JPS63281006A - 光ディスクの偏心量測定装置 - Google Patents

光ディスクの偏心量測定装置

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JPS63281006A
JPS63281006A JP11781187A JP11781187A JPS63281006A JP S63281006 A JPS63281006 A JP S63281006A JP 11781187 A JP11781187 A JP 11781187A JP 11781187 A JP11781187 A JP 11781187A JP S63281006 A JPS63281006 A JP S63281006A
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JP
Japan
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signal
circuit
track
optical disk
rotational position
Prior art date
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Pending
Application number
JP11781187A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasuhiro Mizuniwa
水庭 泰廣
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPS63281006A publication Critical patent/JPS63281006A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、案内溝を有する光ディスクの偏心量の測定装
置に関する。
〔従来の技術〕
従来の光ディスクの偏心量の測定手段には、光デイスク
装置の光学ヘッドを用いて、光学ヘッドの動作にフォー
カスサーボ制御をかけミドラックサーボ制御をかけない
ときのトラック誤差信号の波形を整形して光学ベッドの
光ビームが横断するトラックの本数を光ディスクの一周
について計数し、これとあらかじめ測定されているトラ
ックピッチとから偏心量を算出して求めるという手段が
ある。
第4図は上述のような光学ヘッドからトラック誤差信号
の波形を整形してトラックの本数を計数することによっ
て測定する従来の案内溝を有する光ディスクの偏心量測
定装置の一例を示すブロック図である。
第4図において、光ディスクの偏心量測定装置は、光デ
ィスク1の案内溝に対して光ビームを照射し、その反射
光からトラック誤差を検出する光学ヘッド2と、光学ヘ
ッド2がらのトラック誤差信号をパルス波形に整形する
波形整形回路3と、光ディスク1を搭載するターンテー
ブル9と、ターンテーブル9を回転させるモータ8と、
モータ8の回転位置に関する情報を出力する回転位置情
報発生回路7と、その出力信号から測定のためのタイミ
ング信号を発生するタイミング回路6と、波形整形回路
3の出力信号を入力してタイミング回路6からのタイミ
ング信号のカウントイネーブル(測定信号出力)期間中
に計数するカウンタ回路10と、タイミング回路6がら
入力する測定終了信号によってカウンタ回路10の計数
値とあらかじめ測定されて入力されているトラックピッ
チとから偏心量を算出する演算回路11とを備えて構成
されている。
光学ヘッド2からのトラック誤差信号は、光学ヘッド2
から照射された光ビームの光ディスク1の案内溝(グル
ープ)に対するずれ量(位置変位量)を検出した信号で
あり、例えば光ディスク1の一回転中における偏心によ
る位置変位量が第5図(イ)に示す曲線で示される状態
であるとき、光学ヘッド2に対してフォーカスサーボ制
御をかけてトラックサーボ制御をかけないと、第5図(
ロ)に示す波形のトラック誤差信号が出力される。この
トラック誤差信号(ロ)の波形を波形整形回路3におい
てパルス信号に整形し、カウンタ回路10においてタイ
ミング回路6がらのタイミング信号のカウントイネーブ
ルの期間中に計数する。演算回路11はタイミング回路
6がらの測定終了信号によってカウンタ回路10がらそ
の計数値を入力し、これとあらかじめ測定して入力され
ているトラックピッチとから次式によって偏心量を算出
する。
偏心量=(トラックピッチ)×(計数値)/2〔発明が
解決しようとする問題点〕 上述したような従来の光ディスクの偏心量測定装置は、
偏心の変位量に基本波以外の高次成分を含む場合、例え
ば第6図の位置変位量(ハ)の曲線の実線で示したよう
な変位量であるとき、トラック誤差信号(ニ)を光ディ
スクの1回転Tについて計数しているため、最大偏心量
Etを破線で示した架空の値EEであるとして算出して
しまうという欠点がある。また偏心による変位の形状も
測定することが不可能である。
本発明の目的は上記のような従来の光ディスクの偏心量
測定装置の欠点を除去して測定誤差がなく信頼性の高い
光ディスクの偏心量を測定することのできる測定装置を
提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の光ディスクの偏心量測定装置は、光ディスクの
案内溝に照射した光ビームの反射光から得られるトラッ
ク誤差信号およびトラック和信号を入力してパルス波形
に整形したパルス信号を出力する波形整形回路と、前記
光ディスクを載置して回転するターンテーブルの回転位
置を示す信号を入力して回転位置情報信号を出力する回
転位置情報発生回路と、前記回転位置情報信号を入力し
て測定タイミング信号を出力するタイミング回路と、前
記測定タイミング信号と前記パルス信号とを入力して前
記測定タイミング信号の出力期間中の前記パルス信号の
