JPS63257415A - 電気保護装置 - Google Patents
電気保護装置Info
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- JPS63257415A JPS63257415A JP63068009A JP6800988A JPS63257415A JP S63257415 A JPS63257415 A JP S63257415A JP 63068009 A JP63068009 A JP 63068009A JP 6800988 A JP6800988 A JP 6800988A JP S63257415 A JPS63257415 A JP S63257415A
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Links
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 76
- 238000002161 passivation Methods 0.000 claims abstract description 13
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- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims abstract 2
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 28
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- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 4
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- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02H—EMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS
- H02H3/00—Emergency protective circuit arrangements for automatic disconnection directly responsive to an undesired change from normal electric working condition with or without subsequent reconnection ; integrated protection
- H02H3/02—Details
- H02H3/04—Details with warning or supervision in addition to disconnection, e.g. for indicating that protective apparatus has functioned
- H02H3/044—Checking correct functioning of protective arrangements, e.g. by simulating a fault
Landscapes
- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Protection Of Generators And Motors (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、故障検出装置と故障に依存したトリガ装置お
よび試験装置もしくはリセット装置とを備え、電気機器
、特に回転電機の故障監視を行う電気保護装置に関する
。
よび試験装置もしくはリセット装置とを備え、電気機器
、特に回転電機の故障監視を行う電気保護装置に関する
。
上述の様式（３ＵＢ）の公知の電気保護装置においては
、二式罵寅キーおよびリセットキーが別々に設けられて
いる。この場合に試験キーが成る時間押されると、時間
遅れでシミュレート電流を介して試験のトリガが行われ
、これがＬＥＤによって表示される。このトリガのリセ
ットは例えばモータの冷却時間に相当する所定時間の経
過後にはじめて可能である。このためには、別に設けら
れたリセットキーが押されて再び解放されなければなら
ない、リセットの機能はＬＥＤの消灯によって指示され
る。
、二式罵寅キーおよびリセットキーが別々に設けられて
いる。この場合に試験キーが成る時間押されると、時間
遅れでシミュレート電流を介して試験のトリガが行われ
、これがＬＥＤによって表示される。このトリガのリセ
ットは例えばモータの冷却時間に相当する所定時間の経
過後にはじめて可能である。このためには、別に設けら
れたリセットキーが押されて再び解放されなければなら
ない、リセットの機能はＬＥＤの消灯によって指示され
る。
本発明の課題は、試験およびリセットの機能を１つのみ
の操作機構で行うことができるようにすることにある。
の操作機構で行うことができるようにすることにある。
上記の課題は、本発明によれば、試験サイクルの能動化
およびトリガ信号発生の後に試験機能が時間に依存して
自動的に遮断され、この時間経過後または次の試験サイ
クルの経過後に試験装置の受動化によってリセットｉ！
４程が行われるように試験装置を構成することによって
解決される。
およびトリガ信号発生の後に試験機能が時間に依存して
自動的に遮断され、この時間経過後または次の試験サイ
クルの経過後に試験装置の受動化によってリセットｉ！
４程が行われるように試験装置を構成することによって
解決される。
これによって、占有空間およびコストの節減のばかに保
護装置および接続配線の定められた試験周期が得られる
。
護装置および接続配線の定められた試験周期が得られる
。
電圧喪失後における保護装置の明確な機能を確保するに
は、試験機能の遮断の記憶のために不揮発性の記憶装置
