JPS5821142A - フ−リエ変換赤外分光光度計 - Google Patents
フ−リエ変換赤外分光光度計Info
- Publication number
- JPS5821142A JPS5821142A JP11991981A JP11991981A JPS5821142A JP S5821142 A JPS5821142 A JP S5821142A JP 11991981 A JP11991981 A JP 11991981A JP 11991981 A JP11991981 A JP 11991981A JP S5821142 A JPS5821142 A JP S5821142A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- interferometer
- light
- sample
- photodetector
- light source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000005033 Fourier transform infrared spectroscopy Methods 0.000 title description 3
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims 2
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 8
- 230000004907 flux Effects 0.000 abstract description 7
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract 1
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 description 3
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 238000004566 IR spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/45—Interferometric spectrometry
- G01J3/453—Interferometric spectrometry by correlation of the amplitudes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はフーリエ変換型赤外分光光度計に関する。フー
リエ変換型赤外分光光度計では干渉計と光検出器との間
に置かれた試料或は光検出器自身が発する熱輻射が測定
しようとしている波長範囲に含まれ、この熱輻射線が干
渉計で反射されて光検出器に入射するため測定誤差が生
ずる。本発明はフーリー変換型赤外分光光度計における
上述した誤差を除去することを目的としている。
リエ変換型赤外分光光度計では干渉計と光検出器との間
に置かれた試料或は光検出器自身が発する熱輻射が測定
しようとしている波長範囲に含まれ、この熱輻射線が干
渉計で反射されて光検出器に入射するため測定誤差が生
ずる。本発明はフーリー変換型赤外分光光度計における
上述した誤差を除去することを目的としている。
第１図はマイケルソン干渉計を用いたフーリエ変換型分
光光度計の構成を示す。Ｓｏは光源、Ｄは光検出器、Ｓ
Ｃは試料室である。ＢＳは半透明鏡、Ｍｆは固定鏡、Ｍ
ｍは移動鏡で、これら３者によりマイケルソン干渉計が
構成されている。光源Ｓｏから出た光はコリメータＭ１
で平行光束と々つで半透明鏡ＢＳに入射せしめられる。
光光度計の構成を示す。Ｓｏは光源、Ｄは光検出器、Ｓ
Ｃは試料室である。ＢＳは半透明鏡、Ｍｆは固定鏡、Ｍ
ｍは移動鏡で、これら３者によりマイケルソン干渉計が
構成されている。光源Ｓｏから出た光はコリメータＭ１
で平行光束と々つで半透明鏡ＢＳに入射せしめられる。
干渉計から出た光束は対照側光束Ｒと試料側光束Ｓに分
割されて試料室ＳＣを通り検出器りに入射せしめられる
。光源Ｓｏから出だ光は干渉計を透過して検出器りに入
射する。また検出器り或は試料から光が発せられたとす
ると、その光は干渉計を透過Ｍｍを動かすと検出器り或
は試料室ＳＣに置かれた試料から発せられる光で干渉計
で反射された光も光源ＳＯからの光で干渉計を透過した
光も干渉計の移動鏡によってｉ調されて検出器りに入射
する。赤外分光の場合試料或は光検出器から発せられる
熱線が測定波長域に含まれるだめ上述した干渉計によっ
て生ずる反射光が測定誤差となる。本発明はこの誤差を
