JPH0533355B2 - - Google Patents

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JPH0533355B2
JPH0533355B2 JP59190715A JP19071584A JPH0533355B2 JP H0533355 B2 JPH0533355 B2 JP H0533355B2 JP 59190715 A JP59190715 A JP 59190715A JP 19071584 A JP19071584 A JP 19071584A JP H0533355 B2 JPH0533355 B2 JP H0533355B2
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JP
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register
pulse
input terminal
output terminal
circuit
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Anri Ruron Pieeru
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Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Koninklijke Philips Electronics NV
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Publication date
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Publication of JPH0533355B2 publication Critical patent/JPH0533355B2/ja
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16—Measuring radiation intensity
    • G01T1/17—Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16—Measuring radiation intensity
    • G01T1/161—Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
    • G01T1/164—Scintigraphy
    • G01T1/1641—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras
    • G01T1/1642—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras using a scintillation crystal and position sensing photodetector arrays, e.g. ANGER cameras

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  • Optics & Photonics (AREA)
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  • Nuclear Medicine (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は核放射線測定装置及びこのような装置
を具えるガンマカメラに関するものである。
米国特許第3525047号は、主として核放射線を
検出するためのシンチレータを具え、このシンチ
レータが（光電子増倍管のような）ホトデイテク
タの入射窓に光学的に結合されており、核放射線
により生じたシンチレーシヨンを電流に変えられ
るようになつている放射線測定装置を開示してい
る。この放射線測定装置はまた、この電流を増幅
する電流増幅器と、パルス弁別回路とを具えてい
る。このパルス弁別回路自体は、電流増幅器の出
力信号を表わす測定されたパラメータを用いて、
フアクシミリ信号と呼ばれ、単一の放射線量子の
検出に対応する信号を形成する手段と、実際の電
流増幅器の出力信号をフアクシミリ信号と同期さ
