JPS63222742A - X線ct装置 - Google Patents

X線ct装置

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JPS63222742A
JPS63222742A JP62057293A JP5729387A JPS63222742A JP S63222742 A JPS63222742 A JP S63222742A JP 62057293 A JP62057293 A JP 62057293A JP 5729387 A JP5729387 A JP 5729387A JP S63222742 A JPS63222742 A JP S63222742A
Authority
JP
Japan
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circuit
ray
failure
detection
storage circuit
Prior art date
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Pending
Application number
JP62057293A
Other languages
English (en)
Inventor
寛 佐々木
繁雄 小林
孝 月津
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
Original Assignee
Hitachi Medical Corp
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Publication date
Application filed by Hitachi Medical Corp filed Critical Hitachi Medical Corp
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Publication of JPS63222742A publication Critical patent/JPS63222742A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、X線CT装置に関し、特に多素子型X線検出
器及び検出回路の故障を検出するのに適用して有効な技
術に関するものである。
〔従来技術〕
従来、XIwICT装置におけるX線検出系の故障検出
は、X線を発生していない状態で、X線検出器の出力X
線検出信号を処理してディジタル信号に変換するための
検出回路の入力にスイッチ等を用いて電流を流し1回路
の異常の有無を判定することにより行っていた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、前記従来技術では、XmCT装置の実際
の使用条件でX線検出系の故障検出を行うことができな
いという問題があった。
本発明は、前記問題点を解決するためになされたもので
ある。
本発明の目的は、X線CT装置の実際の使用条件で多素
子型X線検出器及び検出回路の故障検出を行うことがで
きる技術を提供することにある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述及び添付図面によって明らかになるであろ
う。
〔問題点を解決するための手段〕
本願において開示される発明のうち1代表的なものの概
要を簡単に説明すれば、下記のとおりである。
すなわち、X線検出器の出力X線検出信号と所定の基準
信号とを比較して前記X線検出器及び検出回路の故障を
検出するための故障検出回路を設けたことを特徴とする
ものである。
〔作用〕
上記した手段によれば、X線検出信号と基準信号との比
較の結果により、X線を発生した状態でX線検出器及び
検出回路の故障の有無を判定することができるので、X
MCT装置の実際の使用条件でx、m検出器及び検出回
路の故障検出を行うことができる。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例を図面を用いて具体的に説明す
る。
なお、実施例を説明するための全回において、同一機能
を有するものには同一符号を付け、その繰り返しの説明
は省略する。
第1図は、本発明の一実施例によるX線CT装置の概略
構成を示すブロック図である。
第1図に示すように、本実施例によるX線CT装置にお
いては、Xi発生条件(後述のX線管3の管電圧及び管
電流)を定め、装置全体の動作を制御するコンピュータ
1に、前記X線発生条件により所定のX線を発生させる
ためのX線装!2が接続され、このX線装置2にX線管
3が接続されている。そして、コンピュータ1によりX
線装置2が制御され、X線管3からX線が発生されるよ
うになっている。このX線管3から発生されるX線は、
このxm管3に対向した位置に設けられた多素子型X線
検出器4により検出され、この多素子型X線検出器4の
出力に接続された検出回路5により各素子の出力が前処
理されるようになっている。この検出回路5には一時記
憶回路6が接続され、この一時記憶回路6に前記検出回
路5の出力が一時記憶されるようになっている。この一
時記憶回路6には平均回路7が接続され、この平均回路
7により、一時記憶回路6に記憶されたデータの平均が
各検出系毎に取られるようになっている。この平均回路
7には平均値記憶回路8が接続され2この平均値記憶回
路8により、平均回路7による平均値データが記憶され
るようになっている。なお、この平均回路7は、コンピ
ュータ1と直接接続されている。
一方、コンピュータ1にはさらに格納制御回路9が接続
