JP2552944Y2 - 位相メータ - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この考案は光ディスクプレーヤのRF信号とサブスポッ
ト信号の位相差を検出する位相メータに係わり、特に、
リアルタイムで位相差を定量的に表示する位相メータに
関する。

［従来の技術］ 光ディスクプレーヤの３ビーム法によるトラッキング
信号を発生するサブスポット信号と主ビームのRF信号は
トラッキングサーボオフ時に90°の位相差を生じるよう
に夫々のビームが配置されている。

従って、光ピックアップの姿勢が正しいか否かの判定
がRF信号とサブスポット信号の位相差を検出することに
より行われる場合がある。

従来、そのための位相差測定方としてRF信号とサブス
ポット信号でリサージュ波形を描いて、リサージュ波形
の形状で位相差を検出していた。

また、位相差を定量的に表示する位相メータとしては
第４図に示すものがあった。

図に示す位相メータを説明する。

RF入力端子から入力されたRF信号はバッファおよびロ
ーパスフイルタとコンパレータ３を通り位相差検出回路
５とマイクロコンピュータ６に入力される。

サブスポット入力端子から入力されたサブスポット信
号はバッファおよびローパスフイルタ２とコンパレータ
４を通り位相差検出回路５に入力される。

ローパスフイルタ１とコンパレータ３の出力波形は夫
々第２図（ａ）および（ｃ）に示す波形となる。

なお、第２図（ｃ）に示す波形が基準信号として使用
されている。

ローパスフイルタ２とコンパレータ４の出力波形は夫
々第２図（ｂ）および（ｄ）に示す波形となる。

位相差検出回路５は入力の論理積をとり位相差信号と
してマイクロコンピュータ６に出力する。その波形を第
２図（ｅ）に示す。

マイクロコンピュータ６は上記基準信号と位相差信号
から位相差を算出し表示部７に表示する。

［考案が解決しようとする問題点］ 上記した従来のリサージュ波形によるものにおいて
は、定量的な測定ができないため、測定精度が悪く、ま
た、測定に手間がかかるという欠点があった。

また、第４図に示す位相メータはソフトウェアが複雑
でありマイクロコンピュータの処理量が大きくなりクロ
ック速度を速くする必要があった。

この考案は上記した点に鑑みてなされたものであっ
て、その目的とするところは、簡易かつ正確に光ディス
クプレーヤのRF信号とサブスポット信号の位相差を検出
する位相メータを提供することにある。

また、この考案の他の目的は、簡単なソフトウエアに
より処理速度の遅いマイクロコンピュータが使用できる
位相メータを提供することである。

［課題を解決するための手段］ この考案の位相メータは、光ディスクプレーヤのRF信
号とサブスポット信号の中から選ばれた２つの信号をHL
に２値化し、前記２値化された一方の信号を積分回路に
入力し、前記２つの２値化された信号のＨの部分が重な
る部分の信号を他の積分回路に入力し、前記２つの積分
回路の出力をA/Dコンバータによりデジタル値に変換
し、得られた２つのデジタル値の比より位相差を算出し
て表示装置に表示するように構成したものである。

［作用］ 一般に光ディスクが回転するとき、偏心による振回り
があり、トラッキングサーボオフ時には光ピックアップ
のビームスポットは多数のビット列を横切りビームスポ
ット反射光の心は正弦波となる。主ビームからのRF信号
とサブスポット信号は同一周期を有するが、その半径方
向位置の差に基づく位相差が生じる。

第２図（ａ）および（ｂ）は夫々ローパスフイルタ通
過後のRF信号とサブスポット信号の波形を示す。

第２図（ａ）および（ｂ）に示す波形を２値化し、正
の部分をＨとし、負の部分をＬとすると、第２図（ｃ）
および（ｄ）に示す波形となる。

位相差は、第２図（ａ）の波形の一周期の時間に対す
る第２図（ｂ）の波形の第２図（ａ）の波形からの遅れ
または進み時間に比例し、第２図（ｄ）の波形の第２図
（ｃ）の波形からの遅れまたは進み時間を第２図（ｃ）
の波形の半周期の時間で除した値に180°を乗算した値
になる。

従って、位相差は第２図（ｃ）の波形および第２図
（ｄ）のＨ期間の重なりを取出した信号である第２図
（ｅ）に示す波形の一周期のＨ時間を第２図（ｃ）に示
す波形の一周期のＨ時間で除し、その結果に180°を乗
算した値となる。