せ、これらの２個の信号を減算する手段と、この
減算処理の結果残つている信号を解析し、これか
ら電流増幅器の実際の出力信号の組成を導き出す
手段とを具える。そしてこのようにして得られた
解析がこの出力信号が２個以上の信号が重なり合
つているものからできていることを示す時は、そ
の各々を単一の放射線量子の検出に対応させ、類
似のパルス弁別回路を用いて（フアクシミリ信号
の形成、この信号と電流増幅器の出力信号との同
期、減算等を行ない、）例えば、残留信号を第１
の弁別を行なうのに用いられた回路と同一である
別のパルス弁別回路に加えることにより、検出と
計数の精度とを改良している。
しかし、こゝで提案されている核放射線測定装
置はいくつかの欠点をかゝえており、その二つを
挙げると、 (a) 検出された信号に何等かの弁別処理を施す前
のその動作原理により、減算処理するための基
準としてフアクシミリ信号を発生させなければ
ならないことゝ、 (b) 残留信号の解析は一般にしきい値回路の使用
を必要とし、妨害雑音に過敏になり、不正確に
なるということゝである。
本発明の目的は動作がフアクシミリ信号を必要
とせず、これらの欠点を有しない核放射線測定装
置を提供するにある。
この目的を達成するため、本発明によれば、放
射線量子を検出するためのシンチレータを具え、
このシンチレータがホトデイテクタに光学的に結
合され、放射線量子により生じたシンチレーシヨ
ンを電流パルスに変換でき、またこの電流パルス
を処理するためのパルス弁別回路を具える核放射
線測定装置において、このパルス弁別回路が電流
パルスの立上り縁を検出するパルス縁検出手段
と、時間の関数として電流パルスを積分する積分
手段と、立上り縁と次のパルスの立上り縁との間
の時間ｔを測定する時間測定手段とを具え、これ
らの積分手段と時間測定手段とが少なくとも電流
パルスの立上り縁の検出から導びかれる制御信号
を受取り、また積分期間ｔの測定値により選択で
きる補正因子を蓄わえる蓄積手段と、上記補正因
子と期間ｔに亘り積分された電流パルスとから (a) 全電流パルスの時間積分の目安である期間ｔ
に亘り積分された電流パルスの外挿値と； (b) 時間ｔ后の電流パルスの積分値に対応する補
正値と； を求める演算手段と、補正値を蓄えるための蓄積
手段と、補正値と直ぐ次の電流パルスとの間の差
を求め、こうして得られた差と直ぐ次の電流パル
スに対して用いられる積分期間とから外挿値と補
正値を求めるための演算手段とを具えることを特
徴とする。
実施例を挙げて図面につき本発明を詳細に説明
する。
第１Ａ図及び第１Ｂ図に示す放射線測定装置は
γ線を検出するためのシンチレータ１０を具え
る。このシンチレータ１０は受取つた各光子をシ
ンチレーシヨンに変換する。シンチレータは光電
子増倍管の形態をしたホトデイテクタ２０の入射
窓に光学的に結合されている。このホトデイテク
タ２０は各シンチレーシヨンを電流に変換する。
この電流は前置増幅兼フイルタ回路３０で増幅さ
れる。回路３０は受取つた信号のレベルを適応さ
せ、これと共に少しばかりの波処理を施して信
号を平滑化する。回路３０と直列にサンプリング
兼Ａ／Ｄ変換回路４０と加算器５０とを接続し、
加算器５０に第１の蓄積レジスタ６０を接続す
る。加算器５０の出力側に第２の蓄積レジスタ７
０を接続する。Ａ／Ｄ変換器４０と第１の蓄積レ
ジスタ６０はクロツクパルス発生器９０からクロ
ツク信号を受取る。
Ａ／Ｄ変換器４０、加算器５０及び第１の蓄積
レジスタ６０を用いるとデイジタル信号サンプル
の累積加算により各放射線量子に関するエネルギ
ーが段階的に求められる。クロツクパルス発生器
９０は本例では独立に動作するが、例えばパルス
縁検出器８０からのクロツクパルスにより動作さ
せることもできる（破線で示された回路８０と９
０の間の接続はこの第２の方法を示す）。パルス
縁検出器８０は本例では前置増幅兼フイルタ回路
３０の入力側に接続されている。クロツクパルス
発生器９０は周期的にクロツク信号を発生し、こ
れをＡ／Ｄ変換器４０に与えると共に、Ａ／Ｄ変
換器４０と第１の蓄積レジスタ６０の同期をと
る。クロツクパルス発生器９０で作られたクロツ
ク信号はカウンタ１００にも与えられる。カウン
タ１００の計数値はテスト回路即ち比較器１１０
に与えられる。比較器１１０の出力端子を所謂シ
ーケンサ２００に接続する。カウンタ１００の計
数値（これはとられた信号サンプルの数を表わ
す）が予じめ定められた基準数に等しくなると、
テスト回路１１０（これは簡単な比較器とするこ
