JPH0516556B2 - - Google Patents

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JPH0516556B2
JPH0516556B2 JP59043739A JP4373984A JPH0516556B2 JP H0516556 B2 JPH0516556 B2 JP H0516556B2 JP 59043739 A JP59043739 A JP 59043739A JP 4373984 A JP4373984 A JP 4373984A JP H0516556 B2 JPH0516556 B2 JP H0516556B2
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Daburu Sutaubu Eberetsuto
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Siemens AG
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Siemens AG
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Publication date
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Publication of JPH0516556B2 publication Critical patent/JPH0516556B2/ja
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16—Measuring radiation intensity
    • G01T1/161—Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
    • G01T1/164—Scintigraphy
    • G01T1/1641—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras
    • G01T1/1642—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras using a scintillation crystal and position sensing photodetector arrays, e.g. ANGER cameras
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
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    • G01T1/16—Measuring radiation intensity
    • G01T1/161—Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
    • G01T1/164—Scintigraphy
    • G01T1/1641—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras
    • G01T1/1647—Processing of scintigraphic data
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/42—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
    • A61B6/4208—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector
    • A61B6/4258—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector for detecting non x-ray radiation, e.g. gamma radiation

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  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Nuclear Medicine (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕 本発明は、像を形成するため被加重取得
（weighted acquisition）の手法を応用してパル
スを処理するための方法および回路に関する。パ
ルスは特に、放射性源に起因して、ガンマ線検出
用シンチレーシヨンカメラのような撮像用放射検
出器により発生される。 〔従来技術とその問題点〕 放射検出器は人体器官の核医学診断のように検
査対象内の放射性物質の分布を分析するための診
断手段として広く用いられている。本発明に関係
する形式の典型的な放射検出器は市販されている
アンガー形シンチレーシヨンカメラであり、その
基本原理はAngerの米国特許第3011057号明細書
に記載されている。 このようなシンチレーシヨンカメラは、診断量
の放射性アイソトープを入れた人体器官のような
検査対象を通じての放射能の分布の“画像”を得
ることができる。個々のガンマ線が対象内の分布
された放射性アイソトープから放出されてコリメ
ータを通過するにつれて、薄い平らなシンチレー
シヨン結晶内にシンチレーシヨン事象が生起す
る。これらの事象が、結晶の後に配置されている
光検出器により検出される。 電子回路が光検出器の出力から、各事象の結晶
内の位置を示すＸおよびＹ座標信号と、一般的に
事象のエネルギーを示しかつ事象が予め選択され
たエネルギー範囲（窓）のなかに入るか否かを判
定するのに用いられるＺ信号とを形成する。対象
内の放射能分布の画像は、予め選択されたエネル
ギー窓のなかに入るＸおよびＹ信号を、座標信号
により指定された位置のスポツトとして個々のシ
ンチレーシヨン事象を表示する陰極線オシロスコ
ープのようなデイスプレイ装置に与えることによ
つて得られる。検出回路は典型的に、写真フイル
ム上に多数のスポツトの積分を行なう。 たとえばStoubほかの米国特許第4298944号、
Del Medicoほかの米国特許第4316257号または
Arseneauの米国特許第4323977号の明細書に記載
されているようにエネルギーおよび空間ひずみの
線形補正のための回路を含んでいる最近のシンチ
レーシヨンカメラでは、Ｚ信号は撮像されるべき
アイソトープに従つて予めセツトされている３つ
のエネルギー信号窓（単一チヤネル分析器の場
合）に対してテストされる。こうして、いずれか
の窓のなかのＺ信号を有する事象は像内にカウン
トとして含まれ、他の事象はすべて排除される。
このテストの究極的な目的は、(1)一次（フオトピ
ーク）事象の像内に含めること、(2)被散乱ガンマ
線および螢光Ｘ線事象を像から排除することの２
つである。この窓テストを行なうためのシンチレ
ーシヨンカメラの能力は核医学撮像にとつて決定
的であるとされている。空間的解像力は持つてい
ても窓テストの能力を持つていない像増倍カメラ
はいずれも核ラジオグラフイには不具合であると
されている。 しかし、エネルギーおよび空間ひずみの線形補
正のための回路を含んでいるシンチレーシヨンカ
メラでも完全にフオトピークのすべてを受入れ、
かつ他のすべてを排除することはできない。この
事実は散乱の本来の性質とカメラシンチレータの
有限のエネルギー分解能とに帰する。一般に各シ
ンチレーシヨンカメラは、フオトピークおよび散
乱の双方をぼやけさせる有限の分解能のみを有す
る。散乱材料の量が増大するにつれて、またはガ
ンマ源の深さが増大するにつれて、像内の散乱事
象の相対的割合も増大する。像内に非散乱事象に
加えて散乱事象が含まれると、病変可視性、像コ
ントラストおよびシステム分解能が劣化する。 フオトピークのもとに測定された事象への散乱
光子の寄与を減ずるための以前の試みとして、パ
ルス波高分析器のベースラインを高める方法があ
る。しかしこの方法では、ベースラインが高くな
る時に若干の一次光子が排除されるので、必然的
に感度の低下を招く。 散乱の影響を減ずるための試みとして、いわゆ
る“窓シフト”を行なう方法もある。窓シフトと
は、使用される各アイソトープに対して、フオト
ピーク対散乱比に関して“最良のもの”と推定さ
れる特定の窓を定めることを意味する。しかし、
たとえばJournal of Nuclear Medicine、
Vol12、No.11、1971年11月、第703〜706頁の
Theodore P.Sanderほかによる“99mTcに対する
アンガー・カメラの窓の最適化”と題する研究ま
たはJournal of Nuclear Medicine、Vol.12、No.
10、1971年、10月、第690〜696頁のF.D.Rollほか
による“病変検出性能へのパルス波高選択の効
果”と題する研究に記載されているこの方法も満
足できるものではない。 散乱の影響を減ずるための試みとして、いわゆ
る“散乱差引き法”もある。散乱の大きさを補償
するため、２つの窓、すなわち散乱を含むフオト
ピークに対する第１の窓および散乱のみに対する
第２の窓がセツトされる。そして第２の窓の回答
が第１の窓の回答から差引かれる。しかし、たと
えばJournal of Nuclear Medicine、Vol.16、No.