除くだめ光源ＳＯと干渉計との間で光を遮断し、干渉計
の移動鏡を動かして、試料或は光検出器自身から発せら
れる光の干渉計による反射光を測光して記憶しておき、
通常の方法で測定された測定結果（インターフェログラ
ム）からこの記憶された試料或は光検出器の発光の干渉
計からの反射光のデータを引算するようにしだ。
割されて試料室ＳＣを通り検出器りに入射せしめられる
。光源Ｓｏから出だ光は干渉計を透過して検出器りに入
射する。また検出器り或は試料から光が発せられたとす
ると、その光は干渉計を透過Ｍｍを動かすと検出器り或
は試料室ＳＣに置かれた試料から発せられる光で干渉計
で反射された光も光源ＳＯからの光で干渉計を透過した
光も干渉計の移動鏡によってｉ調されて検出器りに入射
する。赤外分光の場合試料或は光検出器から発せられる
熱線が測定波長域に含まれるだめ上述した干渉計によっ
て生ずる反射光が測定誤差となる。本発明はこの誤差を
除くだめ光源ＳＯと干渉計との間で光を遮断し、干渉計
の移動鏡を動かして、試料或は光検出器自身から発せら
れる光の干渉計による反射光を測光して記憶しておき、
通常の方法で測定された測定結果（インターフェログラ
ム）からこの記憶された試料或は光検出器の発光の干渉
計からの反射光のデータを引算するようにしだ。
以下実施例によって本発明を説明する。
第２図は本発明の一実施例を示す。この実施例でも干渉
計としてマイケルソン干渉計を用いており、第１図の構
成の各部と同じ部分には同じ符号がつけてあり、−々の
説明は省略する。コリメータＭ１とマイケルソン干渉計
との間に出入自在にシャッターｓｈを設けた所に本発明
の特徴２一つがある。このシャッターは半透明鏡ＢＥＩ
即ち干渉計に向った側の面が無反射にしである。この構
成で試料の吸収を測定する場合の操作を述べると、試料
室ＳＣの試料側光束Ｓ中に試料をセットし、対照側光束
Ｒ中に対照セルをセットしてシャッタｓｈをコリメータ
Ｍｌと干渉計との間に進出させ、移動鏡Ｍｍを動かして
走査を行う。試料側光束と対照側光束は交互に光検出器
りに入射するから、これを別々に測定してメモリに記憶
させておく。こ＼に記憶されたデータは移動鏡Ｍｍの移
動量Ｘの関数で、夫々試料の発光のインターフェログラ
ムＩｂｇｓ（ｘ）及び対照セルの発光のインターフェロ
グラムよりｇｒ（ｘ’）と記す。次にシャッターＳｈを
後退させ光源ＳＯの光を干渉計に入射させて通常の通り
の測定を行う。このときの試料光束の測光データを工５
（ｘ）、対照光束の測光データをＩｒ（ｘ）とすると、
丁８（Ｘ）−よりｇｓ（ｘ）をフーリエ変換したものは
試料及び試料セルを含めたものの吸収スペクトルであシ
、工ｒ（Ｘ）−よりｇｒ（ｘ）をフーリエ変換したもの
は対照セルだけの吸収スペクトルであるから、両者の比
によって試料そのものの吸収スペクトルが求まる。即ち
よりｇｓ（ｘ）、よりｇ ｒ（ｘ） が試料等から発
せられる光による誤差成分である。
計としてマイケルソン干渉計を用いており、第１図の構
成の各部と同じ部分には同じ符号がつけてあり、−々の
説明は省略する。コリメータＭ１とマイケルソン干渉計
との間に出入自在にシャッターｓｈを設けた所に本発明
の特徴２一つがある。このシャッターは半透明鏡ＢＥＩ
即ち干渉計に向った側の面が無反射にしである。この構
成で試料の吸収を測定する場合の操作を述べると、試料
室ＳＣの試料側光束Ｓ中に試料をセットし、対照側光束
Ｒ中に対照セルをセットしてシャッタｓｈをコリメータ
Ｍｌと干渉計との間に進出させ、移動鏡Ｍｍを動かして
走査を行う。試料側光束と対照側光束は交互に光検出器
りに入射するから、これを別々に測定してメモリに記憶
させておく。こ＼に記憶されたデータは移動鏡Ｍｍの移
動量Ｘの関数で、夫々試料の発光のインターフェログラ
ムＩｂｇｓ（ｘ）及び対照セルの発光のインターフェロ
グラムよりｇｒ（ｘ’）と記す。次にシャッターＳｈを
後退させ光源ＳＯの光を干渉計に入射させて通常の通り
の測定を行う。このときの試料光束の測光データを工５
（ｘ）、対照光束の測光データをＩｒ（ｘ）とすると、
丁８（Ｘ）−よりｇｓ（ｘ）をフーリエ変換したものは
試料及び試料セルを含めたものの吸収スペクトルであシ
、工ｒ（Ｘ）−よりｇｒ（ｘ）をフーリエ変換したもの
は対照セルだけの吸収スペクトルであるから、両者の比
によって試料そのものの吸収スペクトルが求まる。即ち
よりｇｓ（ｘ）、よりｇ ｒ（ｘ） が試料等から発
せられる光による誤差成分である。
上述演算の基礎をもう少し詳細に述べる。第１図で半透
明鏡ＢＳの中心から固定鏡Ｍｆまでの距離をｌとし、半
透明鏡の中心から移動鏡Ｍ ｍ ４での距離ｚｌがｌと
