JPS63244824A - 摺動接点装置 - Google Patents

摺動接点装置

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JPS63244824A
JPS63244824A JP62079068A JP7906887A JPS63244824A JP S63244824 A JPS63244824 A JP S63244824A JP 62079068 A JP62079068 A JP 62079068A JP 7906887 A JP7906887 A JP 7906887A JP S63244824 A JPS63244824 A JP S63244824A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thick film
sliding contact
pattern
contact
resin
Prior art date
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Pending
Application number
JP62079068A
Other languages
English (en)
Inventor
重雄 塩田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tanaka Kikinzoku Kogyo KK
Original Assignee
Tanaka Kikinzoku Kogyo KK
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Filing date
Publication date
Application filed by Tanaka Kikinzoku Kogyo KK filed Critical Tanaka Kikinzoku Kogyo KK
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、計測器、各種機櫨等で、検出用、制御用、設
定用、発振器用などに使用されているボリュームスイッ
チ、ポテンシオメータ、トリマー(可変抵抗器の一種)
等で用いられる摺動接点装置の改良に関する。
(従来の技術とその問題点) 従来より上記のボリュームスイッチ、ポテンシオメータ
、トリマー等で用いられる摺動接点装置は、樹脂基板上
にカーボン(C)などの抵抗ペー 。
ストにて厚膜抵抗パターンを形成して成る配線板と、こ
の配線板の厚膜抵抗パターンに対向して摺動し得るよう
になされたスプリング端子材にAg接点材をかしめ或い
は溶接して成るすり接点とにより構成されているが、こ
の摺動接点装置は、ノイズが発生し易く、又接触抵抗が
やや高く且つ幾分ばらつきがあって不安定であり接触偉
績性にやや欠けるものであった。
この為、樹脂基板上のカーボンの厚膜抵抗パターンのす
り接点と摺動する部分を、Ag−樹脂系の導体ペースト
に置き換えて硬化するかあるいは厚膜抵抗パターンのす
り接点と摺動する部分にAg−樹脂系導体ペーストを重
ねて硬化することにより、接触信顧性を改善していた。
然し乍ら、厚膜導体パターンと接点材が同種の組合せの
為、容易に凝着、剥離が起こり、摩耗が促進され早期に
寿命となる問題点があった。
(発明の目的) 本発明は、上記問題点を解決することのできる摺動接点
装置を提供することを目的とするものである。
(問題点を解決するための手段) 前記の問題点を解決するための本発明の摺動接点装置は
、樹脂基板上に、抵抗ペーストにて厚膜抵抗パターンを
形成し、この厚膜抵抗パターンに接続してCu−樹脂系
導体ペーストにて厚膜導体パターンを形成して成る配線
板と、この配線板の厚膜導体パターンに対向して摺動し
得るAg−ニッケル5〜20w t%の接点材がスプリ
ング端子材に取付けられて成るすり接点とにより構成さ
れていることを特徴とする。
本発明の摺動接点装置に於いて、すり接点の接点材をA
g−ニッケル5〜20wt%とした理由は、Ag中のニ
ッケルが5wt%未満だと潤滑効果が薄く、そのすり接
点が樹脂基板上のCu−樹脂系の厚膜導体パターンとの
接触に於いて凝着、剥離が生じ、ニッケルが20wt%
を超えると、ノイズの発生原因となるからである。
(作用) 上記の如く構成された摺動接点装置は、すり接点と樹脂
基板上の厚膜導体パターンとの接触作用において、すり
接点のAg−ニッケル5〜20鼾%接点材が滑りやすい
ので、Cu−樹脂系厚膜導体パターンと凝着することが
無く、そのパターンの剥離が殆んど無くなり、摩耗が減
少して良好な接触が得られる。
