JPS63276284A - 超伝導接合 - Google Patents

超伝導接合

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JPS63276284A
JPS63276284A JP62112015A JP11201587A JPS63276284A JP S63276284 A JPS63276284 A JP S63276284A JP 62112015 A JP62112015 A JP 62112015A JP 11201587 A JP11201587 A JP 11201587A JP S63276284 A JPS63276284 A JP S63276284A
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JP
Japan
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superconducting
base electrode
oxide
junction
thin film
Prior art date
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Pending
Application number
JP62112015A
Other languages
English (en)
Inventor
Yujiro Kato
加藤 雄二郎
Hidefumi Asano
秀文 浅野
Keiichi Tanabe
圭一 田辺
Shugo Kubo
衆伍 久保
Osamu Michigami
修 道上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication date
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Publication of JPS63276284A publication Critical patent/JPS63276284A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N60/00Superconducting devices
    • H10N60/10Junction-based devices
    • H10N60/12Josephson-effect devices
    • H10N60/124Josephson-effect devices comprising high-Tc ceramic materials

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、比較的高温で動作が可能な超伝導接合に関す
るものである。
(従来の技術) 従来型の超伝導接合は、電極材料にpb金合金Nbある
いはNb化合物を用いている。従来から用いられている
これら材料は、超伝導転移温度がたかだか20に以下で
あり、超伝導接合は。
液体ヘリウムを用いて冷却しなければ動作できないもの
であった。
従来型の超伝導接合は、トンネルバリアに下地電極を直
接酸化して形成される酸化物や、 Al、0.、MgO
,ZrO□などの高絶縁性酸化物を用いていた。
このような従来型の超伝導接合の持つ問題点に次のもの
がある。
■ 従来型の超伝導接合を用いて、ヒステリシスを示さ
ない電流−電圧特性を実現するには。
接合に並列のシャント抵抗を接続する必要がある。この
とき、シャント抵抗を形成するために作製工程数が増え
るだけでなく、シャント抵抗の抵抗値の制御性の確保お
よび、シャント抵抗と電極とのコンタクトの確保が不可
欠となり。
作製法そのものの難易度が増す。
■ Heは、高価な資源であるだけでなく、液化するの
に特殊な装置を必要とする。また、液化には大電力を要
する。このため、超伝導接合を用いた電子回路は、その
動作に膨大な運転コストを必要としていた。
■ 液体Heは、熱容量が極めて小さく、冷却能力が小
さいだけでなく、蓄えるのに2重の魔法瓶構造、或はそ
れに匹敵する断熱層を有するコンテナが必要となる。こ
のため、超伝導接合を用いた電子回路は、コンテナの中
に室温で動作する外部機器との間のインターフェイス回
路を持ち込む必要があるが、その導入は断熱層を介して
行わねばならず9回路が極めて複雑になると言う問題が
あった。
■ 液体Heを用いるため、システムが大型になり、移
動が困難である。このため、超伝導接合を用いた電子回
路は、特定の場所でしか使用できなかった。
(問題点を解決するための手段) 本発明は、超伝導接合を形成するに際し、下地電極およ
び対向電極に、比較的高い超伝導転移温度(Tc)を有
する酸化物超伝導体を用い。
トンネルバリアに導電性を有する酸化物を用いる。
具体的には、超伝導接合を形成する電極材料に(M1+
−xM2x)ycuOz (0< X < 1、l≦Y
≦2.2≦Z≦4、Mlは■族金属(Sc l v +
 ta * Ce IPr、NdlPm1Yb、Lu1
BIA1.Gal In、T1.Es)からなる群から
選ばれた一または二基上の元素、M2は■族金属(Ba
t Mgt Cat Sr、 Bat Znl Cd、
 Hgl Cf )からなる群から選ばれた一または二
基上の元素)からなる酸化物超伝導体を用い、トンネル
バリアに導電性を有するCu0x、MoOx、VOxの
いずれかを用いる。
(作用) 第1図に本発明の超伝導接合の概念断面図を示す。1は
基板、2は下地電極、4は対向電極であり、2及び3は
酸化物超伝導体からなる。
3はトンネルバリアであり導電性を有するCu0x、 
MoOx、 VOxのいずれかからなる。
2.3の酸化物超伝導材料として20に以上の温度で完
全に超伝導状態に転移するものを用いるので本接合は2
0に以上の温度で動作が可能になる。
また、トンネルバリアに導電性を有するCu0x、 M
oOx、 VOxのいずれかを用いるので、バリアのし
きい値が小さくなり、バリアの膜厚に対するジョセフソ
ントンネル電流の制御性が向上する。また、バリアの膜
厚を厚くできるため接合の静電容量を小さくすることが
できる。同時に。
接合の常伝導トンネル抵抗値を絶縁酸化物トンネルバリ
アの抵抗値に比べて1桁程度小さくでき、しかもその制
御も容易になる。このとき。
接合のヒステリシスパラメータ βCは9次式%式% ljは接合の最大ジョセフソン電流 Rnは接合の常伝導トンネル抵抗値 Cは接合の静電容量 φ。は磁束量子(2,07xlO−” Wb)本発明に
よれば、RnおよびIjの制御が容易であり、 Rnお
よびCが小さくなれば、シャント抵抗を用いることなく
