JPS63224483A - 固体撮像装置の信号読み出し方法 - Google Patents
固体撮像装置の信号読み出し方法Info
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- JPS63224483A JPS63224483A JP62059754A JP5975487A JPS63224483A JP S63224483 A JPS63224483 A JP S63224483A JP 62059754 A JP62059754 A JP 62059754A JP 5975487 A JP5975487 A JP 5975487A JP S63224483 A JPS63224483 A JP S63224483A
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- switch transistor
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Landscapes
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は固体撮像装置の信号読み出し方法に関するもの
で、さらに詳しくは、SITイメージセンサにおいて、
静電誘導ホトトランジスタ(S I PT)の主電極の
全てがアドレスライン又は信号読み出しラインとなる固
体撮像装置Iこ、特に微弱光検、比感度に優れ、より安
定で均一1こ画像を検出し、低消費電力、高速な信号読
み出し方法を与えるものである。
で、さらに詳しくは、SITイメージセンサにおいて、
静電誘導ホトトランジスタ(S I PT)の主電極の
全てがアドレスライン又は信号読み出しラインとなる固
体撮像装置Iこ、特に微弱光検、比感度に優れ、より安
定で均一1こ画像を検出し、低消費電力、高速な信号読
み出し方法を与えるものである。
本発明では、放送局用のテレビカメラ、家庭向ビデオカ
メラ、電子スチルカメラなどの他、高感度なことを利用
した天体観測器や高速なことを利用した理化学測定器1
こ応用できる。
メラ、電子スチルカメラなどの他、高感度なことを利用
した天体観測器や高速なことを利用した理化学測定器1
こ応用できる。
従来の静電誘導ホトトラ〉シ゛スタ (以下5IPTと
称す。)を用いたゲート蓄積方式による2次元間体撮像
装置において、5IPTのソース及びドレインがそれぞ
れ信号読み出しライン又はアドレスラインとなる2次元
間体撮像装置の構成及び信号読み出し方法については特
開昭60−199277号「2次元間体撮像装置」に開
示されているものなど、各種提案されている。
称す。)を用いたゲート蓄積方式による2次元間体撮像
装置において、5IPTのソース及びドレインがそれぞ
れ信号読み出しライン又はアドレスラインとなる2次元
間体撮像装置の構成及び信号読み出し方法については特
開昭60−199277号「2次元間体撮像装置」に開
示されているものなど、各種提案されている。
第4図(alに従来の2次元間体撮像装置の構成及び信
号読み出し方法の1例を上げる。第4図(blにはその
読み出しパルスのタイミングチャートを示す。
号読み出し方法の1例を上げる。第4図(blにはその
読み出しパルスのタイミングチャートを示す。
2次元マトリクス状に並べられたnxm個の画素の一つ
C1」は、一つの5IPTとキャパシタから成る。画素
Ci jの5IPTのドレインは信号読み出しライン5
Lilζ、ソースは埋め込みラインBLiに、ゲートは
キャパシタを通して垂直アドレスラインGLJに接続さ
れている。信号読み出しラインSLIにはプリチャージ
トランジスタQpが接続され、 このQpを通してプリ
チャージ電源に接続されている。このQpはゲートが全
て共通になされ、プリチャージパルスOP が印加され
る。さらにSLiはトランスファートランジスタQT
を通してスイッチトランジスタQsに接続され、Qsは
さらに、共通な負荷抵抗RLを通してビデオ電源Vvに
接続され、QsがRLに接続している点が出力端子Vo
utとなっている。
C1」は、一つの5IPTとキャパシタから成る。画素
Ci jの5IPTのドレインは信号読み出しライン5
Lilζ、ソースは埋め込みラインBLiに、ゲートは
キャパシタを通して垂直アドレスラインGLJに接続さ
れている。信号読み出しラインSLIにはプリチャージ
トランジスタQpが接続され、 このQpを通してプリ
チャージ電源に接続されている。このQpはゲートが全
て共通になされ、プリチャージパルスOP が印加され
る。さらにSLiはトランスファートランジスタQT
を通してスイッチトランジスタQsに接続され、Qsは
さらに、共通な負荷抵抗RLを通してビデオ電源Vvに
接続され、QsがRLに接続している点が出力端子Vo
utとなっている。
QT はゲートが全て共通になされ、トランスファーパ
ルスOTが印加される。Qs のゲートは水平シフトレ
ジスタ42に導かれている。出力はQTとQs に共
通して接続されたトランスファーキャパシタCTを、Q
sを導通状態にしてVVtこより充電することによるR
L の電圧降下によって得られる。さらに、埋め込みラ
インBLjは埋め込みライン選択トランジスタQB を
通して接地され、BLIに接続されたQB のゲートは
GLjに接続され、GLJは垂直シフトレジスタ41に
導かれている。
ルスOTが印加される。Qs のゲートは水平シフトレ
ジスタ42に導かれている。出力はQTとQs に共
通して接続されたトランスファーキャパシタCTを、Q
sを導通状態にしてVVtこより充電することによるR
L の電圧降下によって得られる。さらに、埋め込みラ
インBLjは埋め込みライン選択トランジスタQB を
通して接地され、BLIに接続されたQB のゲートは
GLjに接続され、GLJは垂直シフトレジスタ41に
導かれている。
第4図(blを参照して、読み出し方法を説明する。ま
ず時刻t1においてトランスファーパルスOr によ
ってトランスファートランジスタQTが導通状態となり
、信号読み出しラインSLiはトランスファーキャパシ
タCT と接続される。
ず時刻t1においてトランスファーパルスOr によ
ってトランスファートランジスタQTが導通状態となり
