JPS63269025A - フ−リエ変換赤外分光光度計 - Google Patents
フ−リエ変換赤外分光光度計Info
- Publication number
- JPS63269025A JPS63269025A JP10569287A JP10569287A JPS63269025A JP S63269025 A JPS63269025 A JP S63269025A JP 10569287 A JP10569287 A JP 10569287A JP 10569287 A JP10569287 A JP 10569287A JP S63269025 A JPS63269025 A JP S63269025A
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- detectors
- beams
- split
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- Pending
Links
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- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 6
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Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明はダブルビーム式のフーリエ変換分光光度計に関
するものである。
するものである。
（従来技術）
従来この種のフーリエ変換分光光度計においては、試料
セル及び対照セルを通過する光束が単色光ではないため
に、両セルの透過光の比からは各波長毎の透過率が得ら
れず、従ってインターフェログラムのフーリエ変換によ
る全波長域のスペクトルの測定が完了する毎に、あるい
は少なくともインターフェログラムの測定が完了する毎
に光束を切り換えるようになっていた。このために光束
切り換えの時間間隔が長くなり、光路中に存在する水蒸
気や炭酸ガスの濃度の時間的変化がスペクトル上に現れ
て測定精度を低下させるという問題があった。
セル及び対照セルを通過する光束が単色光ではないため
に、両セルの透過光の比からは各波長毎の透過率が得ら
れず、従ってインターフェログラムのフーリエ変換によ
る全波長域のスペクトルの測定が完了する毎に、あるい
は少なくともインターフェログラムの測定が完了する毎
に光束を切り換えるようになっていた。このために光束
切り換えの時間間隔が長くなり、光路中に存在する水蒸
気や炭酸ガスの濃度の時間的変化がスペクトル上に現れ
て測定精度を低下させるという問題があった。
（発明が解決しようとする問題点）
本発明は上記の点に鑑み、試料セルと対照セルの測定に
時間遅れがなく、従って光路中の水蒸気や炭酸ガスの影
響を受は難いこの種のフーリエ変換赤外分光光度計を提
供することを目的とするものである。
時間遅れがなく、従って光路中の水蒸気や炭酸ガスの影
響を受は難いこの種のフーリエ変換赤外分光光度計を提
供することを目的とするものである。
（問題点を解決するための手段）
上記の目的を達成するために、本発明によるフーリエ変
換分光光度計は、光路差を連続的に変化させるようにし
た干渉計３と、干渉計から出た光束を同時に２方向に分
割して試料セル１２と対照セル１３に透過させる分割鏡
９と、各透過光を検出する２個の検出器１６．１７と、
各検出器の出力をフーリエ変換する処理回路２９とを備
えた点に特徴を有するものである。
換分光光度計は、光路差を連続的に変化させるようにし
た干渉計３と、干渉計から出た光束を同時に２方向に分
割して試料セル１２と対照セル１３に透過させる分割鏡
９と、各透過光を検出する２個の検出器１６．１７と、
各検出器の出力をフーリエ変換する処理回路２９とを備
えた点に特徴を有するものである。
（作用）
上記の構成によれば、２個の検出器の入出力が連続して
いるので、赤外検出器のレスポンス時間が長くても問題
がなく、しかも試料信号及び対照信号は電気信号に変換
された後に高速で切り換えられるので両光束の同時測定
が実現でき、大気中の水蒸気や炭酸ガスによる影響を精
度よく補償することができる。
いるので、赤外検出器のレスポンス時間が長くても問題
がなく、しかも試料信号及び対照信号は電気信号に変換
された後に高速で切り換えられるので両光束の同時測定
が実現でき、大気中の水蒸気や炭酸ガスによる影響を精
度よく補償することができる。
（実施例）
第１図は本発明の一実施例を示したもので、白色光源ｌ
から出た光はコリメータ鏡２で平行光束となって干渉計
３に入射する。干渉計３には、例えばハーフミラ−４と
固定鏡５と移動鏡６とで構成される４５度形マイケルソ
ン干渉計が用いられており、ハーフミラ−４で２分割さ
れた光は固定鏡４及び移動鏡５でそれぞれ反射したのち
、再びハーフミラ−４の所で重なり合って互いに干渉す