１、1975年１月、第102〜104頁のFrancis Ｂ
Atkinsほかによる“像コントラストへの散乱差
引きの効果”と題する研究またはJournal of
Nuclear Medicine、Vol.14、No.２、1973年２月、
第67〜72頁のPeter Blochほかによる“ヨー化ナ
トリウム撮像システムへの被散乱放射の影響の減
少”と題する研究に記載されているこの散乱差引
き法も満足できるものではない。 散乱の影響を減ずるための一層有効な方法は
“被加重取得法”であろう。この方法はたとえば
第13回シンチレーシヨンおよび半導体カウンタ・
シンポジウム、1972年３月１〜３日、ワシントン
で配布されたR.N.Beckほかの“シンチレーシヨ
ンおよび半導体検出器を用いる核医学における撮
像およびカウントの観点”と題するペーパーに記
載されている。“被加重取得法”の他の研究は
“医用ラジオアイソトープ・シンチグラフイ1972
年”Vol.1、第３〜45頁、特に第29、30、44およ
び45頁からのリプリントIAEA−SM−164/301の
R.N.Beckほかによる“撮像システムおよび技術
の基本的観点の進歩”に記載されている。 しかし、“被加重取得法”はこれまでに実用段
階に至つていない。実用のための技術開発が不十
分だつたからである。 〔発明の目的〕 本発明の目的は、散乱を減少または消去するた
め被加重取得の手法を応用してパルスを処理する
ための改良された方法および回路を提供すること
である。 本発明の他の目的は、パルスを処理するための
改良された被加重取得の手法として、シンチレー
シヨンカメラのような放射カメラにより受けられ
たエネルギー・スペクトル・データのすべてを用
いる手法を提供することである。 本発明の別の目的は、シンチレーシヨンカメラ
のような放射カメラにより発生されたパルスを処
理するための改良された被加重取得の手法とし
て、臨床撮像の質を実質的に向上し、しかも妥当
なコストで実施および生産が可能である手法を提
供することである。 〔発明の要旨〕 これらの目的は本発明によれば、像を形成する
ため被加重取得の手法を応用して、放射性源に起
因して撮像用放射検出器により発生されるパルス
を処理するための方法および回路において、源放
射に対応する像加重関数が形成され、前記関数は
前記パルスのエネルギー依存性の信号対雑音比お
よび前記パルスのエネルギー依存性の変調伝達関
数の双方を考慮に入れて前記パルスのエネルギー
に依存しており、また前記パルスの各々に対して
加重パルスが得られ、前記像加重関数の特定の値
が前記パルスの観測されたエネルギーにより定め
られており、さらに前記像として前記加重パルス
が累積されることにより達成される。 本発明によれば、処理されるべきパルスのエネ
ルギーに依存する像加重関数が前記パルスのエネ
ルギー依存性の信号対雑音比および前記パルスの
エネルギー依存性の変調伝達関数の双方を考慮に
入れて形成される。従来は、前記パルスのエネル
ギーに依存する像加重関数がエネルギー依存性の
信号対雑音比のみを考慮に入れて形成される。信
号対雑音比および変調伝達関数の双方を考慮に入
れることにより、信号対雑音比を低下させること
なく散乱を消去し得るように被加重取得手法が改
良される。シンチレーシヨンカメラのような放射
カメラにより発生されたパルスを処理するのに、
この改良された手法を用いれば、臨床撮像の質を
実質的に向上し、しかも妥当なコストでの実施お
よび生産が可能になる。 〔発明の実施例〕 以下、図面により本発明を詳細に説明する。 被加重取得の概念を説明するための完全に人工
的な例として、第１図のスペクトルを考察する。
フオトピークの上側部分内の事象は下側部分内の
事象の２倍の像情報を与えるものとして知られた
とし、またフオトピークのすぐ下の範囲内の事象
が散乱除去のため差引かれ得たとする。３つの特
殊な窓Ｗ１，Ｗ２，Ｗ３（下範囲、下側部分およ
び上側部分）をセツトし、特殊窓の各１つに各々
対応する３つの像を取得し、また第２図に示され
ているように上側窓像を２回、下側窓像を１回加
算しかつ下範囲窓像を差引いて像を複合すること
ができよう。その結果は、通常の信号窓イメージ
ングとくらべて、散乱排除の点で認め得る改善と
分解能の点で測定可能な改善とが得られよう。し
かし、この人工的な例の極端に単純化した性質の
ために、被加重像内の信号対雑音比は標準像より
も大きくないと思われる。 しかし一層良好な結果が、改善された信号対雑
音比および増強された変調伝達関数（MTF）を
通じて（たとえば第３図のものに対応して）注意
深く形成された加重関数を用いることにより到達
され得る。 以下に、像を形成するため放射性源に起因して
シンチレーシヨンカメラにより発生されるパルス
を処理するために適当な加重関数をいかに形成す
るか、またこのような適当な加重関数の使用によ
り像の質がいかに改善されるかを説明する。前記
のように、ガンマカメラにより検出される事象は
３つの座標Ｘ、Ｙ、Ｚにより表わされ、最初の２
つは検出器平面内の位置座標であり、最後の１つ
は検出器内で変換されるガンマ放射エネルギーに
比例するシンチレーシヨン・フラツシユの強度で
ある。コリメートされたカメラの上にかつＹ座標
軸に平行に置かれた線状放射源へのカメラの応答
は２つの密度プロフイル、その一方はＸ座標軸に
沿うもの、他方はＺ座標軸に沿うものにより特徴
づけられ得る（Ｙに対するプロフイルも与えられ
得るが、この議論にとつては重要でない）。Ｘ座
標プロフイルは線状源応答関数LSRFと呼ばれ、
またＺプロフイルはエネルギー・スペクトルと呼
ばれる。これらのプロフイルは非依存性ではな
い。もしＺ信号の狭いバンドがLSRFを累積する
のに用いられれば、Ｚ信号バンドがＺの全範囲を
通じて動かされるにつれて、むしろ劇的な変化が
示される。同様に、エネルギー・スペクトルをゲ
ートするＸ信号の狭いバンドはエネルギー・スペ
クトル特性に著しい変化を生ずる。 背景Ｂの上に重畳された信号Ｓを全応答Ｓ＋Ｂ
から抽出する代数的過程は√＋2の雑音Ｎ（標
準偏差）を生ずる。もしLSRFがインデツクスｉ
により示されているように一連の狭い隣接Ｚバン
ドまたはチヤネルにより仕切られていれば、個々
の仕切られた応答LSRFiの線形組合わせによる正
味LSRFは、すべてチヤネルにわたる和 LSRF(x)＝Σwi・LSRFi(x) (1) ここに、wiは線形組合わせフアクタまたは加重
フアクタ により与えられる。エネルギー窓は、窓のなかの
Ｚチヤネルに対しては１、その他に対しては０の
wiの値を用いて表わされ得る。同様に、正味信号
レベルは Ｓ＝Σwi・Si (2) ここに、SiはLSRFiの信号値 により、また正味雑音は Ｎ＝√i 2・i 2 (3) ここに、NiはLSRFiの雑音値 により与えられる。ここで、信号は線形加算し、
また雑音は２乗加算（クロス項なし）するものと
されている。 LSRF(x)はその対応する変調伝達関数MTF(f)