、信号読み出しラインSLiはトランスファーキャパシ
タCT と接続される。
時刻t2 においてプリチャージパルスによってプリ
チャージトランジスタQp を通して、信号読み出し
ラインSLiとトランスファーキャパシタCTをvPに
よって充電する。次に時刻t、で、垂直シフトレジスタ
31から垂直アドレスパルスOGjが出力され、これに
よって垂直アドレスプインGLjに接続された画素Cx
)〜CnJ は入射光量に応じた放電をする。このとき
、埋め込みライン選択トランジスタQB は選択され
たBLIに接続されたもののみが導通状態となり、他は
全て遮断状態となっている。時刻t4でOaj とO
T が同時に切れることで、画素C1j、・・・、Cn
jの光情報はトランスファーキャパシタCTの放電量と
して記憶される。t6、t6、t71110、t6で水
平シフトレジスタ42からの読み出しパルスOs1、・
・・。
チャージトランジスタQp を通して、信号読み出し
ラインSLiとトランスファーキャパシタCTをvPに
よって充電する。次に時刻t、で、垂直シフトレジスタ
31から垂直アドレスパルスOGjが出力され、これに
よって垂直アドレスプインGLjに接続された画素Cx
)〜CnJ は入射光量に応じた放電をする。このとき
、埋め込みライン選択トランジスタQB は選択され
たBLIに接続されたもののみが導通状態となり、他は
全て遮断状態となっている。時刻t4でOaj とO
T が同時に切れることで、画素C1j、・・・、Cn
jの光情報はトランスファーキャパシタCTの放電量と
して記憶される。t6、t6、t71110、t6で水
平シフトレジスタ42からの読み出しパルスOs1、・
・・。
J2’SnによってVout端子から順次、−水平ライ
ンの出力が得られる。次に別の水平ラインを読み出すべ
く、同様の手順が繰り返される。
ンの出力が得られる。次に別の水平ラインを読み出すべ
く、同様の手順が繰り返される。
第4図fclに従来の2次元固体撮像装置の構成及び信
号読み出し方法の別の例を上げる。第4図(dlにはそ
の読み出しパルスのタイミングチャートを示す。
号読み出し方法の別の例を上げる。第4図(dlにはそ
の読み出しパルスのタイミングチャートを示す。
2次元マトリクス状に並べられたnxm個の画素の一つ
Ci4は−っの5IPTとキャパシタから成る。画素C
+4の5IPTのソースは信号読み出しラインSLiに
、ドレインは埋め込みラインBLjに、ゲートはキャパ
シタを通して垂直アドレスラインGLjに接続している
。信号読み出しラインSLi P!リセットトランジス
タQRを通して接地され、QRのゲートは全て共通にな
r−れリセットパルスORが印加される。さらにSLi
はトランスファートランジスタQTを通して、スイッチ
トランジスタQsに接続され、Qsはさらに共通な負荷
抵抗RLを通してビデオ電源VVに接続され、QsがR
Lに接続している点が出力端子Voutとなっている。
Ci4は−っの5IPTとキャパシタから成る。画素C
+4の5IPTのソースは信号読み出しラインSLiに
、ドレインは埋め込みラインBLjに、ゲートはキャパ
シタを通して垂直アドレスラインGLjに接続している
。信号読み出しラインSLi P!リセットトランジス
タQRを通して接地され、QRのゲートは全て共通にな
r−れリセットパルスORが印加される。さらにSLi
はトランスファートランジスタQTを通して、スイッチ
トランジスタQsに接続され、Qsはさらに共通な負荷
抵抗RLを通してビデオ電源VVに接続され、QsがR
Lに接続している点が出力端子Voutとなっている。
QTはゲートが全て共通になされ、トランスファーパル
スOTが印加される。Qsのゲートは水平シフトレジス
タ42に導かれている。出力はQTとQsに共通して接
続されたトランスファーキャパシタCTを、Qsを導通
状態にしてRLを通して放電するときに、RLの電圧降
下1こよって得られる。さらに埋め込みラインBLjは
埋め込みライン選択トランジスタQBを通して電源VD
Dに接続されている。QBのゲートはGLjに接続され
、GLjは垂直シフトレジスタ31に導かれ、垂直アド
レスパルスOG ]が印加される。
スOTが印加される。Qsのゲートは水平シフトレジス
タ42に導かれている。出力はQTとQsに共通して接
続されたトランスファーキャパシタCTを、Qsを導通
状態にしてRLを通して放電するときに、RLの電圧降
下1こよって得られる。さらに埋め込みラインBLjは
埋め込みライン選択トランジスタQBを通して電源VD
Dに接続されている。QBのゲートはGLjに接続され
、GLjは垂直シフトレジスタ31に導かれ、垂直アド
レスパルスOG ]が印加される。
第4図(dlを参照して、読み出し方法を説明する。*
f 時刻t 1 においてトランスファーパルスによ
ってトランスファートランジスタQT が導通状態と
なり、信号読み出しラインSLiはトランスファーキャ
パシタCTと接続される。時刻t、においてリセッにパ
ルス)d’gによって、II tットトランジスタQR
を通して、信号読み出しラインSLiとトランスファー
書ヤパシタCT81如電1立に牛嘉曇する。次に時刻t
3で、垂直シフトレジスタ31から垂直アドレスパルス
yGjが出力され、これによって垂直アドレスラインG
Ljに接続された画素C1j、・・・、CnXめ込みラ
インBLjに接続された埋め込みライン選択トランジス
タQaを通しヤ嘱つアスされ、入射光量に応じて、CT
を充電する。時刻t4で11c ]とOTが同時に切れ
ることで、画素C+1、・・・、Cnjの光情赫 報トランスファーキャパシタCTの充電量として記憶さ
れる。t5、t6、t7、−、taで水平シフトレジス
タ42からの読み出しパルス18 s l、・・・、J
2’Sn KよってVout端子から順次、−水平ライ
ンの出力が得られる。次に別の水平ラインを読み出すべ
く、同様の手順が繰り返される。
f 時刻t 1 においてトランスファーパルスによ
ってトランスファートランジスタQT が導通状態と
なり、信号読み出しラインSLiはトランスファーキャ
パシタCTと接続される。時刻t、においてリセッにパ
ルス)d’gによって、II tットトランジスタQR
を通して、信号読み出しラインSLiとトランスファー
書ヤパシタCT81如電1立に牛嘉曇する。次に時刻t
