JPH01143925A - マイケルソン干渉計 - Google Patents
マイケルソン干渉計Info
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- JPH01143925A JPH01143925A JP30254287A JP30254287A JPH01143925A JP H01143925 A JPH01143925 A JP H01143925A JP 30254287 A JP30254287 A JP 30254287A JP 30254287 A JP30254287 A JP 30254287A JP H01143925 A JPH01143925 A JP H01143925A
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- Japan
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- luminous flux
- light beam
- pieces
- photodetector
- light
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Links
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- 230000004907 flux Effects 0.000 abstract description 32
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 2
- 229910000661 Mercury cadmium telluride Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
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- 230000008092 positive effect Effects 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明はフーリエ分光器や膜厚測定器等に用いられるマ
イケルソン干渉計に関する。
イケルソン干渉計に関する。
[従来の技術]
従来のマイケルソン干渉計では、たとえば第5図に示す
如く、スリット6からの発散光をコリメータレンズ8に
より平行光束L+にし、この平行光束(入射光束)Ll
をビームスプリッタ10により透過光束L t (s
o%)と反射光束L2′(sO%)とに分割し、これら
透過光束り2、反射光束LP’をそれぞれコーナキュー
ブリフレクタI2.1゛2°により反対方向へ反射させ
て逆進光束り1、L3′にし、これらをビームスプリッ
タIOへ戻して合波させ、コーナキューブリフレクタ1
2°と反対側へ進む干渉光束L4を凸レンズ13により
光検出器I4の受光面へ集光させてその光強度を光電変
換させ、このコーナキューブリフレクタI2を直線駆動
袋!!15により透過光束Lt、逆進光束L3の方向へ
往復移動させて該分割位置から談合波位置までの両光束
の光路差を変化させるように構成されている。
如く、スリット6からの発散光をコリメータレンズ8に
より平行光束L+にし、この平行光束(入射光束)Ll
をビームスプリッタ10により透過光束L t (s
o%)と反射光束L2′(sO%)とに分割し、これら
透過光束り2、反射光束LP’をそれぞれコーナキュー
ブリフレクタI2.1゛2°により反対方向へ反射させ
て逆進光束り1、L3′にし、これらをビームスプリッ
タIOへ戻して合波させ、コーナキューブリフレクタ1
2°と反対側へ進む干渉光束L4を凸レンズ13により
光検出器I4の受光面へ集光させてその光強度を光電変
換させ、このコーナキューブリフレクタI2を直線駆動
袋!!15により透過光束Lt、逆進光束L3の方向へ
往復移動させて該分割位置から談合波位置までの両光束
の光路差を変化させるように構成されている。
白色光を試料に透過させ、これを平行光束にしたものを
入射光束L1とした場合には、光検出器14からインタ
ーブエログラムを得ることができる。
入射光束L1とした場合には、光検出器14からインタ
ーブエログラムを得ることができる。
[発明が解決しようとする問題点]
しかし、干渉光束L4を1つの光検出器I4で検出して
いるため、その出力が光検出314の光電変換特性によ
り大きく制限される。
いるため、その出力が光検出314の光電変換特性によ
り大きく制限される。
例えば、光検出器14がPdS光伝導セルの場合には、
その検知波長領域はI〜3μ繭程度であり、HgCdT
e光伝導セルのそれは2〜10μ欄程度である。した
がって、測定しようとする波長領域が両範囲にわたる場