接合の電流・電圧特性がヒステリシスを示さないための
条件βC〈lを実現するのが容易になる。また、Sc<
1であっても、接合の出力電圧Ij−Rnは従来型の接
合を抵抗体でシャントしたものに比較すると数倍大きく
なる。さらに、電極に酸化物超伝導体を用いるため、こ
れら酸化物バリアとの間で酸素の相互拡散がない。この
ためCu0x+ MoOx。
VOxは、経時変化せずしかも磁束をトラップすること
もない。
(実施例) 〔実施例1〕 酸化物超伝導体と格子整合が可能な酸化物絶縁体基板を
用意して、酸化物超伝導体を電極とし、銅の酸化物Cu
0xをトンネルバリアとする超伝導接合を作製した。
すなわち、予め超伝導接合の下地電極をパターニングす
るためのレジストステンシル(AZ 1470)をその
上に形成したLa2CuO4の多結晶絶縁性基板上に、
 La−Ba−Cu−0ターゲツト(100III11
φ、 5mm厚)を用いて、 5Paの^rガス中で5
00Hの電力を印加して、 rfマグネトロンスパッタ
リングにより、水冷基板上に下地電極用(Lao、 J
ao、 +) tcuOa酸化物超伝導薄膜を200n
mの厚さに形成した。つぎに、アセトン中でレジストを
溶解して不用な部分の薄膜を除去して下地電極のパター
ンを形成した。つぎに。
超伝導接合の対向電極をパターニングするためのレジス
トステンシルをAZ 1470フオトレジストにより形
成した。つぎに、 Cuターゲット(100mmφ、 
2mm厚)を用いて、 dcマグネトロンスパッタリン
グ(Arガス圧3Pa、スパッタ電流0、1A)により
、 3ΩmのCu極薄膜を形成した。
引続き、同一真空中で酸素を200Pa導入して30分
間の自然酸化を行って、トンネルバリアを形成した。最
後に、対向電極として(Lao、 qBa6゜+) z
cu04酸化物超伝導薄膜を下地電極と同一の条件で3
00no+の厚さに形成して、アセトン中でレジストを
溶解して、対向電極をパターニングし、超伝導接合の作
製を終った。
この超伝導接合を小型冷凍器を用いて、冷却し動作温度
を調べたところ、25に以下の温度でジョセフソン電流
が流れる高温動作超伝導接合であることが確認できた。
また、この超伝導接合のIOKにおける特性は以下の通
りであった。
Ij = 100μA、 Jc = IKA/cm”、
 (接合面積10 am”)Rn = 6Ω、   I
j−Rn = 600uVC= 0.0548pH。
βc = 0.60 この実施例から明らかなように、この超伝導接合は、出
力電圧が600μVと大きく、シかもシャント抵抗を接
続することなくヒステリシスパラメータが0.6と小さ
く制御できる極めて良好な特性を有する高性能の接合で
あった。
〔実施例2〕 (ZrOz) o、 bs (SrO) 0.35の(
100)面単結晶基板を用意して、下地電極をパターニ
ングするためのリフトオフステンシルをAZ1470フ
ォトレジストにより形成し、 M−5r−Cu−0混合
物(M : Sc。
Y、La、Ce、Pr1Nd、P+w、Yb1LulB
、A11Gal In、TI、8g)を蒸着原料として
真空蒸着により、 (M。、 tsra、 s)1.3
CuOffi (M : Sc、Y、La、Ce、Pr
+Nd、Pm、Yb、Lu、B。
Al、Ga、In、TI、Es)酸化物超伝導薄膜を4
00nmの厚さに堆積し、アセトン中でリフトオフして
パターニングした。つぎに、対向電極をパターニングす
るためのりフトオフステンシルをAZI470レジスト
により形成し、 Moターゲット(100wmφ、 4
a+m厚)を用いてdcマグネトロンスパッタにより3
Ωmの厚さに形成(Ar 4Pa、 I″dc = 0
.1A、 2m1n)L、  Lかる後、酸素を500
Pa導入してMoOx  )ンネルバリアを形成し、同
一真空中で、下地電極と同一条件で対向電極酸化物超伝
導薄膜を550nraの厚さに堆積して。
アセトン中でリフトオフして、パターニングして超伝導
接合の作製を終った。
表−1に、これらの接合の特性を示す。表に示す様に、
全ての接合は、 20に以上の温度で動作する。シャン
ト抵抗不要の高性能の超伝導接合であった。
(以下余白) 表−1■属金属を変えた場合の超伝導接合の特性〔実施
例3〕 (ZrOz) o、 bs (MOX) o、 3sの
ランダム配向基板(M : Be、Mg1CalSr、
Ba1ZnlCd、Hg、Cf)を用意して、下地電極
をパターニングするためのリフトオフステンシルをAZ
1470フォトレジストにより形成し、 Y−M−Cu
−0混合物(M : Be、Mg、Ca。
Sr、Ba+Zn、Cd+)Ig+cf)を蒸着原料と
して真空蒸着により+ (Yo−Jo、s)+、5cu
Os (M : Be、Mg、Ca。
Sr、Ba、Zn、Cd、Hg、Cf)酸化物超伝導薄
膜を30011の厚さに堆積し、アセトン中でリフトオ
フしてパターニングした。つぎに、対向電極をパターニ
ングするためのリフトオフステンシルをAZ1470レ
ジストにより形成し、Vターゲット(75a+n+φ、
2IIII11厚)を用いて、 20nmの厚さにrf
マグネトロンスパッタリングによりVOx薄膜を形成(
Ar+20χ02ガス圧8Pa+ rf電力50W) 
L、同一真空中で対向電極薄膜を下地電極と同一の条件
で300nmの厚さに形成し、アセトン中でリフトオフ
して、パターニングした。
これらの超伝導接合の性能を表−2に示す。
表から明らかなように2作製した接合は全て高出力でシ
ャント不要の高温動作接合であり、小型冷凍器の使用が
可能なシステム全体を小型化できるものであった。
(発明の効果) 以上説明したように9本発明の超伝導接合は。
超伝導接合を形成するに際し、下地電極および対向電極
に高Tc酸化物超伝導体を用い、トンネルバリアに導電
性を有する酸化物を用いることにより、20に以上の温
度で動作可能で、シャント抵抗を用いずともヒステリシ
スを示さず。
しかも出力電圧の大きい高性能の高温動作超伝導接合を
提供する。
本発明の超伝導接合は、小型冷凍機の使用が可能である
ため、運転コストが従来型の超伝導接合に比べて格段に
低くなるだけでなく、システムの小型化ができる。また
、システムの移動・設置が容易になるため、電子回路の
応用分野が飛躍的に増加する。液体Heを用いないため
電子回路と外部との間の断熱層は薄く出来る。
このため、電子回路と外部回路とのインターフェイスが
簡略になる。
本発明では1以上の効果により、高性能の高温動作超伝
導接合を提供することが出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は1本発明の超伝導接合の概念断面図を示す。 1・・・ 基板 2・・・ 下地電極 3・・・ トンネルバリア 4・・・ 対向電極

