と並列にコンデンサＣ１があ
ると考えられる。これらの起電力Ｅ、。

Ｅ、、Ｅ、、があると、迷走電流工１、■１、交流電流
工。が発生し、迷走電流工３、工、が直流電流成分工と
して水トリー電流工、と共に測定器１２に流れることに
なる。その第６図に示す等価回路を直流電流成分工のみ
に着目して、書き換えて表現した等価回路が第７図であ
る。

その第７図には、直流電流成分としての迷走電流工い　
工□が水トリー電流工、と共に流れている状態が示され
ている。この迷走電流Ｉ、、　Ｉ、は抵抗Ｒ，，Ｒ，と
電池作用起電力Ｅ、、Ｅ、によって定まるものであるが
、迷走電流工、は測定器１２と大地との間の接地線１１
ａをＧＰＴ１６の接地線１７と共用化することにより除
去できる。そこで、迷走電流１．について考えると、水
トリー電流工、の起電力Ｅ、は通常数１０ボルト程度以
下、電池作用起電力Ｅ１、Ｅ６は０．５ボルト程度以下
である。また、絶縁抵抗ＲＬは数十万ＭΩ以下、シース
抵抗Ｒ１は通常絶縁抵抗より小さく、シース抵抗Ｒ８が
２００ＭΩ以上であると迷走電流工、は２．５ナノアン
ペア以下であり、これに対して劣化したＣｖケーブルで
は水トリー電流工、は数１０ナノアンペア程度以上であ
るので、通常の条件下では迷走電流工。

を考慮しなくともよいが、シース抵抗Ｒ１は環境条件そ
の他によって大きく変動し、シース抵抗Ｒ１が２００Ｍ
Ω以下になると相対的に迷走電流Ｉ、の寄与する割合が
大きくなって迷走電流工、を測定しているのか水トリー
電流工、を測定しているのか識別できなくなる。このよ
うな場合、直流成分電流に影響を受けることなくシース
抵抗Ｒ１を測定することができれば、正確に水トリー電
流■。

を測定できるので、この観点から測定対象回路に流れる
直流成分電流に影響を受けることなく絶縁劣化関係量と
しての絶縁抵抗（シース抵抗も絶縁抵抗という意味で用
いる）を測定できるようにすることが望ましい、なお、
第５図において、１８は電源、１９はＣｖケーブル１の
一方側の遮蔽銅テープ６から引き出された接地線、２０
は測定時に開放するスイッチである。

この発明は、上記の事情を考慮して為されたもので、そ
の目的とするところは、測定対象回路に直流電流成分が
流れている場合にもその影響を受けることなく絶縁抵抗
を直流成分電流と同時に測定することのできる絶縁劣化
関係量測定装置を提供することにある。

＾豆立盪處 （問題点を解決するための手段） この発明に係る絶縁劣化関係量測定装置は、上記の目的
を達成するために、絶縁劣化関係量が測定される測定対
象回路に低周波電圧を印加する低周波電圧印加部と、該
低周波電圧に基づいて前記測定対象回路を経由して流れ
る低周波電流を検出する低周波電流検出部と、前記低周
波電圧印加部に同期して絶縁抵抗に寄与しない低周波無
効電流を発生する低周波無効電流発生部と、前記低周波
電流と前記無効電流とが入力され、該低周波電流と前記
無効電流とを重畳して差分を検出し、絶縁抵抗に寄与す
る有効分電流を取り出すために前記低周波電流が最小と
なるように前記低周波無効電流発生部を制御すると共に
、前記有効分電流を絶縁抵抗演算部に向かって出力する
差動回路部と。

前記絶縁抵抗演算部の出力に基づいて絶縁抵抗を記録す
る記録部と前記測定対象回路に該測定対象回路の交流イ
ンピーダンス成分への影響が無視できる程度の超低周波
電圧を印加する超低周波電圧印加部と、該超低周波電圧
に基づいて前記測定対象回路を経由して流れる直流成分
電流を検出する直流成分電流検出部と、該直流成分電流
検出部の検出出力に基づいて絶縁抵抗と直流成分電流と
を演算する演算部と、前記直流成分電流と前記絶縁抵抗
とを得るために該演算部と前記超低周波電圧印加部と前
記直流成分電流検出部とをタイミング制御するタイミン
グ制御部とを有する構成としたのである。

