JPS63211472A - 画像の復元処理方法 - Google Patents
画像の復元処理方法Info
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- JPS63211472A JPS63211472A JP4477987A JP4477987A JPS63211472A JP S63211472 A JPS63211472 A JP S63211472A JP 4477987 A JP4477987 A JP 4477987A JP 4477987 A JP4477987 A JP 4477987A JP S63211472 A JPS63211472 A JP S63211472A
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- 238000009499 grossing Methods 0.000 claims abstract description 13
- 230000009466 transformation Effects 0.000 claims abstract description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 14
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 claims description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 abstract description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000001000 micrograph Methods 0.000 description 3
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 2
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- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
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- 238000001878 scanning electron micrograph Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産−$1−の利用分野)
本発明は、画像の復元処理方法に関し、特に、チャージ
アップをしているSEM(走査電子顕微鏡)画像等の復
元処理に利用して好適な画像の復元処理方法に関するも
のである。
アップをしているSEM(走査電子顕微鏡)画像等の復
元処理に利用して好適な画像の復元処理方法に関するも
のである。
(従来の技術)
SEM画像でチャージアップが著しい場合、従来は、以
下の各種の方法を場合に応じて選択して実施していた。
下の各種の方法を場合に応じて選択して実施していた。
即ち、
(1) ステージ傾き角度を変えて観察する。
(2) ビームの走査方向を変えて観察する。
(3)−1加速電圧を低加速にして観察する。
(3) −2試料ダメージの心配がない物である場合に
は、加速電圧を高加速に して観察する。
は、加速電圧を高加速に して観察する。
(4) ビーム電流を下げて観察する。
(5) 試料をAuコートして観察する。
等の方法を場合に応じて選択してきた。
(発明が解決しようとする問題点)
前記(1)、 (2)の方法は、ストライブバタン等
に対しては効果があるが、等方的なバタンに対してはあ
まり効果がみられないという欠点がある。前記(3)−
1,(4)の方法では、画質の劣化が生じ、そのため、
加算平均処理とか平滑化処理を行うことにより画質の改
善を行ってきた。
に対しては効果があるが、等方的なバタンに対してはあ
まり効果がみられないという欠点がある。前記(3)−
1,(4)の方法では、画質の劣化が生じ、そのため、
加算平均処理とか平滑化処理を行うことにより画質の改
善を行ってきた。
しかし、この様な処理を行うと、その分処理時間がかか
り、特に平滑化処理に於いては、(1) ハードウェア
で行う場合には、そのカットオフ周波数の選定により大
きく影響を受ける。
り、特に平滑化処理に於いては、(1) ハードウェア
で行う場合には、そのカットオフ周波数の選定により大
きく影響を受ける。
(11) ソフトウェアで行う場合には、フィルタリ
ングマトリックス値の設定により大きく影響を受け、ま
た画像によっても多少効果の違いが生じている。
ングマトリックス値の設定により大きく影響を受け、ま
た画像によっても多少効果の違いが生じている。
等の欠点がある。(5)のAuコートを用いる方法では
、チャージアップはなくなるが、試料を加工するため、
その試料を再利用ができなくなるという欠点がある。
、チャージアップはなくなるが、試料を加工するため、
その試料を再利用ができなくなるという欠点がある。
以上述べたように、従来技術では、チャージアップ等の
発生を低下させる方法をとってきたが、それぞれに欠点
がある。
発生を低下させる方法をとってきたが、それぞれに欠点
がある。
本発明は、従来の方法と異なる方法によって、チャージ
アップを発生している画像からS/Nの向上した画像を
復元することを目的とする。
アップを発生している画像からS/Nの向上した画像を
復元することを目的とする。
(問題点を解決するための手段)
本発明の画像の復元処理方法は、原画像からSN比の劣
る特定領域の画像データを抽出する工程と、前記画像デ
ータを、辺縁の情報を保存する組み合わせのフィルタマ
トリックスを有するフィルタにより平滑化処理する工程
と、前記平滑化処理により得られる画像データを、線型
あるいは対数変換により画像強調する工程と、前記画像
強調した画像データに基づいて画像を復元する工程と、
を備えたものとして構成される。
る特定領域の画像データを抽出する工程と、前記画像デ
ータを、辺縁の情報を保存する組み合わせのフィルタマ
トリックスを有するフィルタにより平滑化処理する工程
と、前記平滑化処理により得られる画像データを、線型
あるいは対数変換により画像強調する工程と、前記画像
強調した画像データに基づいて画像を復元する工程と、
を備えたものとして構成される。
(作 用)
原画像からSN比の劣る特定領域を指定し、その特定領
域の画像データが抽出される。
域の画像データが抽出される。
その画像データは、辺縁の情報を保存する組み合わせの
3×3あるいは5X5等のフィルタマトリックスを何す
るメディアンフィルタあるいは空間フィルタにより平滑
