JPS63274766A - スパッタリング装置 - Google Patents

スパッタリング装置

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Publication number
JPS63274766A
JPS63274766A JP11008887A JP11008887A JPS63274766A JP S63274766 A JPS63274766 A JP S63274766A JP 11008887 A JP11008887 A JP 11008887A JP 11008887 A JP11008887 A JP 11008887A JP S63274766 A JPS63274766 A JP S63274766A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
shutter
target
selection plate
rotated
sputtering
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11008887A
Other languages
English (en)
Inventor
Takahiro Tominaga
富永 恭弘
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokuda Seisakusho Co Ltd
Original Assignee
Tokuda Seisakusho Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokuda Seisakusho Co Ltd filed Critical Tokuda Seisakusho Co Ltd
Priority to JP11008887A priority Critical patent/JPS63274766A/ja
Publication of JPS63274766A publication Critical patent/JPS63274766A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 【発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明はスパッタリング装置に係り、特に被処理物の均
一な薄膜形成を行なうことを可能としたスパッタリング
装置に関する。
(従来の技術) 従来のスパッタリング装置は、真空容器の内部に、被処
理物を保持する支持板を配設するとともに、この支持板
の被処理物に対向するようにターゲットを配設して構成
されており、真空容器内を真空排気して所定圧力のプロ
セスガス雰囲気にした後、上記ターゲット部分に高電圧
を印加してプラズマ放電を発生させ、上記ターゲット材
料を飛散させて被処理物の表面に付着させるものである
このとき、第4図に示すように、被処理物とターゲット
1との間には、上記放電により飛散するターゲット1材
料を遮断するシャッタ2が回動自在に配設されており、
このシャッタ2は、被処理物にターゲット1材料を付着
させる場合には、シャッタ2を回動させてターゲット1
を露出させ、被処理□物へのターゲット1材料の付着を
停止させる場合には、シャッタ2を逆方向に回動させて
ターゲット1を覆うようにしている。
(発明が解決しようとする問題点) しかし、上記のようなスパッタリング装置のシャッタ機
構では、シャッタ2の往復回動により開閉動作を行なう
ため、上記シャッタ2がターゲット1の一側から他側に
向かワて回動じて開き、逆に他側から一側に向かって閉
じることから、上記−側におけるターゲット1材料が飛
散する時間が上記他側におけるターゲット1材料が飛散
する時間よりも長くなってしまい、被処理物の位置に対
するターゲット1材料の飛散時間に差が生じてしまうと
いう問題を有している。そのため、被処理物の表面に複
数の膜を何層にも形成した場合、第5図に示すように、
被処理物の位置により膜厚に差が生じ均一な薄膜形成を
行なうことができないという問題を有している。
本発明は上記した点に鑑みてなされたもので、被処理物
の膜厚分布を均一に行なうことのできるスパッタリング
装置を提供することを目的とするものである。
〔発明の構成〕
(問題点を解決するための手段) 上記目的を達成するため本発明に係るスパッタリング装
置は、真空容器の内部に、被処理物およびターゲットを
互いに対向するように配設し、上記被処理物とターゲッ
トとの間に、放電により飛散するターゲット材料を遮断
するシャッタを配設してなるスパッタリング装置におい
て、上記シャッタを円形状を有し一部にスパッタリング
材料が通過する孔部を穿設した形状に形成するとともに
、このシャッタとほぼ同形状を有し上記シャッタの上記
ターゲット側に同軸状に位置する選択板を設け、上記シ
ャッタおよび選択板をそれぞれ独立して回転自在に取付
け、上記選択板の孔部を上記ターゲットに対応する位置
に回転移動させた後、上記シャッタを一定の方向に回転
させて上記シャッタおよび選択板の各孔部が一致した場
合にスパッタリング材料を被処理物に付着させるように
して構成されている。
(作 用) 本発明によれば、選択板の孔部を上記ターゲットに対応
する位置に回転移動させた後、上記シャッタを一定の方
向に回転させて上記シャッタおよび選択板の各孔部が一
致した場合にスパッタリング材料を被処理物に付着させ
、シャッタの回転方向を一定にしているので、常にシャ
ッタがターゲットの一側から開き同一側から閉じるよう
に動作し、したがって、被処理物の位置に対するスパッ
タ時間がほぼ一定となり、均一な薄膜形成を行なうこと
ができるものである。
