JPS63272168A - 画像入力装置 - Google Patents

画像入力装置

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JPS63272168A
JPS63272168A JP62104702A JP10470287A JPS63272168A JP S63272168 A JPS63272168 A JP S63272168A JP 62104702 A JP62104702 A JP 62104702A JP 10470287 A JP10470287 A JP 10470287A JP S63272168 A JPS63272168 A JP S63272168A
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JP
Japan
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defect
scanning
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group
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JP62104702A
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English (en)
Inventor
Yuichi Sato
雄一 佐藤
Tokuichi Tsunekawa
恒川 十九一
Kazunobu Urushibara
漆原 一宣
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、被写体となる透過原稿を走査して映像信号
を得る画像入力装置に係り、特に被写体ニ付着したゴミ
や被写体に存在するキズ等による画像の欠陥を修正する
画像入力装置に関するものである。
〔従来の技術〕
従来、この種の装置では、例えば35mmフィルムに光
源から光を照射して得られる反射光または透過光を受光
し、受光した光量に応じた画像信号をホストコンピュー
タ等の画像処理部に出力する画像入力装置が数多く開発
されている。
このような装置において、被写体となるフィルム原稿を
光学系にセットする操作をユーザ側が行うため、何らか
のゴミが付着して入力画像の品位を損ねる場合があった
。このため、操作者はフィルム原稿の取り扱いに際して
は、細心、の注意を払いながらフィルム原稿を光学系に
セットしなければならず、非常に煩雑な操作となってし
まうとともに、上記のような煩雑な操作を行ってもフィ
ルム原稿上の細かいゴミまでを全て除去できず、入力画
像に影響を与えてしまっていた。
〔発明が解決しようとする問題点] そこで、人力されたフィルム原稿の画像データを一時バ
ッファリングして、所定の圧縮操作により画像データ中
のゴミデータを除去する提案も既になされているが、例
えば印刷原稿のように高精細な原稿の場合には、読み取
るフィルム原稿の画素数が膨大となるため、上記画像デ
ータの圧縮のために大容量の記憶媒体が必要となるばか
りか、この大容量の記憶媒体上でのデータ処理を行う複
雑な処理回路を必要とし、上記処理に相当の時間を要し
、画像人力効率および後段の画像処理効率を大幅に低下
させてしまう等の問題点があった。
この発明は、上記の問題点を解消するためになされたも
ので、被写体の全走査領域を複数の画素からなるグルー
プに分割して走査し、この走査によって得られる被写体
の画像欠陥情報にポインタ情報を付加して記憶させるこ
とにより、撮像手段から出力される各グループの画像情
報中の欠陥画素に対応する画像情報を少ないメモリ領域
で正確に修正できる画像入力装置を得ることを目的とす
る。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明に係る画像入力装置は、照明光学手段から被写
体に対して照射される光を所定のフィルタを介して受光
した際に、撮像手段から出力される画像データ中から被
写体上の欠陥画素を検出する欠陥検出手段と、被写体の
全走査領域に対して走査順に連続してグループ化される
複数画素の集まりに割り当てられるグループ番号とこの
グループ内における画素位置を表す局所アドレスを各走
査位置で発生するアドレス情報発生手段と、このアドレ
