JPS63244805A - 摺動接点装置 - Google Patents

摺動接点装置

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JPS63244805A
JPS63244805A JP62079048A JP7904887A JPS63244805A JP S63244805 A JPS63244805 A JP S63244805A JP 62079048 A JP62079048 A JP 62079048A JP 7904887 A JP7904887 A JP 7904887A JP S63244805 A JPS63244805 A JP S63244805A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thick film
sliding contact
pattern
contact
wiring board
Prior art date
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Pending
Application number
JP62079048A
Other languages
English (en)
Inventor
亮 上田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tanaka Kikinzoku Kogyo KK
Original Assignee
Tanaka Kikinzoku Kogyo KK
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Filing date
Publication date
Application filed by Tanaka Kikinzoku Kogyo KK filed Critical Tanaka Kikinzoku Kogyo KK
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、計測器、各種機械等で、検出用、制御用、設
定用、発振器用などに使用されているポリュームスイ、
ソチ、ポテンシオメータ、トリマー(可変抵抗器の一種
)等で用いられる摺動接点装置の改良に関する。
(従来の技術とその問題点) 従来より上記のボリュームスイッチ、ポテンシオメータ
、トリマー等で用いられる摺動接点装置は、樹脂基板上
にカーボン(C)などの抵抗ペーストにて厚膜抵抗パタ
ーンを形成して成る配線板と、この配線板の厚膜抵抗パ
ターンに対向して摺動し得るようになされたスプリング
端子材にAg接点材をかしめ或いは溶接して成るすり接
点とにより構成されているが、この摺動接点装置は、ノ
イズが発生し易く、又接触抵抗がやや高く且つ幾分ばら
つきがあって不安定であり接触信幀性にやや欠けるも゛
のであった。
この為、樹脂基板上のカーボンの厚膜抵抗バクーンのす
り接点と摺動する部分を、Ag−樹脂系の導体ペースト
に置き換えて硬化するかあるいは厚膜抵抗パターンのす
り接点と摺動する部分にAg−樹脂系導体ペーストを重
ねて硬化することにより、接触体i性を改善していた。
然し乍ら、厚[導体パターンと接点材が同種の組合せの
為、容易に凝着、剥離が起こり、摩耗が促進され早期に
寿命となる問題点があった。
(発明の目的) 本発明は、上記問題点を解決することのできる摺動接点
装置を堤供することを目的とするものである。
(問題点を解決するための手段) 前記の問題点を解決するための本発明の摺動接点装置は
、樹脂基板上に、抵抗ペーストにて厚膜抵抗パターンを
形成し、この厚膜抵抗パターンに接続してAg−樹脂系
導体ペーストにて厚膜導体パターンを形成して成る配線
板と、この配線板の厚膜導体パターンに対向して摺動し
得るようになされAg−ニッケル5〜20wt%の接点
材がスプリング端子材に取付けられて成るすり接点とに
より構成されていることを特徴とする。
本発明の摺動接点装置に於いて、すり接点の接点材をA
g−ニッケル5〜20&4t%とした理由は、Ag中の
ニッケルが5wt%未満だと凝着抑制効果が薄く、その
すり接点が樹脂基板上のAg−樹脂系の厚膜導体パター
ンとの接触に於いて凝着、剥離が生じ、ニッケルが20
−1%を超えると、使用中に発生するニッケルの酸化物
が多くなりノイズの発生原因となるからである。
(作用) 上記の如く構成された摺動接点装置は、すり接点と樹脂
基板上の厚膜導体パターンとの接触作用において、すり
接点のAg−ニッケル5〜20wt%接点材が滑りやす