（実施例） 以下、この発明に係る絶縁劣化関係量測定装置の第１実
施例を第８図〜第１２図を参照しつつ説明する。

第８図、第９図において、３０は絶縁劣化関係量が測定
される測定対象回路である。この測定対象回路３０は、
ここではＣｖケーブル１であるが、変圧器その他の電気
機器でも構わない。３１はこの測定対象回路３０の絶縁
劣化関係量を測定する絶縁劣化関係量測定装置である。

絶縁劣化関係量測定装置３１は、測定対象回路３０が活
線状態である場合にあっても測定できるもので、絶縁劣
化関係量測定装置３１は低周波電圧印加部３２、低周波
電流検出部３３、低周波無効電流発生部３４、差動回路
部３５．絶縁抵抗演算部３６、絶縁抵抗記録部３７、誘
電正接演算部３８、誘電正接記録部３９、直流電流成分
検出部４０、直流成分記録部４１と、超低周波電圧印加
部７０と、直流成分電流検出部７１と、演算部７２とタ
イミング制御部７３と、絶縁抵抗記録部７４と、直流成
分電流記録部７５とを有する。

低周波電圧印加部３２は低周波電圧としての正弦波電圧
を測定対象回路３０に印加する機能を有する。

測定対象回路３０に正弦波電圧ｖ２が印加されるとその
測定対象回路３０を経由して低周波電流としての正弦波
電流工、が流れる。この正弦波電流工、は第１０図、第
１１図に示すように絶縁抵抗Ｒ１、ＲＬに寄与する有効
分電流Ｉｕと絶縁抵抗に寄与しない無効分電流１ｍとか
らなる。低周波電流検出部３３は抵抗Ｒ２とアンプ４２
とフィルター４３とから概略構成され、正弦波電流工、
を検出する機能を有する。

アンプ４２には正弦波電流工、に基づいて、正弦波電流
工、に対応する電圧ｖ７′が入力され、アンプ４２はそ
の電圧ｖＴ′をβ倍に増幅してフィルター４３にβＶ、
／の電圧を出力し、フィルター４３は直流分電圧βｖ７
を後述する差動増幅器に向かって出力する。低周波無効
電流発生部３４は低周波電圧印加部３２に同期して正弦
波電流工、の打ち消し無効電流Ｉｍ’を発生する機能を
有する。その低周波無効電流発生部３４は抵抗ｒとコン
デンサＣとアンプ４４と利得制御回路４５とから概略構
成されている。アンプ４４には、無効分電流工■に基づ
いて検出電圧ｖ１′が印加され、そのアンプ４４はその
検出電圧をα倍してαｖ６′の電圧を利得制御回路４５
に出力する機能を有する。差動回路３５は差動増幅器４
６と絶縁抵抗演算部３６の一部回路３６′とから構成さ
れている。差動増幅器４６にはフィルター４３の出力電
圧βＶアと利得制御回路４５の電圧αＶ。

とが入力され、その差分電圧Ｖ、を一部回路３６′を介
して絶縁抵抗演算部３６と誘電正接演算部３８とに出力
する機能を有する。

利得制御回路４５には、差分電圧ｖ８の一部が帰還され
、差動回路３５は低周波電流と無効電流とが入力され、
低周波電流と無効分電流Ｉｎとを重畳して差分を検出し
、有効分電流Ｉｕを取り出すためにｖ８が最小となるよ
うに低周波無効電流発生部３４を制御すると共に、有効
分電流Ｉｕを少なくとも絶縁抵抗演算部３６に向かって
出力する機能を有する。この発明に係る絶縁劣化関係量
測定装置によれば、 有効分電流Ｉｕは、 無効分電流Ｉｍは、 μ・Ｋ 絶縁抵抗ＲＬは、 として求められる。

絶縁抵抗演算部３６は絶縁抵抗値を演算し、その演算結
果を絶縁抵抗記録部３７に出力する機能を有し、誘電正
接演算部３８は誘電正接値を演算し、その演算結果を誘
電正接演算部３９に出力する機能を有する。

なお、測定対象回路３０には低周波電圧を印加する前に
すでに低周波が流れていることも考えられるので、低周
波電圧印加前に有効分電流をあらかじめ測定し、その次
に低周波電圧を印力■して有効分電流Ｉｕを測定してそ
の差分に基づいて絶縁抵抗値を決定するようにすること
が正確に絶縁抵抗を測定するうえで好ましい。また、低
周波の周波数が低ければ交流インピーダンスが大きくな
るために、無効分電流Ｉｎが小さくなり、絶縁抵抗Ｒ５
に基づく有効分電流Ｉｕの大きさとの差が小さくなるの
で、測定精度が向上するが、低周波の周波数としてはＩ
Ｈｚ〜１０Ｈｚが望ましい。更に、この実施例では、低
周波として正弦波を用いたが、三角波、矩形波を用いる
こともできる。