ス情報発生手段が発生する局所アドレスに基づいて欠陥
検出手段で検出する欠陥画素に対応する局所アドレスお
よびその欠陥数を欠陥発生順に関連したアドレスに従っ
て格納する欠陥アドレス情報記憶手段と、アドレス情報
発生手段が発生する各グループ番号の走査終了までに各
走査順に欠陥アドレス情報記憶手段に記憶された各グル
ープの欠陥総数に対応するポインタを各走査順に記憶す
る参照領域ポインタ記憶手段と、欠陥検出手段により検
出された欠陥画素に対応する局所アドレスを欠陥アドレ
ス情報記憶手段に格納するとともに、アドレス情報発生
手段が発生させた各グループ番号に対応する各グループ
内の欠陥総数を参照領域ポインタ記憶手段に格納する欠
陥情報符号化手段と、欠陥アドレス情報記憶手段に記憶
された各グループ内の欠陥画素に対応する局所アドレス
を参照領域ポインタ記憶手段に記憶されたポインタを参
照しながら撮像手段から出力される画像情報を各走査順
に修正する欠陥修正手段とを設けたものである。
〔作用〕
この発明においては、照明光学手段から被写体に対して
照射される光を所定のフィルタを介して受光した際に、
撮像手段から出力される画像データ中から被写体上の欠
陥画素を欠陥検出手段が検出すると、アドレス情報発生
手段が発生する局所アドレスに基づいて欠陥画素に対応
する局所アドレスおよびその欠陥数を欠陥発生順に関連
したアドレスに従って欠陥アドレス情報記憶手段に格納
する。このとき、アドレス情報発生手段が発生する各グ
ループ番号の走査終了までに各走査順に欠陥アドレス情
報記憶手段に記憶された各グループの欠陥総数に対応す
るポインタを各走査順に参照領域ポインタ記憶手段に欠
陥情報符号化手段が記憶させるとともに、欠陥検出手段
により検出された欠陥画素に対応する局所アドレスを欠
陥アドレス情報記憶手段に格納させる。欠陥修正手段は
、欠陥アドレス情報記憶手段に記憶された各グループ内
の欠陥画素に対応する局所アドレスを参照領域ポインタ
記憶手段に記憶されたポインタを参照しなから撮像手段
から出力される画像情報を各走査順に修正する。
〔実施例〕
第1図はこの発明の一実施例を示す画像入力装置に構成
を説明するブロック図であり、1は照明光学系で、光源
および色分解フィルタから構成され被写体に光を照射す
る。2は被写体副走査手段で、被写体保持部に保持され
る被写体を副走査方向に走査する。3は撮像光学系で、
照明光学系1で照明された被写体を撮像手段4に導く。
撮像手段4は撮像光学系3により導かれた被写体像を光
電変換するとともに、主走査して映像信号O3を出力す
る、例えばラインセンサで構成されている。5は走査駆
動回路で、撮像手段4および被写体副走査手段2に対し
て駆動信号を送出して主走査・副走査を行わせる。6は
走査制御回路で、走査駆動回路5を介して主走査・副走
査を制御する。7はA/D変換回路で、撮像手段4より
出力されるアナログの映像信号O3をディジタルデータ
に変換し画像情報Iを修正回路12および欠陥検出回路
8に出力する。欠陥検出回路8はA/D変換回路7から
出力される画像情報Iから被写体上のゴミ、キズ等の欠
陥を検出する。欠陥検出回路8はこの発明の欠陥検出手
段を兼ねており、撮像手段4から出力され、後段のA/
D変換回路7によりディジタル化された画像信号O3中
から被写体上に付着したゴミまたは損傷に基づく欠陥画
素を検出する。9は符号化回路で、欠陥検出回路8で検
出された欠陥信号りを圧縮して符号化する。符号化回路
9は、この発明の欠陥情報符号化手段を構成し、欠陥検
出回路8により検出された欠陥画素に対応する局所アド
レスを欠陥アドレス情報記憶手段に格納するとともに、
アドレス情報発生手段が発生させた各グループ番号に対
応する各グループ内の欠陥数を参照領域ポインタ記憶手
段に格納させる。10はこの発明の参照領域ポインタ記
憶手段と欠陥アドレス情報記憶手段を兼ねるメモリ回路
で、符号化回路9で符号化された欠陥情報を記憶する。
11は復号化回路で、メモリ回路10に符号化されて記
憶された欠陥情報を復号化した復号欠陥情報(欠陥信号
)Eを修正回路12に出力する。修正回路12はこの発
明の欠陥修正手段を兼ねており、復号化回路11で復号
された復号欠陥情報Eに基づいて上記撮像手段4により
撮像され、さらに後段のA/D変換回路7によりディジ
タル信号に変換された画像情報Iを修正し、修正データ