(実施例) 以下、本発明の実施例を第1図乃至第3図を参照して説
明する。
第1図は本発明の一実施例を示したもので、真空容器3
の内部上方には、被処理物4を保持する支持板5が配設
され、この支持板5には、上記真空容器3の上面を貫通
して駆動モータ6に接続された回転シャフト7が接続さ
れており、上記支持板5の下面に固定された被処理物4
を真空容器3の中心から偏心して回転駆動できるように
なされている。また、上記真空容器3の下方には、複数
(本実施例においては2つ)のターゲットla。
1bが配置されており、上記被処理物4と上記各ターゲ
ットla、lbとの間には、はぼ同形状とされたシャッ
タ2および選択板8がそれぞれ同軸状に配設されている
。上記各シャッタ2および選択板8には、第2図に示す
ように、円形状を有し、ターゲットla、lb材料が通
過するための円形孔9が穿設されている。上記各シャッ
タ2および選択板8には、上記真空容器3の下面を貫通
して駆動モータ10に接続された回転シャフト11が接
続されており、上記駆動モータ10により上記各シャッ
タ2および選択板8を独立して回転駆動可能とされてい
る。さらに、上記真空容器3の側面には、不活性ガス等
のプロセスガスを導入スルガス導入管12および図示し
ない真空排気装置に接続される真空排気管13がそれぞ
れ設けられている。
本実施例においては、被処理物4を支持板5の下面に固
定し、真空容器3内を排気管13から真空排気するとと
もに、ガス導入管12からプロセスガスを所定圧力導入
する。そして、上記駆動モータ6を駆動することにより
、支持板5を回転駆動させて被処理物4を偏心回転させ
、各ターゲット1a、lbに高電圧を印加することによ
るプラズマ放電により各ターゲットla、lb材料を飛
散させて被処理物4の表面に薄膜を形成するようにして
いる。このとき、駆動モータ10の駆動により回転シャ
フト11を介して上記選択板8を回転させるとともに、
シャッタ2を回転させ、上記選択板8とシャッタ2との
円形孔9,9の位置が一致した場合にのみ、ターゲット
la、lb材料を被処理物4に付着させるようにしてい
る。
すなわち、まず、一方のターゲット1aの材料を付着さ
せる場合は、選択板8を回転させて選択板8の円形孔9
を該ターゲット1aに対応する位置に移動させ、その後
、シャッタ2を回転させてシャッタ2の円形孔9を上記
選択板8の円形孔9に一致させる。この状態で、数秒間
上記ターゲット1aの材料を、各円形孔9,9を通過さ
せて被処理物4に付着させた後、上記シャッタ2を上記
一致させた時と同一方向に回転させ、シャッタ2を閉じ
るようにしている。そのため、被処理物4の位置に対す
る円形孔9の開口時間が均一となり、均一な膜形成を行
なうことができる。また、続いて、上記選択板8を回転
させて選択板8の円形孔9を他方のターゲット1bに対
応する位置に移動させ、その後、シャッタ2を回転させ
てシャッタ2の円形孔9を上記選択板8の円形孔9に一
致させる。この状態で、所定時間スパッタリングを行な
った後、同様にシャッタ2を同一方向に回転させ、シャ
ッタ2を閉じるようにしている。この動作を所定回数く
り返すことにより、被処理物4の表面に複数層の膜を形
成することができる。
したがって、本実施例においては、シャッタ2の回転方
向を一定にしているので、常にシャッタ2がターゲット
la、lbの一側から開き同一側から閉じるように動作
し、したがって、被処理物4の位置に対するスパッタ時
間がほぼ一定となり、均一な薄膜形成を行なうことが可
能となる。第3図は本実施例のスパッタリング装置を用
いてスパッタリングした場合の被処理物4の膜厚を測定
した結果を示したもので、複数層の膜を形成しても被処
理物4の位置にかかわらずほぼ均一に薄膜を形成するこ
とができることがわかる。また、選択板8をあらかじめ
被処理物4の表面に付着させたいターゲットla、lb
部分に回転移動させるようにしているので、他のターゲ
ットla、lbの影響を受けずに所定の順序でターゲッ
トla。
1bの材料の薄膜を形成することができる。
なお、上記ターゲット1は、1つあるいは3つ以上配設
してもよいし、各ターゲットla、lbの材料を別材料
にしてもあるいは同一材料にしてもよい。
〔発明の効果〕
以上述べたように本発明に係るスパッタリング装置は、
被処理物とターゲットとの間に上記シャッタおよび選択
板を同軸状であってそれぞれ独立して回転自在に取付け
、選択板の孔部を上記ターゲットに対応する位置に回転
移動させた後、上記シャッタを一定の方向に回転させて
上記シャッタおよび選択板の各孔部が一致した場合にス
パッタリング材料を被処理物に付着させるように構成さ
れ、シャッタの回転方向を一定にしているので、常にシ
ャッタがターゲットの一側から開き同一側から閉じるよ
うに動作し、したがって、被処理物の位置に対するスパ
ッタ時間がほぼ一定となり、均一な薄膜形成を行なうこ
とができる。また、選択板をあらかじめ被処理物の表面
に付着させたいターゲット材料部分に回転移動させるよ
うにしているので、他のターゲット材料の影響を受けず
に所定の順序でターゲット材料の薄膜を形成することが
できる等の効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例を示す縦断面図、第2図は第1
図のシャッタ部分の平面図、第3図は本発明による被処
理物の膜厚分布を示す線図、第4図は従来のシャッタ構
造を示す平面図、第5図は従来のスパッタリング装置に
よる被処理物の膜厚分布を示す線図である。 1・・・ターゲット、2・・・シャッタ、3・・・真空
容器、4・・・被処理物、5・・・支持板、6,10・
・・駆動モータ、8・・・選択板、9・・・円形孔。 出願人代理人  佐  藤  −雄 易 1 図 高2図 ノhす5処裡物イイI シトfL5りL理物rn、; 乃5 し

