JPS632160A - 制御用コンピユ−タの補助記憶装置 - Google Patents
制御用コンピユ−タの補助記憶装置Info
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- JPS632160A JPS632160A JP14447086A JP14447086A JPS632160A JP S632160 A JPS632160 A JP S632160A JP 14447086 A JP14447086 A JP 14447086A JP 14447086 A JP14447086 A JP 14447086A JP S632160 A JPS632160 A JP S632160A
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- 238000013500 data storage Methods 0.000 abstract description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 1
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Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
Ａ、産業上の利用分野
本発明は、工場設備の制御用に使用されるコンピュータ
に係り、特にコンピュータの補助記憶装置に関する。
に係り、特にコンピュータの補助記憶装置に関する。
Ｂ１発明の概要
本発明は、電気機器を駆動するコントローラを内蔵した
コンピュータにおいて、 磁気記録担体を持つ補助記憶装置を内蔵し、これを制限
温度範囲内で制御することにより、記憶容量、コスト等
に優れ、しかも確実な補助記憶機能を持た仕るようにし
たものである。
コンピュータにおいて、 磁気記録担体を持つ補助記憶装置を内蔵し、これを制限
温度範囲内で制御することにより、記憶容量、コスト等
に優れ、しかも確実な補助記憶機能を持た仕るようにし
たものである。
Ｃ１従来の技術
オートメーンヨン工場等に設備されるＮＣマシン、ロボ
ット等の各種機械、電気機器は、その制御中枢部にマイ
クロコンピュータを設けた装置構成が普及してきている
。このような制御用コンピュータは、制御対象装置が完
全防塵を要求される場合にはモータコントロール回路等
も含めて１つの盤構成にされる。このため、制御用コン
ビュー夕はモータ運転状態では盤内温度が５０℃以上に
もなる過酷な温度条件にも対応できるシステム構成が要
求される。
ット等の各種機械、電気機器は、その制御中枢部にマイ
クロコンピュータを設けた装置構成が普及してきている
。このような制御用コンピュータは、制御対象装置が完
全防塵を要求される場合にはモータコントロール回路等
も含めて１つの盤構成にされる。このため、制御用コン
ビュー夕はモータ運転状態では盤内温度が５０℃以上に
もなる過酷な温度条件にも対応できるシステム構成が要
求される。
従来の制御用コンピュータの構成は、プロセッサ本体、
内部メモリ等の半導体回路自体は温度５０°Ｃ程度では
十分に機能するため、オフィス用コンピュータと同等の
ものを使用するが、補助記憶装置には温度条件の制約か
らバブルメモリや半導体メモリを使用するものであった
。
内部メモリ等の半導体回路自体は温度５０°Ｃ程度では
十分に機能するため、オフィス用コンピュータと同等の
ものを使用するが、補助記憶装置には温度条件の制約か
らバブルメモリや半導体メモリを使用するものであった
。
Ｄ１発明が解決しようとする問題点
従来の制御用コンピュータは、前述のように、補助記憶
装置に半導体メモリ等を使用するため、記憶容量に対す
る価格が高くなるし、放熱器や実装基板等の必要性から
スペースも大きくなる問題があった。
装置に半導体メモリ等を使用するため、記憶容量に対す
る価格が高くなるし、放熱器や実装基板等の必要性から
スペースも大きくなる問題があった。
この点について、磁気記録担体による記憶装置は優れる
ものであるが、温度条件から制約される。
ものであるが、温度条件から制約される。
Ｅ０問題点を解決するための手段
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたもので、磁気記
録担体を持つ補助記憶装置を内蔵し、この記憶装置をそ
の制限温度範囲内のみで制御するように構成したもので
ある。
録担体を持つ補助記憶装置を内蔵し、この記憶装置をそ
の制限温度範囲内のみで制御するように構成したもので
ある。
Ｆ０作用
本発明は、補助記憶装置とのデータ授受が必要なときに
は電気機器を駆動するコントローラの運転が行われてい
ることは稀であることに着目し、装置内温度上昇の原因
となるコントローラと補助記憶装置の同時制御を避ける
ことで磁気記録担体を持つ補助記憶手段とした装置構成
を可能としたものである。
は電気機器を駆動するコントローラの運転が行われてい
ることは稀であることに着目し、装置内温度上昇の原因
となるコントローラと補助記憶装置の同時制御を避ける
ことで磁気記録担体を持つ補助記憶手段とした装置構成
を可能としたものである。
Ｇ、実施例
第１図は本発明の一実施例を示す装置構成図である。ｌ
はＮＣマシン、ロボットなどの制御対象装置であり、駆
動源としてモータＬ、 ｉｔ等を備え、またこれらモー
タ制御等のための検出器ｌ、を備える。この装置ｌを制