以下に、この発明に係る低周波を用いてのＣｖケーブル
１のシース抵抗の測定結果と従来の絶縁抵抗測定器によ
る測定結果とを表として示す。

なお、Ｃｖケーブル１の全長は４０メートル、断面積は
２２ｍｍ”であり、絶縁抵抗測定器には１０００ボルト
印加用のものを用い、シース抵抗を人為的に変化させな
がら測定した。また、単位はメグオームである。

表 超低周波電圧印加部７０は超低周波電圧としての矩形波
電圧Ｖを測定対象回路３０に印加する機能を有する。こ
こで、矩形波電圧Ｖ・の周波数としては測定対象回路３
０の交流インピーダンス成分への影響が無視できる程度
とし、たとえば、０．０２Ｈｚ程度以下の周波数の矩形
波電圧を用いる。測定対象回路３０に矩形波電圧Ｖが印
加されるとその測定対象回路３０を経由して直流成分電
流が流れる。直流成分電流検出部７１は、測定対象回路
３０を経由して流れる直流成分電流を検出する機能を有
し、演算部７２は直流成分電流検出部７１の検出出力に
基づいて、直流成分電流と絶縁抵抗とを演算する機能を
有し、タイミング制御部７３はその超低周波電圧印加部
７０と直流成分電流検出部７１と演算部７２とを制御す
る機能を有する。

次に、この発明に係る超低周波を用いての測定を第１２
図を参照しつつ説明する。

測定対象回路３０には活線状態ではもともと直流成分電
流が流れているもので、まず１区間Ｉにおいて矩形波電
圧Ｖを印加する前の状態で、測定対象回路３０に流れて
いる直流成分電流工、を測定する０次に、区間■におい
て正の矩形波電圧Ｖ、を印加する。このとき、測定対象
回路３０に流れた直流成分電流を工、とし、この区間■
の測定によって得られる抵抗、たとえば、シース抵抗を
Ｒ１２とする。このとき、シース抵抗Ｒ１，と直流成分
電流Ｉ２．　Ｉ、、矩形波電圧Ｖ、とは、以下に示す関
係式が成り立つ。

その次に１区間■において矩形波電圧Ｖの印加を停止し
て区間■における直流成分電流工、を測定し、その後区
間■において負の矩形波電圧ｖ４を印加する。このとき
測定対象回路３０に流れた直流成分電流を工、し、この
区間■の測定によって得られる抵抗、たとえば、シース
抵抗をＲｏとする。このときシース抵抗Ｒ１４と直流成
分電流工１、■い矩形波電圧ｖ４とは、以下に示す関係
式が成したがって、平均のシース抵抗Ｒ１は。

として求められる。

タイミング制御部７３は直流成分電流Ｉ□、Ｉ２゜Ｉ、
、Ｉい各区間におけるシース抵抗Ｒ，２，Ｒ，い平均の
シース抵抗Ｒ８を得るために、超低周波電圧印加部７０
．直流成分電流検出部７１、演算部７２を制御する。こ
のようにして求められたシース抵抗Ｒ１は以下に説明す
るように用いられる。たとえば、シース抵抗Ｒ１を人為
的に変化させ、そのシース抵抗Ｒ１とそれに対応する直
流成分電流工とを少なくとも３組求め、この求められた
直流成分電流Ｉとシース抵抗Ｒ３との組合せから第１３
図に示す関係曲線を求め、シース抵抗Ｒ１の増大側の極
限の直流成分電流工を推定することにすると、迷走電流
工、が含まれたままの状態でも水トリー電流工、を測定
できる。

また、この発明に係る絶縁劣化関係量測定装置３１は、
水トリー電流工いケーブル絶縁抵抗Ｒ５、シース抵抗Ｒ
６を同時に連続的に測定することができるもので、第１
４図はこの発明に係る絶縁劣化関係量測定装置３１を用
いてＣｖケーブル１の接地線１１に流れる水トリー電流
工、と絶縁抵抗Ｒ５とシース抵抗Ｒ１とを連続的に測定
する場合の接続回路図を示しており、絶縁劣化関係量測
定装置３１の一方側を接地線１１に接続し、他方側を接
地線１７に接続すると共に、交流的には数十Ω以下のイ
ンピーダンス特性を有しかつ直流的には２００　ＭΩ程
度以上の高インピーダンス特性を有するコンデンサＣを
接地線１７の途中に介在させ、正弦波電流工。