され、この格納制御回路9により、コンピュータ1のC
TilWs条件信号によりチェック用基準信号の格納場
所が制御されるようになっている。この格納制御回路9
には基準信号格納回路10が接続され、この基準信号格
納回路10により、複数のチェック用基準信号が記憶さ
れ保持されるようになっている。この基準信号格納回路
10には基準値記憶回路11が接続され、この基準値記
憶回路11により、格納制御回路9により指定され基準
信号格納回路10から読み出されたチェック用基準信号
が一時記憶されるようになっている。この基準値記憶回
路11及び前記平均値記憶回路8には故障検出回路12
が接続され、この故障検出回路12により、平均値記憶
回路8の出力信号と基準値記憶回路11の出力信号とが
比較され、故障検出が行われるようになっている。この
故障検出回路12には表示回路13が接続され、この表
示回路13により、故障検出回路1h2で検出された故
障状態が表示されるようになっている。また、この故障
検出回路12には故障記憶回路14が接続され、この故
障記憶回路14により、故障検出回路12で検出された
故障状態が記録されるようになっている。さらに、前記
故障検出回路12にはデータ記憶回路15が接続され、
このデータ記憶回路15により、故障検出回路12によ
る比較結果が保存されるようになっている。なお、この
故障検出回路12は、コンピュータ1と直接接続されて
いる。
第2図に示すように、前記故障検出回路12は、信号正
規化回路121、比較回路122及び異常判定回路12
3により構成されている。この場合、前記平均値記憶回
路8は信号正規化回路121に接続され。
この信号正規化回路121は比較回路122に接続され
ている。この比較回路122には、前記基準値記憶回路
11も接続されている。さらに、この比較回路122は
、異常判定回路123及びデータ記憶回路15にそれぞ
れ接続されている。また、前記基準値記憶回路11は、
この異常判定回路123にも接続されている。この異常
判定回路123は1表示回路13及び故障記憶回路14
にそれぞれ接続されている。
次に、上述のように構成された本実施例によるX、II
ICT装置の動作を説明する。
X&ICT装置においては、日常の業務開始前に必ずX
線管3のウオームアツプが行われる。そこで、このウオ
ームアツプ時に発生されるX線を利用してX線検出系の
故障検出を行うことができる。
このX線管3のウオームアツプの条件はコンピュータ1
に記憶されており、このコンピュータ1により、指定さ
れた順序に従って所定の管電圧及び管電流条件がX線装
置2及び格納制御回路9にそれぞれ送られる。これによ
って、X線装置2は、指定されたX線発生条件に従って
高電圧を発生させ、この高電圧がX線管3に加えられて
X線が発生される。このX線管3により発生されたX線
は多素子型X線検出器4により検出され、その検出信号
が検出回路5に送られる。この検出回路5においては、
多素子型X線検出器4の出力信号が時系列的に並べ換え
られてディジタル信号に変換された後、このディジタル
信号が一時記憶回路6に送られる。この一時記憶回路6
により検出回路5のデータが一時記憶され、これらのデ
ータが平均回路7に与えられる。この平均回路7におい
ては、一時記憶回路6のデータを用いてそれらの加算処
理が行われ、コンピュータ1からの終了信号により平均
値が算出されてこの平均値が平均値記憶回路8に記憶さ
れる。
一方、格納制御回路9においては、コンピュータ1によ
り与えられたX線発生条件により、基準信号格納回路1
0におけるチェック用基準信号の格納番地が計算され、
この格納番地が基準信号格納回路10に与えられてその
番地の基準信号が読み出され、基準値記憶回路11に記
憶される。故障検出回路12においては、コンピュータ
1の指示に基づき、平均値記憶回路8に記憶されている
データと基準値記憶回路11に記憶されているデータと
が比較されてその結果により故障検出が行われるととも
に、各X線発生条件での比較結果がデータ記憶回路15
に格納され、検出結果(故障の有無、故障検出系番号等
)が表示回路13に表示される。また、故障が検出され
た場合は、故障記憶回路14にその結果が記録される。
次に、第2図を参照して前記故障検出回路12の動作を
詳細に説明する。
平均値記憶回路8から出力される平均値データは、本実
施例においては例えば第3図(平均値データを検出系番
号に対して示すグラフ)に示すような形状である。この
平均値の大きさはX線強度により異なる。信号正規化回
路121は平均値記憶回路8のデータの検出器番号1〜
8及び(n−7)〜nの出力Diを平均し、正規化係数
Nを次の(1)式により求める。
次に、このNを用いて、各チャンネル毎の検出器出力D
j(j= 1 t 2 *・・・・+ n)を次の(2
)式により正規化されたデータDkに変換する。
Dk=Dj/N        (2)この結果、信号
正規化回路121の出力は、第4図(第3図に示す平均
値データを正規化した後のデータを検出系番号に対して
示すグラフ)に示す形状となる0次に、この正規化され
たデータDkは比較回路122に与えられる。一方、基
準値記憶回路11からもチェック用基準信号がこの比較
回路122に与えられる。この基準となる信号の形状は
、X線管3の前面に設けられているX線フィルタの形状
やX線吸収係数から計算により一意的に求められ、X線
管の管電流や管電圧の大きさにより影響されない、前記
基準となる信号の形状の一例を第5図に示す。
比較回路122は、信号正規化回路121の出力Dkと
基準値記憶回路11の出力Skとを用い、Rk=Dk/
Sk        (3)を求める。このR,には第
6図に示すようになり、この結果がデータ記憶回路15