3で、垂直シフトレジスタ31から垂直アドレスパルス
yGjが出力され、これによって垂直アドレスラインG
Ljに接続された画素C1j、・・・、CnXめ込みラ
インBLjに接続された埋め込みライン選択トランジス
タQaを通しヤ嘱つアスされ、入射光量に応じて、CT
を充電する。時刻t4で11c ]とOTが同時に切れ
ることで、画素C+1、・・・、Cnjの光情赫 報トランスファーキャパシタCTの充電量として記憶さ
れる。t5、t6、t7、−、taで水平シフトレジス
タ42からの読み出しパルス18 s l、・・・、J
2’Sn KよってVout端子から順次、−水平ライ
ンの出力が得られる。次に別の水平ラインを読み出すべ
く、同様の手順が繰り返される。
上述の5IPTを用いた2次元面体撮像装置は、5IP
Tが本来持っている高い光感度を利用できるもので、微
弱光検出感度に優れた。高速、低消費電力、大容量の固
体撮像装置である。
Tが本来持っている高い光感度を利用できるもので、微
弱光検出感度に優れた。高速、低消費電力、大容量の固
体撮像装置である。
それは画素を構成する5IPTの3つの主電極の3つ全
てがアドレスライン又は信号読み出しラインとなってい
るからである。このアドレスパルスタQB のゲートは
垂直アドレスラインGLjに接続されている。この様子
を第5図に示す。(a)は第4図(a)に示した読み出
し方法の例に対応し、(b)は第4図fc)に示した読
み出し方法の例に対応する。第5図に詔いてCBLは一
列の埋め込みラインの接地に対して持つ容量を表わして
いる。第5図fa)、fblのいずれの場合も、垂直ア
ドレスラインGLjには、(C)に示すような垂直アド
レスパルスOajが加えられる。Jlalが加わると5
IPTは、ゲートが光励起によるホールの蓄積によっで
ある電位になっているところへDajがゲートキャパシ
タを通して加わり、入射光量に応じた電流がソース−ド
レイン間に流れる。同時に0GjIとよって、QBも導
通状態となるが、5IPTの動作にくらべてQsの動作
速度は遅い。さらに埋め込みラインBLjが接地に対し
て持つ容量CBLの影響による遅延もある。っまりOG
jによる選択の時、fa)ではCBLを放電してBLj
の電位を接地電位としなければならなく、(blではC
BLを充電しなければならない。またfblの場合、Q
Bの電位は基板バイアス効果もあって、vGを大きくし
なければ十分バイアスされない。
てがアドレスライン又は信号読み出しラインとなってい
るからである。このアドレスパルスタQB のゲートは
垂直アドレスラインGLjに接続されている。この様子
を第5図に示す。(a)は第4図(a)に示した読み出
し方法の例に対応し、(b)は第4図fc)に示した読
み出し方法の例に対応する。第5図に詔いてCBLは一
列の埋め込みラインの接地に対して持つ容量を表わして
いる。第5図fa)、fblのいずれの場合も、垂直ア
ドレスラインGLjには、(C)に示すような垂直アド
レスパルスOajが加えられる。Jlalが加わると5
IPTは、ゲートが光励起によるホールの蓄積によっで
ある電位になっているところへDajがゲートキャパシ
タを通して加わり、入射光量に応じた電流がソース−ド
レイン間に流れる。同時に0GjIとよって、QBも導
通状態となるが、5IPTの動作にくらべてQsの動作
速度は遅い。さらに埋め込みラインBLjが接地に対し
て持つ容量CBLの影響による遅延もある。っまりOG
jによる選択の時、fa)ではCBLを放電してBLj
の電位を接地電位としなければならなく、(blではC
BLを充電しなければならない。またfblの場合、Q
Bの電位は基板バイアス効果もあって、vGを大きくし
なければ十分バイアスされない。
一画素の5IPTの特性上からvGは1.5vカ)・ら
3vが最適であるから、QB のしきい値を1′妙と
すると、5IPTへのバイアス電圧VDsはVDDが十
分大きくても、1v程度でしかない。
3vが最適であるから、QB のしきい値を1′妙と
すると、5IPTへのバイアス電圧VDsはVDDが十
分大きくても、1v程度でしかない。
5IPTの動作はゲートへのアドレスパルスとバイアス
電圧vnsとに大きく依存しており、5IPTを最適条
件で動作できないという問題があった。つまり、vGの
値を大きくとり過ぎると暗状態での出力が増大し、ダイ
ナミックレンジを大きくとれなくなり、VDSが小さく
ても同様である。さらに5IPTの電流増幅率はVDS
に従って大きくなる。
電圧vnsとに大きく依存しており、5IPTを最適条
件で動作できないという問題があった。つまり、vGの
値を大きくとり過ぎると暗状態での出力が増大し、ダイ
ナミックレンジを大きくとれなくなり、VDSが小さく
ても同様である。さらに5IPTの電流増幅率はVDS
に従って大きくなる。
上述の問題点、埋め込みライン選択トランジスタQBと
埋め込みラインが接地に対して持つ容ff1cBt、に
よる5IPTの動作に対する遅れと、5IPTが十分に
バイアスされないこと―を解決するために、垂直アドレ
スラインと埋め込みライン選択トランジスタQBのゲー
トアドレスを分離して行う。
埋め込みラインが接地に対して持つ容ff1cBt、に
よる5IPTの動作に対する遅れと、5IPTが十分に
バイアスされないこと―を解決するために、垂直アドレ
スラインと埋め込みライン選択トランジスタQBのゲー
トアドレスを分離して行う。
ている。垂直アドレスラインGLjには垂直アドレスパ
ルスlajが印加され、埋め込みライン選択トランジス
タQaのゲートには91 a jが印加される。このと
き1fB3はQBの遅延に対して補償する分、だけJl
ajより早く入力する。この様子を第4図(C1に示す
。さらにEf c ) のパルス高さVcと、11 B
]のパルス高さVBとをそれぞれ適当に決めである。
ルスlajが印加され、埋め込みライン選択トランジス
タQaのゲートには91 a jが印加される。このと
き1fB3はQBの遅延に対して補償する分、だけJl
ajより早く入力する。この様子を第4図(C1に示す
。さらにEf c ) のパルス高さVcと、11 B
]のパルス高さVBとをそれぞれ適当に決めである。
特に(blの場合、5IPTのゲートへのアドレスパル