る。この干渉光は平面鏡７．８を通って分割鏡９で２分
され、それぞれ凹面鏡１０．１１により集光されて試料
セル■２と対照セル１３を透過したのち、集光鏡（軸外
楕円面鏡）１４．１５によって検出器ＡＩ６及び検出器
ＢＩ７に入射する。
から出た光はコリメータ鏡２で平行光束となって干渉計
３に入射する。干渉計３には、例えばハーフミラ−４と
固定鏡５と移動鏡６とで構成される４５度形マイケルソ
ン干渉計が用いられており、ハーフミラ−４で２分割さ
れた光は固定鏡４及び移動鏡５でそれぞれ反射したのち
、再びハーフミラ−４の所で重なり合って互いに干渉す
る。この干渉光は平面鏡７．８を通って分割鏡９で２分
され、それぞれ凹面鏡１０．１１により集光されて試料
セル■２と対照セル１３を透過したのち、集光鏡（軸外
楕円面鏡）１４．１５によって検出器ＡＩ６及び検出器
ＢＩ７に入射する。
分割鏡９は同時に２方向に光を分割するものであり、本
実施例では第２図に示すように、鏡板に多数の透孔１８
を設けたものを用いているが、例えばＫＢｒ結晶にＧｅ
を蒸着して形成したハーフミラ−を用いることもできる
。
実施例では第２図に示すように、鏡板に多数の透孔１８
を設けたものを用いているが、例えばＫＢｒ結晶にＧｅ
を蒸着して形成したハーフミラ−を用いることもできる
。
２つの検出器Ａ、Ｂで得られた信号は、第３図に示すよ
う？こ、それぞれプリアンプ１９，２０゜オートゲイン
アンプ２１．２２によって増幅されたのち、アナログ切
換スイッチ２３を介してサンプルホールドアンプ２４に
入力され、その出力がＡ／Ｄコンバータ２５でディジタ
ル信号に変換されたのち、それぞれメモリ２６に仕分け
して記憶される。
う？こ、それぞれプリアンプ１９，２０゜オートゲイン
アンプ２１．２２によって増幅されたのち、アナログ切
換スイッチ２３を介してサンプルホールドアンプ２４に
入力され、その出力がＡ／Ｄコンバータ２５でディジタ
ル信号に変換されたのち、それぞれメモリ２６に仕分け
して記憶される。
アナログ切換スイッチ２３、サンプルホールドアンプ２
４、Ａ／Ｄコンバータ２５などを交互に切り換えるため
のタイミング信号としては、第１図に示すように、Ｈｅ
−Ｎ ｅレーザ２７からのレーザビームを干渉計３の
辺部に通して検出器２８で検出し、その検出波形を整形
して得られるＨｅ−Ｎ ｅ干渉フリンジ信号が用いられ
る。
４、Ａ／Ｄコンバータ２５などを交互に切り換えるため
のタイミング信号としては、第１図に示すように、Ｈｅ
−Ｎ ｅレーザ２７からのレーザビームを干渉計３の
辺部に通して検出器２８で検出し、その検出波形を整形
して得られるＨｅ−Ｎ ｅ干渉フリンジ信号が用いられ
る。
第４図は第３図の回路の動作波形図を示したもので、（
ａＸｂ）はそれぞれ検出器Ａ、Ｈの出力波形、（ａ’Ｘ
ｂ’）は上記波形がサンプルホールドされた状態を示し
ている。Ｈｅ−Ｎａ干渉フリンジ信号（Ｃ）のエツジで
トリガされるワンシジットの出力（ｅ）によりＡ／Ｄ変
換が開始され、Ａ／Ｄ変換の終了信号（ｇ）によりアナ
ログ切換スイッチの切り換え（ｈ）が行われる。
ａＸｂ）はそれぞれ検出器Ａ、Ｈの出力波形、（ａ’Ｘ
ｂ’）は上記波形がサンプルホールドされた状態を示し
ている。Ｈｅ−Ｎａ干渉フリンジ信号（Ｃ）のエツジで
トリガされるワンシジットの出力（ｅ）によりＡ／Ｄ変
換が開始され、Ａ／Ｄ変換の終了信号（ｇ）によりアナ
ログ切換スイッチの切り換え（ｈ）が行われる。
こうしてメモリ２６内にそれぞれ記憶された試料光束及
び対照光束のインターフェログラムは、処ｆＭ回路２９
に交互に読み出されてフーリエ変換され、透過率スペク
トルとして再びメモリ２６に記憶される。なおＳ／Ｎ比
を向上するために複数回の測定値の積算が行われるが、
この積算はスペクトルデータの段階で実行してもよく、
またインターフェログラムの段階で積算したのちフーリ
エ変換するようにしてもよい。あるいはまた、サンプル
ホールドアンプとＡ／Ｄコンバータとを各２個ずつ用い
て、メモリへのデータの取り込みだけを試料側と対照側
とに交互に行うようにしてもよい。
び対照光束のインターフェログラムは、処ｆＭ回路２９
に交互に読み出されてフーリエ変換され、透過率スペク
トルとして再びメモリ２６に記憶される。なおＳ／Ｎ比
を向上するために複数回の測定値の積算が行われるが、
この積算はスペクトルデータの段階で実行してもよく、
またインターフェログラムの段階で積算したのちフーリ
エ変換するようにしてもよい。あるいはまた、サンプル
ホールドアンプとＡ／Ｄコンバータとを各２個ずつ用い
て、メモリへのデータの取り込みだけを試料側と対照側
とに交互に行うようにしてもよい。
（発明の効果）
上記のように本発明によるフーリエ変換分光光度計は、
光路差を連続的に変化させるようにした干渉光を同時に
２方向に分割して試料セルと対照セルに透過させ、各透
過光を検出する２個の検出器の出力を交互に切り換えて
１個のＡ／Ｄ変換回路に入力させるアナログ切換スイッ
チと、Ａ／Ｄ変換出力をフーリエ変換する処理回路とを
備えたものであり、各検出器の入出力が連続しているの
