JPS63281040A - 放射線の量子測定装置 - Google Patents

放射線の量子測定装置

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JPS63281040A
JPS63281040A JP63094698A JP9469888A JPS63281040A JP S63281040 A JPS63281040 A JP S63281040A JP 63094698 A JP63094698 A JP 63094698A JP 9469888 A JP9469888 A JP 9469888A JP S63281040 A JPS63281040 A JP S63281040A
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    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、放射量子(radiation quant
a)を測定し、かつ放射量子をパルス信号に変換する検
出デバイスと、さらに入力によって検出デバイスの出力
に結合されているパルス信号を相互に弁別するパルス弁
別デバイス(pulse discriminatio
n device)を具える放射量子測定装置に関連し
ている。
本発明はまたそのような装置を備える分光計に関連して
いる。
さらに本発明はそのような装置の使用に適したパルス弁
別デバイスにも関連している。
そのような放射量子測定装置はさらに特定するとX線放
射の測定に適しており、量子エネルギを測定する場合に
量子は検出のためにパルス信号に変換されている。特に
この装置は単色性放射(+nonochromatic
 radiation)の測定に適している。
そのような放射量子測定装置は、アール・ジエンキンス
(R,Jenkins)と(シエー・エル・デバリエス
(J、L、 de Varies)の著書、「実用X線
分光学(Practieal X−ra’y Spec
trometry J ) 、フィリップス技術双書(
Philips Technical Library
) 、?クミラン(Mac Millan)出版197
0年から既知であり、上記の本の第3章、頁47−67
にX線放射の検出が記載されている。いくつかの検出器
、就中、希ガスを充填された検出器が記載され、そこで
はX線量子がガス原子をイオン化し、そしてそれによっ
て解放された電子がさらにガス原子をイオン化している
。パルス信号が検出器出力信号として生起する。X線量
子検出用の検出デバイスは上記の本の第3章、頁52の
第3.2図に記載されている。検出器出力信号が就中検
出デバイスの寄生容量を介して積分される場合、積分さ
れたパルス信号が得られ、そのパルス高はパルス信号の
エネルギの測度である。積分のあと検出デバイスの出力
信号はかなり大きい時定数を持つ放電によって比較的ゆ
っくりと減少される。上記の本の第4章、頁68−89
において、前処理のあとの積分パルス信号の処理が記載
されている。X線放射蛍光発光分光学(X−ray r
adiation fluorescence spe
ctrometry)によるいわゆる単一チャネノペす
なわち単色性放射に対して、パルス弁別デバイスが上記
の本の第4.1章、頁68に記載されている。記載され
たパルス弁別デバイスは積分されたパルス性信号を選択
し、そのパルス高はパルス弁別デバイスで調整可能な最
小値と最大値の間(いわゆる「窓」)にある。
平均布は所与の波長を有する量子の選択パルス信号のエ
ネルギに比例しているものと仮定されている。パルス高
分布は検出器に入射する所与の波長の量子による検出器
の統計的性質によって主として得られている。最大値と
最小値、および最大値と最小値の間の差は各波長に対し
て異なっている。
従って、異なる波長のパルス信号は区別されなくてはな
らない。既知の装置の欠点は、単位時間当りのパルスの
数の増大、すなわち単位時間当りの量子の増大する数に
よって、パルス信号のますます大きな数が失われること
である。量子を検出しかつ処理する装置に存在する不感
時間(dead time)はパルス信号の数の増大と
共にますます大きな部分を演すること−なろう。もし1
パルス信号以上が不感時間内に落ちると1パルス信号の
みが識別される。上記の本の頁53には、不感時間のあ
とで次式のパルス高分布から決定されたパルス信号の測
定数を修正する式が与えられ、 R,= R,/ (1−R,Δ) こ−でR1はパルス信号の測定数、Δは装置の不感時間
、そしてRoはパルス信号の修正された数である。パル
ス信号の到着は統計的解析を許すものと仮定されている
