JPS63209225A - アナログ・デジタル変換器の集積回路 - Google Patents
アナログ・デジタル変換器の集積回路Info
- Publication number
- JPS63209225A JPS63209225A JP4168187A JP4168187A JPS63209225A JP S63209225 A JPS63209225 A JP S63209225A JP 4168187 A JP4168187 A JP 4168187A JP 4168187 A JP4168187 A JP 4168187A JP S63209225 A JPS63209225 A JP S63209225A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- blocks
- converter
- ladder
- block
- integrated circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000009966 trimming Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、並列比較形のアナログ・デジタル変換器の集
積回路の直線性の改善に関するものである。
積回路の直線性の改善に関するものである。
[従来の技術]
並列比較形のアナログ・デジタル変換器(以下、A/D
変換器とする)の構成を第4図に示す。
変換器とする)の構成を第4図に示す。
図で、1と2は外部の基準電圧が印加される端子で、そ
れぞれの電位はVRH(高圧側)とVRL(低圧側)に
なっている。
れぞれの電位はVRH(高圧側)とVRL(低圧側)に
なっている。
端子1.2間にはラダー抵抗が複数個直列に接続されて
いる。端子1と2に一端が接続されたラダー抵抗の抵抗
値はr/2で、他の抵抗の抵抗値はrである。これらの
ラダー抵抗は基準電圧を分圧している。各分圧VRI〜
VRTIはコンパレータ31〜3πに与えられる。
いる。端子1と2に一端が接続されたラダー抵抗の抵抗
値はr/2で、他の抵抗の抵抗値はrである。これらの
ラダー抵抗は基準電圧を分圧している。各分圧VRI〜
VRTIはコンパレータ31〜3πに与えられる。
コンパレータ31〜3πは、分圧を比較の基準値にして
入力を分圧と比較し、比較結果に応じた2値信号を出力
する。
入力を分圧と比較し、比較結果に応じた2値信号を出力
する。
また、これらコンパレータ31〜3πの入力には一定の
バイアス電流Ibが流れるものとする。
バイアス電流Ibが流れるものとする。
4はエンコーダ、ラッチ等の信号処理回路であり、コン
パレータ31〜3uの出ツノを処理して変換したデジタ
ル信号として出力する。
パレータ31〜3uの出ツノを処理して変換したデジタ
ル信号として出力する。
ここで、分圧VR+〜VRTLについて求める。
計算を簡略化するため、第4図におけるラダー抵抗で、
端子1に接続されたものの抵抗値をrl2からOに、端
子2に接続されたものの抵抗値をrl2からrにそれぞ
れ置換える。置換えた回路を第5図に示す。
端子1に接続されたものの抵抗値をrl2からOに、端
子2に接続されたものの抵抗値をrl2からrにそれぞ
れ置換える。置換えた回路を第5図に示す。
このとき、各分圧は次のようになる。
VR1=RL+l’Io (1)
V81=Vkl杆(1,+Lb’) =RL −+ 2rIl)+rI5
@V灼2註材(工。ぜ工1)) = 鷲+3ヅo’rrより
■=鷲+λrJ、 + ’ ((」’ rl。
V81=Vkl杆(1,+Lb’) =RL −+ 2rIl)+rI5
@V灼2註材(工。ぜ工1)) = 鷲+3ヅo’rrより
■=鷲+λrJ、 + ’ ((」’ rl。
e
%=%”r%Y’I。+罠父亘で工、■ここで、■式よ
り■0について解くと、となる。ここで、分圧の誤差に
ついて考える。誤差は、端子1から2に電位が直線的に
変化する場合の各ブロックの境界における電位と実際の
電位の差である。誤差が最大になるのは、両端子間の中
央であるため、0式を0式に代入し、1=n/2とする
と、最大誤差電圧は次のようになる。nと電圧の誤差の
関係は第6図のようになる。
り■0について解くと、となる。ここで、分圧の誤差に
ついて考える。誤差は、端子1から2に電位が直線的に
変化する場合の各ブロックの境界における電位と実際の
電位の差である。誤差が最大になるのは、両端子間の中
央であるため、0式を0式に代入し、1=n/2とする