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)超伝導体で構成される下地電極、および超伝導体
    で構成される対向電極を超伝導体以外の物質で形成され
    るトンネルバリアで接続した基本構造を有する超伝導接
    合において、下地電極および対向電極が酸化物超伝導体
    であり、トンネルバリアがCu、Mo、Vのいずれかの
    酸化物であることを特徴とする超伝導接合。
  2. (2)酸化物超伝導体が(M1_1_−_xM2_x)
    _YCuO_z(0<X<1、1≦Y≦2、2≦Z≦4
    、M1はIII族金属(Sc、Y、La、Ce、Pr、N
    d、Pm、Yb、Lu、B、Al、Ga、In、Ti、
    Es)からなる群から選ばれた一または二以上の元素、
    M2はII族金属(Be、Mg、Ca、Sr、Ba、Zn
    、Cd、Hg、Cf)からなる群から選ばれた一または
    二以上の元素)であることを特徴とする特許請求の範囲
    第1項記載の超伝導接合。
JP62112015A 1987-05-08 1987-05-08 超伝導接合 Pending JPS63276284A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0287688A (ja) * 1988-09-26 1990-03-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd 超電導素子及びその製造方法
EP0476687A2 (en) * 1990-09-20 1992-03-25 Sumitomo Electric Industries, Limited Superconductor junction structure and process for fabricating the same
US5232903A (en) * 1987-05-06 1993-08-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Oxide superconducting device having uniform oxygen concentration
JPH06244469A (ja) * 1993-02-16 1994-09-02 Nec Corp 積層sns型ジョセフソン接合素子

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