を設けるとよい。不揮発性の記憶装πが双安定リレーで
あれば、記憶装置の緩衝手段もしくはＥ” ＦＲＯＭメ
モリの用意を避けることができる。これによりかなり低
度な装置が得られる０例えばモータがまだ冷却してない
ことなどの特別なモータデータを考慮できるようにする
には、復帰位置釈放装置を設けるとよい、この種の状態
を確実に考慮できるようにするには、釈放装置が試験装
置の受動化のための信号と共にＡＮＤ要素を介して互い
に結合されていると有利である。
は、試験機能の遮断の記憶のために不揮発性の記憶装置
を設けるとよい。不揮発性の記憶装πが双安定リレーで
あれば、記憶装置の緩衝手段もしくはＥ” ＦＲＯＭメ
モリの用意を避けることができる。これによりかなり低
度な装置が得られる０例えばモータがまだ冷却してない
ことなどの特別なモータデータを考慮できるようにする
には、復帰位置釈放装置を設けるとよい、この種の状態
を確実に考慮できるようにするには、釈放装置が試験装
置の受動化のための信号と共にＡＮＤ要素を介して互い
に結合されていると有利である。
ＡＮＤ結合がオープンコレクタ出力端を並列接続された
２つのコンパレータ出力端で実現するならば、アナログ
回路構成の際に別個にロジック装置を設けることを避け
ることができる。
２つのコンパレータ出力端で実現するならば、アナログ
回路構成の際に別個にロジック装置を設けることを避け
ることができる。
以下、図面を参照しながら本発明の実施例およびその動
作について更に詳細に説明する。
作について更に詳細に説明する。
第１図は試験サイクルと試験動作とトリガ信号との対応
関係を示すタイムチャート、第２図は組み合わされた試
験機能およびリセット動作の原理を示すブロック図であ
る。
関係を示すタイムチャート、第２図は組み合わされた試
験機能およびリセット動作の原理を示すブロック図であ
る。
第１図における上段の線列は試験装置の試験サイクルを
示し、つまりそれは保護装置の試験・リセット・キーが
押されているか、解放されているかどうかを示している
。中段の線列は試験機能を示し、下段の線列はトリガ信
号を示す、試験装置が能動状態にされ（すなわち試験キ
ーが押され）だ場合で、かつ故障の存在によってトリガ
されなかったという前提では、遮断機能および相応の記
憶手段が能動状態にされ、装置はトリガ状態に切り換え
られる（下段の線列参照）、トリガもしくは記憶状態へ
の移行時に試験機能は停止される（中段の線列参照）。
示し、つまりそれは保護装置の試験・リセット・キーが
押されているか、解放されているかどうかを示している
。中段の線列は試験機能を示し、下段の線列はトリガ信
号を示す、試験装置が能動状態にされ（すなわち試験キ
ーが押され）だ場合で、かつ故障の存在によってトリガ
されなかったという前提では、遮断機能および相応の記
憶手段が能動状態にされ、装置はトリガ状態に切り換え
られる（下段の線列参照）、トリガもしくは記憶状態へ
の移行時に試験機能は停止される（中段の線列参照）。
この状態は少なくともキーを押している間は消去されな
いで記憶される。この記憶期間中はリセットもできない
、第１図に示すように、第１のサイクルの能動化後には
試験キー解放後も記憶動作は続行される０次の試験サイ
クル（試験サイクル２）の通過後にはじめて、すなわち
受動化（試験キーの再解放）後にはじめて、試験機能が
再び能動化され、トリガ信号が遮断され、すなわち保護
装置自体は再びリセットされて故障信号によって遮断可
能となる。２つの試験サイクルの代わりに１つの試験サ
イクルを使用することも可能である。この場合には、例
えば冷却時間に応じて設計されて組み込まれた時限要素
である試験機能がリセットを決める。第１の試験サイク
ルがこの時間の前に受動化された場合にはりンセトは行
われない、この時間経過後にはじめて試験サイクルの受
動化によってリセットが行われる。
いで記憶される。この記憶期間中はリセットもできない
、第１図に示すように、第１のサイクルの能動化後には
試験キー解放後も記憶動作は続行される０次の試験サイ
クル（試験サイクル２）の通過後にはじめて、すなわち
受動化（試験キーの再解放）後にはじめて、試験機能が
再び能動化され、トリガ信号が遮断され、すなわち保護
装置自体は再びリセットされて故障信号によって遮断可
能となる。２つの試験サイクルの代わりに１つの試験サ
イクルを使用することも可能である。この場合には、例
えば冷却時間に応じて設計されて組み込まれた時限要素
である試験機能がリセットを決める。第１の試験サイク
ルがこの時間の前に受動化された場合にはりンセトは行
われない、この時間経過後にはじめて試験サイクルの受
動化によってリセットが行われる。
これは次の試験サイクルによっても行うことができる。
保護装置自体は系統からの故障信号が試験に対して常に
優位にあるように構成されている。
優位にあるように構成されている。
トリガ信号は、回転電機の場合には例えばモータ電流検
出による熱模擬によって、またはサーミスタを介するモ
ータ温度の直接検出によっても発生させることができる
。装置の形式に応じて、リセット準備状態において信号
として考慮され得る成る程度のりセント時間を考慮する
ことができる。
出による熱模擬によって、またはサーミスタを介するモ
ータ温度の直接検出によっても発生させることができる
。装置の形式に応じて、リセット準備状態において信号
として考慮され得る成る程度のりセント時間を考慮する
ことができる。
すなわち、第２の試験サイクルの受動化は信号もリセッ
ト準備状態にある場合にのみリセットをもたらすことが
できる。これは詳しくは図示されていないＡＮＤ結合に
よって行うことができる。
ト準備状態にある場合にのみリセットをもたらすことが
できる。これは詳しくは図示されていないＡＮＤ結合に
よって行うことができる。
装置のトリガ状態は時間的に制限されないで第２の試験
サイクルの受動化まで記憶される。これは、そのために
不揮発性の記憶装置を使用することによって供給電圧の
遮断および再投入の後にも当てはまる０例えば試験キー