。さらに、不感時間Δは例えば装置の種々の部分の影響
に依存している。その結果、単位時間当り非常に大きな
数のパルス信号によって、パルス信号の修正された数R
cは測定の間に起ったパルス信号の実際の数のかなり粗
い近似に過ぎない。既知の装置における単位時間当りの
量子の増大する数によって起る問題は、量子が検出デバ
イスにはゾ同時に入る場合に積分パルス信号が累積(p
ile up)  され得るということである。既知の
装置では、そのあとで起る累積積分パルス信号(pil
ed up integrated pulse si
gnal)は、調整された最小値と最大値に依存して「
窓」で1つの信号として、あるいは2つの信号として観
測され、あるいはそこで全く観測されないこともあろう
。パルス信号の実際の数と測定された数の間の偏差を生
じるこの現象は既知の装置の欠点である。
本発明の目的は上記の欠点の生じない放射量子測定装置
を与えることである。この目的に対して本発明による放
射量子測定装置は、その入力が遅延デバイスを介して積
分器の積分入力に結合されているパルス弁別デバイスが
、放射量子を検出しかつパルス信号を処理するために不
感時間内で連続パルス信号によってパルス信号を積分す
る積分器を制御し、かつ不感時間外で連続パルス信号に
よって積分器の出力で出力信号を処理するために積分器
に結合された信号処理デバイスを駆動し、かつ出力を基
準信号にリセットするために積分器を駆動する目的で、
パルス弁別デバイスの入力に結合されている積分器を制
御する制御手段を具えることを特徴としている。このよ
うにして、少なくトモはゾすべてのパルス信号が単位時
間当りの非常に大きな数のパルス信号を弁別することが
達成されている。とりわけ積分器はパルスの下の面積を
パルス信号に対して弁別するのに役立ち、このパルスの
下の面積はパルス信号のエネルギの測度である。パルス
信号がとりわけ遅延デバイスを通過し、かつ既知の装置
におけるように寄生容量を介して通過しなかったあとで
、パルス信号の積分は本発明による装置で起る。積分器
の出力において、積分パルス信号は他の処理に利用可能
である。制御手段はパルス信号が単一パルス信号として
認識されるために余りにも早く相互に続く場合にも積分
器が積分を続行することを保証している。
かくして、多重エネルギ(multiple ener
gy)を表わす積分値が得られる。さらに弁別の可能な
距離にパルス信号が位置している場合に積分器がリセッ
トされることを制御手段は保証している。もしパルス信
号の累積が起ると、これはまた多重エネルギを表わす積
分値を生じる。積分器は信号処理デバイスによって読出
される。遅延デバイスは積分器の読出しプロセスの間に
どんな後続のパルス性信号も積分器に到着しないことを
保証するよう要求される。この目的の遅延デバイスの遅
延時間は積分器を読取りかつそれをリセットするために
必要な時間より長いかあるいはそれに等しくなくてはな
らない。パルス信号の総数は得られた情報から導くこと
ができる。装置は「累積」修正(”pile−up″c
orrection)に対してそれ自体既知であること
にさらに注意すべきである。例えば、ガンマ線放射測定
中の「累積」の修正に対して1つの装置が米国特許第4
.629.894号から知られている。ガンマ量子はX
線量子に対しかなり高いエネルギを有し、さらに検出に
よってガンマ量子から得られたパルス信号には実質的に
何らのエネルギ分布も存在しない。米国特許第4.62
9.894号に記載された修正は暗黙的にこれらの前提
に基いている。X線量子の場合には、この修正は満足す
る結果を生じない。
本発明による放射量子測定装置の実施例は、制御手段が
パルス信号の信号変化検出デバイスを具え、その入力は
パルス弁別デバイスの入力に結合され、その出力はパル
ス信号に依存して信号谷値(signal valle
y value)のあとの第1状態のあとで第2状態を
とり、かつパルス信号の信号ピーク値のあとの第2状態
のあとで第1状態をとり、さらに制御手段は制御可能な
タイミング回路を具え、その入力は信号変化検出デバイ
スの出力に結合され、もし信号変化検出デバイスの出力
の第2状態への第1状態からの変化を伴う第1状態への
第2状態からの変化の間の期間が所定の時間より長いな
ら、リセット用積分器と処理用信号処理デバイスを駆動
する目的でその出力が積分器のリセット入力と信号処理
デバイスに結合されていることを特徴としている。この
ように、お互に余りにも早く続く部分的に一致するパル
ス信号は弁別され、かつ積分のあとで多重パルス信号と
して認識できる。パルス信号の信号変化検出デバイスは
本特許出願と同時に出願されたオランダ国特許出願第8
700948号に充分記載されている。