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 真空容器の内部に、被処理物およびターゲットを互いに
    対向するように配設し、上記被処理物とターゲットとの
    間に、放電により飛散するターゲット材料を遮断するシ
    ャッタを配設してなるスパッタリング装置において、上
    記シャッタを円形状を有し一部にスパッタリング材料が
    通過する孔部を穿設した形状に形成するとともに、この
    シャッタとほぼ同形状を有し上記シャッタの上記ターゲ
    ット側に同軸状に位置する選択板を設け、上記シャッタ
    および選択板をそれぞれ独立して回転自在に取付け、上
    記選択板の孔部を上記ターゲットに対応する位置に回転
    移動させた後、上記シャッタを回転させて上記シャッタ
    および選択板の各孔部が一致した場合にスパッタリング
    材料を被処理物に付着させるようにしたことを特徴とす
    るスパッタリング装置。
JP11008887A 1987-05-06 1987-05-06 スパッタリング装置 Pending JPS63274766A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11008887A JPS63274766A (ja) 1987-05-06 1987-05-06 スパッタリング装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP11008887A JPS63274766A (ja) 1987-05-06 1987-05-06 スパッタリング装置

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JPS63274766A true JPS63274766A (ja) 1988-11-11

Family

ID=14526720

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11008887A Pending JPS63274766A (ja) 1987-05-06 1987-05-06 スパッタリング装置

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JP (1) JPS63274766A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5393398A (en) * 1991-06-19 1995-02-28 Sony Corporation Magnetron sputtering apparatus
WO1999055932A1 (en) * 1998-04-27 1999-11-04 Cvc Products, Inc. Apparatus and method for multi-target physical vapor deposition
KR101185709B1 (ko) 2009-02-16 2012-09-24 캐논 아네르바 가부시키가이샤 스퍼터링 장치, 이중 회전식 셔터 유닛, 및 스퍼터링 방법

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US5393398A (en) * 1991-06-19 1995-02-28 Sony Corporation Magnetron sputtering apparatus
WO1999055932A1 (en) * 1998-04-27 1999-11-04 Cvc Products, Inc. Apparatus and method for multi-target physical vapor deposition
KR101185709B1 (ko) 2009-02-16 2012-09-24 캐논 아네르바 가부시키가이샤 스퍼터링 장치, 이중 회전식 셔터 유닛, 및 스퍼터링 방법

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