JPS63274673A - 高熱伝導性セラミックス基板 - Google Patents

高熱伝導性セラミックス基板

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Publication number
JPS63274673A
JPS63274673A JP10834387A JP10834387A JPS63274673A JP S63274673 A JPS63274673 A JP S63274673A JP 10834387 A JP10834387 A JP 10834387A JP 10834387 A JP10834387 A JP 10834387A JP S63274673 A JPS63274673 A JP S63274673A
Authority
JP
Japan
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substrate
metal
ain
ceramics
aln
Prior art date
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Pending
Application number
JP10834387A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasuhiro Kurokawa
泰弘 黒川
Yuzo Shimada
嶋田 勇三
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP10834387A priority Critical patent/JPS63274673A/ja
Publication of JPS63274673A publication Critical patent/JPS63274673A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/03Use of materials for the substrate
    • H05K1/0306Inorganic insulating substrates, e.g. ceramic, glass
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/02Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding
    • H05K3/022Processes for manufacturing precursors of printed circuits, i.e. copper-clad substrates
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/38Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal

Landscapes

  • Laminated Bodies (AREA)
  • Ceramic Products (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は窒化アルミニウム(AIN)を主成分とした高
熱伝導性セラミックス基板に金属ニッケルを接合(メタ
ライズ)したヒートシンク、ハイブリッドIC基板、L
SIパッケージ等の半導体装用の高熱伝導性セラミック
ス基板に関する。
(従来の技術) AINは従来のセラミックス基板であるアルミナ(Al
2O2)の5〜10倍の高熱伝導性を示すため、高密度
実装用半導体基板材料として注目されている。そこで導
体形成のための金属化処理(メタライズ)技術が不可欠
である。しかしながら、AINは金属との濡れ性が悪い
ためにメタライズが困難であった。例えば、特開昭59
−40404のように、AIN基板に酸化物層を形成し
てメタライズするなどの改良は試みられているが、十分
な接合強度は得られなかった。
また、特開昭53−102310のようにSi、 Al
、 Mg、 Ca。
Fe等の金属酸化物層を介して、Mo、 Mn、 W等
を接合する方法が報告されているが、例えばMo−Mn
粉末を含むペーストを塗布、乾燥後に1300°C湿潤
H2雰囲気で加熱処理することが必要であった。
(本発明が解決しようとする問題点) このように湿潤(ウェット)H2雰囲気での高温加熱処
理のための電気炉は非常に高価であり、またH2ガス取
り扱いに伴う爆発の危険性もあり、生産コストが高くな
る原因でもあった。さらに、前記のメタライズ方法によ
る金属とAINセラミックスの接合界面には中間層とし
てアルミナ層やAI2Al203−8i02−系等の複
合酸化物層が形成されるため、発熱源である半導体素子
をメタライズ面上に実装した場合にはこのような中間層
は高熱伝導性を有する基板への効率良い熱伝導の妨げと
なる。さらに、Mo−Mn、 W−Mn法でメタライズ
した場合にはW、Mo導体にNiメッキして使用する必