合には、光検出器14を他のものと取り換えなければな
らず、操作が煩雑である。また、光検出器I4は一般に
感度が高いとダイナミックレンジが低く、逆に感度が低
いとダイナミックレンジが広いが、干渉光束L4の強度
により、より高い感度またはより広いダイナミックレン
ジが要求される場合があり、このような場合にも光検出
器!4を他のものと取り換えなければならない。
その検知波長領域はI〜3μ繭程度であり、HgCdT
e光伝導セルのそれは2〜10μ欄程度である。した
がって、測定しようとする波長領域が両範囲にわたる場
合には、光検出器14を他のものと取り換えなければな
らず、操作が煩雑である。また、光検出器I4は一般に
感度が高いとダイナミックレンジが低く、逆に感度が低
いとダイナミックレンジが広いが、干渉光束L4の強度
により、より高い感度またはより広いダイナミックレン
ジが要求される場合があり、このような場合にも光検出
器!4を他のものと取り換えなければならない。
さらに、干渉光束の50%は入射光束側へ行くので、入
射光束の半分しか利用されず、効率が悪い。
射光束の半分しか利用されず、効率が悪い。
本発明の目的は、上記問題点に鑑み、2個の光検出器で
干渉光強度を同時に検出することができ、しかも、入射
光束の利用効率が高いマイケルソン干渉計を提供するこ
とにある。
干渉光強度を同時に検出することができ、しかも、入射
光束の利用効率が高いマイケルソン干渉計を提供するこ
とにある。
[問題点を解決するための手段]
上記問題点を解決するために、本発明に係るマイケルソ
ン干渉計では、入射光束L2を透過光束L2と反射光束
L2′とに分割するビームスプリッタと、該透過光束L
2を反射させて、該透過光束L!に平行かつ重ならない
光束L3にし、該ビームスプリッタへ戻す第1逆進光学
手段と、該反射光束L2′を反射させて、該反射光束L
m’に平行かつ重ならない光束Ls”にし、該ビームス
プリッタへ戻して該光束L3に合波させる第2逆進光学
手段と、第1逆進光学手段と第2逆進光学手段の少なく
とも一方を移動させて、該分割位置から該合波位置まで
の両光束の光路差を変化させる移動手段とを備え、該合
波された干渉光束のうち、該入射光束し、に垂直方向へ
進む干渉光束L4を第1光検出器へ導き、該干渉光束し
4に垂直方向へ進む干渉光束し、゛を第2光検出器へ導
くようにしたことを特徴としている。
ン干渉計では、入射光束L2を透過光束L2と反射光束
L2′とに分割するビームスプリッタと、該透過光束L
2を反射させて、該透過光束L!に平行かつ重ならない
光束L3にし、該ビームスプリッタへ戻す第1逆進光学
手段と、該反射光束L2′を反射させて、該反射光束L
m’に平行かつ重ならない光束Ls”にし、該ビームス
プリッタへ戻して該光束L3に合波させる第2逆進光学
手段と、第1逆進光学手段と第2逆進光学手段の少なく
とも一方を移動させて、該分割位置から該合波位置まで
の両光束の光路差を変化させる移動手段とを備え、該合
波された干渉光束のうち、該入射光束し、に垂直方向へ
進む干渉光束L4を第1光検出器へ導き、該干渉光束し
4に垂直方向へ進む干渉光束し、゛を第2光検出器へ導
くようにしたことを特徴としている。
[実施例]
以下、図面に基づいて本発明の詳細な説明する。
(1)第1実施例
第1図は第1実施例構成図であり、マイケルソン干渉計
が示されている。なお、分かり易くするために光束幅は
実際よりも狭く記載されている(第2〜4図についても
同様)。
が示されている。なお、分かり易くするために光束幅は
実際よりも狭く記載されている(第2〜4図についても
同様)。
10はビームスプリブタであり、第5図に示すものより
大きく、入射光束を透過光束と反射光束とに分割するも
の、12.12’はコーナキューブリフレクタであり、
入射光束を反射させてこの入射光束に平行かつ反対方向
へ進ませるもの、15は直線駆動装置であり、コーナキ
ューブリフレクタI2をその入反射方向へ往復移動させ
るもの、■3.13°は凸レンズであり入射平行光束を
集光させるもの、14.14′は光検出器であり、受け
た光をその光強度に応じた電気信号に変換するものであ
る。
大きく、入射光束を透過光束と反射光束とに分割するも
の、12.12’はコーナキューブリフレクタであり、
入射光束を反射させてこの入射光束に平行かつ反対方向
へ進ませるもの、15は直線駆動装置であり、コーナキ
ューブリフレクタI2をその入反射方向へ往復移動させ
るもの、■3.13°は凸レンズであり入射平行光束を
集光させるもの、14.14′は光検出器であり、受け
た光をその光強度に応じた電気信号に変換するものであ
る。
次に、上記の如く構成された第1実施例の作用を説明す
る。
る。
入射光束L1はビームスプリッタ10により透過光束り
、と反射光束L2′とに分割され、透過光束り2、反射
光束L2′はそれぞれコーナキューブリフレクタI2.