本発明による放射量子測定装置の別の実施例は、制御可
能なタイミング回路が単安定トリガ回路を具え、その入
力は制御可能なタイミング回路の入力に結合され、その
出力は制御可能なタイミング回路の出力に結合され、単
安定トリガ回路はトリガ時間を調整するために調整手段
に結合された調整入力を具えることを特徴としている。
一般に、この検出に基いてパルス信号はそれが減少する
よりももっと早く増大する。パルス信号の減少はむしろ
検出デバイス中の検出器のタイプに依存している。調整
手段によってトリガ時間が検出器に同調されている場合
に、検出器の特定の性質は考慮されている。
本発明による放射量子測定装置の他の実施例では、信号
処理デバイスはそのアナログ入力が信号処理デバイスの
入力に結合されているアナログ対ディジタル変換器と、
そのアドレスバスがアナログ対ディジタル変換器のディ
ジタル出力に結合されている蓄積デバイ″ス、ならびに
信号処理デバイスがパルス弁別デバイスの制御手段によ
って駆動される場合にアドレスバスにおいてアナログ対
ディジタル変換器によって生成された蓄積デバイスのア
ドレスで蓄積内容を1だけ増大するために蓄積デバイス
を制御する制御ユニットを具えることを特徴としている
。このようにして、ディジタル出力信号によって積分器
が読出されてしまったあとで蓄積位置はアドレスされる
ことが達成されている。蓄積位置の内容は1だけ増大さ
れる。蓄積デバイス中の蓄積位置はカウンタとして利用
される(「事象カウンタ(:event counte
r :) )。
本発明による放射量子測定装置の別の実施例において、
そのデータバスとアドレスバスがそれぞれ蓄積デバイス
のデータバスとアドレスバスに結合されているデータ処
理デバイスを具えるその装置は、測定されたパルスの総
数を決定するためにデータ処理デバイスが積分によって
得られた多重パルスのパルス数を単一パルスのパルス数
に減少し、かつ単一および減少された単一パルスのパル
ス数からパルスの総数を決定するプログラムされた計算
手段を具え、そのパルス数は蓄積デバイスに蓄積されて
いることを特徴としている。このようにして、放射量子
の物理測定の終了後、物理測定による放射量子の総数を
減少により決定するためにデータ処理デバイスが蓄積デ
バイスの蓄積位置(「カウンタ」)を読出している。プ
ログラムされた計算手段はパルス信号の多重エネルギを
表わす蓄積位置の内容を対応する多重因数によって乗算
する乗算器手段と、1チヤネルに対する放射量子の総数
を決定するようにパルス信号の単一エネルギを表わす蓄
積位置の内容に乗算内容を加算する加算手段とを具えて
いる。
本発明による放射量子測定装置によってシーケンシャル
分光計あるいは同時分光計の各チャネルを提供すること
は特に有利である。そのような分光計によって、より高
い数のパルス性信号が単位時間当り測定でき、かつ既知
の分光計よりも良い精度を持っている。
本発明の実施例を添付図面を参照し、実例によって説明
する。
これから先の説明において、示された装置は接地電位を
含めて電源を接続するための(示されていない)電源端
子が備えられているものと仮定されている。示された装
置の動作の説明に対して、電源が接続されているものと
仮定されている。
第1図は分光計1の主要回路図を示しており、これは本
発明による放射量子測定装置2を具えている。分光計1
は標本(preparation)  4を放射するX
線管3を具えている。−次X線放射5は標本4上に入射
されている。従って標本4は二次放射6を発生し、これ
は−次コリメータ7によって方向付けられている。有向
放射(directed rac!1ation)8は
ある角度をもって分析結晶(analysis cry
stal)9上に入射され、この結晶格子面10は相対
距離dで位置されている。分析結晶9は有向放射8を反
射する。分析結晶9は単色光分析器(monochro
mator)として作用し、一方、反射放射11の波長
λに対して次のような既知のプラグ関係式が保持されて
いる。
n−λ= 2d 5in(θ) こ−でnは整数である。反射放射11は二次コリメータ
12によって方向付けられ、これはまた分析結晶9と角
度θをなし、かつ検出デバイス13に含まれた検出器1
4上に入射されている。検出器14は例えば希ガスを充
填した検出器である。入射放射15の放射量子はそのよ
うなガス充填検出器14でガス原子をイオン化する。検
出器I4の陽極(示されていない)に非常に高い電圧を
印加することにより、ガス原子と電子の再結合は少なく
とも実質的に回避される。電子は陽極で集められる。変
換デバイス16は検出器14に結合されている。変換デ
バイス16は増幅器17を具え、これは入力18によっ