（空間周波数ｆの関数）の検査により分析され得
る。特定の周波数におけるMTF値は、正弦状対
象から像へ伝達される相対的正弦状変調を表わ
す。“完全な”LSRF(x)は“デルタ関数”と呼ば
れる無限に狭いスパイクであり、これはすべての
周波数において１に等しい完全なMTF(f)に対応
する。実際のMTF(f)の値はある周波数よりも上
では１よりも下であり、典型的にはDC項（零周
波数）のみが１の値を有する。 フアクタＳ、ＮおよびMTFは、特定の対象分
布を撮像するための信頼をおける良度Ｑを形成す
るべく組み合わされ得る。これらの良度の最も簡
単なものは、空間周波数f0の正弦状対象に対する
もの Qs（f0）＝Ｓ・MTF2（f0） (4) であり、これは単位面積あたりかつ単位時間あた
りの信号の単位を有する。こうしてQsは、信号
振幅が正弦状対象に対して単位面積あたり累積さ
れるレートを表わす。加重されないシステムに対
しては、Ｓは直接にポアソン統計として解されて
よく、像信号対雑音比 Ｓ／Ｎ＝Ｓ／√＝√ (5) を生じ得よう。 この表わし方はある重要性を有するが、散乱、
螢光および中隔透過成分が人工的に高い（楽観的
な）比を生ずる。このことは、式(4)でＳを信号対
雑音比の２乗で置換することにより球済され得
る。 Qs（f0）＝（Ｓ／Ｎ）2・MTF2（f0） (6) 最後に、正弦状対象はガンマカメラ撮像にとつ
て稀な被検対象である。しばしば、像内で可視性
が本来制限されている場所で非常に小さい病変が
捜される。この目的に対しては、点状源を撮像す
るための良度またはデルタ関数が好ましい。像内
の応答の面積として点状源を解明する能力は測定
の全周波数範囲にわたるMTFの積分の２乗に比
例している。詳細には、LSRFの有限範囲による
デイジタル表示はMTFの同じく有限範囲による
デイジタル表示を生ずることになる。こうして積
分は零周波数から最大の測定された周波数応答ま
でのMTF値の和により推定される。これらの考
え方を組み合わせて、デルタ関数良度Q〓は Q〓＝（Ｓ／Ｎ）2・（ 〓f MTF(f)）2 (7) として表わされ得る。 この量は、コンパクトな放射源への検出可能な
応答を得る上でのシステムの速度を表わす。 最適な被加重取得は、ある特定の性能目標のも
とで最高可能な動作を生ずる加重係数の選択に関
係する。被加重取得における以前の努力は専ら信
号対雑音比に焦点を合わせており、分解能および
点状源検出能にマイナスな結果を招いた。本発明
では、一層高い目標、すなわちデルタ関数良度そ
のものを最適化するという目標が設定されてい
る。この行き方はスムースな（雑音の少ない）像
とクリスプネス（分解能）改善との間のフレキシ
ブルなバランスを達成する。最適加重のためのこ
れらの係数を得るため、Q〓の偏微分が、それら
がすべて零であるwiに対する最適レベルにおいて
各加重係数wiに対して評価される。従つて、 ∂Q〓／∂wi＝０、すべてのwiに対して(8) 代数式(2)および(3)は∂S／∂wiおよび∂N／∂wi項
に対する明示的な表わし方を可能にする。 ∂ΣMTF／∂wi項は計算機評価による有限差比
により一層御しやすい。式(8)によりwiに対して導
かれる式は wi＝（Si／Ｓ）＋Ｋ・（｛∂ΣMTF／
∂wi｝／ΣMTF）／（N2 i／N2）(9) ここに、Ｋはwiの性能内で分解能の役割を増強
するために導入されるスケールフアクタである。
式(9)の分離不能な性質のため、wiの組が、安定解
に迅速に、わずか２または３回の繰返しで、収剣
すると思われる逐次近似法により見い出される。 第４Ａ図を参照すると、アンガー形シンチレー
シヨンカメラは、ガンマ線がシンチレーシヨン結
晶に衝突する時に生起するシンチレーシヨン事象
を検出するため光検出器として複数個の光増倍管
PMT−１ないしPMT−Ｎを有する（典型的にＮ
＝37または75の光増倍管がシンチレーシヨン結晶
の後の６角形アレイ内に取付けられている）。図
面を簡単にするため、最初の３個の光増倍管
PMT−１，PMT−２およびPMT−３と組み合
わされた回路のみが第４Ａ図中に詳細に示されて
いる。 光増倍管PMT−１ないしPMT−Ｎの出力端は
別々にそれぞれ対応する前置増幅回路Ａ１に接続
されている。各前置増幅回路Ａ１の出力信号は
別々のスレツシユホルド増幅回路Ａ２に与えられ
ている。スレツシユホルド増幅器Ａ２の各々はそ
れと組み合わされている特定の前置増幅器Ａ１の
出力から予め必要なスレツシユホルド電圧を差引
く。抵抗Ｒ４６を用いるフイードバツクループ付
きの増幅器Ａ２３はスレツシユホルド・バイアス
をスレツシユホルド増幅器Ａ２に供給する。スレ
ツシユホルド電圧は入来シンチレーシヨン事象の
エネルギーの関数として確立されている。 スレツシユホルド増幅器Ａ２は、対応する前置
増幅器Ａ１からの出力信号がスレツシユホルド電
圧の値を越える時には常に、前置増幅器Ａ１の出
力信号を抵抗マトリクスおよび加算増幅器Ａ４な
いしＡ８に通すべく作動する。もしそれぞれの前
置増幅器Ａ１のいずれかの出力がスレツシユホル
ド以下であれば、それに対応するスレツシユホル
ド増幅器Ａ２の出力信号は実質的に零である。ス
レツシユホルド前置増幅器Ａ１の出力から抵抗マ
トリクスおよび加算増幅器Ａ４ないしＡ８が位置
座標出力信号＋Ｙ，−Ｙ，＋Ｘ，−Ｘおよびスレツ
シユホルド・エネルギー信号Ztを発生する。＋Ｙ，
−Ｙ出力信号は差動増幅器Ａ９に与えられ、そこ
で＋Ｙおよび−Ｙ信号は単一事象Ｙ位置座標信号
に合同される。同様に、差動増幅器Ａ１０は単一
合同Ｘ位置座標信号を発生する。Zt信号は増幅器
Ａ１１を通過する。 前置増幅器Ａ１の出力信号は抵抗Ｒ１５，Ｒ２
３およびＲ３５を通じて直接に抵抗マトリクスの
“Ｚノー・スレツシユホルド”信号線にも与えら
れており、シンチレーシヨン事象の全エネルギー
を表わす信号（スレツシユホルド電圧を差引かれ
ていない信号）Zotを形成するべく加算される。 第４Ｂ図によれば、増幅器Ａ９，Ａ１０，Ａ１
１，Ａ２５の出力端における信号Ｙ，Ｘ，Zt，
Zotはそれぞれ、積分キヤパシタＣ２を有する２
つの積分増幅器Ａ３０を含む適当な積分器回路１
０，１２，１４，１６に与えられる。積分器回路
１０，１２，１４，１６で積分された出力信号
YI，XI，ZtIおよびZotIはそれぞれサンプル・アン
ド・ホールド回路１８，２０，２２および２４に
与えられる。サンプル・アンド・ホールド回路１
８，２０および２２の出力端は第１および第２の
比計算回路２６および２８の入力端に接続されて
いる。 第１の比計算回路２６は信号YIおよびZtIから
比信号YI／ZtIを形成する。第２の比計算回路２
８は信号XIおよびZtIから比信号XI／ZtIを形成す
る。比計算回路２６，２８の出力信号はサンプ
ル・アンド・ホールド回路３０および３２に与え
られる。サンプル・アンド・ホールド回路２４の
出力信号はサンプル・アンド・ホールド回路３４