と、最大誤差電圧は次のようになる。nと電圧の誤差の
関係は第6図のようになる。
このように各コンパレータにそれぞれ入力バイアス電流
が必要な場合、各ラダー抵抗を流れる電流が一定でなく
なるため、各コンパレータに入力される基準電圧の分圧
が狂い、A/D変換器の直線性が悪化するという問題点
が生じる。
が必要な場合、各ラダー抵抗を流れる電流が一定でなく
なるため、各コンパレータに入力される基準電圧の分圧
が狂い、A/D変換器の直線性が悪化するという問題点
が生じる。
従来の並列比較形のA/D変換器では、この狂いを小さ
くするため、第7図に示すように、抵抗の途中に基準電
圧を与えるタップを設けたものがあった。
くするため、第7図に示すように、抵抗の途中に基準電
圧を与えるタップを設けたものがあった。
[発明が解決しようとする問題点]
しかし、このようなA/D変換器を集積回路(以下、I
Cとする)で構成する場合は、IC回路外の部品点数が
増え、更に調整場所も増えてしまう。
Cとする)で構成する場合は、IC回路外の部品点数が
増え、更に調整場所も増えてしまう。
このような問題点を解決するために、第8図に示すよう
にラダー抵抗をレーザ等でトリミングする方法もあるが
、A/D変換器の規模が大きい場合例えば8ビツト以上
のA/D変換器のICでは、非現実的な方法である。
にラダー抵抗をレーザ等でトリミングする方法もあるが
、A/D変換器の規模が大きい場合例えば8ビツト以上
のA/D変換器のICでは、非現実的な方法である。
本発明はこのような問題点を解決するためになされたも
のであり、変換信号の直線性が良好なA/D変換器の集
積回路を実現することを目的とする。
のであり、変換信号の直線性が良好なA/D変換器の集
積回路を実現することを目的とする。
[問題点を解決するための手段]
本発明は、
複数のラダー抵抗を直列に接続した直列接続部を有し、
この直列接続部の両端に印加された基準電圧を前記ラダ
ー抵抗で分圧し、分圧を比較の基準値にして入力信号を
2値信号に変換する並列比較形のアナログ・デジタル変
換器の集積回路において、 前記ラダー抵抗の直列接続部が所定の数のブロックに分
けられていて、同一ブロック内の抵抗値は一定値にそろ
えられていて、この一定値はブロックの境界における電
位がブロックの配列方向に従って直線的に変化するよう
な値であることを特徴とするアナログ・デジタル変換器
の集積回路である。
この直列接続部の両端に印加された基準電圧を前記ラダ
ー抵抗で分圧し、分圧を比較の基準値にして入力信号を
2値信号に変換する並列比較形のアナログ・デジタル変
換器の集積回路において、 前記ラダー抵抗の直列接続部が所定の数のブロックに分
けられていて、同一ブロック内の抵抗値は一定値にそろ
えられていて、この一定値はブロックの境界における電
位がブロックの配列方向に従って直線的に変化するよう
な値であることを特徴とするアナログ・デジタル変換器
の集積回路である。
[実施例]
以下、図面を用いて本発明を説明する。
第1図は本発明にかかるA/D変換器の集積回路の一実
施例の要部構成図である。この変換器は8ビツトの変換
器で、ラダー抵抗は255個設けられている。
施例の要部構成図である。この変換器は8ビツトの変換
器で、ラダー抵抗は255個設けられている。
この変換器では、255個の抵抗を8つのブロックすな
わち32個の抵抗からなるブロック7つくブロック2〜
8)と31個の抵抗からなるブロツク1つくブロック1
)に分ける。そして、ブロック内ではすべてのラダー抵
抗の抵抗値をそろえる。各ブロックの抵抗値は、VRH
とVRLの間で、各ブロックの接続点の電位VI’lV
2’・・・v7′が直線的に変化するような抵抗値であ
る。
わち32個の抵抗からなるブロック7つくブロック2〜
8)と31個の抵抗からなるブロツク1つくブロック1
)に分ける。そして、ブロック内ではすべてのラダー抵
抗の抵抗値をそろえる。各ブロックの抵抗値は、VRH
とVRLの間で、各ブロックの接続点の電位VI’lV
2’・・・v7′が直線的に変化するような抵抗値であ
る。
ここで、具体的例について説明する。
基準電圧VRH−VRL=2V、Ib=1μA。
r、=600mΩの場合は、各抵抗値の大きさは次のよ
うにする。
うにする。
r、=600.oomΩ
r2=598.53mΩ
rs =597.o6mΩ
ra =595.60mΩ
r5=594.15mΩ
I6 =592.70mΩ
r7=591.26mΩ
re =589.83mΩ
このような抵抗値は、ICの製造過程において各ラダー