等しい位置を移動鏡の位置の、原点として移動量Ｘを測
定する。光源ＳＯから発せられる光のうち波数νの光に
ついて考え干渉計を透過した光及び反射した光の強さＩ
Ｔ及び工ＲはＸの変化に伴い Ｉ Ｔ （ｘ）−ｐ工（ν）（１＋ｃｏｅ ２ｙｔνｘ
） ｄｖＩ Ｒ（ｘ）−２工（＋／） （１−ＣＯ３
２πＬ／ Ｘ ） ｄ νで表わせる。こ＼で工（ν）
は光源ＳＯの分光特性である。これと同じ関係が光検出
器り或は試料等から発せられる光についても成立つ。今
試料の発光スペクトルをＳ（ν）とし、試料と試料セル
の合さったものの吸収スペクトルをＡｓ（ν）とすると
試料から出て干渉計に入射し干渉計によって反射される
光の強さは波数νの光について 王、ｂｇ１９（Ｘ）−百Ａｓ（ν）Ｓ（ν）（ｌ−ｃｏ
ｓ２πνｘ）ｄν・・・・・・（１）であり、光検出器
りの測光出力は上式をνについ同様にして対照光束の測
光出力■ｒ（Ｘ）は、対照セルで表わせる。こ＼でＡｓ
（ν）は試料と対照セルの両方の吸収スペクトル、Ａｒ
（ν）は試料セルだけの吸収スペクトルで、試料だけの
吸収スペクトルをＡｏ（ν）とするとＡｓ（ν）−ＡＯ
（ν）Ａｒ（ν）である。
明鏡ＢＳの中心から固定鏡Ｍｆまでの距離をｌとし、半
透明鏡の中心から移動鏡Ｍ ｍ ４での距離ｚｌがｌと
等しい位置を移動鏡の位置の、原点として移動量Ｘを測
定する。光源ＳＯから発せられる光のうち波数νの光に
ついて考え干渉計を透過した光及び反射した光の強さＩ
Ｔ及び工ＲはＸの変化に伴い Ｉ Ｔ （ｘ）−ｐ工（ν）（１＋ｃｏｅ ２ｙｔνｘ
） ｄｖＩ Ｒ（ｘ）−２工（＋／） （１−ＣＯ３
２πＬ／ Ｘ ） ｄ νで表わせる。こ＼で工（ν）
は光源ＳＯの分光特性である。これと同じ関係が光検出
器り或は試料等から発せられる光についても成立つ。今
試料の発光スペクトルをＳ（ν）とし、試料と試料セル
の合さったものの吸収スペクトルをＡｓ（ν）とすると
試料から出て干渉計に入射し干渉計によって反射される
光の強さは波数νの光について 王、ｂｇ１９（Ｘ）−百Ａｓ（ν）Ｓ（ν）（ｌ−ｃｏ
ｓ２πνｘ）ｄν・・・・・・（１）であり、光検出器
りの測光出力は上式をνについ同様にして対照光束の測
光出力■ｒ（Ｘ）は、対照セルで表わせる。こ＼でＡｓ
（ν）は試料と対照セルの両方の吸収スペクトル、Ａｒ
（ν）は試料セルだけの吸収スペクトルで、試料だけの
吸収スペクトルをＡｏ（ν）とするとＡｓ（ν）−ＡＯ
（ν）Ａｒ（ν）である。
上記式（３）から式（２）を引算するとＡｓ（ν）−Ａ
Ｏ（ν）Ａ、ｒ（ν）であるから式（力を式（８）で割
算すればＡｏ（ν）が求まる。
Ｏ（ν）Ａ、ｒ（ν）であるから式（力を式（８）で割
算すればＡｏ（ν）が求まる。
第３図は試料から発せられる光を分光測定する場合の本
発明の実施例である。この場合第１図の光源Ｓｏの所に
試料ｓｐが置かれる。まだこの場合は単光束の構成でよ
いから干渉計を透過した光は直接光検出器りに入射せし
められる。ｓｈがシャッターであシ、測定に先立ちシャ
ッターｓｈを入射光束内に進入させ移動鏡走査を行って
光検出器りの測光出力を記憶せしめる。この記憶データ
は光検出器りから発せられる熱線の干渉計による反射光
のインターフェログラムでこれをＤ ’＄）−＆−，’
Ｊ７る。シャッターＳｈを後退させ試料ＳＰを置いて移
動鏡走査を行い検出器りの出力５Ｌ（Ｘ）を記録する。
発明の実施例である。この場合第１図の光源Ｓｏの所に
試料ｓｐが置かれる。まだこの場合は単光束の構成でよ
いから干渉計を透過した光は直接光検出器りに入射せし
められる。ｓｈがシャッターであシ、測定に先立ちシャ
ッターｓｈを入射光束内に進入させ移動鏡走査を行って
光検出器りの測光出力を記憶せしめる。この記憶データ
は光検出器りから発せられる熱線の干渉計による反射光
のインターフェログラムでこれをＤ ’＄）−＆−，’
Ｊ７る。シャッターＳｈを後退させ試料ＳＰを置いて移
動鏡走査を行い検出器りの出力５Ｌ（Ｘ）を記録する。
これは試料の発光スペクトルのインターフェログラムと
上記したＤ（→との和であるから、５Ｌ（ｘ）−玖Ｘ）
をフーリエ変換すれば試料ＳＰの発光スペクトルが得ら
れる。
上記したＤ（→との和であるから、５Ｌ（ｘ）−玖Ｘ）
をフーリエ変換すれば試料ＳＰの発光スペクトルが得ら
れる。
たシャッターｓｈを出入させるようにしているが、シャ
ッターの代りに光トラップを出入させるようにしてもよ
く、干渉計の入射光路の側方に光トラップを置き、この
光路内に斜鏡を出入させて光検出器の方から逆行して来
る光を光トラップの方へ反射させ吸収させるようにして
もよい。
ッターの代りに光トラップを出入させるようにしてもよ