を高圧配電線１７と大地とを経由して絶縁劣化関係量測
定装置３１に還流させ、超低周波に基づいて流れる電流
Ｉ′も高圧配電線１０及び大地を経由して還流させる構
成としたものであり、このように絶縁劣化関係量測定装
置３１を接続する構成とすると、超低周波に基づいて測
定された測定対象回路３０の全抵抗をＲａ、低周波によ
って測定された全抵抗を、Ｒｂとすると、シース抵抗Ｒ
１、絶縁抵抗ＲＬは以下に示す式を解くことによって求
められる。

−ＲｂＲ（Ｒａ”Ｒｈ）±Ｒ，ＲＲ，−Ｒ，ＲＲａ−Ｒ
Ｒ，＋４ＲａＲ，）なお、ここで、抵抗Ｒはコンデンサ
Ｃの直流抵抗成分である。

さらに、この発明に係る絶縁劣化関係量測定袋ｒ！１３
１は、Ｃｖケーブル１の接地線１１に流れる水トリー電
流工い絶縁抵抗Ｒ５を２種類の周波数で同時に測定する
のにも用いることができるもので、第１５図に示すよう
に低周波電圧印加部３２、超低周波電圧印加部７０のみ
を測定対象回路３０のＧＰＴ１６の接地線１７に設け、
残余の回路部３３．３４等を含む絶縁劣化関係量測定装
置３１を接地線１１にそのまま接続しておき、すなわち
、Ｃｖケーブル１の遮蔽鋼テープ６に接続しておき、し
かも商用周波をバイパスさせかつ迷走電流工、をカット
するためのコンデンサＣ′を接地線１７に介装する構成
とし、このコンデンサＣ′を介装することによって迷走
電流Ｉ３をカットするようにしたものである。なお、絶
縁抵抗Ｒ５のみの測定であれば、コンデンサＣ′は不要
である。

さらに、この発明に係る絶縁劣化関係量測定装置３１は
Ｃｖケーブル１の絶縁抵抗ＲＬと静電容量Ｃ５とを同時
に連続的に測定することもできるもので、第１６図に示
すように、ＧＰＴ１６の接地線１７にスイッチ５１を設
け、スイッチ５１の高電位側から接続線５２を引き出す
と共にスイッチ５１の低電位側から接続線５３を引き出
し、そのスイッチ５１と並列にコンデンサＣい可変抵抗
器Ｒ４，を設け、接続線５２の途中には抵抗Ｒ工と低周
波電圧印加部３２とを接続し、その抵抗Ｒ１を接地線１
１を介して遮蔽銅テープ６に接続し、低周波電圧印加部
３２と抵抗Ｒ１との接続線５２の途中と接続線５３のと
の間に可変抵抗器Ｒ３を接続し、低周波電流検出部３３
を接地線１１と接続線５３とに接続して、第１７図に等
価回路で示すブリッジ回路を構成し、低周波電流検出部
３３の正弦波電流工、がゼロとなるように調整する構成
としたもので、ブリッジの平行条件により以下の式が成
立する。

この式において、実部と虚部とが等しいとおくと、Ｃｖ
ケーブル１の絶縁抵抗Ｒい静電容量Ｃ５はそれぞれ以下
の式によって求められる。

なお、可変抵抗器Ｒ７、可変抵抗器Ｒ４はたとえば抵抗
Ｒ１をＩＭψ、コンデンサＣ４を５００μＦとし、Ｒ３
の変更範囲を２〜１０００Ω、Ｒ９の変更範囲を２００
Ω〜２００ＭΩとすると、絶縁抵抗Ｒ５は１００ＭΩか
らｌ０００００ＭΩ、静電容量Ｃ５は０，００１μＦ〜
１μＦの範囲で測定できる。

ｌ匪立羞米 この発明に係る絶縁劣化関係量測定装置は、以上説明し
たように低周波用いるものであるから、測定対象回路に
直流成分電流が流れている場合にも絶縁劣化に関係する
絶縁劣化関係量を精度良く測定できるという効果を奏す
る。