に転送される。サンプル・アンド・ホールド回路
１８，２０，２２，２４，３０，３２，３４の
各々は相次いで第１のパルス波高分析器３６によ
りトリガされる。 第１のパルス波高分析器３６は、２つの入力端
でZot信号に対する積分器回路１６の入力端およ
び出力端にそれぞれ接続されている増幅器Ａ３８
の出力信号により制御されている。積分器回路１
６の積分が完了した時、すなわちZot信号が完全
に形成された時、パルス波高分析器３６は第１の
トリガ信号を破線で示されている導線４０上に与
えてYI，XI，ZtIおよびZotI信号の実際値を同時に
サンプル・アンド・ホールドする。特定の時間、
すなわち比計算回路２６および２８が比信号
YI／ZtIおよびXI／ZtIを形成するのに要する時間
の後に、パルス波高分析器３６は第２のトリガ信
号を破線で示されている導線４２上に与えて、一
方では比計算回路２６，２８の実際出力値を、ま
た他方ではサンプル・アンド・ホールド回路２４
の出力値を同時にサンプル・アンド・ホールドす
る。 パルス波高分析器３６は破線で示されている導
線４５を経て第２のパルス波高分析器４４をもト
リガする。第２のパルス波高分析器４４は、エネ
ルギー補正された信号ZCのエネルギーが予め選択
された窓のなかに入るか否か（すなわち信号が
“有効”か否か）を判定するエネルギー分析器と
して働く。 エネルギー補正された信号ZCはたとえば
Arseneauの米国特許第4323977号明細書に記載さ
れているようなオンライン・エネルギー補正回路
により形成される。このオンライン・エネルギー
補正回路はサンプル・アンド・ホールド回路３０
の出力信号YBに対するアナログ・デイジタル変
換器４６と、サンプル・アンド・ホールド回路３
２の出力信号に対するアナログ・デイジタル変換
器４８と、Ｚ補正係数メモリ５０と、エネルギー
信号デモイフイケーシヨン回路５２と第１のミキ
サ５４とを含んでいる。 エネルギー補正された信号ZCは一方ではパルス
波高分析器４４に、また他方ではサンプル・アン
ド・ホールド回路５６に通される。エネルギーが
パルス波高分析器４４のエネルギー窓のなかに入
る時、すなわちＺ座標信号ZCが導き出された被検
出事象が有効である時、パルス波高分析器４４は
破線で示されている導線５８を経てサンプル・ア
ンド・ホールド回路５６をトリガする。 ZC信号の実際値は、次いで、サンプル・アン
ド・ホールド回路５６にシフトされる。サンプ
ル・アンド・ホールド回路５６のトリガリングと
ならんでパルス波高分析器は２つのサンプル・ア
ンド・ホールド回路６０および６２をもトリガす
る。それにより、信号ZCの実際値がサンプル・ア
ンド・ホールド回路５６にシフトされる時、同時
に信号Yaの実際値がサンプル・アンド・ホール
ド回路６０にシフトされ、また信号Xaの実際値
がサンプル・アンド・ホールド回路６２にシフト
される。 パルス波高分析器４４は導線６３上に被遅延論
理信号UBをも生ずる。この被遅延論理信号UBは、
後で一層詳細に説明するように被加重取得のため
の回路の一部である制御論理回路に始動パルスと
して与えられる。 サンプル・アンド・ホールド回路６０の出力端
は第２のミキサ６４の第１の入力端に接続されて
おり、その第２の入力端は空間ひずみ補正回路の
第１の出力端ΔYに接続されている。サンプル・
アンド・ホールド回路６２の出力端は第３のミキ
サ６６の第１の入力端に接続されている。第３の
ミキサ６６の第２の入力端は空間ひずみ補正回路
の第２の出力端ΔXに接続されている。 空間ひずみ補正回路も当業者によく知られてお
り、たとえばArseneauの米国特許第4323977号明
細書に記載されている。この回路は信号Yaに対
するアナログ・デイジタル変換器６８と、信号
Xaに対するアナログ・デイジタル変換器７０と、
補正係数メモリ７２と、上記明細書に記載されて
いるようなひずみ補正モデイフイケーシヨン・ユ
ニツトを含んでいてもよい補正内挿回路７４とを
含んでいる。補正内挿回路７４の出力信号ΔY，
ΔXは空間ひずみ補正回路の出力信号である。 ミキサ６４および６６は補正信号ΔYおよび
ΔXに関して信号YaおよびXaを補正する。補正さ
れた信号Ycは、次いで、垂直方向増幅器７６を
経て、また第４Ｃ図によればサンプル・アンド・
ホールド回路７８および８０を経て、陰極線オシ
ロスコープのようなアナログ・デイスプレイ装置
８４の垂直入力端８２に、かつ（または）デイジ
タル・デイスプレイ装置８８の垂直入力端８６に
与えられる。この信号は、第４Ｃ図に示されてい
るように、Yc信号用アナログ・デイジタル変換
器９０にも与えられる。 同様に、補正された信号Xcは垂直方向増幅器
９２および２つのサンプル・アンド・ホールド回
路９４，９６を経てアナログ・デイスプレイ装置
８４の垂直入力端９８および（または）デイジタ
ル・デイスプレイ装置８８の垂直入力端１００に
与えられる。この信号は、第４Ｃ図に示されてい
るように、Xc信号用アナログ・デイジタル変換
器１０２にも与えられる。 サンプル・アンド・ホールド回路５６の出力端
におけるZc信号は増幅器１０４および２つのサン
プル・アンド・ホールド回路１０６，１０８を経
て（スペクトル研究用の別のパルス波高分析器と
接続するための）、出力端１１０に与えられる。
Zc信号は、第４Ｃ図に示されているように、Zc信
号用アナログ・デイジタル変換器１１２にも与え
られる。 アナログ・デイジタル変換器９０，１０２およ
び１１２は本発明による被加重取得のための回路
の一部である。第４Ｃ図に示されているように、
被加重取得のためのこの回路はさらに被加重取得
性能のための回路１２０と、マイクロプロセツサ
１２２と、キーボード１２４と、制御論理回路１
２６と、パルス幅変調器１２８とを含んでいる。 後で第５図により一層詳細に説明するように加
重関数メモリおよび差引きバツフア像メモリを含
んでいる被加重取得動作のための回路１２０はデ
ータおよびアドレス・バス１４０および１４２を
介してマイクロプロセツサ１２２と通信してい
る。回路１２０は制御導線１４４を経て制御論理
回路１２６にも接続されており、制御信号Siない
しSoを与えられる。さらに、回路１２０はデータ
およびアドレス・バス１４６を介してデイジタ
ル・デイスプレイ装置８８のデータおよびアドレ
ス入力端１４８と、また制御導線１５０を経てパ
ルス幅変調器１２８とも接続されている。 パルス幅変調器１２８は制御導線１５２を経て
制御論理回路１２６により制御される。パルス幅
変調器１２８は、導線１５０上の制御信号に依存
する幅を有するアンブランク信号U′Bを生ずる。
アンブランク信号U′Bはアンブランク入力端１５
４を介してアナログ・デイスプレイ装置の陰極線
管をアンブランクするのに用いられる。制御論理
回路１２６は、前記のように、導線６３を介して
パルス波高分析器４４（第４Ｂ図）の論理信号
UBにより制御される。制御論理回路１２６はバ
ス１５６を介してマイクロプロセツサ１２２によ