スのパルス高さVGとバイアス電圧vDsとを独立して
制御できる。
スのパルス高さVGとバイアス電圧vDsとを独立して
制御できる。
本発明の固体撮像装置の信号読み出し方法では、従来の
ものに比べて、読み出し回路が複雑となるものの、画素
を構成する5IPTを最適の条件で動作させることがで
き、特に第2図fblでは5IPTのゲートへ入力され
るパルス(Ocj)と5IPTのバイアス電圧(V D
S )が独立して行なえる。従ってより高感度な固体撮
像装置を提供し得るものである。
ものに比べて、読み出し回路が複雑となるものの、画素
を構成する5IPTを最適の条件で動作させることがで
き、特に第2図fblでは5IPTのゲートへ入力され
るパルス(Ocj)と5IPTのバイアス電圧(V D
S )が独立して行なえる。従ってより高感度な固体撮
像装置を提供し得るものである。
本発明、の固体撮像装置の信号読み出し方法の実施例を
第1図に示す。
第1図に示す。
第1図(alは実施例の一つで、(b)に読み出しのパ
ルスのタイミングチャートを示す。−まずこの固体撮像
装置の構成について説明する。2次元マトリクス状に並
べられたnxm個の画素の一つC1Jは一つのS−I
P T 1とゲートキャパシタ2から成る。この画素C
+4のS I PTのドレインは信号読み出しラインS
L1に、ソースは埋め込みラインBLjに、ゲートはゲ
ートキャパシタを通して垂直アドレスラインGLjに接
続している。BLjとGLjは並行でSLIに直交して
いる。
ルスのタイミングチャートを示す。−まずこの固体撮像
装置の構成について説明する。2次元マトリクス状に並
べられたnxm個の画素の一つC1Jは一つのS−I
P T 1とゲートキャパシタ2から成る。この画素C
+4のS I PTのドレインは信号読み出しラインS
L1に、ソースは埋め込みラインBLjに、ゲートはゲ
ートキャパシタを通して垂直アドレスラインGLjに接
続している。BLjとGLjは並行でSLIに直交して
いる。
信号読み出しラインSLiはプリチャージトランジスタ
Qp+が接続され、このQtIを通してプリチャージ電
源VP に接続されている。QPIはゲートが共通に
なされ、プリチャージパルスOPが印加される。さらに
SLIはトランスファートランジスタQTIを通して、
スイッチトランジスタQSiに接続されている。QTI
のゲートは全て共通になされ、トランスファーパルスj
!I’r 力印加される。QTIとQSiの接続部には
適当なキャパシタCTIが設けられ、QSiは共通の負
荷抵抗RL を通してビデオ電源Vvに接続されている
。
Qp+が接続され、このQtIを通してプリチャージ電
源VP に接続されている。QPIはゲートが共通に
なされ、プリチャージパルスOPが印加される。さらに
SLIはトランスファートランジスタQTIを通して、
スイッチトランジスタQSiに接続されている。QTI
のゲートは全て共通になされ、トランスファーパルスj
!I’r 力印加される。QTIとQSiの接続部には
適当なキャパシタCTIが設けられ、QSiは共通の負
荷抵抗RL を通してビデオ電源Vvに接続されている
。
Qs ゲートは水平シフトレジスタ12に導びかれ、
読み出しパルスJ’S +が印加される。出力はCT
iをQ s +を導通状態にしてVVによって充電する
ときにRLの電圧降下によってVout端子から得られ
る。埋め込みラインBLIは埋め込みライン選択トラン
ジスタQBjを通して接地されている。Qs4のゲート
は垂直シフトレジスタ12に導かれ、埋め込みライン選
択パルスpfB4が印加される。垂直アドレス線GLj
は垂直シフトレジスタ11に導かれ、垂直アドレスパル
スOG、が印加される。
読み出しパルスJ’S +が印加される。出力はCT
iをQ s +を導通状態にしてVVによって充電する
ときにRLの電圧降下によってVout端子から得られ
る。埋め込みラインBLIは埋め込みライン選択トラン
ジスタQBjを通して接地されている。Qs4のゲート
は垂直シフトレジスタ12に導かれ、埋め込みライン選
択パルスpfB4が印加される。垂直アドレス線GLj
は垂直シフトレジスタ11に導かれ、垂直アドレスパル
スOG、が印加される。
次1こ、第1図(blを参照して、動作について説明す
る。垂直シフトレジスタ11は垂直アドレスパルスJ2
1’Ql、・・・、J’Gmを順次出力するが、第1図
(b−)ではちょうどDa)とそれにっづ<*Cj+X
のところを示している。時刻t7で、トランスファーハ
ルスOTカ入す、トランスファートランジスタQTIが
導通状態になった後、時刻t2で、プリチャージパルス
OPによってプリチャージトランジスタQpを通して信
号読み出しラインSLI及びトランスファーキャパシタ
CTIをVpによって充電する。次に、時刻t、でまず
埋め込みライン選択パルスJIBjによって埋め込みラ
インBLIだけが接地電位となる。それにつづいてすぐ
に時刻t4において垂直アドレスパルス〆Gjによって
垂直アドレスラインGLj に接続された画素C14
〜Cnjの各5IPTは入射光量に応じた放電をする。
る。垂直シフトレジスタ11は垂直アドレスパルスJ2
1’Ql、・・・、J’Gmを順次出力するが、第1図
(b−)ではちょうどDa)とそれにっづ<*Cj+X
のところを示している。時刻t7で、トランスファーハ
ルスOTカ入す、トランスファートランジスタQTIが
導通状態になった後、時刻t2で、プリチャージパルス
OPによってプリチャージトランジスタQpを通して信
号読み出しラインSLI及びトランスファーキャパシタ
CTIをVpによって充電する。次に、時刻t、でまず
埋め込みライン選択パルスJIBjによって埋め込みラ
インBLIだけが接地電位となる。それにつづいてすぐ
に時刻t4において垂直アドレスパルス〆Gjによって
垂直アドレスラインGLj に接続された画素C14
〜Cnjの各5IPTは入射光量に応じた放電をする。
ここでtsとt4の間隔はBLIがQBHによって接地
となる時間程度′とする◎時刻t6にOcj、On+%
OT が同時に切れることによって画素CIJ〜Cn
+の光情報はそれぞれに対応するトランスファーキャパ
シタC7t〜CTm にその放電量として記憶される
。その後時刻t6.t7.t、 、、、、ts、に水
平シフトレジスタ13は読み出しパルスJ2’sx、J