て検出器14の出力19に結合されている。さらに、増
幅器17の出力20は増幅器17の出力20において出
力信号の直流成分を再生するための直流再生デバイス2
2の入力21に結合されている。直流再生デバイス22
の出力23において、その直流成分が再生されているパ
ルス信号が利用可能である。直流再生デバイス22の出
力23は検出デバイス13の出力24に結合されている
。パルス信号のエネルギ内容は検出器14上に入射した
放射量子が常に同じ量の電子を解放しないという事実に
よって常に同じではない。説明において入射放射15が
単色性であることが仮定されている。出力24において
、パルス信号は任意の時点で起り、これらの信号のエネ
ルギ内容は分布関数を満足している。検出デバイス13
の出力24はパルス信号を相互に弁別するためにパルス
弁別デバイス26の信号入力25に結合されている。信
号入力25は例えば電子的遅延線の形をしておりかつ出
力29によって積分器31の債券入力3oに結合されて
いる遅延デバイス28の入力27に結合され、積分器3
1の出力32はパルス弁別デバイス26の信号出力33
に結合されている。パルス弁別デバイス26の信号入力
25は積分器31を制御するためにさらに制御手段35
の信号入力34に結合され、その目的で制御手段35は
積分器31のリセット入力37に結合されている第1制
御出力36を備えている。パルス弁別デバイス26の信
号出力33は放射量子測定装置2の信号出力38に結合
されている。信号出力38は信号処理デバイス40の信
号入力39に結合されている。制御手段35の第2制御
出力41はパルス弁別デバイス26の制御出力42に結
合されている。放射量子測定装置2の制御出力43は制
御出力42に結合され、さらに信号処理デバイス40の
制御入力44に結合されている。信号処理デバイス40
は放射量子測定装置2のリポートバック入力(repo
rt back 1nput) 45に結合されたリポ
ートバック出力45を備えている。
リポートバック入力46はパルス弁別デバイス26のリ
ポートバック入力47に結合されている。リポートバッ
ク入力47は制御手段35のリポートバック入力48に
結合されている。信号処理デバイス40のアドレスバス
49は信号処理デバイス51のアドレスバス50に結合
されている。信号処理デバイス40のデータバス52は
データ処理デバイス51のデータバス53に結合されて
いる。
放射量子測定装置2および分光計1の動作は第2図を参
照してもっと詳しく説明され、こ−でパルス弁別デバイ
ス26の信号入力25におけるパルス信号Imと積分器
31の出力32における出力信号intは時間tの関数
として示され、toからt、はそのいくつかの時点を示
している。pは基準レベルを表わし、この場合それは零
レベルである。例示されたパルス信号1mの前にはどん
なパルス信号も信号入力25に入らないと仮定されてい
る。1oにおいてパルス信号imが信号入力25に入る
と、遅延デバイス28はある遅れをもってパルス性信号
imを積分器31に伝達する。制御手段35は積分器3
1がパルス性信号inを積分するようにし、この積分は
tlで開始するものと仮定されている。t2において、
その信号値eがパルス信号imのエネルギの測度である
信号は出力32に印加される。t、まで信号値eは積分
器によって保持される。時間間隔13−12は信号処理
が信号処理デバイス40によって実行されるために必要
である。時点t、において、積分器31は制御手段35
によってリセットされる。遅延デバイス28は次に続く
パルス信号が信号処理期間の間に積分器31に入ってし
まったかどうかをパルス弁別デバイス26によって決定
するために必要である。遅延デバイス28の遅延時間は
このために時間差1.−12より長くなければならない
、すなわち積分されたパルス性信号の信号処理および積
分器31のリセットに必要な不感時間より長くなければ
ならない。
積分器31の出力32における出力信号を処理する第2
制御出力41を介して信号処理デバイス40を駆動する
ため制御手段35によって取られるべき決定はまた検出
の不感時間に依存している。検出器14に入る放射量子
は所与の期間、すなわち検出の不感時間を有するパルス
信号imを生じるであろう。従って全不感時間は検出の
不感時間と、処理の不感時間(積分器31のリセット)
との和である。制御手段35は遅延しないパルス信号と
次のパルス信号を分析する。もしパルス信号がお互に検
出と処理のための不感時間内に落ちるなら、積分器31
は積分を続ける。もし信号入力25に最後に入るパルス
信号が前の入りパルス信号から大きい時間長をもって位
置するなら、制御手障35は処理のために信号処理デバ
イス40を駆動し、そして出力32を基準値pにリセッ