12’により反射されて光束Lt。
、と反射光束L2′とに分割され、透過光束り2、反射
光束L2′はそれぞれコーナキューブリフレクタI2.
12’により反射されて光束Lt。
L2′に平行かつ光束り2、L、°に重ならない逆進光
束L3、L3′にされ、ビームスプリブタIOへ戻され
て両者が合波干渉し、一方の干渉光束L4が凸レンズ1
3により光検出器!4の受光部に集光照射され、他方の
干渉光束L4°が凸レンズ13°により光検出器14°
の受光面に集光照射される。
束L3、L3′にされ、ビームスプリブタIOへ戻され
て両者が合波干渉し、一方の干渉光束L4が凸レンズ1
3により光検出器!4の受光部に集光照射され、他方の
干渉光束L4°が凸レンズ13°により光検出器14°
の受光面に集光照射される。
したがって、入射光束り、の全てが光検出器14.14
°に照射される。
°に照射される。
直線駆動装置15によりコーナキューブリフレクタ!2
が透過光束り2、逆進光束り、の方向へ往復移動される
と、コーナキューブリフレクタ12により分割された位
置から再びビームスプリブタ10へ戻って両光束が合波
する位置までの両光束の光路差が変化し、干渉光束L4
、L4°の光強度が時間的に変化する。
が透過光束り2、逆進光束り、の方向へ往復移動される
と、コーナキューブリフレクタ12により分割された位
置から再びビームスプリブタ10へ戻って両光束が合波
する位置までの両光束の光路差が変化し、干渉光束L4
、L4°の光強度が時間的に変化する。
したがって、白色光を試料に通し、これを平行光束にし
たもの入射光束L1とすれば、前記光路差を横軸、光検
出器14または14°の出力値を縦軸としたインターフ
ェログラムが得られる。
たもの入射光束L1とすれば、前記光路差を横軸、光検
出器14または14°の出力値を縦軸としたインターフ
ェログラムが得られる。
光検出器14としてPdS光伝導セルを用い、光検出3
14°としてHgCdT e光伝導セルを用いた場合に
は、光検出器I4.14°を他の検出器と取り換えるこ
となく、波長領域2〜10μmにわたってインターフェ
ログラムを得ることができ、操作が極めて簡単になる。
14°としてHgCdT e光伝導セルを用いた場合に
は、光検出器I4.14°を他の検出器と取り換えるこ
となく、波長領域2〜10μmにわたってインターフェ
ログラムを得ることができ、操作が極めて簡単になる。
また、光検出器14として高感度かつ狭ダイナミツクレ
ンジのものを用い、光検出器I4°として低感度かつ広
ダイナミツクレンジのものを用し1れば、干渉光束L4
、L4°の振幅に応じて光検出器!4または光検出器1
4’を電気的に切り換えて用いることにより、簡単な操
作で適切なインターフェログラムを得ることができる。
ンジのものを用い、光検出器I4°として低感度かつ広
ダイナミツクレンジのものを用し1れば、干渉光束L4
、L4°の振幅に応じて光検出器!4または光検出器1
4’を電気的に切り換えて用いることにより、簡単な操
作で適切なインターフェログラムを得ることができる。
(2)第2実施例
第2図は第2実施例構成図であり、マイケルソン干渉計
が示されている。
が示されている。
このマイケルソン干渉計では、入射光束LIは試料を通
らない白色光であり、凸レンズ13と検出器14との間
に試料15が配設されている。干渉光束し4は試料15
を通って光検出器14へ導かれる。
らない白色光であり、凸レンズ13と検出器14との間
に試料15が配設されている。干渉光束し4は試料15
を通って光検出器14へ導かれる。
したがって、光源光の7ラクチユエーシヨン及びコーナ
キューブリフレクタ12の機械的振動に基づき、干渉光
束が時間的に変動した場合、干渉光束L4とL4′が同
一大きさ及び同相で変化するので、光検出器I4の出力
のベースラインから光検出器14°の出力のベースライ
ンを差し引くことによりこれを除去できる。
キューブリフレクタ12の機械的振動に基づき、干渉光
束が時間的に変動した場合、干渉光束L4とL4′が同