2’s*、0ss−1O8nを順次発生させ、QSi1
.、、 、Q5nを順次導通させて。
となる時間程度′とする◎時刻t6にOcj、On+%
OT が同時に切れることによって画素CIJ〜Cn
+の光情報はそれぞれに対応するトランスファーキャパ
シタC7t〜CTm にその放電量として記憶される
。その後時刻t6.t7.t、 、、、、ts、に水
平シフトレジスタ13は読み出しパルスJ2’sx、J
2’s*、0ss−1O8nを順次発生させ、QSi1
.、、 、Q5nを順次導通させて。
CTIを負荷抵抗Rt、を通してビデオ電源Vvにより
充電することで、Vout端子から順次出力が得られる
。このように水平−列の光情報が出力し終ると、次にC
+I+s、・・・、Cnj+tの光情報を読み出すべく
、同様の手順が繰返される。
充電することで、Vout端子から順次出力が得られる
。このように水平−列の光情報が出力し終ると、次にC
+I+s、・・・、Cnj+tの光情報を読み出すべく
、同様の手順が繰返される。
第1図(C1に別の実施例を示す。(dlはその読み出
しのパルスのタイミングチャートを示す。まずこの固体
撮像装置の構成について説明する。
しのパルスのタイミングチャートを示す。まずこの固体
撮像装置の構成について説明する。
2次元マトリクス状に並べられたnxm個の画素の一つ
C1は−っの5IPTIとゲートキャパシタ2から成る
。この画素C目の5IPTのソースは信号読み出しライ
ンSLiに、ドレインは埋め込みラインBLjに、ゲー
トはゲートキャパシタを通して垂直アドレスラインGL
jに接続している。BLjとGLJは平行で、SLiに
直交している。信号読み出しラインSLiはリセットト
ランジスタQ旧を通して接地され、QRiのゲートは全
て共通になされリセットパルスORが印加される。さら
にSLIはトランスファートランジスタQTIを通して
、スイッチトランジスタQ s +に接続されている。
C1は−っの5IPTIとゲートキャパシタ2から成る
。この画素C目の5IPTのソースは信号読み出しライ
ンSLiに、ドレインは埋め込みラインBLjに、ゲー
トはゲートキャパシタを通して垂直アドレスラインGL
jに接続している。BLjとGLJは平行で、SLiに
直交している。信号読み出しラインSLiはリセットト
ランジスタQ旧を通して接地され、QRiのゲートは全
て共通になされリセットパルスORが印加される。さら
にSLIはトランスファートランジスタQTIを通して
、スイッチトランジスタQ s +に接続されている。
QTIのゲートは全て共通になされ、トランスファーパ
ルスOTが印加され畢 る。QTIとQSiの接続部は適当なキャパシタCTI
が設けられ、QSiはさらに全てのQSiに共通して適
当な負荷抵抗RLによって接地され、この負荷抵抗が全
てのQSiに接続している点が出力端子Voutとなる
。スイッチトランジスタQSi のゲートには水平シフ
トレジスタ13に導かれ、読み出しパルスJ’Siが印
加される。埋め込みラインBLjは埋め込みライン選択
トランジスタ。BJを通して、電源VDDに接続されて
いる。QBIのゲートは垂直シフトレジスタ12に導か
れ、埋め込みライン選択パルスOa3が印加される。垂
直アドレス線GLjは垂直シフトレジスタ11に導かれ
、垂直アドレスパルスyGjが印加される。
ルスOTが印加され畢 る。QTIとQSiの接続部は適当なキャパシタCTI
が設けられ、QSiはさらに全てのQSiに共通して適
当な負荷抵抗RLによって接地され、この負荷抵抗が全
てのQSiに接続している点が出力端子Voutとなる
。スイッチトランジスタQSi のゲートには水平シフ
トレジスタ13に導かれ、読み出しパルスJ’Siが印
加される。埋め込みラインBLjは埋め込みライン選択
トランジスタ。BJを通して、電源VDDに接続されて
いる。QBIのゲートは垂直シフトレジスタ12に導か
れ、埋め込みライン選択パルスOa3が印加される。垂
直アドレス線GLjは垂直シフトレジスタ11に導かれ
、垂直アドレスパルスyGjが印加される。
第1図fdlに読み出しのパルスのタイミングチャート
を参照して、動作について説明する。垂直シフトレジス
タ11は垂直アドレスパルスOal。
を参照して、動作について説明する。垂直シフトレジス
タ11は垂直アドレスパルスOal。
・・・、J2’Gmを順次出力するが、第1図fdlで
はちょうどDajとそれにっづ<Oa++xのところを
示しORによってリセットトランジスタQRiを通して
信号読み出しラインSLi1とCT、はともに接地電位
となる。時刻 t3でまず埋め込みライン選択パルスO
a jによってBLjだけがVDD lとよってQsj
を通してバイアスされる。このとき、BLjの電位が所
定の値となるようにJ21’sjの値及びVDDが決め
られる。それにつづいてすぐに時刻t41こおいて垂直
アドレスパルス0ajlこよって垂直アドレスラインG
Ljに接続された画素C11−Cnlの各5IPTは入
射光量に応じた放電をする。
はちょうどDajとそれにっづ<Oa++xのところを
示しORによってリセットトランジスタQRiを通して
信号読み出しラインSLi1とCT、はともに接地電位
となる。時刻 t3でまず埋め込みライン選択パルスO
a jによってBLjだけがVDD lとよってQsj
を通してバイアスされる。このとき、BLjの電位が所
定の値となるようにJ21’sjの値及びVDDが決め
られる。それにつづいてすぐに時刻t41こおいて垂直
アドレスパルス0ajlこよって垂直アドレスラインG
Ljに接続された画素C11−Cnlの各5IPTは入
射光量に応じた放電をする。
ここでt3とt4の間隔はBLIの電位が前述の所定の
値に充電されるのに要する時間程度とする。
値に充電されるのに要する時間程度とする。
時刻t5にflaj、Oaj、Q7 が同暗に切れるこ
と1とよって画素C目〜CnIの光情報はそれぞれに対
応するCTI 、・・・ 、CTnに記憶される。その
後、to、t7、to、・・・、toに水平シフトレジ
スタ13は読み出しパルスJ2’S1 、 Osz、J
2’s3、− 、JZ’snを順次発生させ、QSl、
・・・、Qsnを順次導通させて、CTI に蓄えられ
た電荷をRLを通して放電させることによってCx3.