とができる）が制御パルスを所謂パルスシーケン
サ２００に与える。
とられる信号サンプルの数（これは選ばれた基
準数に対応する）はとられる最後の信号の振幅信
号が所定の（非常に小さい）、電流パルスの最大
振幅の一部を越えないように選ぶと好適である。
パルスシーケンサ２００は制御パルスを第２の蓄
積レジスタ７０とカウンタレジスタ１９０とに与
える。而してこれらの中には夫々加算器５０とカ
ウンタ１００の内容が蓄えられている。その後で
パルスシーケンサ２００から出る別の制御パルス
がレジスタ６０とカウンタ１００をゼロにリセツ
トし、次にシンチレータ１０が受取る放射線量子
を測定できるようにする。
第２の蓄積レジスタ７０の内容は減算回路１２
０の第１の入力端子に加えられる。減算回路１２
０の第２の入力端子は今の場合ゼロ信号を受取る
（これについては後述する）。減算回路１２０の出
力信号は乗算器１３０の第１の入力端子に加えら
れる。乗算器１３０の出力信号は外挿値レジスタ
１４０に加えられる。乗算器１３０の第２の入力
端子に加えられる乗算信号は本例では１に等しい
（これについては後述する）。レジスタ７０の内容
に乗算信号を乗算した後、外挿値レジスタ１４０
がその中に蓄えられている乗算値を装置の出力端
子１４５に送る。このようにして装置は単一の検
出された放射線量子のエネルギーに比例する信号
を出力する。結果はレジスタ７０及び１９０の活
性化についての遅延τ1後にはじめて出力端子１４
５に移される。これは過渡現象と外挿値レジスタ
１４０の前段の回路の計算時間を考慮に入れるた
めである。
しかし、考慮される信号サンプルの数が基準数
に達しない前に第２の放射線量子がシンチレータ
１０に入射する場合は、測定された放射線が（ほ
とんど）検出された放射線量子のエネルギーに等
しくなく、第１と第２の放射線量子により生ずる
電気信号が（部分的に）重なり合う（第２ａ図参
照）。この場合装置の動作は次のようになる。
(a) パルス縁検出器８０は、例えば、微分器とし
きい値回路の直列回路により形成され、シンチ
レータ１０への第１の放射線量子の入射と瞬間
tJにおける第２の放射線量子の入射とを検出す
る。第２の放射線量子により生ずる電流パルス
は（部分的に）第１の電流パルスの上に重なり
合うが、第２の電流パルスのパルス縁はパルス
縁検出器８０により検出される。第２のパルス
の立上り縁が検出される否やカウンタ１００の
内容と加算器５０の出力信号が夫々カウンタレ
ジスタ１９０と第２の蓄積レジスタ７０に蓄え
られ、レジスタ１９０と７０の出力端子から送
り出されるようになる（瞬時tJ迄にサンプリン
グされ加え合わせられた信号の数はnjに等し
い）。次に、第１の蓄積レジスタ６０とカウン
タ１００とが直ちにゼロにリセツトされ、瞬時
tj後それらが夫々加算器５０と協働して信号サ
ンプルの加算をしたり、加算さるべき信号サン
プルの次の数の計数をしたりできるようにす
る。
(b) 第２の蓄積レジスタ７０の内容は第１の放射
線量子のエネルギーの目安である（第2b図の
影の部分）。第２の蓄積レジスタ７０の出力側
に現われる内容に基づいて、第１の放射線量子
のエネルギーの量を外挿により求める。放射線
量子の入射后のシンチレータの結晶の応答曲線
が既知であるからこれは可能である。この外挿
は単一の乗算により行なうことができる。乗算
器１３０で第２の蓄積レジスタ７０の出力信号
（第２ｃ図の影の部分）に１より大きい外挿係
数Cojを乗算する。外挿係数はメモリ１７０に
蓄えられており、メモリをアドレスする値njに
よりアドレスされる（減算回路１２０はこの外
挿に影響しない。蓋し、この第２の負の入力端
子は今の場合ゼロ信号を受取つているからであ
る）。
(c) 外挿の結果を外挿値レジスタ１４０に蓄え、
出力端子１４５に得られるようにする。データ
がレジスタ７０及び１９０に蓄えられてから外
挿値が出力端子１４５で得られるようになる迄
に期間τ1が経過する。
(d) この外挿時に、アドレス入力端子がメモリ１
７０と並列にカウンタレジスタ１９０の出力端
子に接続されているメモリ１８０が補正係数
C′ojを供給する。この補正係数C′ojは乗算器１
５０で第２の蓄積レジスタ７０の内容（第２ｃ
図の影の部分）に乗算され、第２ｄ図の影の部
分に対応するエネルギー量を求める。これをサ
ンプリングし、第２ｃ図の影の部分と加算する
と第１の電流パルスのエネルギーが求まる。
(e) このエネルギーの補正値は補正値レジスタ１
６０に蓄えられるが、この補正値レジスタ１６