一大きさ及び同相で変化するので、光検出器I4の出力
のベースラインから光検出器14°の出力のベースライ
ンを差し引くことによりこれを除去できる。
(3)第3実施例
第3図は第3実施例構成図であり、マイケルソン干渉計
が示されている。
が示されている。
このマイケルソン干渉計では、光検出器14の出力値と
光検出器14°の出力値との差を増幅する差動増幅器1
6が設けられている。干渉光束L4とL4゛との位相差
は180度であるので、信号の交流成分の2倍値を増幅
したものが差動増幅器16から出力される。
光検出器14°の出力値との差を増幅する差動増幅器1
6が設けられている。干渉光束L4とL4゛との位相差
は180度であるので、信号の交流成分の2倍値を増幅
したものが差動増幅器16から出力される。
一方、幾何学的対称性から、一般に、光検出器14及び
+4’へ入射される迷光は同程度の強度であり、その同
位相成分は相殺されるので、差動増幅器16の出力には
ほとんど現れない。したがって、光検出器14又は14
°の出力値を単独で用いる場合よりもSN比が向上する
。
+4’へ入射される迷光は同程度の強度であり、その同
位相成分は相殺されるので、差動増幅器16の出力には
ほとんど現れない。したがって、光検出器14又は14
°の出力値を単独で用いる場合よりもSN比が向上する
。
(4)第4実施例
第4図は第4実施例構成図であり、より詳細なマイケル
ソン干渉計が示されている。
ソン干渉計が示されている。
このマイケルソン干渉計では、第1図に示すコーナキュ
ーブリフレクタ12.12°の代わりに、コーナキュー
ブリフレクタ+2A、12A’が互いに反対方向へ向け
られてスライダー18上に固設されている。このスライ
ダー18は直線駆動装置15Aによりコーナキューブリ
フレクタ12Δ、12A°の入反射方向(矢印X方向)
へ往復移動される。
ーブリフレクタ12.12°の代わりに、コーナキュー
ブリフレクタ+2A、12A’が互いに反対方向へ向け
られてスライダー18上に固設されている。このスライ
ダー18は直線駆動装置15Aによりコーナキューブリ
フレクタ12Δ、12A°の入反射方向(矢印X方向)
へ往復移動される。
したがって、光路差は第1図に示す場合の2倍、すなわ
ちスライダー18の移動距離の4倍になり、分光スペク
トル分解能が第1図に示すものよりも2倍になる。
ちスライダー18の移動距離の4倍になり、分光スペク
トル分解能が第1図に示すものよりも2倍になる。
20.20’は平面鏡であり、それぞれ透過光束しい反
射光束L2′をコーナキューブリフレクタ12A、12
A’側へ折り曲げて光束り、1、LtI’にし、コーナ
キューブリフレクタ12A、+2A’によりこれらに平
行かつ重ならないように反射された逆進光束L3いL3
1’をビームスプリブタlO側へ戻して逆進光束L3、
し3′にする。逆進光束L2とり、′との干渉光のうち
、一方の干渉光束り、は凹面鏡22により光検出器I4
の受光面へ集光され、他方の干渉光束し4゛は平面鏡2
4により反射された後、凹面鏡22°により光検出器1
4°の受光面へ集光される。
射光束L2′をコーナキューブリフレクタ12A、12
A’側へ折り曲げて光束り、1、LtI’にし、コーナ
キューブリフレクタ12A、+2A’によりこれらに平
行かつ重ならないように反射された逆進光束L3いL3
1’をビームスプリブタlO側へ戻して逆進光束L3、
し3′にする。逆進光束L2とり、′との干渉光のうち
、一方の干渉光束り、は凹面鏡22により光検出器I4
の受光面へ集光され、他方の干渉光束し4゛は平面鏡2
4により反射された後、凹面鏡22°により光検出器1
4°の受光面へ集光される。
この実施例では、逆進光学手段はコーナキューブリフレ
クタ12A、12A’と平面m20.20゛により構成
されている。
クタ12A、12A’と平面m20.20゛により構成
されている。
スライダー18の移動距離は、単光色の光を放射するレ
ーザ26、平面!a28.30、ビームスプリッタ!O
1平面鏡32.32′、コーナキューブプリズム34.