・・・、Cnjの光情報が出力される。このように水平
−列の光情報が出力し終ると・次にCxj+z、・・・
、Cnj+uの光情報を読み出すべ(、同様の手順が繰
返される。
と1とよって画素C目〜CnIの光情報はそれぞれに対
応するCTI 、・・・ 、CTnに記憶される。その
後、to、t7、to、・・・、toに水平シフトレジ
スタ13は読み出しパルスJ2’S1 、 Osz、J
2’s3、− 、JZ’snを順次発生させ、QSl、
・・・、Qsnを順次導通させて、CTI に蓄えられ
た電荷をRLを通して放電させることによってCx3.
・・・、Cnjの光情報が出力される。このように水平
−列の光情報が出力し終ると・次にCxj+z、・・・
、Cnj+uの光情報を読み出すべ(、同様の手順が繰
返される。
第1図Cal、(dlにおいて、Qp+−QRi−QT
I−QSI、QBj it全rMO3l−tyジ風ケへ
示し工あ、が、これらはいずれも全てMOS)ランジス
タである必要はなく、SIT、バイポーラトランジスタ
、JFETなどのスイッチングトランジスタであっても
よいことはもちろんである。
I−QSI、QBj it全rMO3l−tyジ風ケへ
示し工あ、が、これらはいずれも全てMOS)ランジス
タである必要はなく、SIT、バイポーラトランジスタ
、JFETなどのスイッチングトランジスタであっても
よいことはもちろんである。
第3図にこの固体撮像装置を構成する一画素の構造を示
す一例を上げる。(alはその表面構造を、(b)はf
alにおいてA−A’で示される線での断面構造を、そ
れぞれ模式的に現わしている。ここに示した構造の例で
は、p型St基板318上に作られたnチャンネル5I
PTと、ドープトポリシリコンなどの導電性透明電極3
11とS iozなどの透明絶繕膜312と5IPTの
p+アゲート16によって構造されるMOSキャパシタ
によって一画素が構成されている。
す一例を上げる。(alはその表面構造を、(b)はf
alにおいてA−A’で示される線での断面構造を、そ
れぞれ模式的に現わしている。ここに示した構造の例で
は、p型St基板318上に作られたnチャンネル5I
PTと、ドープトポリシリコンなどの導電性透明電極3
11とS iozなどの透明絶繕膜312と5IPTの
p+アゲート16によって構造されるMOSキャパシタ
によって一画素が構成されている。
第3図(a)において、垂直アドレスラインGLj35
はSLi394+と直交しているので、SLi39合が
一信号読み出しラインとなる。従ってこの構成例では、
第1図(a)(こ示した実施例では5IPTは倒立動作
、第1図tc+に示した実施例では5IPTは王立動作
となる。GLjが埋め込みラインに直交するような構成
をとれば、逆に、第1図(alに示した実施例では5I
PTは正立動作、第1図(C)に示した実施例ではS
I PTは倒立動作となる。このときは、もちろん、埋
め込みラインが信号読み出しラインとなる。
はSLi394+と直交しているので、SLi39合が
一信号読み出しラインとなる。従ってこの構成例では、
第1図(a)(こ示した実施例では5IPTは倒立動作
、第1図tc+に示した実施例では5IPTは王立動作
となる。GLjが埋め込みラインに直交するような構成
をとれば、逆に、第1図(alに示した実施例では5I
PTは正立動作、第1図(C)に示した実施例ではS
I PTは倒立動作となる。このときは、もちろん、埋
め込みラインが信号読み出しラインとなる。
以下、S I PTは王立動作として説明する。
第3図(alは画素C+4を中心に一画素の表面構造を
示して、いる。図中一点鎖線で囲まれた部分がそれに相
当する。35は垂直アドレスラインGLj、34は埋め
込みラインBLJ、39は信号読み出しラインSLiを
表す。BLj34とGLJ35は平行に、そしてSLi
39には直交している。それぞれの交差部分は5iCh
やPSGなどの絶縁物によって、互いに絶縁されて
いる。さらに図中には信号読み出しラインS L l−
131、埋め込みラインBL3−x33、垂直アドレス
ラインGLj++37も示されている。32.36.3
8.310はAl−5iのような高い導電性の物質で、
それぞれSL=、31、GLj35、GLj+137、
SLi39の抵抗を減少させるために設けである。
示して、いる。図中一点鎖線で囲まれた部分がそれに相
当する。35は垂直アドレスラインGLj、34は埋め
込みラインBLJ、39は信号読み出しラインSLiを
表す。BLj34とGLJ35は平行に、そしてSLi
39には直交している。それぞれの交差部分は5iCh
やPSGなどの絶縁物によって、互いに絶縁されて
いる。さらに図中には信号読み出しラインS L l−
131、埋め込みラインBL3−x33、垂直アドレス
ラインGLj++37も示されている。32.36.3
8.310はAl−5iのような高い導電性の物質で、
それぞれSL=、31、GLj35、GLj+137、
SLi39の抵抗を減少させるために設けである。
第3図Fb)において、n十領域314は5IPTのソ
ース領域で、n+領域315はドレイン領域、n+領域
317はチャンネル領域、領域313は分離領域で隣り
合う画素を互いに分離している。図には示されないが、
第3図(alにおいて縦に隣り合う画素も同様に分離領
域が設けられている。
ース領域で、n+領域315はドレイン領域、n+領域
317はチャンネル領域、領域313は分離領域で隣り
合う画素を互いに分離している。図には示されないが、
第3図(alにおいて縦に隣り合う画素も同様に分離領
域が設けられている。
ソース領域314はドープトポリシリコンなどの導電性
透明電極319によって電極がとられ信号読み出しライ
ン39へと接続される。埋め込まれたドレイン領域31
5は図中紙面に垂直な方向に連続していて、埋め込みラ
インとなっているが、表面からAl−3iのような高い
導電性の電極34をつけることによって、この埋め込み
ラインの抵抗を小さくしている。ゲートキャパシタの電
極311は、これと同一の物質で構成される垂直アドレ
スライン35に接続されている。
透明電極319によって電極がとられ信号読み出しライ
ン39へと接続される。埋め込まれたドレイン領域31
5は図中紙面に垂直な方向に連続していて、埋め込みラ
インとなっているが、表面からAl−3iのような高い
導電性の電極34をつけることによって、この埋め込み
ラインの抵抗を小さくしている。ゲートキャパシタの電
極311は、これと同一の物質で構成される垂直アドレ
スライン35に接続されている。