で、赤外検出器のレスポンス時間が長くても両光束信号
の高速切り換えによる同時測定が可能であり、それによ
って大気中の水蒸気や炭酸ガスによる影響を精度よく補
償することができるという効果がある。なお上記実施例
に示したように、２つの検出器の出力を切り換えてデー
タ処理するようにすれば、サンプルホールド以降の回路
が１系統で済むので低コストで構成できるという利点が
ある。
光路差を連続的に変化させるようにした干渉光を同時に
２方向に分割して試料セルと対照セルに透過させ、各透
過光を検出する２個の検出器の出力を交互に切り換えて
１個のＡ／Ｄ変換回路に入力させるアナログ切換スイッ
チと、Ａ／Ｄ変換出力をフーリエ変換する処理回路とを
備えたものであり、各検出器の入出力が連続しているの
で、赤外検出器のレスポンス時間が長くても両光束信号
の高速切り換えによる同時測定が可能であり、それによ
って大気中の水蒸気や炭酸ガスによる影響を精度よく補
償することができるという効果がある。なお上記実施例
に示したように、２つの検出器の出力を切り換えてデー
タ処理するようにすれば、サンプルホールド以降の回路
が１系統で済むので低コストで構成できるという利点が
ある。
第１図は本発明光度計の一実施例を示す光学系統図、第
２図は同上に用いる分割鏡の正面図、第３図は同上の測
光部のブロック回路図、第４図は同上の動作を示す波形
図である。 １・・・光源、２・・・コリメータ、３・・・干渉計、
４・・・ハーフミラ−１５・・・固定鏡、６・・・移動
鏡、７．８・・・平面鏡、９・・・分割鏡、１０．１１
・・・凹面鏡、１２・・・試料セル、１３・・・対照セ
ル、１４．１５・・・集光鏡、１６．１７・・・検出器
。
２図は同上に用いる分割鏡の正面図、第３図は同上の測
光部のブロック回路図、第４図は同上の動作を示す波形
図である。 １・・・光源、２・・・コリメータ、３・・・干渉計、
４・・・ハーフミラ−１５・・・固定鏡、６・・・移動
鏡、７．８・・・平面鏡、９・・・分割鏡、１０．１１
・・・凹面鏡、１２・・・試料セル、１３・・・対照セ
ル、１４．１５・・・集光鏡、１６．１７・・・検出器
。
Claims (1)
- （１）光路差を連続的に変化させるようにした干渉計と
、干渉計から出た光束を同時に２方向に分割して試料セ
ルと対照セルに透過させる分割鏡と、各透過光を検出す
る２個の検出器と、各検出器の出力を フーリエ変換する処理回路とを備えたこ とを特徴とするフーリエ変換赤外分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10569287A JPS63269025A (ja) | 1987-04-27 | 1987-04-27 | フ−リエ変換赤外分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10569287A JPS63269025A (ja) | 1987-04-27 | 1987-04-27 | フ−リエ変換赤外分光光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63269025A true JPS63269025A (ja) | 1988-11-07 |
Family
ID=14414448
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10569287A Pending JPS63269025A (ja) | 1987-04-27 | 1987-04-27 | フ−リエ変換赤外分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63269025A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5821142A (ja) * | 1981-07-30 | 1983-02-07 | Shimadzu Corp | フ−リエ変換赤外分光光度計 |
| JPS61148328A (ja) * | 1984-12-21 | 1986-07-07 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
-
1987
- 1987-04-27 JP JP10569287A patent/JPS63269025A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5821142A (ja) * | 1981-07-30 | 1983-02-07 | Shimadzu Corp | フ−リエ変換赤外分光光度計 |
| JPS61148328A (ja) * | 1984-12-21 | 1986-07-07 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
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