トするために積分器31を駆動する。
このようにして、積分器出力値は単一あるいは多重パル
ス信号のエネルギを表わし、この場合、「多重パルス信
号」という術語は共に時間的に分離されかつ累積した単
一パルス信号を意味するものと理解されるべきである。
積分器出力信号は信号処理デバイス40で処理される。
第3図は本発明によるパルス弁別デバイス26の一実施
例を示し、こ\で信号入力や信号出力のような部分は第
1図と同じ参照記号によって示されている。パルス弁別
デバイス26において、信号入力25は制御手段35の
信号入力34に結合されている。
信号入力34は信号変化検出デバイス55の信号入力5
4に結合され、その制御出力56は制御可能なタイミン
グ回路58の第1制御入力57に結合されている。
制御可能なタイミング回路58の制御出力59は制御手
段35の第1および第2出力36.41に結合されてい
る。制御可能なタイミング回路58は、リポートバック
入力4Bに結合されている第2制御入力60と、制御手
段35の入力62に結合されている第3制御入力61を
さらに具えている。第1制御入力57は単安定トリガ回
路65の入力64に結合され、この単安定トリガ回路6
5は制御可能なタイミング回路58中に存在し、かつ出
力66によって制御出力59に結合されている。単安定
トリガ回路65はトリガ時間を調整する調整入力67を
備えている。調整入力67は制御手段35の調整入力6
8に結合されている。調整入力68はパルス弁別デバイ
ス26の調整入力69に結合されている。積分器31は
基準値pにリセットするリセット手段70を備えている
。信号変化検出デバイス55は信号変化の検出に基いて
差値(differencevalue)を調整するた
めに差値調整人カフ1を備えている。差値は信号変化検
出デバイス55がトリガされる場合にパルス信号に重畳
された雑音に対する感度を決定する。差値調整人カフ1
は制御手段35の差値調整人カフ2と、パルス弁別デバ
イス26の差値調整人カフ3に結合されている。パルス
信号に関連する信号変化検出デバイス55の詳細にわた
る説明について、本特許出願と同時に出願したオランダ
国特許出願第8700948号を再び参照できる。パル
ス弁別デバイス26の動作は次のようになっている。
すなわち、信号変化検出デバイス55の信号入力54に
入るパルス信号が分析される。もし信号ピークが信号の
谷によって所定の時間内で続くなら、単安定トリガ回路
65が再び開始され、積分器31は部分を続行する。信
号の谷は信号が信号の谷から増大したあとで見出される
。もし信号の谷が所定の時間外に落ちるなら、制御可能
なタイミング回路5Bは信号処理回路40で積分器31
の出力信号を処理する開始信号を供給する。信号のピー
クと谷の検出は信号変化検出デバイス55で起る。所定
の時間は全不感時間に依存する。
第4図は本発明による制御可能なタイミング回路58の
一実施例を示し、信号入力や信号出力のような部分は第
3図と同じ参照記号によって表わされている。第1制御
入力57は第1アンドゲート回路75の入カフ4に接続
され、その出カフ6は単安定トリガ回路65の入力64
に接続され、またオアゲート回路78の入カフ7にも接
続されている。第3制御入力61はアンドゲート回路7
5の人カフ9に接続されている。単安定トリガ回路65
の出力66はオアゲート回路78の入力80に接続され
ている。オアゲート回路78の出力81はディジタル遅
延回路83の入力82に接続され、ディジタル遅延回路
83の出力84は双安定トリが回路86のセット入力8
5に接続され、双安定トリガ回路86は反転出力87を
介して制御可能なタイミング回路58の制御出力59に
接続されている。
出力84は第1インバータ890入力88に接続され、
第1インバータ89は出力90によって第2アンドゲー
ト回路92の入力91に接続されている。アンドゲート
回路92の出力93は双安定トリガ回路86のリセット
入力94に接続されている。さらに、オアゲート回路7
8の出力81は第2インバータ96の入力95に接続さ
れ、第2インバータ96は出力97によって第2アンド
ゲート回路92の入力98に接続されている。
第2制御入力60はアンドゲート回路92の入力99に
接続されている。調整入力67は調整手段101の入力
100に接続され、調整手段101はそめ出力102に
よって単安定トリガ回路65の調整入力103に接続さ
れている。制御可能なタイミング回路58はもし論理「
1」信号が第3制御入力61に供給されるなら解放され
る。単安定トリガ回路65は単安定トリガ回路65のト
リガ時間に依存するパルス期間を有するパルスをオアゲ
ート回路78によって生成する。第1制御入力57に前