０はデータが外挿値レジスタ１４０に蓄えられ
た後時間τ2以后でないと活性化されない。この
補正値レジスタ１６０の出力信号は減算回路１
２０の第２の負の入力端子に加えられる。
(f) 第２の放射線量子に対応するエネルギー（第
２ｅ図の影の部）は減算回路１２０で第２の蓄
積レジスタ７０の出力信号（瞬時tkにおいて、
第２ｆ図の影の部分）から補正値レジスタ１６
０に蓄えられていて第２ｄ図の影の部分に対応
する信号を差し引くことにより求まる。
これは瞬時tjとtkの間でサンプリングされ、
加え合わされた信号が２個の電流パルスの重ね
合せにより生ずる信号であり、瞬時tj迄に測定
されたエネルギーの量から（瞬時tjとtkの間で
の）第１の電流パルスのエネルギーの残留量を
導き出すことができるからである。このように
して得られた信号に本例では１に等しい外挿係
数を供給するメモリ１７０の出力信号を乗算す
る。蓋し、従前の量子の測定を乱す放射線量子
は何もないからである。カウンタ１００が比較
器１１０に蓄えられている位置に達する前に第
３の放射線量子が生ずると外挿係数は１より大
きくなる。このカウンタの位置に達すると、電
流パルスのエネルギー量の測定が完了する。乗
算器１３０により行なわれる乗算の結果は前に
述べたのと同じ状態でレジスタ１４０に蓄えら
れる。既に述べたように、放射線量子毎に発生
させられ、一部重なり合つていた電流パルスは
入射放射線量子の速度及び続き具合を考慮に入
れて分解された。こゝで新らしい放射線量子が
生ずると、この分解手続は組織的に同じ態様で
行なわれる。
第３図のａないしｈは上述した装置で行なわれ
る処理の時間系列を示す。
第３図のａはクロツクパルス発生器９０により
供給され、Ａ／Ｄ変換器４０のサンプリング速度
を決めるクロツク信号を示す。
第３図のｂは一つの放射線量子が検出される状
態を示す。所謂最終和信号（final sum signal）
が比較器１１０の出力側に現れ、十分な数の信号
サンプルがとられ、加算され終つたことを示すや
否や、加算器５０の内容（累積された信号サンプ
ル）が第３図のａの信号１が現われるため第２の
蓄積レジスタ７０内に蓄わえることができるよう
になる（同じように、カウンタ１００の内容はカ
ウンタレジスタ１９０に蓄わえられる）。第３図
のｂに示す信号は第３図のｅの信号１を生じ、こ
れが第３図のｆの信号１を生じ、これによりレジ
スタ６０とカウンタ１００がゼロにリセツトされ
る。
第３図のｃは２個の放射線量子がこれらにより
発生する電流パルスが部分的に重なり合うような
速さで入射する場合を示す。第３図のｃに示す、
（検出器８０による）放射線量子の検出を示す順
次の信号を途中が切れた時間軸ｔ上にプロツトす
る。第１の信号２−１が第３図のｆの信号１を終
了させ、これによりレジスタ６０とカウンタ１０
０がゼロ位置にリセツトされ、そこに保たれる。
第３図のｆの信号１は比較器１１０が一個の電流
パルスが完全にサンプリングされ、積分され終つ
たことを示された後ずつと存在する。第３図のｃ
の信号２−１の後、第１の電流パルスがサンプリ
ングされ、積分され、やがて第２の放射線量子が
入射し（信号２−２）、これが（部分的に）第１
の電流パルスに重なり合う電流パルスを発生させ
る。第３図のｅに示す信号２と協働して、信号２
−２が加算器５０の内容を第２の蓄積レジスタ７
０に蓄えさせ、その後で第３図のｆの信号２によ
りゼロにリセツトされる。第３図のｆの信号２は
直接ゼロに下がるから、重ね合わされた電流パル
スのエネルギーをサンプリングし、積分すること
ができる。このサンプリングと、積分の動作は第
３の放射線量子が入射し（第２の電流パルスの上
に部分的に重なり合い）、制御信号ｅが再びレジ
スタ７０及び１９０に加えられ、レジスタ６０及
びカウンタ１００が信号ｆにより再びゼロにリセ
ツトされるか、又は、第２の放射線量子により発
生した第２の電流パルスの信号サンプルが十分な
数とられ終つた時に終了する。
第３図のｄは後に詳述する第４図の回路での信
号ｄの論理状態を示す。
第３図のｅ及び第３図のｆは単一の放射線量子
１の場合は夫々レジスタ７０及び１９０を制御す
る制御パルス、２個の放射線量子が相次いで入射
する場合２は夫々レジスタ６０及びカウンタ１０
０をゼロにリセツトするのを制御する制御パルス
を示す。
第３図のｇは本発明に係る装置の出力側にある
外挿値レジスタ１４０を制御する信号を示す。こ
の信号は第３図のｅの信号の後時間間隔τ1経過後
現れる。
第３図のｈは補正値レジスタ１６０を制御する