つても、また導線１５８を介して被加重取得動作
のための回路１２０によつても制御される。ま
た、制御論理回路１２６は導線１６０を介してサ
ンプル・アンド・ホールド回路７８，９４，１０
６を、また導線１６２を介してサンプル・アン
ド・ホールド回路８０，９６，１０８をスイツチ
する。 マイクロプロセツサ１２２はキーボード１２４
により制御される。このキーボードは像デイスプ
レイ・サイクルを開始するための始動ボタン１６
４と、像デイスプレイ・サイクルを中断するため
の停止ボタン１６６と、被加重取得のための回路
の能動要素をリセツトするためのリセツトボタン
１６８とを含んでいる。このキーボードはさら
に、適当な加重係数の組を使用者側から選択する
ための選択ボタン１７０のボードを含んでいる。 次に第５図を参照すると、本発明による被加重
取得の手法を応用するための回路が一層詳細な回
路図で示されている。 第５図によれば、被加重取得動作のための回路
１２０は加重関数メモリ１８０および差引きバツ
フア像メモリ１８２を含んでいる（たとえば両メ
モリはRAM）、回路１２０はマルチプレクサ１
８４，１８６および１８８、加算器１９０、バツ
フア１９２，１９４，１９６および１９８、デイ
ジタル・アナログ変換器２００および零パルス発
生器２０２をも含んでおり、これらは第５図に示
されているように加重関数メモリ１８０、差引き
バツフア像メモリ１８２、マイクロプロセツサ１
２２、制御論理回路１２６、パルス幅変調器１２
８およびアナログ・デイジタル変換器９０，１０
２および１１２に接続されている。バツフア１９
８の出力端はバス１４６を介してデイジタル・デ
イスプレイ装置８８の入力端１４８に、またパル
ス幅変調器１２８の出力端は第４Ｃ図に示されて
いるようにアナログ・デイスプレイ装置８４のア
ンブランク入力端１５４に接続されている。 被加重取得のための回路の作動の仕方は次のと
おりである。 (1) キーボード１２４のボタン１７０を押すこと
により、適当な加重係数の組が選択される。 (2) マルチプレクサ１８４は位置Ａにあり、また
バツフア１９２は抵低抗位置にある。従つて、
加重関数メモリ１８０はバツフア１９２を介し
てマイクロプロセツサ１２２からデータを、ま
た選択された加重係数の組に従つてマルチプレ
クサ１８４を介してアドレスを受けることがで
きる。 (3) キーボード１２４のリセツトボタン１６８を
押すことにより、差引きバツフア像メモリ１８
２がクリアされる。 (4) キーボード１２４の始動ボタン１６４を押す
ことにより、新しいスタデイが開始される。 (5) 制御論理回路１２６の入力端における相次ぐ
各信号UBが次のように処理を開始する。 (a) サンプル・アンド・ホールド回路７８，９
４および１０６の第１の組を始動するための
信号STSH１が制御論理回路１２６により導
線１６０上に発せられる。 (b) 次いでアナログ・デイジタル変換器９０，
１０２および１１２が制御論理回路１２６に
より与えられる信号STADCによつて始動さ
れて、サンプル・アンド・ホールド回路７
８，９４および１０６の出力端における信号
Yc，XcおよびZcを変換する。 (c) それに答応してアナログ・デイジタル変換
器１１２がアドレス・バス２１０を経て加重
関数メモリ１８０に対するアドレスを与え、
このアドレスは制御論理回路１２６の信号
WPWFM（write processor weight
function memory）によりＡからＢへセツ
トされているマルチプレクサ１８４を通つて
加重関数メモリ１８０に達する。 (d) 信号STADCに応答してアナログ・デイジ
タル変換器９０および１０２はアドレス・バ
ス２１２を経て差引きバツフア像メモリ１８
２に対するアドレスを与え、このアドレスは
制御論理回路１２６の信号WPBIM（write
buffer image memory）によりＡからＢへ
セツトされているマルチプレクサ１８６を通
つて差引きバツフア像メモリ１８２に達す
る。 (e) 加重関数メモリ１８０のアドレス指定後に
情報NW（事象に対する加重値）はメモリを去
り、バス２１４を経て加算器１９０の入力端
Ａに、またバス２１６を経てツフア１９８に
達する。 (f) NWと同時に情報DW（XCおよびYCにより選
択された事象のピクセル位置に対応するすべ
ての先行事象の非正係数の先行正味累計）が
差引きバツフア像メモリ１８２からバス２１
８を経て加算器１９０に通される。 (g) 加算器１９０が代数和NE＝NW＋DWを求
める。 (h) 符号ビツトSIGNBが加算器１９０にり導
線１５６上に与えられる。たとえば、NE＞
０のときには“０”、NE≦０のときには
“１”。 (i) 符号ビツトSIGNBの状態に依存して制御
論理回路が信号SLNNE（select negative
NE）を生じ、それがNE≦０のときにはマル
チプレクサ１８８をＡにセツトし、またNE
＞０のときにはマルチプレクサ１８８をＢに
セツトする。 (j) マルチプレクサ１８８の位置Ａでは負の
NEがバス２２０を経てマルチプレクサ１８
８を通り、またバス２２２を経て差引きバツ
フア像メモリ１８２に与えられる。 (k) マルチプレクサ１８８の位置Ｂでは零発生
器２０２からの零がバス２２４を経てマルチ
プレクサ１８８を通り、またバス２２２を経
て差引バツフア像メモリ１８２に与えられ
る。 (l) 信号WTBIM（write buffer image
memory）が制御論理回路１２６により発せ
られ、この信号が差引きバツフア像メモリ１
８２に、バス２２２を経て供給されたマルチ
プレクサ１８８の出力情報を記憶させる。 (m) その間にバツフア１９６は信号SLBNE
（select buffer for signal NE）により低抵
抗位置に切換えられており、またNEはバツ
フア１９６を通りバス２２６を経てデイジタ
ル・アナログ変換器２００に達する。 (n) デイジタル・アナログ変換器２００に対す
る始動信号STDACが制御論理回路１２６に
より発せられ、それによりデイジタル・アナ
ログ変換器２００はバツフア１９６の出力信
号NEの変換を開始し、値NEに正比例する正
もしくは負の振幅を生じ、それが導線１５０
を経てパルス幅変換器１２８に与えられる。 (o) パルス幅変換１２８は、デイジタル・アナ
ログ変換器２００によるNEの変換が完了し
た後に導線１５２を経て制御論理回路１２６
により与えられる信号STPWMにより始動
される。 (p) 始動信号STPWMに応答してパルス幅変
調器１２８はアンブランク信号UB′を生ず
る。この信号はNE≦０の場合には最小時間
長さを有し、NE＞０の場合にはそれよりも
大きく値NEに正比例する時間長さを有する。 (q) 信号UB′が最小時間長さを有する場合（NE
≦０）には露出値はアナログ・デイスプレイ
装置８４に関して形成されない。 (r) 信号UB′がそれよりも大きい時間長さを有
する場合（NE＞０）には、NEに正比例する