34゛、平面鏡36.36°、により構成されるモニタ
光学系により検出される。
ーザ26、平面!a28.30、ビームスプリッタ!O
1平面鏡32.32′、コーナキューブプリズム34.
34゛、平面鏡36.36°、により構成されるモニタ
光学系により検出される。
コーナキューブプリズム34.34°はコーナキューブ
リフレクタ12AS 12A’と同様に互いに反対方向
へ向けられてスライダー18上に固設されている。
リフレクタ12AS 12A’と同様に互いに反対方向
へ向けられてスライダー18上に固設されている。
したがって、レーザ26から放射された光束は平面m2
8.30により反射されて入射光束LIに平行にされ、
ビームスプリッタ!0へ入射されて光束り1、L2′に
平行な光束に分割され、平面鏡32.32°により反射
されて光束Lf11Lオ、。
8.30により反射されて入射光束LIに平行にされ、
ビームスプリッタ!0へ入射されて光束り1、L2′に
平行な光束に分割され、平面鏡32.32°により反射
されて光束Lf11Lオ、。
に平行な光束にされ、コーナキューブプリズム34.3
4°により反射されて入射方向に平行にされ、平面鏡3
6.36′により反射されて行光路と同一光路を逆向き
に通ってビームスプリッタ10へ戻され、両光束の干渉
光束が平面鏡38により反射されて光検出器40の受光
面へ照射される。
4°により反射されて入射方向に平行にされ、平面鏡3
6.36′により反射されて行光路と同一光路を逆向き
に通ってビームスプリッタ10へ戻され、両光束の干渉
光束が平面鏡38により反射されて光検出器40の受光
面へ照射される。
この2光束の光路差はスライダー18の移動距離の4倍
になるので、レーザ26から放射される光の波長の1/
8の距離スライダー18が移動する毎に、光検出器40
から1個のパルスが出力され、このパルスのタイミング
により光検出器I4、I4°の出力値がデジタル変換さ
れて図示しないマイクロコンビニーりに読み込まれる。
になるので、レーザ26から放射される光の波長の1/
8の距離スライダー18が移動する毎に、光検出器40
から1個のパルスが出力され、このパルスのタイミング
により光検出器I4、I4°の出力値がデジタル変換さ
れて図示しないマイクロコンビニーりに読み込まれる。
(5)拡張
なお、コーナキューブリフレクタ+2.12”、12A
、12A’の代わりに、コーナキューブプリズム、2枚
の平面鏡、または直角プリズム、ケスクープリズム等を
用いてもよいことは勿論である。
、12A’の代わりに、コーナキューブプリズム、2枚
の平面鏡、または直角プリズム、ケスクープリズム等を
用いてもよいことは勿論である。
[発明の効果]
本発明に係るマイケルソン干渉計では、入射光束L2を
ビームスプリッタにより透過光束L2と反射光束Lx’
に分割し、それぞれ第1逆進光学“手段及び第2逆進光
学手段により反射させてこれらに平行かつ重ならない逆
進光束り5、L3′にしており、2つの干渉光束り、、
L、°を得ることができ、各々を異なる光検出4に導く
こ、とができるので、従来のように測定中に光検出器を
特性の異なる他の光検出器と取り換える必要がないとい
う優れた効果がある。
ビームスプリッタにより透過光束L2と反射光束Lx’
に分割し、それぞれ第1逆進光学“手段及び第2逆進光
学手段により反射させてこれらに平行かつ重ならない逆
進光束り5、L3′にしており、2つの干渉光束り、、
L、°を得ることができ、各々を異なる光検出4に導く
こ、とができるので、従来のように測定中に光検出器を
特性の異なる他の光検出器と取り換える必要がないとい
う優れた効果がある。
そのうえ、入射光束の利用効率はほぼ100%になると
いう優れた効果もある。
いう優れた効果もある。
さらに、2つの干渉光束の位相差が180度であるので
、両検出器の出力信号の差をとれば、信号強度が2倍に
なり、かつ、SN比が向上するという優れた効果もある
。
、両検出器の出力信号の差をとれば、信号強度が2倍に
なり、かつ、SN比が向上するという優れた効果もある
。
第1図乃至第4図は本発明の実施例に係り、第1図〜4
図はそれぞれ第1〜第4実施例を示すマイケルソン干渉
計の模式図である。 第6図は従来例のマイケルソン干渉計の模式図である。 IO=ビームスプリッタ 12、I2°、+2A、!2A’:コーナキュープリフ
レクタ 14.14゛、40:光検出器 !5.15A:直線駆動装置 16:差動増幅器 18ニスライダー 20.20’、24.28.30.32.32’、34
.34″、36.36°、38:平面鏡 22.22゛:凹面鏡 26:レーザ
図はそれぞれ第1〜第4実施例を示すマイケルソン干渉
計の模式図である。 第6図は従来例のマイケルソン干渉計の模式図である。 IO=ビームスプリッタ 12、I2°、+2A、!2A’:コーナキュープリフ