画素の構成が上で説明したように、全ての配線が表面で
取られているので、読み出しの為に設けられるスイッチ
トランジスタを同一チップ上に製作することは容易にで
きる。スイッチトランジスタをpウェル上にnチャンネ
ルMOSトランジスタとして構成する場合、pウェルの
電位はp基板318と同じになる。p基板には幕扶深<
へ侵入する長波長光によって励起されたホールを拡散さ
せない為に、逆バイアスがかけられることもある。この
ような場合も1本発明ではOBのパルス電圧によって基
板バイアス効果を補償できる。
取られているので、読み出しの為に設けられるスイッチ
トランジスタを同一チップ上に製作することは容易にで
きる。スイッチトランジスタをpウェル上にnチャンネ
ルMOSトランジスタとして構成する場合、pウェルの
電位はp基板318と同じになる。p基板には幕扶深<
へ侵入する長波長光によって励起されたホールを拡散さ
せない為に、逆バイアスがかけられることもある。この
ような場合も1本発明ではOBのパルス電圧によって基
板バイアス効果を補償できる。
本発明の固体撮像装置の信号読み出し方法は、埋め込み
ライン選択トランジスタのアドレスパルスを、垂直アド
レスラインとは独立にすることによって、アドレスパル
スに対する埋め込みライン選択トランジスタと埋め込み
ラインの持つ容量による遅れを補償し、さらに基板バイ
アスの効果を補償することができる。これによって5I
PTを最適な条件で利用でき、高感度で広いダイナミッ
クレンジの読み出し方法である。
ライン選択トランジスタのアドレスパルスを、垂直アド
レスラインとは独立にすることによって、アドレスパル
スに対する埋め込みライン選択トランジスタと埋め込み
ラインの持つ容量による遅れを補償し、さらに基板バイ
アスの効果を補償することができる。これによって5I
PTを最適な条件で利用でき、高感度で広いダイナミッ
クレンジの読み出し方法である。
第6図は発明の効果を示すための図で、第3図に示した
構造のものを第1図(C1及び第4図(C1に示し泗?
法で動作させたときの、一画素の光電変換特性の例を示
している。一画素の寸法は65 p m X 65 μ
m テ、電源電圧VDD=3V、負荷抵抗R,=10k
Q、光積分時間(アドレスから次のアドレスまでの周期
) TtI=11rylsで、波長655nm(赤)の
光を照射しており、横軸はその入射光量pI〔μW/C
PII2〕、たて軸は暗状態との出力電圧Voutの差
ΔVou t (m V )を示している。本発明の読
み出し方法でへらに0n=5VとしOGに対して100
ns速(入力する。、Ic−3Vのときは従来例に対し
て本発明では飽和出力で2倍以上大きい出力が得られて
いる。さらに従来例で0′G=5vとすると、感度が約
0.7倍と小さくなってしまい、5IPTが最適動作と
なってい妙ないことがわかる。埋め込みライン選択トラ
ンジスタのしきい値電圧は、この例では1vであるが、
強い入射光による誤動作を防ぐ為にも、しきい値電圧は
ある程度大きいことが望ましい。
構造のものを第1図(C1及び第4図(C1に示し泗?
法で動作させたときの、一画素の光電変換特性の例を示
している。一画素の寸法は65 p m X 65 μ
m テ、電源電圧VDD=3V、負荷抵抗R,=10k
Q、光積分時間(アドレスから次のアドレスまでの周期
) TtI=11rylsで、波長655nm(赤)の
光を照射しており、横軸はその入射光量pI〔μW/C
PII2〕、たて軸は暗状態との出力電圧Voutの差
ΔVou t (m V )を示している。本発明の読
み出し方法でへらに0n=5VとしOGに対して100
ns速(入力する。、Ic−3Vのときは従来例に対し
て本発明では飽和出力で2倍以上大きい出力が得られて
いる。さらに従来例で0′G=5vとすると、感度が約
0.7倍と小さくなってしまい、5IPTが最適動作と
なってい妙ないことがわかる。埋め込みライン選択トラ
ンジスタのしきい値電圧は、この例では1vであるが、
強い入射光による誤動作を防ぐ為にも、しきい値電圧は
ある程度大きいことが望ましい。
このように本発明では5IPTの持つ高い光感度を利用
でき、この例では10−2μw/cIR2)微弱光から
工0μW/ffi” 以上の光まで直線性よく読み出
す乙と〆で芝τいる・
でき、この例では10−2μw/cIR2)微弱光から
工0μW/ffi” 以上の光まで直線性よく読み出
す乙と〆で芝τいる・
第1図は本発明の実施例で、(a)は構成の一例を、(
b)はその読み出しの動、作波形を示し、(C)は別の
例で、(d)はその読み出しの動作波形を示す図、第2
図は本発明の詳細な説明するための図で、(a)は第1
図(al +c相当L 、 (b) ハ第1図(cl
+c相当し、(C)は垂直アドレスパルスを示す図、第
3図は一画素の構成例で、(alは表面構造、(blは
断面構造を示す図、第4図は従来の技術を説明するため
の図で、(a)は構成例、(b)はその読み出しの動作
波形を示し、(C)は別の構成例で、(d)はその読み
出しの動作波形を示す図、第5図は従来の技術の持つ問
題点を説明するための図で、(a)は第4図(alに相
当し、(b)は第4図(C1に相当し、(C)は垂直ア
ドレスパルスを示す図、第6図は本発明の効果を示すた
めの図で、試作及び実験で確かめられたものである。 1・・・静電誘導ホトトランジスタ、2・・・ゲートキ
ャパシタ、CHj(i −1〜n 、 J −1〜e
”)−”画素、GLj(j=1〜m)・・・垂直アドレ
スライン、SLi (i−1〜n)・・・信号読み出
しライン、BLj(j=1〜m)・・・埋め込みライン
、QBJ(j−1〜m)・・・埋め込みライン選択トラ
ンジスタ、Qpli−1〜n)・・・プリチャージトラ
ンジスタ、VP・・・プリチャージ電源、Q丁+(i−
1〜n)・・・トランスファートランジスタ、QSi<
i−1〜n)・・・スイッチトランジスタ、V out
・・・出力端子、RL・・・負荷抵抗、Vv・・・ビ
デオ電源、φB7(j−1〜層)・・・埋め込みライン
選択パルス、φ4)(j−1〜m)・・・垂直アドレス
パルス、QR; (i −1〜n)・・・リセットトラ
ンジスタ、Vpo・・・電源 (Q)(F)) →←セー τ (C) 112 口
b)はその読み出しの動、作波形を示し、(C)は別の
例で、(d)はその読み出しの動作波形を示す図、第2
図は本発明の詳細な説明するための図で、(a)は第1
図(al +c相当L 、 (b) ハ第1図(cl
+c相当し、(C)は垂直アドレスパルスを示す図、第
3図は一画素の構成例で、(alは表面構造、(blは