化処理される。
3×3あるいは5X5等のフィルタマトリックスを何す
るメディアンフィルタあるいは空間フィルタにより平滑
化処理される。
その平滑化処理された画像データは、チャージアップ等
によりコントラストが減少しているのを補償するため、
線型あるいは対数変換により画像強調される。
によりコントラストが減少しているのを補償するため、
線型あるいは対数変換により画像強調される。
その画像強調された画像データに基づいて画像が復元さ
れる。
れる。
(実施例)
第1図は、本発明を実施する装置の一例を示すものであ
る。以上に、この装置により本発明を実施する場合につ
いて説明する。
る。以上に、この装置により本発明を実施する場合につ
いて説明する。
第2図aは、本発明の実施に際して用いられる原画像を
示す。この画像は、倍率2万倍のレジストバタンの顕微
鏡写真をその特徴部分に着目して描いたものである。同
図aにおいて、外枠Aに囲まれた白地として表わされた
部分は、現実の顕微鏡写真においては、真黒につぶれた
部分である。
示す。この画像は、倍率2万倍のレジストバタンの顕微
鏡写真をその特徴部分に着目して描いたものである。同
図aにおいて、外枠Aに囲まれた白地として表わされた
部分は、現実の顕微鏡写真においては、真黒につぶれた
部分である。
この第2図aから、画像下部的1/3の領域Bで白っぽ
く波状にチャージアップが発生しているのが明らかであ
る。そのチャージアップに起因して、画像の特に上半分
の部分Cが黒く画像がつぶれ、本来観察されるべきレジ
ストパタンDがほとんど見ることができない。即ち、こ
の第2図aのバタンは、等方的であると共に非導電性で
あり、そのため加速電圧を1.3KVまで低下してもチ
ャージアップを防ぐことが困難である。その結果、A/
D変換後の画像では、チャージアップの発生模様は把握
できるが、実際のバタン情報の観察は殆んど不能である
。
く波状にチャージアップが発生しているのが明らかであ
る。そのチャージアップに起因して、画像の特に上半分
の部分Cが黒く画像がつぶれ、本来観察されるべきレジ
ストパタンDがほとんど見ることができない。即ち、こ
の第2図aのバタンは、等方的であると共に非導電性で
あり、そのため加速電圧を1.3KVまで低下してもチ
ャージアップを防ぐことが困難である。その結果、A/
D変換後の画像では、チャージアップの発生模様は把握
できるが、実際のバタン情報の観察は殆んど不能である
。
この原画像は第1図の原画像データ入力装置11に原画
像データとして人力される。その原画像データから次段
の特定領域の画像データ抽出装置12によって上部半分
の画像データが抽出される。この抽出された上部半分の
画像データは次段の平滑化処理装置13において3×3
のフィルタマトリックスに基づく平滑化処理が施される
。こ求めた。抽出領域のコントラストがチャージアップ
の影響で極端に悪いので、次に、次段の画像強調処理装
置で画像強調を行う。ここでは、画像強調前後の濃淡値
を、S (x、 y)及びS’ (x。
像データとして人力される。その原画像データから次段
の特定領域の画像データ抽出装置12によって上部半分
の画像データが抽出される。この抽出された上部半分の
画像データは次段の平滑化処理装置13において3×3
のフィルタマトリックスに基づく平滑化処理が施される
。こ求めた。抽出領域のコントラストがチャージアップ
の影響で極端に悪いので、次に、次段の画像強調処理装
置で画像強調を行う。ここでは、画像強調前後の濃淡値
を、S (x、 y)及びS’ (x。
y)とおいた場合に、
S’ (x、y) −255
Swax(x、y) −Sm1n (x、y)なる式で
線型に画像強調を行った。(1)式で、S max及び
5ainは、それぞれ抽出した画像データのうち、濃淡
値が最大及び最小となる値を示す。
線型に画像強調を行った。(1)式で、S max及び
5ainは、それぞれ抽出した画像データのうち、濃淡
値が最大及び最小となる値を示す。
このようにして画像強調されたデータは、画像復帰装置
15によって画像復元され、それがさらに次段の復元画
像表示装置16に表示される。
15によって画像復元され、それがさらに次段の復元画
像表示装置16に表示される。
第2図すは、このような画像処理によって得られた復元
画像を示すものである。この復元画像は、2万倍の顕微
鏡写真を、その特徴を抽出して描いたものである。同図
すにおいて、外枠Aに囲まれた白地として表わされた部
分は、同図aの場合と同様に、現実の顕微鏡写真におい
ては真黒につぶれた部分である。この復元画像によれば
、レジストバタンDが明確に観察できる。よって、本発
明の方法が極めて効果的であるのがわかる。(上述の第
2図a、bは、相互に正確に対比した関係にある。) なお、本実施例では、平滑化処理として3×3の空間フ
ィルタ処理を行っているが、これに限らず、メディアン
フィルタ処理でも可能であり、更にフィルタマ]・リッ
クスの次数も、3X3.5X5あるいは7×7等に拡張
可能である。また、フ合わせであれば任意に選択可能で
ある。
画像を示すものである。この復元画像は、2万倍の顕微
鏡写真を、その特徴を抽出して描いたものである。同図
すにおいて、外枠Aに囲まれた白地として表わされた部
分は、同図aの場合と同様に、現実の顕微鏡写真におい
ては真黒につぶれた部分である。この復元画像によれば
、レジストバタンDが明確に観察できる。よって、本発
明の方法が極めて効果的であるのがわかる。(上述の第
2図a、bは、相互に正確に対比した関係にある。) なお、本実施例では、平滑化処理として3×3の空間フ
ィルタ処理を行っているが、これに限らず、メディアン
フィルタ処理でも可能であり、更にフィルタマ]・リッ
クスの次数も、3X3.5X5あるいは7×7等に拡張
可能である。また、フ合わせであれば任意に選択可能で
ある。
また、画像強調処理として線型の強調を例に述べたが、
これに限らず、 S’ (x、y) − 1og Smax (X、y) −log 、Sm1
n (x、y)×255 ・
・・・・・・・・(2)のように対数変換して強調する
ことも可能である。
これに限らず、 S’ (x、y) − 1og Smax (X、y) −log 、Sm1
n (x、y)×255 ・
・・・・・・・・(2)のように対数変換して強調する
ことも可能である。
このように、本発明の画像の復元処理方法によれば、チ
ャージアップを発生している画像がらS/Nの向上した
画像を得ることができる。
ャージアップを発生している画像がらS/Nの向上した
画像を得ることができる。
第1図は本発明の実施に使用する装置の一例を示すブロ
ック図、第2図a、 bは本発明による画像処理の前
、後の状態を示すためレジストパタンを2万倍に拡大し