信号を示す。この信号は第３図のｇの信号の後時
間間隔τ2が経過した時現われる。
第４図に示す例では第３図のａないしｈにつき
説明した種々の制御信号を発生させるパルスシー
ケンサ２００が３個の単安定フリツプフロツプ４
０１，４０２及び４０７と、１個のRS形フリツ
プフロツプ４０３と、２個のNANDゲート４０
４及び４０８と、２個のORゲート４０５及び４
０６と、２個の遅延線４０９及び４１０とを具え
る。この回路は上述した動作を生ずることを示す
ことができる。単安定フリツプフロツプ４０１が
比較器１１０の出力信号を受取る。単安定フリツ
プフロツプ４０２はパルス縁検出器８０の出力信
号を受取る。テスト回路１１０の切換え後出力さ
れる最終和信号が存在する時単安定フリツプフロ
ツプ４０１の出力端子ｂは論理値１をとる。単安
定フリツプフロツプ４０２の出力端子ｃ上に論理
値０が存在する時、ｄには論理値１が生じ、ｋに
は０が生じ、ｅ（第３図のｅの信号）には１が生
じ、ｍには１が生ずる。ｅが再び論理値０をとる
や否や、ｆは１に変り（カウンタ１００とレジス
タ６０とをゼロにリセツトする）、ｄが１である
限り１にとどまり続ける。他方ｇとｈとは夫々τ1
及びτ1＋τ2の遅延を伴つてｅの論理値に従う。
単安定フリツプフロツプ４０１の出力端子ｂが
論理値０をとり、ｃが論理値１をとる（第１の放
射線量子の到来）と、ｃが論理値０に変るや否や
ｄが０となり、ｋは０にとどまり、ｅ，ｇ，ｈは
０となる。
ｃが再び論理値１をとるや否や（第２の放射線
量子の到来。ｂは末だ論理値１をとらない。蓋
し、カウンタ１０が比較器１１０に蓄えられてい
る計数位置に達していないからである。）、ｋは１
となり、ｅ，ｍ，ｇ，ｈも１となり、ｅが再び０
となる時ｆが１となり、レジスタ６０とカウンタ
１００をゼロにリセツトする。ｍ、即ちｋ、従つ
てｃが０になるとｆの論理値は０となる。
第１Ａ図及び第１Ｂ図に示した装置は本発明の
範囲内で数通りに修正することができる。例え
ば、デイジタルの積分手段４０，５０，６０をア
ナログ積分器で置き換え、このアナログ積分器に
直列にＡ／Ｄ変換器を接続し、Ａ／Ｄ変換器の出
力端子をレジスタ７０の入力端子に接続すること
ができる。このＡ／Ｄ変換器は制御信号（例え
ば、ライン２０１上の制御信号）を受取り、活性
化されるが、このＡ／Ｄ変換器の活性化に遅れて
レジスタ７０が活性化されるようでなければなら
ない。しかし、アナログ積分器は放電時間を有す
るのに、２個の電流パルスは重なり合つて放電に
要する時間を与えることが少ないから、２個のア
ナログ積分器は並列に接続すると有益である。こ
のように２個のアナログ積分器を並列に接続する
と、一方の積分器が積分している（充電）間に、
他方の積分器は放電できる（但し、これはＡ／Ｄ
変換器によりサンプリングされた後である。そし
てＡ／Ｄ変換器は、例えば、ライン２０１上の信
号の制御の下に、一方の積分器から他方の積分器
に切換わらねばならない）。
また、第5a図に示すように、唯一つのメモリ
１８０と１つの乗算器１５０とを用いることもで
きる。減算回路１２０の出力端子を外挿値レジス
タ１４０の入力端子に接続し、加算回路１３５の
第１の入力端子をレジスタ１４０の出力端子に接
続すればメモリ１７０と乗算器１３０（第１Ｂ
図）を省くこともできる。加算回路１３５の第２
の入力端子を補正値レジスタ１６０の出力端子に
接続し、補正値レジスタ１６０に蓄えられている
エネルギーの量（第２ｄ図）を外挿値レジスタ１
４０内に既に存在するエネルギーの量に加えるよ
うにする。斯くして測定結果はレジスタ１６０の
記憶内容（ライン２０４上の信号ｈ、第３図のｈ
及び第４図参照）が得られるようになつた瞬時か
ら期間τ3後に得られる。加算器の結果はこれに接
続されており且つこの目的で制御信号２０５を受
取るべきレジスタ１５５に蓄えることができる。
この制御信号２０５は、例えばライン２０４上の
信号ｈから（例えば、第４図の要素４０９及び４
１０のような遅延要素を介して）得ることができ
る。
第５ｂ図は唯一つのメモリ１７０と、１個の乗
算器１３０とを用いるもう一つの方法を示したも
のであるが、これはメモリ１８０と乗算器１５０
（第１Ｂ図参照）とを省き、レジスタ１４０の出
力端子と減算回路１２０の出力端子とを付加的減
算回路１２５の入力端子に接続することにより達
成できる。減算回路１２５の出力端子は第２ｄ図
に示すような補正値を出力し、この補正値がレジ
スタ１６０の入力端子に加えられ、次の（重なり