縁が現われる場合にパルスが開始する。するとパルス信
号は信号変化検出デバイスの入力54で見出される。調
整入力67を介して調整手段101は単安定トリガ回路
65のトリガ時間を調整するよう駆動できる。調整手段
101は例えば異なる容量性素子によって構成され、こ
の容量性素子はトリガ時間を決定し、そしてその1つは
調整入力67によって調整される。オアゲート回路78
の出力におけるパルス期間はパルス信号のパルス期間に
少なくとも実質的に等しい。オアゲート回路78の出力
において遅延デバイス28の遅延時間に少なくとも実質
的に等しい時間だけパルスを遅延するディジタル遅延回
路83と、第1および第2インバータ89.96と、第
2制御入力60における信号処理デバイス40のリポー
トバックと第2アンドゲート92とによって積分器31
の出力32において出力信号を処理する開始信号を正し
い時点で供給するよう双安定トリガ回路86のタイミン
グが保証されている。パルス信号が充分大きな相対間隔
で位置され、従って分離したパルス性信号あるいは累積
パルス性信号が処理できることを確実にしたあとでのみ
処理は起らなければならい。
第5図は積分器31およびそれに結合されたデータ処理
デバイス51からの出力信号を処理する信号処理デバイ
ス40の主要回路図を示しており、信号入力や信号出力
のような部分は第1図と同じ参照記号によって表わされ
ている。信号入力39はアナログ対ディジタル変換器1
05のアナログ入力104に結合されている。アナログ
対ディジタル変換器105のディジタル出力106は蓄
積デバイス108のアドレスバス107に結合され、蓄
積デバイス108のデータバス109は蓄積デバイス1
08を制御する制御ユニット111のデータバス110
に結合されている。制御ユニット111は制御入力11
2を備え、それはアナログ対ディジタル変換器105の
開始入力113に結合され、さらに信号処理デバイス4
0の制御入力44にも結合されている。さらに、制御ユ
ニッl−111はリポートバック出力45に結合されて
いる制御出力114を備えている。その動作は以下の通
りである。積分器31からのアナログ出力はアナログ対
ディジタル変換器105によって変換され、それは蓄積
デバイス108のアドレスを発生する。
双安定トリガ回路86の反転出力87はその前縁で変換
を開始する。変換のあと、制御ユニット111はそのア
ドレスで蓄積デバイス108を読出し、このアドレスの
内容を1だけ増大し、かつ修正された内容をそのアドレ
スで蓄積デバイス108に書込む。
制御ユニット111の制御の下で蓄積デバイス108中
にそのアドレスで内容を読取りかつ書込む間に、制御ユ
ニットは制御出力114においていわゆる「準備中(n
ot−ready) J信号を供給し、ソノ結果、リポ
ートバック信号は制御可能なタイミング回路58に供給
される。
第6図は本発明による放射量子の測定の終了後の信号処
理デバイス40の蓄積内容を示しており、測定されたパ
ルスの数は蓄積内容を構成し、それは蓄積アドレスに対
してプロットされている。データ処理デバイス51によ
って蓄積デバイス107の蓄積内容は測定の終了後に読
出される。第6図でNはアドレスCNにおける蓄積内容
を示している。
パルス信号のエネルギはアドレスによって表わされ、一
方、所与のエネルギを有するパルス信号の数は内容によ
って表わされる。N1は単一パルス信号に対するエネル
ギ分布のパルス信号の総数を表わし、N2は2重パルス
信号に対するもの、N3は3重パルス信号に対するもの
等々である。Novはオーバーフローアドレスを示して
いる。検出デバイス13中の増幅器17の増幅度の所与
の調整によって、アナログ対ディジタル変換器105は
所与のエネルギの上で蓄積デバイス108の最高アドレ
スのみを発生する。数Nl、 N2. N3.・・・は
例えばX線量子の正規分布(ガスウ分布)についてのも
のであり、その分解能は分布のピークにおいてエネルギ
によって割られた最高の分布の半分における分布の幅と
して定義されている。もしNl、 N2. N3.・・
・の分布のオーバーラツプ(劣悪すぎる分布)が起らず
、かつNovに何のオーバーフローも存在しないなら、
パルス信号の総数は簡単1ご N1+2. N2 +3. N3+・・・となる。オー
バーラツプの場合には、もし放射量子の測定中に毎秒の
量子の数がかなり小さい(く50、0001子/秒)な
ら、データ処理デバイス51は例えばいわゆる「逆畳込
み(deconvolution) Jによってパルス
信号の総数を得る既知のプログラムされた手段を含み、
「累積」は実質的に起らぬであろう。もし分光計の光路
のチャネルフィルタリングのケースで所与のエネルギの