いので、Ag−樹脂系厚膜導体パターンと凝着すること
が無く、そのパターンの剥離が殆んど無くなり、摩耗が
減少して良好な接触が得られる。
(実施例) 本発明の摺動接点装置の実施例の説明すると、図に示す
如き板厚Q、5mm、直径301嘗のエポキシ樹脂製基
板1上の外周に幅3鶴でカーボンの抵抗ペーストをスク
リーン印刷し、130°Cで硬化して厚さ10μの厚膜
抵抗パターン2を形成し、この厚膜抵抗パターン2に接
続して、周方向に、Ag−樹脂導体ペーストをスクリー
ン印刷し、130℃で硬化して、0.2f1間隔に幅0
 、2 mm、長さ711m、厚さ10μの厚膜導体パ
ターン(Ag−樹脂26w t%)3を形成して配線板
4とした。一方、この配線板4の厚膜導体パターン3に
対向して夫々摺動するようになされた2種のすり接点5
は、へg−ニッケル10wt%とAg−ニッケル15w
t%の2種の接点線材(直径1.5m)から作製した頭
部径3fi、頭部厚さ0.6鶴、脚部径1.5鶴、脚部
長1.5鶴の2種のリベント接点6を、夫々幅4鶴、厚
さ0.15mのBe−Cuより成るスプリング端子材7
の接点取付穴に挿入しかしめて成るものである。
このように構成された実施例1.2の摺動接点装置と、
Ag接点材を有するすり接点を実施例と同じ配線板4の
Ag−樹脂26wt%の厚膜導体パターン3と対向させ
て成る従来の摺動接点装置とを、下記の試験条件にて摺
動開閉試験を行った処、下記の表に示すような結果を得
た。
試験条件 接触カニ10g、動作:回転往復型(55度)、駆動=
60ストローク/win、通電:12V、10抛A(以
下余白) 上記の表で明らかなように実施例1.2の摺動接点装置
は、従来例の摺動装置に比し、寿命が大概倍増している
ことが判る。これはひとえにすり接点5のAg−ニッケ
ル5〜20wt%接点材が滑りやすい為、対向するAg
−樹脂系の厚膜導体パターン3と凝着することが無く、
またそのパターンが剥離することも無く、摩耗も減少す
るからに他ならない。
尚、前記の寿命は、厚膜導体パターン3の摩耗により、
すり接点5が樹脂基板との接触となって、オープン状態
(接触抵抗無限大)となった場合と、厚膜導体パターン
3間のスリット部の目詰まりによりショートした場合で
判定した。
尚、上記実施例の摺動接点装置の配線板4は円形である
が、矩形でも良いものである。その場合、厚膜抵抗パタ
ーンは矩形の配線板の一側端に形成し、厚膜導体パター
ンは厚膜抵抗パターンに接続してその長手方向に一定間
隔に平行に形成すると良い。そしてすり接点は厚膜導体
パターンに対向して厚膜抵抗パターンの長手方向に摺動
し得るようにする。また樹脂基板上にベローズ形状に前
後に往復させた厚膜抵抗パターンを形成し、その上に厚
膜導体パターンを一定間隔に並べて形成した配線板と、
この配線板の厚膜導体パターンに対向して摺動するよう
にしたすり接点とより成る摺動接点装置としても良い。
(発明の効果) 以上の説明で判るように本発明の摺動接点装置は、すり
接点のAg−ニッケル5〜20wt%が滑りやすいので
、接触作用において樹脂基板上のAg−樹脂系導体パタ
ーンと凝着することが無く、又そのパターン、の剥離も
殆んど無くなり、摩耗も減少して良好な接触が得られる
従って、接触信顛性が向上し、摺動接点装置の寿命が著
しく増長する。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の摺動接点装置の一実施例を示す概略図であ
る。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  樹脂基板上に、抵抗ペーストにて厚膜抵抗パターンを
    形成し、この厚膜抵抗パターンに接続してAg−樹脂系
    導体ペーストにて厚膜導体パターンを形成して成る配線
    板と、この配線板の厚膜導体パターンに対向して摺動し
    得るようになされAg−ニッケル5〜20wt%の接点
    材がスプリング端子材に取り付けられて成るすり接点と
    により構成されていることを特徴とする摺動接点装置。
JP62079048A 1987-03-31 1987-03-31 摺動接点装置 Pending JPS63244805A (ja)

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JPS63244805A true JPS63244805A (ja) 1988-10-12

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