合う）電流パルスの積分器を補正する。前の例と
比較して、本例は第３図のａないしｈにつき述べ
た制御信号以外の制御信号を必要としないという
利点を有する。
上述した諸実施例及び第４図のパルスシーケン
サ２００は個別回路として構成されているが、十
分高速で100ns内に乗算を行なえるならば、これ
らを全部又は一部マイクロプロセサ（特にパルス
シーケンサ）で作ることができる。
明らかに本発明は図面につき説明された実施例
に限定されるものではなく、これに基づいて本発
明の範囲内で多くの変更例を考えることができ
る。例えば、注意すべきことはパルス縁検出器８
０が第１図に示すように回路２０と３０の間に入
つている時は、フイルタ要素を設けることができ
る。しかし、このようなフイルタ要素はパルス縁
検出器が回路３０と４０の間に入つている時はも
早や必要ではない。
【図面の簡単な説明】
第１Ａ図と第１Ｂとから成る第１図は本発明に
係る放射線測定装置の一実施例のブロツク図、第
２ａないし２ｆ図は互に近く位置する２個の順次
の放射線に対応する電気信号の部分的な重なり合
いと、本発明に係る装置で行なわれる演算の段階
とを示す説明図、第３図は生じ得る種々の状況に
依存して本発明に係る装置により行われる処理の
時間系列を示す時間線図、第４図は本発明に係る
装置内のパルスシーケンサの一実施例のブロツク
図、第５ａ図及び第５ｂ図は本発明に係る装置の
別の実施例を示すブロツク図である。 １０……シンチレータ、２０……ホトデイテク
タ、３０……前置増幅兼フイルタ回路、４０……
サンプリング兼Ａ／Ｄ変換回路、５０……加算
器、６０……第１の蓄積レジスタ、７０……第２
の蓄積レジスタ、８０……パルス縁検出器、９０
……クロツクパルス発生器、１００……カウン
タ、１１０……比較器、１２０，１２５……減算
回路、１３０……乗算器、１３５……加算回路、
１４０……外挿値レジスタ、１４５……出力端
子、１５０……乗算器、１５５……レジスタ、１
６０……補正値レジスタ、１７０……メモリ、１
８０……メモリ、１９０……カウンタレジスタ、
２００……パルスシーケンサ、２０５……制御信
号、４０１，４０２……単安定フリツプフロツ
プ、４０３……RS形フリツプフロツプ、４０４
……NANDゲート、４０５，４０６……ORゲー
ト、４０７……単安定フリツプフロツプ、４０８
……NANDゲート、４０９，４１０……遅延線。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 １ 放射線量子を検出するためのシンチレータを
    具え、このシンチレータがホトデイテクタに光学
    的に結合され、放射線量子により生じたシンチレ
    ーシヨンを電流パルスに変換でき、またこの電流
    パルスを処理するためのパルス弁別回路を具える
    核放射線測定装置において、このパルス弁別回路
    が電流パルスの立上り縁を検出するパルス縁検出
    手段と、時間の関数として電流パルスを積分する
    積分手段と、立上り縁と次のパルスの立上り縁と
    の間の時間ｔを測定する時間測定手段とを具え、
    これらの積分手段と時間測定手段とが少なくとも
    電流パルスの立上り縁の検出から導びかれる制御
    信号を受取り、また積分期間ｔの測定値により選
    択できる補正因子を蓄える蓄積手段と、上記補正
    因子と期間ｔに亘り積分された電流パルスとから (a) 全電流パルスの時間積分の目安である期間ｔ
    に亘り積分された電流パルスの外挿値と； (b) 時間ｔ後の電流パルスの積分値に対応する補
    正値と； を求める演算手段と、補正値を蓄えるための蓄積
    手段と、補正値と直ぐ次の電流パルスとの間の差
    を求め、こうして得られた差と直ぐ次の電流パル
    スに対して用いられる積分期間とから外挿値と補
    正値を求めるための演算手段とを具えることを特
    徴とする核放射線測定装置。 ２ 時間測定手段がクロツクパルス発生器と、加
    算器と、比較器と、カウンタレジスタとを具え、
    カウンタが比較器に予じめ設定されている計数位
    置に対応する位置に到達した時比較器が停止パル
    スを発生するか又はパルス縁検出手段が電流パル
    スの立上り縁を検出した時計数位置がカウンタレ
    ジスタに蓄えられるかし、いずれの場合もカウン
    タをゼロにリセツトするように構成したことを特
    徴とする特許請求の範囲第１項記載の核放射線測