パルス数を計数するアップダウンカウンタとを備えて構
成される。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する
第1図は本発明の光ディスクの偏心量測定装置の第一の
実施例を示すブロック図、第2図および第3図は第1図
の実施例における動作の一例を示す波形図である。
第1図において、波形整形回路3は、光ディスク1の案
内溝に対して光学外′ラド2がら光ビームを照射しその
反射光から得られるトラック誤差信号およびトラック和
信号をパルス波形に整形する回路である。回転位置情報
発生回路7は、光ディスク1を載置して回転するターン
テーブル9がらその回転位置を示す信号を入力して回転
位置情報信号を出力する。タイミング回路16は回転位
置情報発生回路7からの出力信号を入力して測定りイミ
ング信号を発生する。アップダウンカウンタ4は、タイ
ミング回路16からの測定タイミング信号が出力されて
いる期間の波形整形回路3の出力信号を計数する。DA
変換回路5は、アップダウンカウンタ4のカウント数の
出力信号をアナログ値に変換する回路である。
次に第2図および第3図を参照して第1図の実施例の動
作について説明する。
光学ヘッド2から出力されるトラック和信号は、光ビー
ムが照射される光ディスク1の記録面の状態によって第
2図に示すような波形の信号となり、その大きさは光デ
ィスク1の鏡面部ではIo、案内溝(グループ)の中で
はI。、案内溝゛の外(ランド)ではILとなる。
光ディスク1を回転させてフォーカスサーボ制御を行い
、トラックサーボ制御を行わないときのトラック誤差信
号およびトラック和信号は、第3図の(B)および(C
)に示すような位相関係となる。波形整形回路3は、こ
のトラック誤差信号(B)の波形を整形して第3図の(
D)に示すようなトラック誤差パルス信号とし、その立
上りの時点および立下りの時点にトラックカウントA信
号(E)およびトラックカウントB信号(F)を発生す
る。さらにトラック和信号(C)の波形を整形してトラ
ック和パルス信号(G)を出力する。
カウントアツプ信号(H)は、トラック和パルス信号(
G)の“0°゛レベルのときのトラックカウントA信号
(E)と、トラック和パルス信号(G)の“1”レベル
のときのトラックカウントB信号(F)とから作られる
。同様にカウントダウン信号(J)は、トラック和パル
ス信号(G)の“1″レベルのときのトラ・ツクカウン
トA信号(E)とトラック和パルス信号(G)の“°0
°゛レベルのときのトラックカウントB信号(F)とか
ら作られる。アップダウンカウンタ回路4は、タイミン
グ回路16から測定タイミング信号(K)の“0”レベ
ルでアップダウンカウンタのプリセットを行い、測定タ
イミング信号(K)の“1”レベルのときにトラックカ
ウントA信号(E)およびトラックカウントB信号(F
)によってアップダウンカウント動作を行う。デジタル
アナログ変換回路(DA変換回路)5は、ア・ンプダウ
ンカウンタ回路4のカウント数の出力信号をアナログ信
号に変換し、光ディスクの偏心変位量(A)にほぼ比例
したDA変換信号101を出力する。このDA変換信号
101を観測することによって、その最大振幅から対応
するトラック本数を求め、これとあらかじめ測定しであ
るl・ラックピッチとから偏心量が算出できる。また、
DA変換回路の出力信号の波形から光ディスクの偏心に
よる変位の形状が測定できる。
従って、光ディスクの偏心の変位量成分に高次成分が含
まれていても、その影響を排除して正しい(肩心変位量
と変位形状とを測定できる。
第7図は本発明の光ディスクの清心測定装置の第二の実
施例を示すブロック図、第8図は第7図の実施例におけ
る動作を示す波形図である。
第7図において、光ディスク1の案内溝に対して光ビー
ムを照射し、その反射光がらトラック誤差を検出する光
学へ・ソド2と、光学ヘッド2からのトラック誤差信号
およびトラック和信号をパルス波形に整形する波形整形
回路3と、光ディスク1を搭載するターンテーブル9の
回転位置情報を出力する回転位置情報発生回路7の出力
信号から測定タイミング信号を発生するタイミング回路
16と、波形整形回路3の出力信号をタイミング回路1
6の測定信号出力の間に計数するアップダウンカウンタ
回路4とは既述の第一の実施例の場合と同じである。
アッパラッチ回路12は、アップダウンカウンタ4の上
限値を入力してそれを保持する回路であり、ローワラッ
チ回路13はアップダウン回路4の下限値を入力してそ
れを保持する回路である。
演算回路14は、タイミング回路16がら出力される測
定終了信号によって、アッパラッチ回路12に保持した
アップダウンカウンタ4の上限値と、ローワラッチ回路
13に保持したアップダウンカウンタ4の下限値と、あ
らかじめ測定して入力しているトラックピッチとから光
ディスク1の旧心量を演算して算出する回路である。
次に第8図を参照して本実施例の動作について説明する
光学ヘッド2から出力されるトラック和信号は、光ビー
ムが照射される光ディスク1の記録面の状態によって第
2図に示すような波形の信号となり、その大きさは光デ
ィスク1の鏡面部では工0、案内溝の中(グループ)で
は■13、案内溝の外(ランド)ではILとなる。
光ディスク1を回転させてフォーカスサーボ制御を行い
トラックサーボを行わないときのトラック誤差信号は、
第8図の(M)、トラック和信号は第8図の(N)に示
すような位相関係となる。
波形整形回路3はトラック誤差信号(M)の波形を整形
して第8図の(P)に示すようなトラック誤差パルス信
号とし、その立上りの時点において、第8図の(Q)に
示すトラックカウント信号を発生する。またトラックカ
ウント信号(Q)の立下りの時点で第8図の(S)に示
すようなラッチ信号を発生する。さらに波形整形回路3
は、トラック和信号(N)の波形を整形して第8図の(