また、無課電の測定対象回路であっても、低周波を印加
した状態で超低周波により絶縁抵抗を測定できるから、
交流課電状態での直流電圧印加による絶縁抵抗測定と略
同等の状態で絶縁抵抗値を測定できる効果がある。

異なる異質の交流電圧を同時に印加して絶縁劣化関係量
を測定することができるから、低周波における不具合と
超低周波における不具合とを互いに相殺することができ
、たとえば、測定対象回路の回路特性によっては、超低
周波電圧を印加した際にその印加に基づく超低周波電流
が安定するまでに時間がかかる問題点があるものの、超
低周波の印加の場合には、測定対象回路の静電容量等に
起因する交流インピーダンス成分の影響を受けにくいの
で、低周波印加に較べて絶縁劣化関係量を精度良く測定
できる効果がある。

反対に、低周波印加による場合には、測定対象回路の静
電容量の大きさ等が測定精度に影響を与えることがある
ものの超低周波によるよりも、ＣＶケーブル等の絶縁破
壊電圧に関してより信頼のおける絶縁劣化関係量を得る
ことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明に係るＣＶケーブルの断面図、第２図
はその側面図、第３図はこの発明に係るＣＶケーブルの
断面図、第４図はこの発明に係る水トリー電流の発生機
構の説明図、第５図は従来の測定器のＣｖケーブルへの
接続図、第６図、第７図はその第５図に示す接続図の等
価回路、第８図はこの発明に係る絶縁劣化関係量測定装
置のブロック回路図、第９図はその低周波測定側の回路
の要部構成図、第１０図はその低周波による測定の場合
の出力波形図、第１１図はその低周波測定の場合の有効
分電流、無効分電流、打ち消し無効分電流の関係を示す
ベクトル図、第１２図はその超低周波による測定の場合
の出力波形図、第１３図はこの発明に係る絶縁劣化関係
量測定装置を用いてシース抵抗と直流成分電流とを同時
に測定し、水トリー電流を推定して求−める例を説明す
るための関係曲線図、第１４図はこの発明に係る絶縁劣
化関係量測定装置を用いての絶縁抵抗と水トリー電流と
シース抵抗とを同時に測定する場合の回路接続図、第１
５図はこの発明に係る絶縁劣化関係量測定装置を用いて
の他の測定例を説明するための接続図、第１６図この発
明に係る絶縁劣化関係量測定装置を用いての絶縁抵抗と
静電容量とを同時に測定する場合の接続図、第１７図は
その第１６図に示す回路接続図の等価回路である。 ３２・・・低周波印加部 ３３・・・低周波電流検出部 ３４・・・無効電流発生部 ３５・・・差動回路部 ３６・・・絶縁抵抗演算部 ３７・・・絶縁抵抗記録部 ４０・・・直流成分電流検出部 ７０・・・超低周波電圧印加部 ７１・・・直流成分電流検出部 ７２・・・演算部 ７３・・・タイミング制御部

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）絶縁劣化関係量が測定される測定対象回路に低周
   波電圧を印加する低周波電圧印加部と、該低周波電圧に
   基づいて前記測定対象回路を経由して流れる低周波電流
   を検出する低周波電流検出部と、前記低周波電圧印加部
   に同期して絶縁抵抗に寄与しない低周波無効電流を発生
   する低周波無効電流発生部と、前記低周波電流と前記無
   効電流とが入力され、該低周波電流と前記無効電流とを
   重畳して差分を検出し、絶縁抵抗に寄与する有効分電流
   を取り出すために前記低周波電流が最小となるように前
   記低周波無効電流発生部を制御すると共に前記有効分電
   流を絶縁抵抗演算部に向かって出力する差動回路部と、
   前記絶縁抵抗演算部の出力に基づいて絶縁抵抗を記録す
   る記録部と、前記測定対象回路に該測定対象回路の交流
   インピーダンス成分への影響が無視できる程度の超低周
   波電圧を印加する超低周波電圧印加部と、該超低周波電
   圧に基づいて前記測定対象回路を経由して流れる直流成
   分電流を検出する直流成分電流検出部と、該直流成分電
   流検出部の検出出力に基づいて絶縁抵抗と直流成分電流
   とを演算する演算部と、前記直流成分電流と前記絶縁抵
   抗とを得るために該演算部と前記超低周波電圧印加部と
   前記直流成分電流検出部とをタイミング制御するタイミ
   ング制御部とを有することを特徴とする絶縁劣化関係量
   測定装置。