が操作され装置が既にトリガされたならば、いつりセラ
）・機能が可能であるかの状態の試問を例えばマイクロ
プロセッサによって行うことができる。その場合に、試
験装置に関係なく作用する自動リセットを用意すること
もできる。第２の試験サイクルの受動化の後には、第１
図に示すように、トリガされていない装置の場合には試
験機能の再能動化が自動的に行われる。
サイクルの受動化まで記憶される。これは、そのために
不揮発性の記憶装置を使用することによって供給電圧の
遮断および再投入の後にも当てはまる０例えば試験キー
が操作され装置が既にトリガされたならば、いつりセラ
）・機能が可能であるかの状態の試問を例えばマイクロ
プロセッサによって行うことができる。その場合に、試
験装置に関係なく作用する自動リセットを用意すること
もできる。第２の試験サイクルの受動化の後には、第１
図に示すように、トリガされていない装置の場合には試
験機能の再能動化が自動的に行われる。
第２図による試験およびリセット機能の組み合わされた
動作のために次のことが行われるべきである。故障時に
、すなわちＰｌにおける電位によりＰ４が能動化される
０機能グループＦＧ３を介してＰｌが阻止される（リセ
ットはできない）。
動作のために次のことが行われるべきである。故障時に
、すなわちＰｌにおける電位によりＰ４が能動化される
０機能グループＦＧ３を介してＰｌが阻止される（リセ
ットはできない）。
第１の試験サイクルにおける試験装置の能動化の際には
、Ｐ５を介して記憶されたトリガ信号Ｐ４がもたらされ
る０機能グループＦＧＩにおける自己保持回路を介して
、Ｐ３を通して機能グループＦＧ２ （リセット）が阻
止される。この阻止は時間遅れで行われる。同時にＰ４
を介して試験機能が遮断される。
、Ｐ５を介して記憶されたトリガ信号Ｐ４がもたらされ
る０機能グループＦＧＩにおける自己保持回路を介して
、Ｐ３を通して機能グループＦＧ２ （リセット）が阻
止される。この阻止は時間遅れで行われる。同時にＰ４
を介して試験機能が遮断される。
第１の試験サイクルにおける試験装置の受動化はインタ
ーロックのおかげでＰ３を介して有効にならない、第２
の試験サイクルにおける試験装置の能動化はＰ４を介し
て阻止される。
ーロックのおかげでＰ３を介して有効にならない、第２
の試験サイクルにおける試験装置の能動化はＰ４を介し
て阻止される。
第２の試験サイクルにおける試験装置の受動化は機能グ
ループＦＧ２およびＦＧ３を介して機能グループＦＧ４
におけるメモリのリセットをもたらす０機能グループＦ
Ｇ３におけるＡＮＤ結合は試験装置の受動化がＰ５を介
する釈放時にのみ可能であることを保証する。
ループＦＧ２およびＦＧ３を介して機能グループＦＧ４
におけるメモリのリセットをもたらす０機能グループＦ
Ｇ３におけるＡＮＤ結合は試験装置の受動化がＰ５を介
する釈放時にのみ可能であることを保証する。
試験装置の受動化のための信号と遠隔リセットまたは自
動リセット手段との結合はＰ８を介して機能グループＦ
Ｇ２において行われる。
動リセット手段との結合はＰ８を介して機能グループＦ
Ｇ２において行われる。
以上のように、本発明によれば、試験サイクルの能動化
およびトリップ信号発生の後に試験機能が時間に依存し
て自動的に遮断され、この時間経過後または他の試験サ
イクルの経過後に試験装置の受動化によってリセット過
程が行われるように試験装置を構成することによって、
試験およびリセット動作を１つのみの操作機構で行うこ
とができ、占有空間およびコストの節減のほかに保護装
置および接続配線の定められた試験周期が得られる。
およびトリップ信号発生の後に試験機能が時間に依存し
て自動的に遮断され、この時間経過後または他の試験サ
イクルの経過後に試験装置の受動化によってリセット過
程が行われるように試験装置を構成することによって、
試験およびリセット動作を１つのみの操作機構で行うこ
とができ、占有空間およびコストの節減のほかに保護装
置および接続配線の定められた試験周期が得られる。
第１図は試験サイクルお試験機能とトリガ信号との対応
関係を示すタイムチャート、第２図は試験機能およびリ
セット機能の組み合わされた原理ブロック図である。
関係を示すタイムチャート、第２図は試験機能およびリ
セット機能の組み合わされた原理ブロック図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １）故障検出装置と故障に依存したトリガ装置および試
験装置もしくはリセット装置とを備え、電気機器の故障
監視を行う電気保護装置において、 試験装置は、試験サイクルの能動化および トリガ信号発生の後に試験機能が時間に依存して自動的
に遮断され、この時間経過後または次の試験サイクルの
経過後に試験装置の受動化によってリセット過程が行わ
れるように構成されていることを特徴とする電気保護装
置。 ２）試験機能の遮断の記憶のために不揮発性記憶装置が
設けられていることを特徴とする請求項１記載の電気保
護装置。 ３）不揮発性記憶装置は双安定リレーであることを特徴
とする請求項２記載の電気保護装置。 ４）復帰位置釈放装置が設けられていることを特徴とす
る請求項１記載の電気保護装置。 ５）前記釈放装置は試験装置の受動化のための信号と共
にＡＮＤ要素を介して互いに結合されていることを特徴
とする請求項４記載の電気保護装置。 ６）前記ＡＮＤ要素は、オープンコレクタ出力端が並列
接続された２つのコンパレータ出力端を介して実現され
ることを特徴とする請求項５記載の電気保護装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3710204.4 | 1987-03-27 | ||
| DE19873710204 DE3710204A1 (de) | 1987-03-27 | 1987-03-27 | Elektrisches schutzgeraet |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63257415A true JPS63257415A (ja) | 1988-10-25 |