Mを出力する。13は画像入力装置制御回路で、画像入
力装置を構成する上記1〜12を総括的にプログラム制
御する。14は操作手段で、画像入力装置制御回路13
に対して種々の画像入力指令を入力する。15はこの発
明のアドレス情報発生手段を構成するドレス発生回路で
、走査制御回路6の信号に基づいてアドレス情報A(グ
ループ番号2届所アドレス)を発生し、発生したアドレ
ス情報Aを符号化回路9.復号化回路11にそれぞれ出
力する。
以下、各図に基づいて第1図の動作について説明する。
第2図(a)、(b)はこの発明による被写体の走査動
作を説明する模式図である。
同図(a)において、21は全走査領域で、22a〜2
2dはグループで、グループ22aに画素23が対応し
ている状態を示しである。
同図(b)において、24.25はグループで、画素数
の異なるグループ24.25が全走査領域21に混在す
る状態を示しである。
第3図はこの発明によるグループ番号と局所アドレスの
相対関係を説明する模式図であり、第2図(a)と同一
のものには同じ符号を付してある。
この図において、26はグループで、グループ番号がr
GAJの場合を示し、グループ内アドレス(局所アドレ
ス)SA(0〜255)で指示される画素27が対応し
ている状態を示しである。
なお、Xは主走査方向を示し、Yは副走査方向を示す。
第4図は第1図に示した符号化回路9の構成を説明する
ブロック図であり、9aは例えばROM、RAMで構成
される符号変換回路で、アドレス発生回路15から供給
されるアドレス情報Aからグループ内アドレスSAを発
生させ、欠陥情報WPATとしてメモリ回路10に出力
する。なお、グループを構成する画素数を2nとすれば
、符号変換回路9aはアドレス情報Aの下位nビットを
使用れば容易に構成できる。DPATは欠陥情報である
第5図は第1図に示した復号化回路11の構成を説明す
るブロック図であり、第1図と同一のものには同じ符号
を付しである。
この図において、11aは例えばTI社製の5N74L
S85等で構成される比較回路で、色分解入力モード時
において、メモリ回路1oから読み出される欠陥グルー
プアドレス情報RPATと現在のグループ内アドレスS
Aとを比較し、両者が一致した場合に一致信号REQT
をrHI GH」状態に設定する。11bはアンドゲー
トで、比較回路11aの出力、すなわち一致信号REQ
Tと現在のグループまでの欠陥アドレスの総数データR
CNTDNと現在位置までの欠陥アドレスの総数データ
CCNTDNの関係が、下記第(1)式を満足する場合
にrHI GHJとなる総数データ信号11cとが「1
」の場合に、復号欠陥情報Eを修正回路12に出力する
CCNTDN≦RCNTDN   ・・・・・・(1)
第6図は第1図に示したメモリ回路10の構成を説明す
るブロック図であり、第1図と同一のものには同じ符号
を付しである。
この図において、31はカウンタで、欠陥画素の数をカ
ウントするとともに、RAM32に対して欠陥画素のア
ドレス信号を出力する。すなわち、符号化欠陥情報を格
納するRAM32のアドレスカウンタとして機能する。
33はアンドゲートで、パルス信号Φ1と欠陥存在信号
DPATとのアンドをとり、RAM32.39のボート
W/Rに書込み/読出し信号を出力する。34はアンド
ゲートで、クロック信号Φ3と欠陥存在信号DPATと
のアンドをとり、オアゲート36を介してカウンタ31
にクロック入力に所定のパルス信号を出力する。35は
アンドゲートで、クロック信号ΦS、比較回路(ディジ
タルコンパレータ)11aの出力となる一致信号REQ
T、比較回路38の比較出力38aとのアンドをとり、
オアゲート36を介してカウンタ31にクロック入力に
所定のパルス信号を出力する。DCRESは欠陥ブロッ
クカウンタリセット信号で、欠陥検出モードおよび各色
分解画像人力モードの始めに「L」となり、カウンタ3
1をリセットする。37はパスバッファで、欠陥アドレ
スの総数データRCNTDNと現在位置までの欠陥アド
レスの総数データCCNTDNとを切り換える。ディジ
タルコンパレータ(比較回路)38は欠陥アドレスの総
数データRCNTDNと現在位置までの欠陥アドレスの
総数データCCNTDNとを比較し、上記第(1)式を
満足する場合に、一致信号REQTを復号化回路11の
アンドゲート11bに出力する。
RAM39はこの発明の参照領域ポインタ記憶手段に相