御するためのコンピュータ本体２は、ＣＰＵ３．内部メ
モリ４．入出力回路５゜〜５．をバス結合し、入出力回
路５．、５．を介したモータコントローラ６、、６．に
よる装置１内モータ１．。
はＮＣマシン、ロボットなどの制御対象装置であり、駆
動源としてモータＬ、 ｉｔ等を備え、またこれらモー
タ制御等のための検出器ｌ、を備える。この装置ｌを制
御するためのコンピュータ本体２は、ＣＰＵ３．内部メ
モリ４．入出力回路５゜〜５．をバス結合し、入出力回
路５．、５．を介したモータコントローラ６、、６．に
よる装置１内モータ１．。
１！の制御、検出器１３から入出力回路５３を介したデ
ータ取込み、入出力回路５１を介したＣＲＴ表示装置７
の表示制御、入出力回路５．を介したキーボード８から
の指令データ取込みを行う。
ータ取込み、入出力回路５１を介したＣＲＴ表示装置７
の表示制御、入出力回路５．を介したキーボード８から
の指令データ取込みを行う。
ここで、コンピュータ本体２には補助記憶装置としてフ
ロッピーディスクドライブ（ＦＤＤ）装置９を内蔵し、
入出力回路５８を介して該ＦＤＤ装置９との間のデータ
及びコントロール信号授受を行うようにしている。そし
て、ＦＤＤ装置９の内部温度又はその近傍温度を検出す
る温度リレー１０と、この温度リレー１０の検出信号を
バス結合で取込むデータ入力回路１１を具備している。
ロッピーディスクドライブ（ＦＤＤ）装置９を内蔵し、
入出力回路５８を介して該ＦＤＤ装置９との間のデータ
及びコントロール信号授受を行うようにしている。そし
て、ＦＤＤ装置９の内部温度又はその近傍温度を検出す
る温度リレー１０と、この温度リレー１０の検出信号を
バス結合で取込むデータ入力回路１１を具備している。
温度リレー１゜はＦＤＤ装置９が運転可能な温度範囲（
例えば０°Ｃ〜５０℃）にあるか否かを検出する。
例えば０°Ｃ〜５０℃）にあるか否かを検出する。
このようなＦＤＤ装置９を補助記憶装置とし、その温度
検出信号を取込み可能にしたコンピュータ本体２は、動
作中のＦＤＤ装置９のコントロールについて第２図に示
すフローチャートによる処理を行う。
検出信号を取込み可能にしたコンピュータ本体２は、動
作中のＦＤＤ装置９のコントロールについて第２図に示
すフローチャートによる処理を行う。
第２図において、コンピュータ本体２はＦＤＤ装置９へ
のデータ格納やデータ読出しを必要とするＦＤＤ制御開
始に先立って、温度リレー１０の検出信号を読込み、こ
の検出信号から温度リレー１０が動作中か否か判定しく
ステップＳＬ）、温度リレー１０が動作中でなければＦ
ＤＤ制御の待機に入る（ステップＳ２）。これは例えば
オペレータによるキーボード８からの指令待ちを行うか
内部でＦＤＤ装置のコントロール実行ステップに入る。
のデータ格納やデータ読出しを必要とするＦＤＤ制御開
始に先立って、温度リレー１０の検出信号を読込み、こ
の検出信号から温度リレー１０が動作中か否か判定しく
ステップＳＬ）、温度リレー１０が動作中でなければＦ
ＤＤ制御の待機に入る（ステップＳ２）。これは例えば
オペレータによるキーボード８からの指令待ちを行うか
内部でＦＤＤ装置のコントロール実行ステップに入る。
この後、ＦＤＤ装置９との間のデータ授受を実行する（
ステップＳ３）。
ステップＳ３）。
一方、温度リレー１０が動作中であれば、コンピュータ
本体２はＦＤＤ装置９の制御を禁止しくステップＳ４）
、ＦＤＤ装置９の使用不能をＣＲＴ表示装置７等に表示
してオペレータに知らせる。
本体２はＦＤＤ装置９の制御を禁止しくステップＳ４）
、ＦＤＤ装置９の使用不能をＣＲＴ表示装置７等に表示
してオペレータに知らせる。
従って、コンピュータ本体２はＦＤＤ装置９を補助記憶
装置として装置ｌの制御を行い、ＦＤＤ装置９の制御に
際してその温度条件から制御可否を決定する。こうした
ＦＤＤ装置９を温度条件を持たせた構成において、モー
タ１．、１．を制御中に ′はモータコントローラ６１
．６！はその駆動でコンピュータ本体２内の温度を上昇
させるが、このとき補助記憶装置としてのＦＤＤ装置９
とのデータ授受を必要とすることは稀であり、−般には
プログラム編集作業のようにモータを駆動しない状態で
のデータ授受になる。従って、コンピュータ本体２内の
温度が低い状態でのＦＤＤ装置９とのデータ授受になり
、ＦＤＤ装置９を補助記憶装置として使用して何ら不都
合なく制御でき、また温度条件を持たせておくことでフ
ロッピーディスクのデータ破壊等の故障からも保護した
構成にできる。
装置として装置ｌの制御を行い、ＦＤＤ装置９の制御に
際してその温度条件から制御可否を決定する。こうした
ＦＤＤ装置９を温度条件を持たせた構成において、モー
タ１．、１．を制御中に ′はモータコントローラ６１
．６！はその駆動でコンピュータ本体２内の温度を上昇
させるが、このとき補助記憶装置としてのＦＤＤ装置９
とのデータ授受を必要とすることは稀であり、−般には
プログラム編集作業のようにモータを駆動しない状態で
のデータ授受になる。従って、コンピュータ本体２内の
温度が低い状態でのＦＤＤ装置９とのデータ授受になり
、ＦＤＤ装置９を補助記憶装置として使用して何ら不都
合なく制御でき、また温度条件を持たせておくことでフ
ロッピーディスクのデータ破壊等の故障からも保護した
構成にできる。
なお、実施例において、ＦＤＤ装置９の制御禁止はその
電源オン・オフコントロールでも良いし、プログラム上
の禁止など他の手段との組合せでも良いことは勿論であ
る。