上記時間は第２図（ｃ）および（ｅ）に示す波形を積
分回路で処理することにより電圧信号として得ることが
できる。

このようにして得られた電圧信号をA/Dコンバータに
よりデジタル信号に変換し、その値をマイクロコンピュ
ータが読取り位相差が算出される。

算出された位相差は表示装置に表示される。

［実施例］ この考案の実施例である位相メータの実施例を第１図
乃至第３図に基づいて説明する。

第１図に示すように、RF入力端子から入力されたRF信
号はバッファおよびローパスフイルタ１とコンパレータ
３を通り位相差検出回路５に入力される。

サブスポット入力端子から入力されたサブスポット信
号はバッファおよびローパスフイルタ２とコンパレータ
４を通り位相差検出回路５に入力される。

ローパスフイルタ１とコンパレータ３の出力波形は夫
々第２図（ａ）および（ｃ）に示す波形となる。

ローパスフイルタ２とコンパレータ４の出力波形は夫
々第２図（ｂ）および（ｄ）に示す波形となる。

位相差検出回路５は入力の論理積をとり第２図（ｅ）
に示す位相差信号を出力する。

コンパレータ３の出力信号と位相差検出回路５の出力
信号は夫々積分回路８および９に入力される。

積分回路８および９の出力波形は夫々第２図（ｆ）お
よび（ｇ）に示される通りである。

積分回路８および９の出力は夫々サンプルホールド回
路10および11に入力され、位相差検出回路５の出力立ち
下がりのタイミングでホールドされる。

サンプルホールド回路10および11の出力波形は第２図
（ｈ）および（ｉ）に示す通りである。

位相差検出回路５の出力はマイクロコンピュータ６に
入力され、その立下がりが基準信号とされる。

マイクロコンピュータ６は位相差検出回路５の出力が
立下がると、A/Dコンバータ12および13に夫々サンプル
ホールド回路10および11の出力をデジタル値に変換さ
せ、そのデジタル値を読取り、位相差を算出し表示部７
に表示する。

次に、第３図を参照してマイクロコンピュータの動作
を説明する。

ステップS1でRAMの作業域やフラグ等がイニシャライ
ズされた後ステップS2に移行する。

ステップS2で計算に用いられるメモリがクリアされ
る。

次に、ステップS3に移行し、基準信号が立下がった否
かが判断され、基準信号が立下がった場合はステップS4
に移行し、基準信号が立下がっていない場合はステップ
S3が繰り返される。

ステップS4でA/Dコンバータ12および13に夫々サンプ
ルホールド回路10および11の出力をデジタル値に変換さ
せ、そのデジタル値を読取る。

次に、ステップS5に移行し、積分回路８および９をリ
セットする。

次に、ステップS6に移行し、式 位相差°＝（１−A/Dコンバータ13の出力/A/Dコンバー
タ12の出力）×180°より算出してメモリに記憶させ
る。

次に、ステップS7に移行し、算出された位相差の平均
値を更新し、平均値更新回数をインクリメントする。

次に、ステップS8で平均更新回数が所定回数であるか
否かが判断され、平均値更新回数が所定回数である場合
はステップS9に移行し、それ以外の場合はステップS3が
繰り返される。

ステップS9では位相差の平均値を表示装置に表示し、
ステップS2に移行する。

実施例は以上のように構成されているが考案はこれに
限らず、例えば、サブスポットＥ−Ｆ信号からEF位相差
を算出してもよい。

［考案の効果］ この考案の位相メータによれば、短時間に光ディスク
プレーヤのRF信号とサブスポット信号の位相差を低量的
に測定することができる。

また、光ディスクプレーヤの完成品において光ピック
アップの評価検討を行うことが可能となる。

また、従来のものと比較しマイクロコンピュータとそ
のソフトウエアの負担が消滅される。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの考案の実施例である位相メータを示すブロ
ック図、第２図（ａ）（ｂ）（ｃ）（ｄ）（ｅ）（ｆ）
（ｇ）（ｈ）および（ｉ）は同位相メータの信号を示す
波形図、第３図は同位相メータのマイクロコンピュータ
の動作を示すフローチャート、第４図は従来の技術を示
すブロック図である。 1,2…ローパスフイルタ、3,4…コンパレータ、５…位相
差検出回路、６…マイクロコンピュータ、７…表示部、
8,9…積分回路、10,11…サンプルホールド回路、12,13
…A/Dコンバータ。

Claims (1)

(57)【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】光ディスクプレーヤのRF信号とサブスポッ
   ト信号の中から選ばれた２つの信号をHLに２値化し、前
   記２値化された一方の信号を積分回路に入力し、前記２
   つの２値化された信号のＨの部分が重なる部分の信号を
   他の積分回路に入力し、前記２つの積分回路の出力をA/
   Dコンバータによりデジタル値に変換し、得られた２つ
   のデジタル値の比より位相差を算出して表示装置に表示
   するように構成した位相メータ。