た顕微鏡写真の特徴抽出図である。 11・・・原画像データ入力装置、12・・・特定領域
の画像データ抽出装置、13・・・平滑化処理装置、1
4・・・画像強調処理装置、15・・・画像復元装置、
16・・・復元画像表示装置。
ック図、第2図a、 bは本発明による画像処理の前
、後の状態を示すためレジストパタンを2万倍に拡大し
た顕微鏡写真の特徴抽出図である。 11・・・原画像データ入力装置、12・・・特定領域
の画像データ抽出装置、13・・・平滑化処理装置、1
4・・・画像強調処理装置、15・・・画像復元装置、
16・・・復元画像表示装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 原画像からSN比の劣る特定領域の画像データを抽出す
る工程と、 前記画像データを、辺縁の情報を保存する組み合わせの
フィルタマトリックスを有するフィルタにより平滑化処
理する工程と、 前記平滑化処理により得られる画像データを、線型ある
いは対数変換により画像強調する工程と、前記画像強調
した画像データに基づいて画像を復元する工程と、 を備えたことを特徴とする画像の復元処理方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62044779A JP2549647B2 (ja) | 1987-02-27 | 1987-02-27 | Sem画像の復元処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62044779A JP2549647B2 (ja) | 1987-02-27 | 1987-02-27 | Sem画像の復元処理方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63211472A true JPS63211472A (ja) | 1988-09-02 |
JP2549647B2 JP2549647B2 (ja) | 1996-10-30 |
Family
ID=12700895
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62044779A Expired - Lifetime JP2549647B2 (ja) | 1987-02-27 | 1987-02-27 | Sem画像の復元処理方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2549647B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02253481A (ja) * | 1989-03-28 | 1990-10-12 | Furuno Electric Co Ltd | 面温度分布画像処理装置 |
JP2004118375A (ja) * | 2002-09-25 | 2004-04-15 | Dainippon Printing Co Ltd | Sem画像における特徴量算出方法 |
WO2011089913A1 (ja) * | 2010-01-25 | 2011-07-28 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 走査型電子顕微鏡 |
US8237119B2 (en) | 2008-03-31 | 2012-08-07 | Hitachi High-Technologies Corporation | Scanning type charged particle beam microscope and an image processing method using the same |
US9341584B2 (en) | 2009-09-30 | 2016-05-17 | Hitachi High-Technologies Corporation | Charged-particle microscope device and method for inspecting sample using same |
Citations (6)
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---|---|---|---|---|
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JPS5492133A (en) * | 1977-12-29 | 1979-07-21 | Fujitsu Ltd | Image data filtering system |
JPS5797269A (en) * | 1980-12-08 | 1982-06-16 | Ricoh Co Ltd | Profile emphasis processor for digital image |
JPS58222383A (ja) * | 1982-06-18 | 1983-12-24 | Fujitsu Ltd | 画像処理方式 |
JPS60142775A (ja) * | 1983-12-29 | 1985-07-27 | Fujitsu Ltd | 画像処理装置 |
JPS60146366A (ja) * | 1984-01-10 | 1985-08-02 | Mitsubishi Electric Corp | 画像処理装置 |
-
1987
- 1987-02-27 JP JP62044779A patent/JP2549647B2/ja not_active Expired - Lifetime
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WO2011089913A1 (ja) * | 2010-01-25 | 2011-07-28 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 走査型電子顕微鏡 |
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US9110384B2 (en) | 2010-01-25 | 2015-08-18 | Hitachi High-Technologies Corporation | Scanning electron microscope |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2549647B2 (ja) | 1996-10-30 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
EXPY | Cancellation because of completion of term |