電源オン・オフコントロールでも良いし、プログラム上
の禁止など他の手段との組合せでも良いことは勿論であ
る。
また、実施例においては、ＦＤＤ装置を補助記憶装置と
する場合を示すが、これはカセットテープレコーダ、ハ
ードディスクコントローラなど磁気記録担体による記憶
装置を使用する場合にも同等の作用効果がある。
する場合を示すが、これはカセットテープレコーダ、ハ
ードディスクコントローラなど磁気記録担体による記憶
装置を使用する場合にも同等の作用効果がある。
Ｈ１発明の効果
以上のとおり、本発明によれば、補助記憶装置として磁
気記録担体を持つものにし、この制限温度範囲内のみで
データ授受を制御するようにしたため、記憶容量及びコ
スト等に優れた補助記憶装置にしながら確実な補助記憶
機能を持たせることができる。
気記録担体を持つものにし、この制限温度範囲内のみで
データ授受を制御するようにしたため、記憶容量及びコ
スト等に優れた補助記憶装置にしながら確実な補助記憶
機能を持たせることができる。
第１図は本発明の一実施例を示す装置構成図、第２図は
第１図におけるＦＤＤ装置の制御フローチャートである
。 ｌ・・・制御対象装置、２・・・コンピュータ本体、６
．。
第１図におけるＦＤＤ装置の制御フローチャートである
。 ｌ・・・制御対象装置、２・・・コンピュータ本体、６
．。
Claims (1)
- 制御対象装置の電気機器を駆動するコントローラを内蔵
した制御用コンピュータにおいて、磁気記録担体を持つ
補助記憶装置を内蔵し、該補助記憶装置の制限温度範囲
内のみで該補助記憶装置とのデータ授受を制御するよう
に構成したことを特徴とする制御用コンピュータの補助
記憶装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14447086A JPS632160A (ja) | 1986-06-20 | 1986-06-20 | 制御用コンピユ−タの補助記憶装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14447086A JPS632160A (ja) | 1986-06-20 | 1986-06-20 | 制御用コンピユ−タの補助記憶装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS632160A true JPS632160A (ja) | 1988-01-07 |
Family
ID=15363032
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14447086A Pending JPS632160A (ja) | 1986-06-20 | 1986-06-20 | 制御用コンピユ−タの補助記憶装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS632160A (ja) |
Cited By (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02134306U (ja) * | 1989-04-13 | 1990-11-07 | ||
| US9779780B2 (en) | 2010-06-17 | 2017-10-03 | Teradyne, Inc. | Damping vibrations within storage device testing systems |
| US10725091B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-07-28 | Teradyne, Inc. | Automated test system having multiple stages |
| US10775408B2 (en) | 2018-08-20 | 2020-09-15 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
| US10845410B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-11-24 | Teradyne, Inc. | Automated test system having orthogonal robots |
| US10948534B2 (en) | 2017-08-28 | 2021-03-16 | Teradyne, Inc. | Automated test system employing robotics |
| US10983145B2 (en) | 2018-04-24 | 2021-04-20 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
| US11226390B2 (en) | 2017-08-28 | 2022-01-18 | Teradyne, Inc. | Calibration process for an automated test system |
| US11754596B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Test site configuration in an automated test system |