単色性放射(1次)が伝達されるのみならず、2重(2
次)およびもっと高いエネルギが検出デバイス13で起
るなら、このことは本発明による装置の使用で問題を生
じる必要はない。1次のもののみがプログラムされた手
段によって処理される場合、正しい分析が遂行される。
秒当り非常に大きな数の量子(〉500、000量子/
秒)によって、生起する高次の量子の数は多重パルス信
号による分布に対してかなり小さくなくてはならず、一
方、高次の分布は1次のもの一全体を実質的に影響しな
い。修正は単一および多重パルス信号の分布の変動に基
いて起る。
本発明は示された実施例に限定されないが、しかし本発
明の範囲内で多くの変形が当業者にとって可能である。
従前の技術によっていわゆる「フラッジ:L(flas
h) J A/D変換器の使用が明らかであるとはいえ
、安価な高速信号処理装置が利用可能になる場合には信
号処理を異る態様で遂行することが可能であろう。本発
明は示された使用分野のいずれにも限定されない。本発
明はまた回折計に使用できることも明らかであろう。し
かし、例えばガンマ量子の測定あるいは電子光学システ
ムでも使用されよう。パルス弁別デバイス26の使用は
パルス信号が任意の時点で入り、かつ例えば「累積」が
起るようなこれらのすべてのケースで考えつくものであ
る。
(要 約) 分光計(1)において、標本(4)がX線放射によって
照射されている。標本(4)によって発出されたX線量
子は分析結晶(9)による反射のあとで検出デバイス(
13)によりパルス信号に変換される。
5 パルス弁別デバイス(26)において、パルス信号
は弁別され、かつパルス信号の数として信号処理デバイ
ス(40)の単一あるいは多重積分パルス信号として記
録される。測定の終了後、パルス信号の数は信号処理デ
バイス(40)から読み出され、かつ数に基づく分析は
データ処理デバイス(51)によって起こる。例えば、
単色性放射の検出量子の総数は決定することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による放射量子測定装置を備える分光計
の主要回路図を示し、 第2図は本発明による放射量子測定装置の動作を説明す
るために、パルス弁別デバイス中の積分器出力信号とと
もに変化するパルス信号を示し、第3図は本発明による
パルス弁別デバイスの一実施例を示し、 第4図は本発明による制御可能なタイミング回路の一実
施例を示し、 第5図は積分器の出力信号を処理する信号処理デバイス
とそれに結合されたデータ処理デバイスの主要回路図を
示し、 第6図は本発明による放射量子測定装置による測定の終
了後の信号処理デバイス中の蓄積デバイスの蓄積内容を
図式的に示し、測定されたパルス信号の数は蓄積アドレ
スに対してプロットされた蓄積内容を構成している。 1・・・分光計      2・・・放射量子測定装置
3・・・X線管      4・・・標本5・・・−次
X線放射   6・・・二次放射7・・・−次コリメー
タ  8・・・有向放射9・・・分析結晶     1
0・・・結晶格子面11・・・反射放射     12
・・・二次コリメータ13・・・検出デバイス   1
4・・・(ガス充填)検出器15・・・入射放射   
  16・・・変換デバイス17・・・増幅器    
  18.21・・・入力19、20・・・出力   
  22・・・直流再生デバイス23、24・・・出力
     25・・・信号入力26・・・パルス弁別デ
バイス 27・・・入力       28・・・遅延デバイス
29、32・・・出力     30・・・積分入力3
1・・・積分器      33・・・信号出力34・
・・信号入力     35・・・制御手段36・・・
第1制御出力   37・・・リセット入力38・・・
信号出力     39・・・信号入力40・・・信号
処理デバイス 41・・・第2制御出力42、43・・
・制御出力   44・・・制御入力45・・・リポー
トバック出力 46、47. 48・・・リポートバック入力49、5
0・・・アドレスバス 51・・・データ処理デバイス
52、53・・・データバス  54・・・信号入力5
5・・・信号変化検出デバイス 56・・・制御出力     57・・・第1制御入力
58・・・制御可能なタイミング回路 59・・・制御出力     60・・・第2制御入力
61・・・第3制御入力   62.63.64・・・
入力65・・・単安定トリガ回路 66・・・出力67
、68.69・・・調整入力 70・・・リセット手段
71、72.73・・・差値調整入カ フ4、77、79.80.82・・・入カフ5・・・第
1アンドゲート回路 76、81.84・・・出力   78・・・オアゲー
