JPS63224168A - Icソケツト接続コネクタ - Google Patents

Icソケツト接続コネクタ

Info

Publication number
JPS63224168A
JPS63224168A JP5537387A JP5537387A JPS63224168A JP S63224168 A JPS63224168 A JP S63224168A JP 5537387 A JP5537387 A JP 5537387A JP 5537387 A JP5537387 A JP 5537387A JP S63224168 A JPS63224168 A JP S63224168A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
socket
contact
spring
view
connector
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5537387A
Other languages
English (en)
Inventor
浅田 和徳
輝 勝義
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP5537387A priority Critical patent/JPS63224168A/ja
Publication of JPS63224168A publication Critical patent/JPS63224168A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Connecting Device With Holders (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 本発明は半導体部品等を搭載したプリント配線板等の配
線基板内部に搭載されたrcソケットと、試験機とを接
続して電気的試験を行なう際に、rc′)ケラトのコン
タクトを変形させることなく、ワンタッチで着脱を可能
とするICソケット接続コネクタを従供する。
〔産業上の利用分野〕
本発明はICソケット接続コネクタに係り、特にスプリ
ングコンタクトピンと、ICソケットに固定するための
ロック機構とを有するICソケット接続コネクタに関す
る。
〔従来の技術〕
半導体部品等が搭載されたプリント基板等の配線基板を
試験機に接続して電気的な試験を行なう際に、配線基板
内部に搭載された例えば第6図に示すIcソケットと試
験機を接続する場合がある。
このようなICソケットと試験機との接続に従来は第7
図(a)、(b)に示すような接触コンタクトを有する
ICソケットプラグに配線して使用していた。
従来のICソケットプラグは例えば第2図に示すような
ICソケットのコンタクト6に矢印の方向から棒状の接
触コンタクト12を挿入し第4図に示す状態で挿入し電
気的接続を図っていた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上述したICソケットのコンタクト6と従来のICソケ
ットプラグの接触コンタクト12の接続は単にICソケ
ットのコンタクト6を力で押し広げてその圧縮応力でな
されていたため、次に示すような問題が生じていた。
■ ICソケットのコンタクトを変形させるため、試験
終了後ICを搭載して動作させている時に接触不良を発
生させることがある。
■ ビン数が多い場合、ICソケットへの着脱に大きな
力を必要とし、ICソケット・プラグを抜くときコンタ
クトピンを折ることがある。
■ コンタクトピンが折れた場合、新しいICソケット
と交換しなければならず、配線変えなどの作業が必要で
ある。
〔問題点を解決するための手段〕
上記問題は本発明によればICソケットのコンタクトに
電気的に接続する複数のコンタクトピンを有するICソ
ケット接続コネクタにおいて、前記複数のコンタクトピ
ンがそれぞれ交換可能なスプリング・コンタクト・ピン
から構成されており、前記ICソケットコネクタ全体を
前記ICソケットに固定するためのロック機構を有する
ことを特徴とするICソケット接続コネクタによって解
決される。
〔作 用〕
配vA基板上のIcソケットに接続する場合、ロック・
レバーを両サイドが内側へ押し、ICソケットに位置合
せガイドを合わせながらICソケット接続コネクタ全体
をICソケットに押しつける。
このときスプリングピンがICソケットのコンタクト部
に接触し、バネの反動力がかかるので少し力を入れて更
に押しつける。いっばい入った所でロック・レバーを押
える力を抜くと、ICソケットにロック・レバーの先端
がパチンとロックされる。
〔実施例〕
以下本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第1図(a)、 (b)、 (c)および(d)は本発
明のICソケット接続コネクタの一実施例のそれぞれ正
面図、底面図、右側面図及び左側図面を示す。
第1図に示すように、ICソケット接続コネクタの底部
に以下に説明する交換可能なスプリングコンタクトピン
lが複数段けられ、更に該スプリングコンタクトピンl
を第2図に示したICソケットコンタクト6に第3図に
示したように接続させる。本発明のスプリングコンタク
トピンlはICソケットコンタクト6に接続した際、ス
プリングにより接続を解除する(抜ける)ように力が働
くのでその力を抑えるためにICソケット接続コネクタ
の底部にロックレバ−(爪)2を設ける。
ロックレバ−2は第1図(a)に示したAを支点にして
ばねの収縮のわずかな距離だけ回転可能になっている。
すなわちロックレバ−2はスプリングコンタクトピンl
をICソケットコンタクト4に接続させる際に矢印B方
向に押しておき接続完了と同時に離してロックレバ−2
をICソケットの一部でばねが戻るのを止めるように設
けられている。3は位置合せガイドである。
第5図(a)、(b)は本発明に係るスプリングコンタ
クトを説明するための断面図で特に第5図(a)はスプ
リングプローブを示し、第5図(b)はスプリングプロ
ーブを挿入装着するためのレセプタクルを示す。
第5図(a)に示したスプリングプローブ8は第5図(
b)のレセプタクル10に挿入装着されて、ICソケッ
ト接続コネクタに複数本装着し、第2図に示したICソ
ケットコンタクト6に第3図に示したように接触される
。このICソケットコンタクト6とスプリングコンタク
トの接触はスプリング9の押し戻す力により十分である
。ただこのスプリングによる力はICソケットのコンタ
クトを押し広げない力でしかも大きい程接触の効果が大
となる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば試験機と配線基板内
部のICソケットをワンタッチで着脱でき、ICソケッ
トのコンタクト外部を変形させることなく接続できるた
めICソケットの高信顛化を保って、かつ保守が容易と
なる。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)、 (b)、 (c)及び(d)は本発明
のICソケット接続コネクタの一実施例のそれぞれ正面
図、底面図、右側面図及び左側面図を示し、第2図はI
Cソケットのコンタクトの断面図であり、第3図は本発
明に係るスプリングコンタクトピンとICソケットコン
タクトの接触状態を示す模式図であり、第4図は従来の
ICソケットプラグとICソケットコンタクトとの接触
状態を示す模式図であり、第5図(a)及び(b)は本
発明に係るスプリジグコンタクトを説明するための断面
図で特に第5図(a)はスプリングプローブを示し、第
5図(b)はスプリングプローブを挿入装着するための
レセプタタルを示し、第6図はICソケットを示す斜視
図であり、第7図(a)。 (b)は従来のICソケットプラグを示すそれぞれ正面
図及び側面図(一部所面図)である。 l・・・スプリングコンタクトピン、 2・・・ロックレバ−13・・・位置合せガイド、4・
・・ICソケット、 6・・・ICソケットコンタクト、 8・・・スプリングプローブ、 9・・・スプリング、   10・・・レセプタクル、
12・・−ICソケットプラグ接触コンタクト。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 ICソケットのコンタクトに電気的に接続する複数のコ
    ンタクトピンを有するICソケット接続コネクタにおい
    て、 前記複数のコンタクトピンがそれぞれ交換可能なスプリ
    ング・コンタクト・ピンから構成されており、前記IC
    ソケットコネクタ全体を前記ICソケットに固定するた
    めのロック機構を有することを特徴とするICソケット
    接続コネクタ。
JP5537387A 1987-03-12 1987-03-12 Icソケツト接続コネクタ Pending JPS63224168A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5537387A JPS63224168A (ja) 1987-03-12 1987-03-12 Icソケツト接続コネクタ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5537387A JPS63224168A (ja) 1987-03-12 1987-03-12 Icソケツト接続コネクタ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63224168A true JPS63224168A (ja) 1988-09-19