要あるため、全工程が複雑であるといった問題もあった
(問題点を解決するための手段) 本発明者はこのような点に対処して鋭意研究を進めた結
果、AINを主成分としたセラミックス基板と金属ニッ
ケルとの間にチタンを主成分とした窒化物層を介在させ
ることによりAINセラミックス基板と金属ニッケルと
が強固に結合され、良好なメタライズが達成できること
を見出した。
(作用) 本発明の目的は、従来のMo−Mn法やW−Mn法のよ
うな危険性を伴う高温のウェブ)H2雰囲気の加熱処理
を必要とせず、生産コストの安いN2、Arガス、真空
雰囲気で加熱処理して得られるAINセラミックス基板
とNi金属がチタンを主成分とした窒化物層で強固に接
合されたAINセラミックス基板を提供することにある
。また本発明のAINセラミックス基板には従来のMo
−Mn法やW−Mn法のように接合界面にアルミナ層や
AI2Al203−8i02−系等のような熱伝導の阻
害となる中間酸化物層を含まず、熱伝導性の良いTiを
主成分とする窒化物層が形成されるため、熱放散に効果
的であるといった特徴もある。さらにW−Mn法やMo
−Mn法でのNiメッキの工程も不必要となり低コスト
化に極めて有効な長所もある。
次に本発明について詳細に説明する。
本発明はAINを主成分としたセラミックス基板と金属
ニッケルとが、Tiを主成分とする窒化物層を介在して
接合されていることを特徴とする高熱伝導性セラミック
ス基板である。Tiを主成分とする窒化物層はAINセ
ラミックスおよび金属Niの両者と反応し、両者を強固
に接合する作用を有する非常に重要なものである。
本発明でのAINを主成分とするセラミックス基板は好
ましくは純度が90%以上であり、焼結のために使用さ
れたアルカリ土類金属(Ca、 Ba、 Sr等)や希
土類金属(Y、 La、 Nd、 Gd、 Th、 H
o、 Ce等)のアルミネー) (Ca−AI−〇やY
−AI−0等)を含有しても良い。
本発明でのAINに接合する金属ニッケルとしてはニッ
ケル粉末にエチルセルロース、ブチルカルピトール等の
バインダーとトルエン、アセトン等の溶剤を加えペース
ト化して通常のスクリーン印刷法で塗布した後1000
〜1300°C真空、N2. Arガス中で加熱処理し
て得られる厚膜法、厚さ20〜50pmのニッケル箔の
熱圧着法、厚さ1〜5mmのブロック状Ni金属を接合
する方法、Niターゲットを使用したスパッタ法、Ni
蒸着源を使用した蒸着法、めっき法、等が利用可能であ
る。金属ニッケルの純度は95%以上、好ましくは98
%以上が望ましい。
本発明はAINセラミックスと金属ニッケルとの接合(
メタライズ)界面においてTiを主成分とする窒化物層
が両者と強固に結合してAINセラミックスと金属ニッ
ケルを直接接合させた高熱伝導性AINセラミックス基
板である。この場合の中間層であるTi主成分とする窒
化物層は窒化チタン(TiN)の粉末、ペースト、スパ
ッタ膜等のいずれの方法でも可能である。さらにチタン
(Ti)、水素化チタン(TiH2)、酸化チタン(T
i02)等のチタンを含む化合物の粉末やペースト等を
中間剤として窒素ガス雰囲気で加熱することによって得
られる。また窒化チタン等の層を前記した様な方法でA
INセラミックスとNi金属との間に中間層として別途
もうけなくても、AINセラミックス上に直接Tiを含
むNi金属層を形成した後、1000〜1300°Cで
真空、N2.Arガス中で加熱処理することによっても
AINセラミックスとNi金属の接合赤面においてTi
を主成分とする窒化物層が形成され、強固な接合が得ら
れる。
またこの場合、Tiを主成分とする窒化物層内にアルミ
ニウム(A1)やニッケル(Ni)が含まれる場合もあ
る。
本発明でのAINセラミックスとNi金属との接合界面
でのTiを主成分とする窒化物層はTiの含有量が75
〜90重景%が重量しく、チタンと窒素以外に10重量
%以下のアルミニウム(A1)やニッケル(Ni)等の
不純物が含まれていても可能である。
(実施例1) CaO−2A1203(Caとして0.2重量%)を含
むAINセラミックス基板上に純度99%のTiN粉末
(平均粒径lpm、 Ti含有量75%)ペーストを使
用したスクリーン印刷法により約10pm厚さの塗布層
を形成した。
この上に厚さ1100p、純度99%のNi金属箔をの
せ、Ikg/cm2の機械的圧力を接合面に加えた状態
で1200°C5N2ガス中で1時間加熱処理した。そ
の後この上にAg−Cuロー材を用いて2X1mmのコ
バール(コバルトと鉄を含むニッケル合金)板を900
°C110分間でロー付けして貼り合せ、その接合強度
を測定したところ、引張り強度として8〜12kg/m
m2と極めて高い値を示した。接合部で破断は全てセラ
ミックスで生じており、窒化チタン層がAINセラミッ
クスとNi金属箔の接合に有効に作用した。
(実施例2) CaO−A1203(Caとして0.1重量%)を含む
AINセラミックス基板上に純度の99%のTiNター
ゲット(Ti含有量76重量%)を用いスパッタ法にて
TiN層を10pm厚さに堆積した。この上に厚さ1m