ト回路83・・・ディジタル遅延回路 85・・・セット入力    86・・・双安定トリガ
回路87・・・反転出力 88、91.95.98.99.100・・・入力89
・・・第1インバータ  90.93.97.102・
・・出力92・・・第2アンドゲート回路 94・・・リセット入力   96・・・第2インバー
タ101・・・調整手段    103・・・調整入力
104・・・アナログ入力 105・・・アナログ対ディジタル変換器106・・・
ディジタル出力 107・・・アドレスバス108・・
・蓄積デバイス  109.110・・・データバス1
11・・・制御ユニット112・・・制御入力113・
・・開始入力    114・・・制御出力特許出願人
   エヌ・ベー・フィリップス・フルーイランペンフ
ァブリケン IG−4

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、放射量子を検出しかつ放射量子をパルス信号に変換
    する検出デバイスと、入力によって検出デバイスの出力
    に結合されているパルス信号を相互に弁別するパルス弁
    別デバイスを具える放射量子測定装置において、 その入力が遅延デバイスを介して積分器の 積分入力に結合されているパルス弁別デバイスは、放射
    量子を検出しかつパルス信号を処理するために不感時間
    内で連続パルス信号によってパルス信号を積分する積分
    器を駆動し、かつ不感時間外で連続パルス信号によって
    積分器の出力で出力信号を処理するために積分器に結合
    された信号処理デバイスを駆動し、かつ出力を基準信号
    にリセットするために積分器を駆動する目的で、パルス
    弁別デバイスの入力に結合されている積分器を制御する
    制御手段を具えることを特徴とする放射量子測定装置。 2、制御手段はパルス信号の信号変化検出デバイスを具
    え、その入力はパルス弁別デバイスの入力に結合され、
    その出力はパルス信号に依存して信号谷値のあとの第1
    状態のあとで第2状態をとり、かつパルス信号の信号ピ
    ーク値のあとの第2状態のあとで第1状態をとり、 さらに制御手段は制御可能なタイミング回 路を具え、その入力は信号変化検出デバイスの出力に接
    続され、もし信号変化検出デバイスの出力の第2状態へ
    の第1状態からの変化を伴う第1状態への第2状態から
    の変化の間の期間が所定の時間より長いなら、リセット
    用積分器と処理用信号処理デバイスを駆動する目的でそ
    の出力が積分器のリセット入力と信号処理デバイスに結
    合されていることを特徴とする請求項1記載の放射量子
    測定装置。 3、制御可能なタイミング回路は単安定トリガ回路を具
    え、その入力は制御可能なタイミング回路の入力に結合
    されかつその出力は制御可能なタイミング回路の出力に
    結合され、単安定トリガ回路はトリガ時間を調整するた
    めに調整手段に結合された調整入力を備えることを特徴
    とする請求項2記載の放射量子測定装置。 4、信号処理デバイスはそのアナログ入力が信号処理デ
    バイスの入力に結合されているアナログ対ディジタル変
    換器と、そのアドレスバスがアナログ対ディジタル変換
    器のディジタル出力に結合されている蓄積デバイス、な
    らびに信号処理デバイスがパルス弁別デバイスの制御手
    段によって駆動される場合にアドレスバスにおいてアナ
    ログ対ディジタル変換器によって生成された蓄積デバイ
    スのアドレスで蓄積内容を1だけ増大するために蓄積デ
    バイスを制御する制御ユニットを具えることを特徴とす
    る請求項1ないし3のいずれか1つに記載の放射量子測
    定装置。 5、測定されたパルスの総数を決定するためにデータ処
    理デバイスは積分によって得られた多重パルスのパルス
    数を単一パルスのパルス数に減少し、かつ単一および減
    少された単一パルスのパルス数からパルスの総数を決定
    するプログラムされた計算手段を具え、該パルス数が蓄
    積デバイスに蓄積されていることを特徴とするところの
    そのデータバスとアドレスバスがそれぞれ蓄積デバイス
    のデータバスとアドレスバスに結合されているデータ処
    理デバイスを具える請求項4記載の放射量子測定装置。 6、請求項1ないし3のいずれか1つに記載の放射量子
    測定装置の使用に適するパルス弁別デバイス。 7、請求項1ないし5のいずれか1つに記載の放射量子
    測定装置を備える分光計。
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