断面構造を示す図、第4図は従来の技術を説明するため
の図で、(a)は構成例、(b)はその読み出しの動作
波形を示し、(C)は別の構成例で、(d)はその読み
出しの動作波形を示す図、第5図は従来の技術の持つ問
題点を説明するための図で、(a)は第4図(alに相
当し、(b)は第4図(C1に相当し、(C)は垂直ア
ドレスパルスを示す図、第6図は本発明の効果を示すた
めの図で、試作及び実験で確かめられたものである。 1・・・静電誘導ホトトランジスタ、2・・・ゲートキ
ャパシタ、CHj(i −1〜n 、 J −1〜e
”)−”画素、GLj(j=1〜m)・・・垂直アドレ
スライン、SLi (i−1〜n)・・・信号読み出
しライン、BLj(j=1〜m)・・・埋め込みライン
、QBJ(j−1〜m)・・・埋め込みライン選択トラ
ンジスタ、Qpli−1〜n)・・・プリチャージトラ
ンジスタ、VP・・・プリチャージ電源、Q丁+(i−
1〜n)・・・トランスファートランジスタ、QSi<
i−1〜n)・・・スイッチトランジスタ、V out
・・・出力端子、RL・・・負荷抵抗、Vv・・・ビ
デオ電源、φB7(j−1〜層)・・・埋め込みライン
選択パルス、φ4)(j−1〜m)・・・垂直アドレス
パルス、QR; (i −1〜n)・・・リセットトラ
ンジスタ、Vpo・・・電源 (Q)(F)) →←セー τ (C) 112 口
Claims (2)
- (1)静電誘導ホトトランジスタとゲートキャパシタか
ら構成された画素C_i_jをn×mのマトリクスに構
成し、垂直アドレスラインGL_j(j=1〜m)は前
記画素C_i_j(i=1〜n)を構成する前記静電誘
導トランジスタのゲートに前記ゲートキャパシタを介し
て共通に接続され、信号読み出しラインSL_i(i=
1〜n)は前記画素C_i_j(j=1〜m)を構成す
る前記静電誘導ホトトランジスタのドレインに共通に接
続され、埋め込みラインBL_j(j=1〜m)は前記
画素C_i_j(i=1〜n)を構成する前記静電誘導
ホトトランジスタのソースに共通に接続され、前記埋め
込みラインBL_j(j=1〜m)はスイッチトランジ
スタQB_jを通して接地され、前記信号読み出しライ
ンSL_i(i=1〜n)はスイッチトランジスタQP
_iを通して共通にプリチャージ電源に接続され、前記
スイッチトランジスタQP_iのゲートは共通になされ
、さらに前記信号読み出しラインSL_i、(i=1〜
n)は二つの直列に接続されたスイッチトランジスタQ
T_i及びスイッチトランジスタQS_iを介して共通
に出力端子に接続され、前記出力端子は接地との間に一
つの負荷抵抗及びビデオ電源が接続され、前記スイッチ
トランジスタQT_i(i=1〜n)はゲートが全て共
通になされた固体撮像装置において、垂直アドレスのと
きにまず前記埋め込みラインBL_j(j=1〜m)に
接続された前記スイッチトランジスタQB_jへのアド
レスパルスが前記垂直アドレスラインGL_jへのアド
レスパルスとは独立してかつ所定の時間 だけ早く入力することを特徴とする固体撮像装置の信号
読み出し方法。 - (2)静電誘導ホトトランジスタとゲートキャパシタか
ら構成された画素C_i_jをn×mのマトリクスに構
成し、垂直アドレスラインGL_j(j=1〜m)は前
記画素C_i_j(i=1〜n)を構成する前記静電誘
導ホトトランジスタのゲートに前記ゲートキャパシタを
介して共通に接続され、信号読み出しラインSL_i(
1=1〜n)は前記画素C_i_j(j=1〜m)を構
成する前記静電誘導ホトトランジスタのソースに共通に
接続され、埋め込みラインBL_j(j=1〜m)は前
記画素C_i_j(i=1〜n)を構成する前記静電誘
導ホトトランジスタのドレインに共通に接続され、前記
埋め込みラインBL_j(j=1〜m)はスイッチトラ
ンジスタQB_jを通して共通して所定の電源に接続さ
れ、前記信号読み出しラインSL_i(i=1〜n)は
スイッチトランジスタQR_iを通して接地され、前記
スイッチトランジスタQR_iのゲートは共通になされ
、さらに前記信号読み出しラインSL_i(i=1〜n
)は二つの直列に接線されたスイッチトランジスタQT
_i及びスイッチトランジスタQS_iを介して共通に
出力端子に接続され、前記出力端子は接地との間に一つ
の負荷抵抗が接続され、前記スイッチトランジスタQT
_i(i=1〜n)はゲートが全て共通になされた固体
撮像装置において、垂直アドレスのときにまず前記埋め
込みライン BL_j(j=1〜m)に接続された前記スイッチトラ
ンジスタQB_jへのアドレスパルスが前記垂直アドレ
スラインGL_jへのアドレスパルスとは独立してかつ
所定の時間だけ早く入力することを特徴とする固体撮像
装置の信号読み出し方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62059754A JPS63224483A (ja) | 1987-03-12 | 1987-03-12 | 固体撮像装置の信号読み出し方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62059754A JPS63224483A (ja) | 1987-03-12 | 1987-03-12 | 固体撮像装置の信号読み出し方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63224483A true JPS63224483A (ja) | 1988-09-19 |
JPH0445031B2 JPH0445031B2 (ja) | 1992-07-23 |
Family
ID=13122357
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62059754A Granted JPS63224483A (ja) | 1987-03-12 | 1987-03-12 | 固体撮像装置の信号読み出し方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63224483A (ja) |
-
1987
- 1987-03-12 JP JP62059754A patent/JPS63224483A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0445031B2 (ja) | 1992-07-23 |
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