当し、グループアドレスGAに対応する欠陥情報格納領
域を参照するためのポインタを第8図に示すように格納
する。
第7図は第6図に示した各信号のタイミングチャートで
ある。
第8図は第6図に示したRAM39に格納させる欠陥情
報の格納動作を説明するための図であり、41はポイン
タレジスタで、グループアドレスGAに対応する欠陥情
報を格納する領域を参照するためのポインタを格納する
。42はポインタで、グループアドレスGA(GA=1
)に対応するポインタ#1(内容はグループアドレスG
Aの最大アドレスRCNTDN (欠陥アドレスの総数
データRCNTDN)が格納されている。43は符号化
欠陥情報格納メモリ領域で、第6図に示したRAM39
に構築される。44はサブエリア内の欠陥情報格納領域
で、グループアドレスGAに属する画素に対する欠陥情
報が走査順に格納される。
欠陥情報を符号化欠陥情報格納メモリ領域43に格納す
る順序は、走査する順に割り当てられたグループ番号順
にグループ領域(例えば83)の区切りとその領域内に
存在する欠陥画素のグループ内アドレスを走査順に格納
する。すなわち、ポインタレジスタ41の各領域に対し
て走査順に格納されたポインタ42の内容、すなわちグ
ループアドレスGAの最大アドレスRCNTDNを参照
することにより、符号化欠陥情報格納メモリ領域43の
サブエリア内の欠陥情報格納領域44をアクセス可能と
なり、データ圧縮が行える。
なお、データ圧縮を行う場合、グループ内の複数画素を
集めてブロックとして扱い各ブロックに対して欠陥が存
在するかどうかを検出し、欠陥の存在するブロックにつ
いてのみグループ内のブロック番号とこのブロック内の
欠陥パターンを関連付けて符号化し、欠陥情報として欠
陥情報格納領域44に格納してもよい。
次にこの発明による欠陥画素情報データ圧縮制御動作に
ついて説明する。
まず、被写体原稿を保持手段を含む被写体副走査手段2
にセットし、操作手段14から走査開始の指令を出す。
これを受けて、画像入力装置制御回路13は走査制御回
路6に対して被写体副走査手段2を副走査開始位置へ移
動させる指令を送出するとともに、照明光学系1の色分
解フィルタをゴミ・キズ等の欠陥検出用フィルタに切り
換える指令を出す。この実施例では赤外光でゴミ・キズ
の検出を行い、赤・緑・青で各色に対する色分解された
画像情報の入力を順次行う。ただし、色分解画像の入力
は同時でも、この発明の主旨には反しないし、白黒画像
でもよい。
照明光学系1で選択された照明光で被写体副走査手段2
上に保持された被写体を照明し、この被。
写体の像を撮像光学系3により撮像手段4に導く。撮像
手段4はラインセンサ(エリアセンサまたはホトマルセ
ンサまたはSPL等を使用するものでもよい)を構成し
て光電変換を行うとともに、走査駆動回路5により主走
査されて映像信号OSを出力する。
一方、被写体副走査手段2は副走査を行うための、例え
ばステージとこのステージを駆動するためのパルスモー
タからなる駆動手段を含み、走査駆動回路5により副走
査が開始される。走査制御回路6は、画像入力装置制御
回路13からの制御命令に従って走査に必要なタイミン
グパルスを発生し、走査駆動回路5を制御する。撮像手
段4から順次出力される映像信号O3は、A/D変換回
路7で順次A/D変換されてディジタル信号となり画像
情報Iとして出力される。走査開始後、まず画像入力装
置制御回路13は、欠陥検出モードに入り、副走査位置
を副走査開始位置に移動させるとともに、照明光学系1
のフィルタを赤外(カラーフィルムは赤外光でゴミ、キ
ズが検出できる)にし、欠陥検出回路8で欠陥検出を行
い欠陥信号りを出力するとともに、アドレス発生回路1
5では走査制御回路6の走査タイミング信号により走査
位置に対するアドレス情報Aを発生し、符号化回路9で
は欠陥信号りとアドレス情報Aに基づいて欠陥の符号化
を行う。欠陥が存在する時には、欠陥存在信号DPAT
を「真」にするとともに、欠陥画素のグループ内アドレ
スSAを欠陥情報WPATとして出力し、メモリ回路1
0に書き込む。このとき、欠陥の存在する画素は全ブロ
ックの数に対して非常に少ないので、欠陥の存在する画
素のグループ番号(グループアドレスGA)とそのグル
ープ内の局所アドレろを符号化してメモリ回路10に格
納することによりデータ圧縮ができる。
すなわち、欠陥検出モード時においては、第6図に示し