レクタ 14.14゛、40:光検出器 !5.15A:直線駆動装置 16:差動増幅器 18ニスライダー 20.20’、24.28.30.32.32’、34
.34″、36.36°、38:平面鏡 22.22゛:凹面鏡 26:レーザ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 入射光束L_1を透過光束L_2と反射光束L_2′と
に分割するビームスプリッタ(10)と、 該透過光束L_2を反射させて、該透過光束L_2に平
行かつ重ならない光束L_3にし、該ビームスプリッタ
(10)へ戻す第1逆進光学手段(12)と、 該反射光束L_2′を反射させて、該反射光束L_2′
に平行かつ重ならない光束L_3′にし、該ビームスプ
リッタ(10)へ戻して該光束L_3に合波させる第2
逆進光学手段(12′)と、 第1逆進光学手段(12)と第2逆進光学手段(12′
)の少なくとも一方を移動させて、該分割位置から該合
波位置までの両光束の光路差を変化させる移動手段とを
備え、 該合波された干渉光束のうち、該入射光束L_1に垂直
方向へ進む干渉光束L_4を第1光検出器(14)へ導
き、該干渉光束L_4に垂直方向へ進む干渉光束L_4
′を第2光検出器(14′)へ導くようにしたことを特
徴とするマイケルソン干渉計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30254287A JPH01143925A (ja) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | マイケルソン干渉計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30254287A JPH01143925A (ja) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | マイケルソン干渉計 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01143925A true JPH01143925A (ja) | 1989-06-06 |
Family
ID=17910224
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP30254287A Pending JPH01143925A (ja) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | マイケルソン干渉計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01143925A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03210438A (ja) * | 1990-01-16 | 1991-09-13 | Anritsu Corp | 光波長測定装置 |
JPH041422U (ja) * | 1990-04-18 | 1992-01-08 | ||
US5867271A (en) * | 1993-11-17 | 1999-02-02 | Advantest Corporation | Michelson interferometer including a non-polarizing beam splitter |
JP2003028608A (ja) * | 2001-07-13 | 2003-01-29 | Advantest Corp | 干渉計 |
JP2011145232A (ja) * | 2010-01-16 | 2011-07-28 | Canon Inc | 計測装置及び露光装置 |
-
1987
- 1987-11-30 JP JP30254287A patent/JPH01143925A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03210438A (ja) * | 1990-01-16 | 1991-09-13 | Anritsu Corp | 光波長測定装置 |
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WO2004079313A1 (ja) * | 1993-11-17 | 2004-09-16 | Isao Tokumoto | マイケルソン干渉計 |
JP2003028608A (ja) * | 2001-07-13 | 2003-01-29 | Advantest Corp | 干渉計 |
JP2011145232A (ja) * | 2010-01-16 | 2011-07-28 | Canon Inc | 計測装置及び露光装置 |
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