    定装置。 ３ 積分手段がアナログ−デイジタル変換器と、
    加算器と、第１のレジスタとを具え、アナログ−
    デイジタル変換器の出力端子を加算器の第１の入
    力端子に接続し、加算器の出力端子を第１のレジ
    スタの入力端子に接続し、第１のレジスタの出力
    端子を加算器の第２の入力端子に接続し、加算器
    の出力端子を期間ｔの終りにおいて積分された電
    流パルスを蓄えるための第２のレジスタの入力端
    子に接続したことを特徴とする特許請求の範囲第
    １項又は第２項記載の核放射線測定装置。 ４ 演算手段が期間ｔに亘つて積分された電流パ
    ルスから補正値を差し引く減算手段と、この減算
    手段により供給される差に蓄積手段により供給さ
    れる補正因子を乗算する乗算手段とを具えること
    を特徴とする特許請求の範囲第２項又は第３項記
    載の核放射線測定装置。 ５ 減算手段が減算回路を具え、減算回路の第１
    の入力端子を積分手段の出力端子に接続し、減算
    手段が乗算回路を具え、乗算回路の第１の入力端
    子を減算回路の出力端子に接続し、乗算回路の第
    ２の入力端子を蓄積手段の出力端子に接続し、蓄
    積手段のアドレス入力端子をカウンタレジスタの
    出力端子に接続し、減算回路の第２の入力端子が
    補正値を受取るように構成したことを特徴とする
    特許請求の範囲第４項記載の核放射線測定装置。 ６ 乗算回路が補正値を供給し、乗算回路の出力
    端子を補正値レジスタの入力端子に接続し、補正
    値レジスタの出力端子を減算回路の第２の入力端
    子に接続したことを特徴とする特許請求の範囲第
    ５項記載の核放射線測定装置。 ７ 演算手段が加算回路を具え、加算回路の第１
    の入力端子を補正値レジスタの出力端子に接続
    し、第２の入力端子を中間レジスタの出力端子に
    接続し、中間レジスタの入力端子を減算回路の出
    力端子に接続し、加算回路の出力端子が外挿値を
    供給できるように構成したことを特徴とする特許
    請求の範囲第６項記載の核放射線測定装置。 ８ 減算回路を演算手段の一部を形成する第２の
    乗算回路の第１の入力端子に接続し、第２の乗算
    回路の第２の入力端子を蓄積手段の一部を形成す
    る外挿係数メモリの出力端子に接続し、そのアド
    レス入力端子をカウンタレジスタに接続し、前記
    第２の乗算回路の出力端子が外挿値を供給するよ
    うに構成したことを特徴とする特許請求の範囲第
    ６項記載の核放射線測定装置。 ９ 乗算回路が外挿値を供給し、乗算回路の出力
    端子を外挿値レジスタの入力端子に接続し、外挿
    値レジスタの出力端子を第２の減算回路の第１の
    入力端子に接続し、第２の減算回路の第２の入力
    端子を第１の減算回路の出力端子に接続し、第２
    の減算回路の出力端子を補正値レジスタの入力端
    子に接続し、補正値レジスタの出力端子を第１の
    減算回路の第２の入力端子に接続したことを特徴
    とする特許請求の範囲第５項記載の核放射線測定
    装置。 １０ パルス弁別回路がパルスシーケンサを具
    え、パルスシーケンサの第１の入力端子を比較器
    の出力端子に接続し、第２の入力端子をパルス縁
    検出手段の出力端子に接続し、前記パルスシーケ
    ンサが２個の入力端子の一方に入力信号が入つて
    きたことに応答して４個の異なる出力端子に４個
    の制御パルスを発生し、第１の制御信号をカウン
    タレジスタと第２のレジスタの制御入力端子に与
    え、夫々これらのレジスタ内に計数位置と検出さ
    れた電流パルスの時間積分とを蓄え、第２の制御
    パルスをカウンタと第１のレジスタのリセツト入
    力端子に与え、第３の制御パルスを中間レジスタ
    又は外挿値レジスタのいずれかの制御入力端子に
    与え、第４の制御パルスを補正値レジスタに与え
    るように構成したことを特徴とする特許請求の範
    囲第７項から第９項いずれかに記載の核放射線測
    定装置。
JP59190715A 1983-09-16 1984-09-13 核放射線測定装置 Granted JPS6088383A (ja)

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