く、干渉計の入射光路の側方に光トラップを置き、この
光路内に斜鏡を出入させて光検出器の方から逆行して来
る光を光トラップの方へ反射させ吸収させるようにして
もよい。
本発明分光光度計は上述したような構成で試料或は光検
出器自身が発する光が干渉計で反射されて来て検出され
て誤差になるのが除去されるから、従来よりも高感度高
精度の測定が可能となる。
出器自身が発する光が干渉計で反射されて来て検出され
て誤差になるのが除去されるから、従来よりも高感度高
精度の測定が可能となる。
第１図はフーリエ変換型分光分析装置の従来例の平面図
、第２図は本発明の一実施例の平面図、第３図は本発明
の他の実施例の平面図である。 ＢＳ・・・半邊明鏡、Ｍｆ・・・固定鏡、Ｍｍ・・・移
動鏡、Ｄ・・・光検出器、ＳＯ・・・光源、ｓｈ・・・
シャッター。 代理人 弁理士 縣 浩 介
、第２図は本発明の一実施例の平面図、第３図は本発明
の他の実施例の平面図である。 ＢＳ・・・半邊明鏡、Ｍｆ・・・固定鏡、Ｍｍ・・・移
動鏡、Ｄ・・・光検出器、ＳＯ・・・光源、ｓｈ・・・
シャッター。 代理人 弁理士 縣 浩 介
Claims (1)
- 干渉計と光源との間に出入自在に、光検出器の側から干
渉計を透過して来る光を吸収し、光源から干渉計に入射
する光を遮断する手段を設けると共に、同手段を干渉計
と光源との間に進出させた状態において干渉計で波長走
査を行ったときの上記光検出器の測光出力を記憶してお
く手段を設け、上記光源からの光を遮断する手段を後退
させたときの上記光検出器の測光出力から上記記憶手段
に記憶された上記データを引算し、この引算結果にフー
リエ変換を施すようにしたフーリエ変換型赤外分光光度
計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11991981A JPS5821142A (ja) | 1981-07-30 | 1981-07-30 | フ−リエ変換赤外分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11991981A JPS5821142A (ja) | 1981-07-30 | 1981-07-30 | フ−リエ変換赤外分光光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5821142A true JPS5821142A (ja) | 1983-02-07 |
Family
ID=14773419
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11991981A Pending JPS5821142A (ja) | 1981-07-30 | 1981-07-30 | フ−リエ変換赤外分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5821142A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58189346U (ja) * | 1982-06-12 | 1983-12-16 | 株式会社丸三パツキング製作所 | 連結ガスケツト |
| JPS61500509A (ja) * | 1983-11-28 | 1986-03-20 | マイダク・コ−ポレ−ション | 光ルミネセンス分析のための装置および方法 |
| JPS63269025A (ja) * | 1987-04-27 | 1988-11-07 | Shimadzu Corp | フ−リエ変換赤外分光光度計 |
| US8359742B2 (en) | 2005-12-07 | 2013-01-29 | Uchiyama Manufacturing Corp. | Method of manufacturing a segmented metalized gasket |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5022422A (ja) * | 1973-07-03 | 1975-03-10 |
-
1981
- 1981-07-30 JP JP11991981A patent/JPS5821142A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5022422A (ja) * | 1973-07-03 | 1975-03-10 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58189346U (ja) * | 1982-06-12 | 1983-12-16 | 株式会社丸三パツキング製作所 | 連結ガスケツト |