露出値が形成される。 (s) こうして露出インデツクスNEが対応ピク
セル位置における散乱を考慮に入れて減ぜら
れる。マルチプレクサ１８８の出力を差引き
バツフア像メモリ１８２内に連続的に記憶す
ることにより、散乱差引きの正確が保たれて
いる。 (t) 信号SLBNW（select buffer for signal
NE）が制御論理回路１２６により与えられ
る時、バツフア１９８の出力NWはバス１４
６を経てデイジタル・デイスプレイ装置８３
に与えられる。こうしてデイジタル・デイス
プレイがアナログ・デイスプレイ装置８４上
のアナログ・デイスプレイに加えて、もしく
はそれとは別に行なわれ得る。 デイジタル・デイスプレイ装置としては、
たとえばSiemens SCINTIVIWTMデイスプ
レイ装置が用いられ得る。これはたとえば
SiemensパンフレツトSCINTIVIVIEWTM
No.RR1180 10M529に記載されている。この
場合、デイジタル・メモリに関するごとく簡
単な変更が行なわれればよい。一般に
SCINTIVIEWTMのデイジタル・メモリ内で
はデイジツト“１”が事象に対する選択され
たピクセルに加えられる。それにかわつて、
いまはバス１４６を介しての信号NEが加え
られなければならない。 アナログ・デイスプレイ装置としては、た
とえばSiemens Micro Dot ImagerTMが用
いられ得る。これはたとえばSiemensパンフ
レツトMicro Dot ImagerTMModel3132No.Rp
88010M509に記載されている。
SCINTIVIEWに対して先に記載して変更と
同種の変更がなされなければならない。 次に第６図、第７図および第８図を参照する
と、本発明による被加重取得の手法により得られ
る利点が明白に示されている。 共通に使用される３つの放射性アイソトープ
（99mTc、67Ga、201Tl）が被加重取得増強のために
分析された。データに対するすべての結果は、像
メモリ・アドレシング内の冗長Ｙ信号を置換する
Ｚ信号により線状源像を取得する簡単な手段によ
つて得られたLSRFプロフイルのオフライン再組
合わせを中心に置いている。これらのデータは、
容易に予測されない現象について非常に情報に富
みまた示唆的である。 第６図は、散乱内の10cmにおける線状源および
標準窓LSRFにより、99mTc源データを示してお
り、それらが信号対雑音スペクトルとMTF積分
の偏微分とを用いる被加重LSRFを生ずるように
分析される。加重係数の分布は、標準および被加
重LSRFプロツトの比較によりわかるように、
LSRFの“尾部”を改善する実時間散乱差引きの
効用を示している。 第７図および第８図は67Ga源データおよび
201Tl源データに対して、取得されたデータの像
とLSRF，MFT、本質的信号対雑音比、MTF積
分の偏微分および得られた加重関数のプロフイル
とを示している。 次の表は、標準“窓”加重関数レベルと比較し
て、最適な被加重取得LSRF性能、信号対雑音比
および良度レベルの最重要点を列挙している。
【表】 半最大（FWHM）動作におけるシステム線状
源応答全幅内の５％（99mTc）改善に注目された
い。これは、さもなければ、本質的分解能を3.80
mmFWHMから約2.34mmへ改善すること、または
代替的に、低エネルギー全目的（LEAP）コリメ
ータ分解能を7.75mmから約7.15mmへ改善すること
によつてのみ達成され得る。本質的分解能の改善
は、使用されるガンマカメラの光増培管の数を大
体３倍必要としよう。コリメータの改善は99mTc
のマイクロキユリーあたり毎分310から約265への
感度減少を必要としよう。被加重取得は感度利得
に加えてシステム応答にこの５％分解能改善を生
ずる。システムPWTM改善はなお一層劇的であ
る。すべての指標は実質的な利益を示している。
これらの利益は像の質の主観的評価と特徴抽出お
よび病変検出能の実際的結果とに関連している。 被加重取得手法に対して提案された一般目的加
重関数表が次の表に示されている。
【表】 この表は現在の臨床用の主なラジオアイソトー
プを含んでおり、キーボード１２４を介して任意
の源に対する取得を可能にする。 本発明のその好ましい形態を特に参照して説明
してきたが、本発明を理解した後に、特許請求の
範囲により定められている本発明の範囲内で種々
の変形が行なわれ得ることは当業者に明らかであ
ろう。説明した形態の種々の構成要素の選択、接
続および配置が個々の好みおよび必要性に適する
ように変更され得ることは理解されよう。
【図面の簡単な説明】
第１図は単に被加重取得手法の原理を説明する
ため像増強のための３チヤネル被加重取得の概念
を簡単に示す図、第２図は第１図の３チヤネル法
に対応する仮想的加重関数を示す図、第３図は本
発明による散乱消去および変調伝達関数値増強の
ため全エネルギー・スペクトルを用いる最適化さ
れた加重関数に対する可能性を示す図、第４Ａ図
ないし第４Ｃ図は本発明による被加重取得の手法
を応用するための回路を含んでいるシンチレーシ
ヨンカメラの最も重要な構成要素のブロツク回路
図、第５図は本発明による被加重取得の手法を応
用するための回路の一層詳細な回路図、第６図な
いし第８図は３種類のアイソトープ（99mTc、
67Gaおよび201Tl）について、取得されたデータ
の像とLSRF、MTF、本質的信号対雑音比、
MTF積分の偏微分および得られた加重関数のプ
ロフイルとを示す図である。 １０〜１６……積分器回路、１８〜２４……サ
ンプル・アンド・ホールド回路、２６，２８……
比計算回路、３０〜３４……サンプル・アンド・
ホールド回路、３６，４４……パルス波高分析
器、４６，４８……アナログ・デイジタル・変換
器、５０……補正フアクタ・メモリ、５２……エ
ネルギー信号モデイフイケーシヨン回路、５４…
…ミキサ、５６，６０，６２……サンプル・アン
ド・ホールド回路、６４，６６……ミキサ、６
８，７０……アナログ・デイジタル変換器、７２
……補正係数メモリ、７４……補正内挿回路、７
６……垂直方向増幅器、７８，８０……サンプ
ル・アンド・ホールド回路、８４……アナログ・
デイスプレイ装置、８８……デイジタル・デイス
プレイ装置、９０……アナログ・デイジタル変換
器、９２……水平方向増幅器、９４，９６……サ
ンプル・アンド・ホールド回路、１０２……アナ
ログ・デイジタル変換器、１０４……増幅器、１
０６，１０８……サンプル・アンド・ホールド回
路、１１２……アナログ・デイジタル変換器、１
２０……加重取得動作回路、１２２……マイクロ
プロセツサ、１２４……キーボード、１２６……
制御論理回路、１２８……パルス幅変調器。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 １ 像を形成するため被加重取得の手法を応用し
    て、放射性源に起因して撮像用放射検出器により