(実施例) 本発明の摺動接点装置の実施例を説明すると、図に示す
如き板厚0.6鶴、直径30鰭のエポキシ樹脂製基板l
上の外周に幅3mlでカーボンの抵抗ペーストをスクリ
ーン印刷し、130℃で硬化して厚さ10μの厚膜抵抗
パターン2を形成し、この厚膜抵抗パターン2に接続し
て、周方向に、Cu−樹脂導体ペーストをスクリーン印
刷し、130℃で硬化して、0 、2 u+間隔に幅0
.2龍、長さ71m、厚さ10μの厚膜導体パターン(
Cu−樹脂261%)3を形成して配線板4とした。一
方、この配線板4の厚膜導体パターン3に対向して夫々
摺動するようになされた2種のすり接点5は、Ag−ニ
ッケル10wt%とAg−ニッケル15wt%の2種の
接点線材(直径1.5mm)から作製した頭部径31m
、頭部厚さ0.6mm、脚部径1.5鰭、脚部長1.5
龍の2種のリベット接点6を、夫々幅4 am、厚さ0
.151層のBe−Cuより成るスプリング端子材7の
接点取付穴に挿入しかしめて成るものである。
このように構成された実施例1.2の摺動接点装置と、
Ag接点材を有するすり接点を実施例と同じ配線板4の
Cu−樹脂26wt%の厚膜導体パターン3と対向させ
て成る従来の摺動接点装置とを、下記の試験条件にて摺
動開閉試験を行った処、下記の表に示すような結果を得
た。
試験条件 接触カニ10g、動作:回転往復型(55度)、駆動二
60ストローク/lll1n、通電=12■、100m
A(以下余白) 上記の表で明らかなように実施例1.2の摺動接点装置
は、従来例の摺動装置に比し、寿命が増していることが
判る。これはひとえにすり接点5のAg−ニッケル5〜
20w t%接点材が滑りやすい為、対向するCu−樹
脂系の厚膜導体パターン3と凝着することが無く、また
そのパターンが剥離することも無く、摩耗も減少するか
らに他ならない。
尚、前記の寿命は、厚膜導体パターン3の摩耗により、
すり接点5が樹脂基板との接触となって、オープン状B
(接触抵抗無限大)となった場合と、厚膜導体パターン
3間のスリット部の目詰まりによりショートした場合で
判定した。
尚、上記実施例の摺動接点装置の配線板4は円形である
が、矩形でも良いものである。その場合、厚膜抵抗パタ
ーンは矩形の配線板の一側端に形成し、厚膜導体パター
ンは厚膜抵抗パターンに接縮してその長手方向に一定間
隔に平行に形成すると良い。そしてすり接点は厚膜導体
パターンに対向して厚膜抵抗パターンの長手方向に摺動
し得るようにする。また樹脂基板上にベローズ形状に前
徨に往復させた厚膜抵抗パターンを形成し、その上に厚
膜導体パターンを一定間隔に並べて形成した配線板と、
この配線板の厚膜導体パターンに対向して摺動するよう
にしたすり接点とより成る摺動接点装置としても良い。
(発明の効果) 以上の説明で判るように本発明の摺動接点装置は、すり
接点のAg−ニッケル5〜20w t%が滑りやすいの
で、接触作用において樹脂基板上のCu−樹脂系導体パ
ターンと凝着することが無く、ヌそのパターンの剥離も
殆んど無くなり、摩耗も減少して良好な接触が得られる
従って、接触信頼性が向上し、摺動接点装置の寿命が著
しく増長する。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の摺動接点装置の一実施例を示す概略図であ
る。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  樹脂基板上に、抵抗ペーストにて厚膜抵抗パターンを
    形成し、この厚膜抵抗パターンに接続してCu−樹脂系
    導体ペーストにて厚膜導体パターンを形成して成る配線
    板と、この配線板の厚膜導体パターンに対向して摺動し
    得るAg−ニッケル5〜20wt%の接点材がスプリン
    グ端子材に取り付けられて成るすり接点とにより構成さ
    れていることを特徴とする摺動接点装置。
JP62079068A 1987-03-31 1987-03-31 摺動接点装置 Pending JPS63244824A (ja)

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JP62079068A JPS63244824A (ja) 1987-03-31 1987-03-31 摺動接点装置

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JPS63244824A true JPS63244824A (ja) 1988-10-12

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