たように、欠陥修正モード信号MR(LOW状態)とな
り、RAM32はデータ出力禁止状態となっており、ア
ンドゲート33から出力される書込みパルスによりRA
M32のデータバス上の欠陥情報WPATが順次RAM
32に書き込まれる。
ところで、アンドゲート33は欠陥存在信号DPATが
HIGH状態、すなわちその画素に欠陥が存在するとき
にゲートが開き、正のパルス信号φ1を通過させ、RA
M32に欠陥情報WPATを書き込ませる。
一方、欠陥検出モード時は欠陥存在信号DPATがHI
GH状態となり、クロック信号φSのタイミングでカウ
ントアツプされる。
画像入力装置制御回路13は欠陥検出モードで全走査領
域21(第2図(a)、(b)参照)を走査して欠陥検
出を行い、欠陥の位置情報を上記のように符号化してメ
モリ回路1oに格納した後、第1の色分解画像入力モー
ドでは、走、査制御回路6に対し被写体副走査手段2を
副走査開始位置へ戻すように指令するとともに、照明光
学系1に対し第1の色に対する色分解フィルタを選択す
るように指令する。副走査位置が副走査開始位置へ戻り
、第1の色分解フィルタが選択されると、走査駆動回路
5に指令して本走査を開始し、第1の色分解画像入力を
行う。
第1の色分解画像人力モード終了後、第2.第3の色分
解画像の入力モードにBるが、同様に色分解フィルタが
選択されるとともに、同様に走査が行われ画像人力が終
了する。
第1〜第3の色分解画像入力モードにおいて、符号化回
路9は出力禁止状態となる。
一方、復号化回路11は能動状態となり、メモリ回路1
0は復号化回路11によりデータバスが占有される。走
査制御回路6から出力される走査信号に基づいてアドレ
ス発生回路15から発生されるアドレス情報Aに従って
、復号化回路11はメモリ回路10に格納されている符
号化された欠陥情報を復号化し、撮像されてA/D変換
されたある画素の画像情報Iに対し、その画素が欠陥画
素かどうかを示す復号化された欠陥信号Eを出力する。
修正回路12では、画像情報Iに対し復号欠陥情報Eに
従って適当なアルゴリズムで欠陥修正を行い最終的な修
正データを出力する。
すなわち、色分解画像入力モード時には、現在走査中の
グループ内アドレスSAが欠陥の存在するグループ内ア
ドレスSAと合致したことを示す欠陥画素合致信号とな
る一致信号REQTがHIGH状態であって、しかも現
在の欠陥アドレスの総数データCCNTDNが当該グル
ープの欠陥カウントの最大アドレスRCNTDN以下で
あるとき、正のパルスであるクロック信号φSをアンド
ゲート33.オアゲート36を介してカウンタ31のク
ロック入力ボートに入力する。このため、カウンタ31
がカウントアツプされる。このとき、欠陥修正モード信
号MRはHIGH状態となり、RAM32のデータバス
上にはRAM32に構築される符号化欠陥情報格納メモ
リ領域43(第゛8図参照)に記憶されている欠陥グル
ープアドレス情報RPATがのる。
(発明の効果) 以上説明したように、この発明は照明光学手段から被写
体に対して照射される光を所定のフィルタを介して受光
した際に、撮像手段から出力される画像データ中から被
写体上の欠陥画素を検出する欠陥検出手段と、被写体の
全走査領域に対して走査順に連続してグループ化される
複数画素の集まりに割り当てられるグループ番号とこの
グループ内における画素位置を表す局所アドレスを各走
査位置で発生するアドレス情報発生手段と、このアドレ
ス情報発生手段が発生する局所アドレスに基づいて欠陥
検出手段で検出する欠陥画素に対応する局所アドレスお
よびその欠陥数を欠陥発生順に関連したアドレスに従っ
て格納する欠陥アドレス情報記憶手段と、アドレス情報
発生手段が発生する各グループ番号の走査終了までに各
走査順に欠陥アドレス情報記憶手段に記憶された各グル
ープの欠陥総数に対応するポインタを各走査順に記憶す
る参照領域ポインタ記憶手段と、欠陥検出手段により検
出された欠陥画素に対応する局所アドレスを欠陥アドレ
ス情報記憶手段に格納するとともに、アドレス情報発生
手段が発生させた各グループ番号に対応する各グループ
内の欠陥総数を参照領域ボーインタ記憶手段に格納する
欠陥情報符号化手段と、欠陥アドレス情報記憶手段に記
憶された各グループ内の欠陥画素に対応する局所アドレ
スを参照領域ポインタ記憶手段に記憶されたポインタを
参照しなから撮像手段から出力される画像情報を各走査