    発生されるパルスを処理するための方法におい
    て、 (a) 源放射に対応する像加重関数を形成する過程
    が含まれており、前記関数は前記パルスのエネ
    ルギー依存性の信号対雑音比および前記パルス
    のエネルギー依存性の変調伝達関数の双方を考
    慮に入れて前記パルスのエネルギーに依存して
    おり、 (b) 前記パルスの各々に対して加重パルスを得る
    過程が含まれており、前記像加重関数の特定の
    値が前記パルスの観測されたエネルギーにより
    定められており、 (c) 前記像として前記加重パルスを累積する過程
    が含まれている ことを特徴とするパルス処理方法。 ２ 前記加重関数が、各加重係数に対する第１の
    関数の偏微分を評価することと、前記偏微分をす
    べて零にセツトすることとにより得られており、
    また前記第１の関数が前記パルスのエネルギー依
    存性の信号対雑音比および前記パルスのエネルギ
    ー依存性の変調伝達関数の双方に依存しているこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の方
    法。 ３ 前記第１の関数が前記変調伝達関数の２乗に
    依存していることを特徴とする特許請求の範囲第
    ２項記載の方法。 ４ 前記第１の関数が前記信号対雑音比の２乗お
    よび前記変調伝達関数の２乗の双方に依存してい
    ることを特徴とする特許請求の範囲第３項記載の
    方法。 ５ 前記第１の関数が Q〓＝（Ｓ／Ｎ）2・（ 〓f MTF(f)）2 ここに、Ｓ／ＮはＳを信号、Ｎを雑音とする信
    号対雑音比、MTFは被加重変調伝達関数、また
    ｆは零周波数のような低い値から最大の被測定周
    波数応答のような高い値までの空間周波数である として定義されていることを特徴とする特許請求
    の範囲第２項記載の方法。 ６ 加重関数が、 ∂Q〓／∂wi＝０、すべてのwiに対してここに、イン デツクスｉは個々の隣接するＺ（エネルギー）信
    号チヤネルを示す を形成し、それにより第２の関数を得る過程によ
    り評価される加重のための係数wiを含んでいるこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第５項記載の方
    法。 ７ 加算のための係数wiが wi＝（Si／Ｓ）＋Ｋ・（｛∂ΣMT
    F／∂wi｝／ΣMTF）／（N2 i／N2） ここに、SiおよびNiはライン源応答関数
    （LSRF）の信号および雑音の値に対応しており、
    またＫはwiの動作内の分解の役割を増強するため
    に導入されるスケールフアクタである を形成する過程によりその第２の関数から評価さ
    れることを特徴とする特許請求の範囲第６項記載
    の方法。 ８ (a) 各放射性源に対する像加重関数をその形
    成後に記憶する過程と、 (b) 処理されるべき前記パルスの各々に対する加
    重パルスを得る過程とが含まれており、前記像
    加重関数の特定の被記憶値が前記パルスの観測
    されたエネルギーにより定められている ことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の方
    法。 ９ 像を形成するため被加重取得の手法を応用し
    て、放射性源に起因して撮像用放射検出器により
    発生されるパルスを処理するための回路におい
    て、 (a) 源放射に対応する像加重関数を形成するため
    の手段が含まれており、前記関数は前記パルス
    のエネルギー依存性の信号対雑音比および前記
    パルスのエネルギー依存性の変調伝達関数の双
    方を考慮に入れて前記パルスのエネルギーに依
    存しており、 (b) 前記パルスの各々に対して加重パルスを得る
    ための手段が含まれており、前記像加重関数の
    特定の値が前記パルスの観測されたエネルギー
    により定められており、 (c) 前記像として前記加重パルスを累積するため
    の手段が含まれている ことを特徴とするパルス処理回路。 １０ 像加重関数を形成するための前記手段が各
    放射性源に対する像加重関数を記憶するための手
    段を含んでおり、また加重パルスを得るための前
    記手段が、処理されるべき前記パルスの各々に対
    する加重パルスを得るため前記記憶手段に接続さ
    れており、前記像加重関数の特定の被記憶値が前
    記パルスの観測されたエネルギーにより定められ
    ることを特徴とする特許請求の範囲第９項記載の
    回路。 １１ 像を形成するため被加重取得の手段を応用
    して、放射性源に起因して撮線用放射検出器によ
    り発生されるパルスを処理するための回路におい
    て、 (a) データ出力端を有する加重関数メモリと、 (b) データ入力端およびデータ出力端を有する差
    引きバツフア像メモリと、 (c) 前記加重関数メモリおよび前記差引きバツフ
    ア像メモリの出力データの和信号を形成するた
    め前記加重関数メモリのデータ出力端および前
    記差引きバツフア像メモリのデータ出力端に接
    続されている加算器と、 (d) 前記加算器により形成された前記和信号の極
    性に依存して極性信号を形成するため前記加算
    器と組み合わされている手段と、 (e) 前記差引きバツフア像メモリのデータ入力端
    に負の和信号を与えるため前記加算器と組み合
    わされておりかつ前記極性信号により制御され
    る手段と が含まれていることを特徴とするパルス処理回
    路。 １２ 前記和信号が正である時に前記差引きバツ
    フア像メモリの前記データ入力端に零信号発生器
    の零信号を与えるため前記加算器と組み合わされ
    ておりかつ前記極性信号により制御される手段も
    含まれていることを特徴とする特許請求の範囲第
    １１項記載の回路。 １３ 前記極性信号が、前記和信号が正である時
    には第１の状態にありまた前記和信号が負である
    時には第２の状態にある符号ビツトであり、また
    前記負の和信号を与えるための前記手段および前
    記零信号を与えるための前記手段が、前記符号ビ
    ツトの状態に依存して、前記符号ビツトが前記第
    ２の状態にある時には第１のスイツチング位置
    に、また前記符号ビツトが前記第１の状態にある
    時には第２のスイツチング位置にスイツチ可能な
    マルチプレクサを含んでおり、それにより前記マ
    ルチプレクサが前記第１のスイツチング位置では
    前記加算器の前記和信号を、また前記第２のスイ
    ツチング位置では前記零信号発生器の前記零信号
    を前記差引きバツフア像メモリの前記データ入力