Family

ID=12996681

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5537387A Pending JPS63224168A (ja) 1987-03-12 1987-03-12 Icソケツト接続コネクタ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS63224168A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007125568A1 (ja) * 2006-03-30 2007-11-08 Fujitsu Limited ソケットの構造

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007125568A1 (ja) * 2006-03-30 2007-11-08 Fujitsu Limited ソケットの構造

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100365485B1 (ko) 전기부품용 소켓
JP6515003B2 (ja) インターフェース装置、インターフェースユニット、プローブ装置及び接続方法
JP2007017234A (ja) 検査装置用ソケット
US7753688B1 (en) Board co-edge coupling with conductive elements
US6208158B1 (en) Zero static force assembly for wireless test fixtures
US6139348A (en) Electric connector with an elastically deformable contact pin
US4632485A (en) Electrical circuit testing apparatus
KR100767191B1 (ko) 회로기판 연결 유닛 및 그것을 갖는 평판표시패널 검사장치
TWI359535B (en) Zif connectors and semiconductor testing device an
KR102119862B1 (ko) 테스트 소켓
JPS63224168A (ja) Icソケツト接続コネクタ
KR100324007B1 (ko) 모듈 디바이스용 상호 접속장치
KR101668270B1 (ko) 전자부품 실장 테스트를 위한 접속장치 및 이를 이용한 테스트 장치
JP2848281B2 (ja) 半導体装置の試験装置
JP3719003B2 (ja) Icソケット
JPH073799B2 (ja) Icテスト装置
KR100656065B1 (ko) 평판표시소자 검사용 전기적 접촉 단자
US6605952B2 (en) Zero connection for on-chip testing
KR100902376B1 (ko) 테스트 장치용 커넥터
US6142808A (en) Socket for electrical parts
KR200276956Y1 (ko) 테스트용번인시스템의접속장치
US20050194984A1 (en) Testing apparatus and testing method
JP2002202338A (ja) コネクタ検査ユニット及びそれを用いたコネクタ検査装置
WO2000014833A1 (fr) Connecteur femelle pour dispositif de traitement
CN114994371A (zh) 一种探针测试装置