順に修正する欠陥修正手段とを設けたので、フィルム原
稿走査全画素中のゴミ、損傷が発生し°Cいる画素位置
を圧縮して記憶させることができるので、非常に少ない
メモリ容量で済むとともに、フィルム原稿読取り時にフ
ィルム原稿走査全画素中のゴミ、損傷が発生している画
素位置を精度よく復号化でき、対応画素を原稿読み取り
時に並行してデータ修正できる等の優れた利点を有する
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す画像入力装置に構成
を説明するブロック図、第2図(a)。 (b)はこの発明による被写体の走査動作を説明する模
式図、第3図はこの発明によるグループ番号と局所アド
レスの相対関係を説明する模式図、第4図は第1図に示
した符号化回路の構成を説明するブロック図、第5図は
第1図に示した復号化回路の構成を説明するブロック図
、第6図は第1図に示したメモリ回路の構成を説明する
ブロック図、第7図は第6図に示した各信号のタイミン
グチャート、第8図は第6図に示したRAMに格納させ
る欠陥情報の格納動作を説明するための図である。 図中、1は照明光学系、2は被写体副走査手段、3は撮
像光学系、4は撮像手段、5は走査駆動回路、6は走査
制御回路、7はA/D変換回路、8は欠陥検出回路、9
は符号化回路、10はメモリ回路、11は復号化回路、
12は修正回路、41はポインタレジスタ、42はポイ
ンタ、43は符号化欠陥情報格納メモリ領域、44は欠
陥情報格納領域である。 第1図 第2図 第3図 第4図 11c       llb 第6図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 照明光学手段から照射される光を被写体に走査して得ら
    れる透過光または反射光を受光して電気信号に変換する
    撮像手段を有する画像入力装置において、前記照明光学
    手段から前記被写体に対して照射される光を所定のフィ
    ルタを介して受光した際に、前記撮像手段から出力され
    る画像データ中から前記被写体上の欠陥画素を検出する
    欠陥検出手段と、前記被写体の全走査領域に対して走査
    順に連続してグループ化される複数画素の集まりに割り
    当てられるグループ番号とこのグループ内における画素
    位置を表す局所アドレスを各走査位置で発生するアドレ
    ス情報発生手段と、このアドレス情報発生手段が発生す
    る局所アドレスに基づいて前記欠陥検出手段で検出する
    欠陥画素に対応する局所アドレスおよびその欠陥数を欠
    陥発生順に関連したアドレスに従って格納する欠陥アド
    レス情報記憶手段と、前記アドレス情報発生手段が発生
    する各グループ番号の走査終了までに各走査順に前記欠
    陥アドレス情報記憶手段に記憶された各グループの欠陥
    総数に対応するポインタを各走査順に記憶する参照領域
    ポインタ記憶手段と、前記欠陥検出手段により検出され
    た欠陥画素に対応する局所アドレスを前記欠陥アドレス
    情報記憶手段に格納するとともに、前記アドレス情報発
    生手段が発生させた各グループ番号に対応する各グルー
    プ内の前記欠陥総数を参照領域ポインタ記憶手段に格納
    する欠陥情報符号化手段と、前記欠陥アドレス情報記憶
    手段に記憶された各グループ内の欠陥画素に対応する局
    所アドレスを前記参照領域ポインタ記憶手段に記憶され
    た前記ポインタを参照しながら前記撮像手段から出力さ
    れる画像情報を各走査順に修正する欠陥修正手段とを具
    備したことを特徴とする画像入力手段。
JP62104702A 1987-04-30 1987-04-30 画像入力装置 Pending JPS63272168A (ja)

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JP62104702A Pending JPS63272168A (ja) 1987-04-30 1987-04-30 画像入力装置

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JP (1) JPS63272168A (ja)

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