mのNi金属ブロックをのせ、約2kg/cm2の機械
的圧力を接合面に加えた状態で1100°CArガス中
で30分間加熱処理した。その後、Ag−Cuロー材を
用いて2X2mmのコバール板を900°C110分間
でロー付けして貼り合せ、その接合強度を測定したとこ
ろ、引張り強度として6〜8kg/mm2と極めて高い
値を示した。接合部で破断は全てセラミックスで生じて
おり、スパッタ膜によるTiN層がAINセラミックス
基板とNi金属ブロックの接合に有効な作用した。
(実施例2) 3Y203−5AI203(Yとして2重量%)を含む
AIN−t=ニラミックス板上に純度の98%、平均粒
径2pmのNi粉末に平均粒径1pmのTi粉末を2重
量%加え、エチルセルロース、ブチルカルピトール、ア
セトンを添加したペーストをスクリーン印刷法により約
20pmの厚さで塗布し、乾燥後、1200°C1真空
雰囲気下で2時間加熱処理してAINセラミックス基板
上にNi金属をメタライズした。この上にAg−Cuロ
ー材を用いて2X1mmのコバール材を900°C15
分間でロー付けして貼り合せ、その接合強度を測定した
ところ、°引張り強度として7〜9kg/mm2と極め
て高い値を示した。またAINセラミックス基板とNi
金属層の接合界面を走査型電子顕微鏡(SEM)とX線
マイクロアナライザー(XMA)で分析したところ、厚
さ15pmのNi金属層が厚さ3pmのAIとNiを微
量含む窒化チタン層(中間層)を介在してAINセラミ
ックス基板に強固に結合していた。
(発明の効果) 本発明によればAl2O3基板の5〜10倍の高熱伝導
性を示すAINを主成分としたセラミックス基板と金属
ニッケルとがTiを主成分とする窒化物層を介在して強
固に接合された高熱伝導性セラミックス基板が得られる
。また本発明のAINセラミックス基板は従来のMo−
Mn法やW−Mn法のように危険性を伴う高温のウェブ
)H2雰囲気を必要とせず、生産性の良い真空、N2、
Mガス雰囲気で生産可能であるといった特長以外にも、
従来のMo−Mn法やW−Mn法での接合界面でのAl
2O3層やAI2Al203−8i02−系等のような
熱伝導の阻害となる中間酸化物を含まないため熱放散に
効果的であり、さらにNiメッキ工程も不必要となった
画期的な特長もある。この結果、熱伝導性、電気特性に
優れたAINセラミックス基板をヒートシンク、ハイブ
リッドIC基板、LSIパッケージ等の半導体装用の高
熱伝導性セラミックス基板として低コストで利用できる
ことが可能となった。特にTiを微量含むNiペースト
を使用した厚膜法、TiNのスパッタ技術を用いた薄膜
法、TiN粉末を接合界面もうけNi金属を接合する熱
圧着法では微細な導体回路の形成に有効である。
さらに本発明の高熱伝導性セラミックス基板は半導体装
用基板以外にも、AINセラミックスと金属Niとの強
固な接合を利用した自動車部品、ガムタービン部品、レ
ーザ部品等の各種の産業機器部品としての応用も可能で
あるのど、工業的に多くの利点を有する物である。
二′

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、窒化アルミニウムを主成分とするセラミックス基板
    と金属ニッケルとがチタンを主成分とする窒化物層によ
    って接合されていることを特徴とする高熱伝導性セラミ
    ックス基板。
JP10834387A 1987-04-30 1987-04-30 高熱伝導性セラミックス基板 Pending JPS63274673A (ja)

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JP10834387A JPS63274673A (ja) 1987-04-30 1987-04-30 高熱伝導性セラミックス基板

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02145333A (ja) * 1988-11-28 1990-06-04 Ngk Insulators Ltd 電気回路用基板およびその製造方法
EP0380306A2 (en) * 1989-01-24 1990-08-01 The Boc Group, Inc. Microwavable containers useful for controlled heating

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5841774A (ja) * 1981-09-07 1983-03-11 大同特殊鋼株式会社 セラミツクス−金属複合体の製造方法
JPS6077177A (ja) * 1983-09-30 1985-05-01 株式会社東芝 セラミツクス接合体
JPS60108376A (ja) * 1983-11-14 1985-06-13 株式会社東芝 窒化物セラミツクスと金属の接合体

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