T)に示すようなトラック相パルス信号を出力する。
アップダウンカウンタ4は、タイミング回路16からの
スタートプリセット信号によって計数値をプリセットし
、同時にアッパラッチ回路12およびローワラッチ回路
13においてアップダウカウンタ4のプリセット値をラ
ッチする。アップダウンカウンタ4は、タイミング回路
16からの測定信号によってトラックカウント信号(Q
>をトラック相パルス信号(T)の論理値でカウントア
ツプ信号(U)とカウントダウン信号(V)に弁別して
カウントアツプおよびカウントダウンする。
アッパラッチ回路12は、ラッチ信号(S>の各パルス
ごとに、その保持している値とアップダウンカウンタ4
の計数値とを比較し、アップダウンカウンタ4の計数値
が大きいときはその計数値をラッチする。同様に、ロー
ワラッチ回路13はラッチ信号(S)の各パルスごとに
、その保持している値とアップダウンカウンタ4の計数
値とを比較し、アップダウンカウンタ4の計数値が小さ
いときはその計数値をラッチする。
光ディスク1の一回転について測定した後、タイミング
回路16からの測定終了信号によって演算回路14はア
ッパラッチ回路12とローワラッチ回路13とに保持し
ている上限値および下限値と、あらかじめ測定して入力
しているトラックピッチとから次式によって偏心量を算
出する。
偏心量=((上限値)−(下限値))×(トラックピッ
チ) 従って、光ディスクの偏心の変位量の成分に高次成分が
含まれていても、その影響を排除した正しい偏心の変位
量を測定できる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明は光ディスクの1!4心の
変位量の成分中に高次成分が含まれていても、その影響
を排除することができるので正しい清心の変位量を測定
することができ、従って測定誤差がなく信頼性の高い測
定結果が得られるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の光ディスクの偏心量測定装置の第一の
実施例を示すブロック図、第2図および第3図は第1図
の実施例の動作を示す波形図、第4図は従来の光ディス
クの清心量測定装置の一例を示すブロック図、第5図は
第4図の例の位置変位量とトラック誤差信号との関係を
示す波形図、第6図は第4図の例において位置変位量に
高次成分を含む場合の位置変位量とトラ・ツク誤差信号
との関係を示す波形図、第7図は本発明の光ディスクの
偏心測定装置の第二の実施例を示すプロ・ツク図、第8
図は第7図の実施例における動作と示す波形図である。 1・・・光ディスク、2・・・光学ヘッド、3・・・波
形整形回路、4・・・アップダウンカウンタ、5・・・
DA変換回路、6・16・・・タイミング回路、7・・
・回転位置情報発生回路、8・・・モータ、9・・・タ
ーンテーブル、10・・・カウンタ回路、11・14川
演算回路、12・・・ア・ソバラッチ回路、13・・・
ローワラッチ回路、101・・・偏心変換信号。 第2回 第3 図 追412] 帛S 回 T゛光剪ズクの18私 帛6図 第7図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  光ディスクの案内溝に照射した光ビームの反射光から
    得られるトラック誤差信号およびトラック和信号を入力
    してパルス波形に整形したパルス信号を出力する波形整
    形回路と、前記光ディスクを載置して回転するターンテ
    ーブルの回転位置を示す信号を入力して回転位置情報信
    号を出力する回転位置情報発生回路と、前記回転位置情
    報信号を入力して測定タイミング信号を出力するタイミ
    ング回路と、前記測定タイミング信号と前記パルス信号
    とを入力して前記測定タイミング信号の出力期間中の前
    記パルス信号のパルス数を計数するアップダウンカウン
    タとを備えることを特徴とする光ディスクの偏心量測定
    装置。
JP11781187A 1987-05-13 1987-05-13 光ディスクの偏心量測定装置 Pending JPS63281006A (ja)

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JP11781187A Pending JPS63281006A (ja) 1987-05-13 1987-05-13 光ディスクの偏心量測定装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002019323A1 (fr) * 2000-08-31 2002-03-07 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Support d'enregistrement optique et instrument de mesure de desalignement

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002019323A1 (fr) * 2000-08-31 2002-03-07 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Support d'enregistrement optique et instrument de mesure de desalignement
US7050386B2 (en) 2000-08-31 2006-05-23 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical recording medium and misalignment measuring instrument

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