及び異常判定回路123にそれぞれ送られる。この異常
判定回路123では、比較回路122の出力データRk
と、基準値記憶回路11から与えられる判定基準(許容
範囲)との比較が行われる(第7図及び第8図参照)。
この場合。
第7図の場合にはRkは判定基準内にあるが、第8図の
場合には判定基準から外れるRk (A、 Bを付す)
が存在することからX線検出系に異常があると判定され
る。ここで、Aは検出回路5の故障によるものであり、
Bは多素子型X線検出器4の故障によるものである。前
記判定結果、すなわちX線検出系の正常、異常の区別並
びに異常の場合は異常検出器番号及び検出回路番号が表
示回路13に表示されるとともに、これと同−内容及び
年月日、時刻等が故障記憶回路14に記録される。
このように1本実施例によれば、X線CT装置の使用前
のウオームアツプ時にX線を発生させた状態で、多素子
型X線検出器4のX線検出信号と基準値記憶回路11か
らの基準信号との比較により多、素子型X線検出器4及
び検出回路5の故障の有無を判定することができる。従
って、X@CT装置の実際の使用条件で多素子型X線検
出器4及び検出回路5を含めた検出系の故障検出を行う
ことができる。さらに1表示回路13により異常検出器
番号及び検出回路番号が表示されるため故障個所が容易
にわかる。このため、X線CT装置について専門的知識
がなくとも故障個所の修理が可能となり、従って装置の
ダウンタイムを最小限とすることができる。
以上、本発明を実施例に基づき具体的に説明したが1本
発明は、前記実施例に限定されるものではなく、その要
旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であることは
言うまでもない。
例えば、故障検出回路12の構成は第2図に示すものに
限定されるものではない。また、上述の正規化の方法は
一例に過ぎず、他の方法を用いることもできる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明によれば、以下に述べるよ
うな効果を得ることができる。
すなわち、X線検出器の出力X線検出信号と所定の基準
信号とを比較して前記X線検出器及び検出回路の故障を
検出するための故障検出回路を設けているので、XII
ACT装置の実際の使用条件でX線検出器及び検出回路
の故障検出を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は1本発明の一実施例によるxgc’r装置の概
略構成を示すブロック図、 第2図は、第1図に示すXAiCT装置の故障検出回路
の詳細な構成を示す図、 第3図は、第1図に示す平均値記憶回路から出力される
平均値データを検出系番号に対して示すグラフ、 第4図は、第3図に示す平均値データを正規化した後の
データを検出系番号に対して示すグラフ、第5図は、本
実施例の基準となる信号の形状の一例を示す図、 第6図〜第8図は、それぞれ第2図に示す比較回路の出
力を検出系番号に対して示すグラフである。 図中、1・・・コンピュータ、2・・・XwA装置、3
・・・X線管、4・・・多素子型X線検出器、5・・・
検出回路、6・・・一時記憶回路、7・・・平均回路、
8・・・平均値記憶回路、9・・・格納制御回路、10
・・・基準信号格納回路、11・・・基準値記憶回路、
12・・・故障検出回路、121・・・信号正規化回路
、122・・・比較回路、123・・・異常判定回路、
13・・・表示回路、14・・・故障記憶回路、15・
・・データ記憶回路である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)X線管と、このX線管に対向した位置に設けられ
    ている多素子型X線検出器と、このX線検出器の出力に
    接続され、かつこのX線検出器の出力X線検出信号を処
    理してディジタル信号に変換するための検出回路とを具
    備するX線CT装置において、前記X線検出器の出力X
    線検出信号と所定の基準信号とを比較して前記X線検出
    器及び前記検出回路の故障を検出するための故障検出回
    路を設けたことを特徴とするX線CT装置。
JP62057293A 1987-03-12 1987-03-12 X線ct装置 Pending JPS63222742A (ja)

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JP62057293A JPS63222742A (ja) 1987-03-12 1987-03-12 X線ct装置

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0220514U (ja) * 1988-07-25 1990-02-09
JP2013150749A (ja) * 2012-01-26 2013-08-08 Toshiba Corp X線ct装置及びx線ct装置のデータ処理方法
JP2013215352A (ja) * 2012-04-06 2013-10-24 Hitachi Medical Corp X線ct装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53177A (en) * 1976-06-22 1978-01-05 Philips Nv Apparatus for measuring space distribution of absorbed radiation of sample piece

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