| US11754622B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Thermal control system for an automated test system |
| US11867749B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-01-09 | Teradyne, Inc. | Vision system for an automated test system |
| US11899042B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-02-13 | Teradyne, Inc. | Automated test system |
| US11953519B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-04-09 | Teradyne, Inc. | Modular automated test system |
| US12007411B2 (en) | 2021-06-22 | 2024-06-11 | Teradyne, Inc. | Test socket having an automated lid |
-
1986
- 1986-06-20 JP JP14447086A patent/JPS632160A/ja active Pending
Cited By (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02134306U (ja) * | 1989-04-13 | 1990-11-07 | ||
| JPH053767Y2 (ja) * | 1989-04-13 | 1993-01-29 | ||
| US9779780B2 (en) | 2010-06-17 | 2017-10-03 | Teradyne, Inc. | Damping vibrations within storage device testing systems |
| US10948534B2 (en) | 2017-08-28 | 2021-03-16 | Teradyne, Inc. | Automated test system employing robotics |
| US10845410B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-11-24 | Teradyne, Inc. | Automated test system having orthogonal robots |
| US10725091B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-07-28 | Teradyne, Inc. | Automated test system having multiple stages |
| US11226390B2 (en) | 2017-08-28 | 2022-01-18 | Teradyne, Inc. | Calibration process for an automated test system |
| US10983145B2 (en) | 2018-04-24 | 2021-04-20 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
| US10775408B2 (en) | 2018-08-20 | 2020-09-15 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
| US11754596B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Test site configuration in an automated test system |
| US11754622B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Thermal control system for an automated test system |
| US11867749B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-01-09 | Teradyne, Inc. | Vision system for an automated test system |
| US11899042B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-02-13 | Teradyne, Inc. | Automated test system |
| US11953519B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-04-09 | Teradyne, Inc. | Modular automated test system |
| US12007411B2 (en) | 2021-06-22 | 2024-06-11 | Teradyne, Inc. | Test socket having an automated lid |
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