| JPH0118830Y2 (ja) * | 1982-06-12 | 1989-06-01 | ||
| JPS61500509A (ja) * | 1983-11-28 | 1986-03-20 | マイダク・コ−ポレ−ション | 光ルミネセンス分析のための装置および方法 |
| JPS63269025A (ja) * | 1987-04-27 | 1988-11-07 | Shimadzu Corp | フ−リエ変換赤外分光光度計 |
| US8359742B2 (en) | 2005-12-07 | 2013-01-29 | Uchiyama Manufacturing Corp. | Method of manufacturing a segmented metalized gasket |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7903252B2 (en) | Noise cancellation in fourier transform spectrophotometry | |
| US7834999B2 (en) | Optical analysis system and optical train | |
| US8693004B2 (en) | Dual-etalon cavity ring-down frequency-comb spectroscopy with broad band light source | |
| US8049881B2 (en) | Optical analysis system and methods for operating multivariate optical elements in a normal incidence orientation | |
| US7911605B2 (en) | Multivariate optical elements for optical analysis system | |
| EP0800066B1 (en) | Precise calibration of wavelengths in a spectrometer | |
| US4170416A (en) | Apparatus for analyzing coherent radiation | |
| JPS6049847B2 (ja) | 光の強度を測定する方法及び分光計 | |
| US6940600B1 (en) | Apparatus and method for measuring decay in intensity of electromagnetic radiation in multipass spectrometry | |
| GB1382081A (en) | Transmission spectra | |
| US3936190A (en) | Fluorescence spectrophotometer for absorption spectrum analysis | |
| JPH06500387A (ja) | 多波長高温計 | |
| JPS5821142A (ja) | フ−リエ変換赤外分光光度計 | |
| US4999010A (en) | Dual beam optical nulling interferometric spectrometer | |
| JPS63308543A (ja) | 散乱光測光装置 | |
| JPH10115583A (ja) | 分光分析装置 | |
| JPS5821527A (ja) | フ−リエ変換型赤外分光光度計 | |
| WO1996000887A1 (en) | An improved optical sensor and method | |
| US5861948A (en) | Atomic absorption spectrophotometer | |
| SU823989A1 (ru) | Устройство дл измерени абсолют-НыХ КОэффициЕНТОВ ОТРАжЕНи и пРОпуС-КАНи | |
| JPH063364B2 (ja) | 膜厚測定方法 | |
| JPH0827234B2 (ja) | 赤外線ガス分析計 | |
| JP3309537B2 (ja) | フーリエ変換分光光度計 | |
| JPH01203937A (ja) | 光センサー感度評価装置 | |
| JPS6067828A (ja) | フ−リェ変換赤外分光光度計 |