    端に与えることを特徴とする特許請求の範囲第１
    ２項記載の回路。 １４ 前記符号ビツトも、前記和信号が零である
    時には前記第２の状態にあることを特徴とする特
    許請求の範囲第１３項記載の回路。 １５ 前記符号ビツトが前記第１の状態で“０”、
    また前記第２の状態で“１”であることを特徴と
    する特許請求の範囲第１３項記載の回路。 １６ (a) デイジタル入力信号として前記加算器
    の前記和信号を受けるデイジタル・アナログ変
    換器と、 (b) 前記デイジタル・アナログ変換器のアナログ
    出力端に接続されているパルス幅変調器と、 (c) 前記パルス幅変調器の出力端と接続されてい
    るアンブランク入力端を有するアナログ・デイ
    スプレイ装置とが含まれており、 前記パルス幅変調器がその出力端に前記アナ
    ログ・デイスプレイ装置に対するアンブランク
    信号を生じ、このアンブランク信号が、前記加
    算器の前記和信号が負である時には、露出値が
    前記アナログ・デイスプレイに関して形成され
    ないように、最小の時間長さを有しており、ま
    た前記加算器の前記和信号が正である時には、
    露出値が前記アナログ・デイスプレイ装置に関
    して形成されるように、それよりも大きい時間
    長さを有している ことを特徴とする特許請求の範囲第１１項記載の
    回路。 １７ 前記パルス幅変調器の前記アンブランク信
    号も、前記和信号が零である時には、前記最小の
    時間長さを有していることを特徴とする特許請求
    の範囲第１６項記載の回路。 １８ (a) 適当な加重係数の組を選択するための
    キーボードと、 (b) 前記キーボードと接続されている入力端と第
    １のデータ出力端および第１のアドレス出力端
    とを有するマイクロプロセツサとが含まれてお
    り、 前記加重関数メモリが選択された加重係数の
    組に従つて前記マイクロプロセツサからデータ
    およびアドレスを受け得るように、前記第１の
    データ出力端が前記加重関数メモリの前記デー
    タ出力端と接続されておりまた前記第１のアド
    レス出力端が前記加重関数メモリのアドレス入
    力端と接続されている ことを特徴とする特許請求の範囲第１１項記載の
    回路。 １９ (a) 第１および第２のアドレス入力端とア
    ドレス出力端とを有する第１のアドレス・マル
    チプレクサと、 (b) デイジタル出力端およびアナログ入力端を有
    する第１のアナログ・デイジタル変換器とが含
    まれており、 前記第１のアナログ・デイジタル変換器の前
    記アナログ入力端は前記撮像用放射検出器のＺ
    エネルギー信号に対する出力端に接続されてお
    りまた前記第１のアナログ・デイジタル変換器
    の前記デイジタル出力端は前記第１のアドレ
    ス・マルチプレクサの前記第２のアドレス入力
    端に接続されており、また、前記第１のアドレ
    ス・マルチプレクサの第１のスイツチング位置
    では前記加重関数メモリが前記マイクロプロセ
    ツサによりアドレスされまた第２のスイツチン
    グ位置では前記加重関数メモリが前記第１のア
    ナログ・デイジタル変換器によりアドレスされ
    るように、前記第１のアドレス・マルチプレク
    サの前記第１のアドレス入力端が前記マイクロ
    プロセツサの前記第１のアドレス出力端に接続
    されておりまた前記第１のアドレス・マルチプ
    レクサの前記アドレス出力端が前記加重関数メ
    モリの前記アドレス入力端に接続されている ことを特徴とする特許請求の範囲第１８項記載の
    回路。 ２０ (a) 第１および第２のアドレス入力端とア
    ドレス出力端とを有する第２のアドレス・マル
    チプレクサと、 (b) デイジタル出力端およびアナログ入力端を有
    する第２のアナログ・デイジタル変換器と、 (c) デイジタル出力端およびアナログ入力端を有
    する第３のアナログ・デイジタル変換器とが含
    まれており、 前記第２のアナログ・デイジタル変換器の前
    記アナログ入力端が前記撮像用放射検出器のＸ
    座標出力端に接続されており、また前記第３の
    アナログ・デイジタル変換器の前記アナログ入
    力端が前記撮像用放射検出器のＹ座標出力端に
    接続されており、また前記第２および第３のア
    ナログ・デイジタル変換器の前記デイジタル出
    力端が前記第２のアドレス・マルチプレクサの
    前記第２の入力端に接続されており、また、前
    記第２のアドレス・マルチプレクサの第１のス
    イツチング位置では前記差引きバツフア像メモ
    リが前記マイクロプロセツサによりアドレスさ
    れまた第２のスイツチング位置では前記差引き
    バツフア像メモリが前記第２および第３のアド
    レス・デイジタル変換器によりアドレスされる
    ように、前記第２のアドレス・マルチプレクサ
    の前記第１のアドレス入力端が前記マイクロプ
    ロセツサの第２のアドレス出力端に接続されて
    おりまた前記第２のアドレス・マルチプレクサ
    の前記アドレス出力端が前記差引きバツフア像
    メモリの前記アドレス入力端に接続されている
    ことを特徴とする特許請求の範囲第１９項記載
    の回路。 ２１ 前記マイクロプロセツサが第２のデータ出
    力端を含んでおり、これが前記差引きバツフア像
    メモリの前記データ入力端と接続されていること
    を特徴とする特許請求の範囲第２０項記載の回
    路。 ２２ 前記加重関数メモリの前記データ出力端が
    デイジタル・デイスプレイ装置に接続されている
    ことを特徴とする特許請求の範囲第１１項記載の
    回路。
JP59043739A 1983-03-11 1984-03-07 パルス処理方法および回路 Granted JPS59173784A (ja)

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EP0125403A1 (en) 1984-11-21
EP0261696A2 (en) 1988-03-30
DE3478766D1 (en) 1989-07-27
EP0261696A3 (en) 1991-07-24
DK80184A (da) 1984-09-12
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US4575810A (en) 1986-03-11
EP0261696B1 (en) 1993-07-07
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