Family
ID=6324177
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63068009A Pending JPS63257415A (ja) | 1987-03-27 | 1988-03-22 | 電気保護装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0283895B1 (ja) |
| JP (1) | JPS63257415A (ja) |
| AT (1) | ATE77717T1 (ja) |
| DE (2) | DE3710204A1 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| ATE131320T1 (de) * | 1990-07-31 | 1995-12-15 | Vaillant Gmbh | Elektrische schaltungsanordnung. |
| DE4331640C1 (de) * | 1993-09-17 | 1995-03-09 | Webasto Karosseriesysteme | Verfahren und Vorrichtung zum Abschalten oder Umsteuern einer Antriebsanordnung für ein verstellbares Kraftfahrzeugteil |
| EP1330005A1 (de) | 2002-01-14 | 2003-07-23 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren und Schaltungsanordnung zur Überwachung physikalischer Grössen, insbesondere zum Einsatz in Telekommunikationseinrichtungen |
| DE10253865B4 (de) * | 2002-11-15 | 2007-05-24 | Siemens Ag | Verfahren zur Ermittelung von ein mehrphasiges elektrotechnisches Betriebsmittel charakterisierenden elektrischen Größen |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60176416A (ja) * | 1984-02-22 | 1985-09-10 | 株式会社日立製作所 | 自動点検装置 |
| JPS60204216A (ja) * | 1984-03-29 | 1985-10-15 | 株式会社東芝 | 点検回路 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4001654A (en) * | 1975-07-31 | 1977-01-04 | General Electric Company | Testable protective system |
| DE2941505A1 (de) * | 1979-10-12 | 1981-04-23 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Einrichtung zum probeweisen ausloesen eines schaltgliedes |
| DE3421829A1 (de) * | 1984-06-13 | 1985-12-19 | Brown, Boveri & Cie Ag, 6800 Mannheim | Messverfahren zur ueberpruefung von schutzmassnahmen in elektrischen anlagen und messgeraet zur durchfuehrung des verfahrens |
-
1987
- 1987-03-27 DE DE19873710204 patent/DE3710204A1/de not_active Withdrawn
-
1988
- 1988-03-14 AT AT88104029T patent/ATE77717T1/de not_active IP Right Cessation
- 1988-03-14 EP EP88104029A patent/EP0283895B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1988-03-14 DE DE8888104029T patent/DE3872280D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1988-03-22 JP JP63068009A patent/JPS63257415A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60176416A (ja) * | 1984-02-22 | 1985-09-10 | 株式会社日立製作所 | 自動点検装置 |
| JPS60204216A (ja) * | 1984-03-29 | 1985-10-15 | 株式会社東芝 | 点検回路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3710204A1 (de) | 1988-10-06 |
| DE3872280D1 (de) | 1992-07-30 |
| EP0283895B1 (de) | 1992-06-24 |
| EP0283895A1 (de) | 1988-09-28 |
| ATE77717T1 (de) | 1992-07-15 |
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