抵抗の形状をあらかじめフォトマスク上で微調整してお
くことによって得る。
抵抗の形状をあらかじめフォトマスク上で微調整してお
くことによって得る。
コンパレータのバイアス電流による基準電位の狂いは、
第6図で解析した値すなわち −n2r ib/8 [V] を最大値とする誤差である。
第6図で解析した値すなわち −n2r ib/8 [V] を最大値とする誤差である。
この電圧誤差は、ラダー抵抗の個数nの2乗に比例して
大きくなるので、A/D変換器はビット数が多いほど誤
差が大きくなる。
大きくなるので、A/D変換器はビット数が多いほど誤
差が大きくなる。
そこで、本発明にかかるA/D変換器では、個数nを8
つのブロックに分割し、かつ、各ブロックでは全部のラ
ダー抵抗の抵抗値を適当な値にそろえ、ブロック同志の
接続点での誤差電圧をOにした。
つのブロックに分割し、かつ、各ブロックでは全部のラ
ダー抵抗の抵抗値を適当な値にそろえ、ブロック同志の
接続点での誤差電圧をOにした。
各ブロックの両端では電位の誤差がOであるため、誤差
とnの関係は第2図のようになる。すなわち、最大誤差
電圧は各ブロックに含まれるラダー抵抗の数に依存する
。第2図で、破線は従来の変換器の誤差特性を表わした
ものである。
とnの関係は第2図のようになる。すなわち、最大誤差
電圧は各ブロックに含まれるラダー抵抗の数に依存する
。第2図で、破線は従来の変換器の誤差特性を表わした
ものである。
本発明にかかる変換器の最大誤差電圧は、で、従来の変
換器の最大誤差電圧は、 となり、本発明にかかる変換器と従来の変換器の最大誤
差電圧の比は(32/256)2 =0.0156とな
る。
換器の最大誤差電圧は、 となり、本発明にかかる変換器と従来の変換器の最大誤
差電圧の比は(32/256)2 =0.0156とな
る。
なお、実施例では255個のラダー抵抗を8つのブロッ
クに分ける場合について説明したが、ラダー抵抗数とブ
ロック数はこれ以外であってもよい。ラダー抵抗の個数
がn1ブロツク数がKの場合について説明する。
クに分ける場合について説明したが、ラダー抵抗数とブ
ロック数はこれ以外であってもよい。ラダー抵抗の個数
がn1ブロツク数がKの場合について説明する。
R+ 、R2はブロック1.2の全抵抗値、Isはブロ
ックのコンパレータへの入力バイアス電流の総和である
。
ックのコンパレータへの入力バイアス電流の総和である
。
ブロックの接続点の電位V、/ とV2’ は、となる
。また、ブロック1,2を流れる電流It。
。また、ブロック1,2を流れる電流It。
−〇−
I2は次のようになる。
ここで、12=II+IBより、
になる。R2=R++ΔRとおき、Isについて解くと
、次のようになる。
、次のようになる。
ここで、R,>ΔRとおき、 式を変形すると、になる
、、1ブロツク当たりのラダー抵抗の数をJ1抵抗値を
r1バイアス電流をIbとすると、次のようになる。
、、1ブロツク当たりのラダー抵抗の数をJ1抵抗値を
r1バイアス電流をIbとすると、次のようになる。
R1=7r電
ΔR=cj△r
rs=jlb
これらを0式に代入し、Δrについて解くと、となる。
このΔrが求められれば、r2が求まる。
この手順を繰り返し、任意のブロックにおける抵抗値を
決定する。
決定する。
[効果]
本発明によれば、ラダー抵抗を複数個のブロックに分割
し、各ブロックの両端で誤差電圧が0になるようにブロ
ック内の抵抗値が揃えられている。
し、各ブロックの両端で誤差電圧が0になるようにブロ
ック内の抵抗値が揃えられている。
これによって、最大誤差電圧が小さくなり、無調整でも
良好な直線性が得られる。
良好な直線性が得られる。
第1図は本発明にかかるA/D変換器の集積回路の一実
施例の要部構成図、第2図は第1図の回路の直線性の誤
差の特性図、第3図は本発明にかかるA/D変換器の他
の実施例の構成図、第4図は並列比較形のA/D変換器
の構成図、第5図は第4図回路の動作説明図、第6図は
第5図の回路に発生する直線性誤差の特性図、第7図及
び第8図はA/D変換器の集積回路の従来例の構成図で
ある。 1.2・・・端子、31〜3u・・・コンパレータ。 第4図 第5図
施例の要部構成図、第2図は第1図の回路の直線性の誤
差の特性図、第3図は本発明にかかるA/D変換器の他
の実施例の構成図、第4図は並列比較形のA/D変換器
の構成図、第5図は第4図回路の動作説明図、第6図は
第5図の回路に発生する直線性誤差の特性図、第7図及
び第8図はA/D変換器の集積回路の従来例の構成図で
ある。 1.2・・・端子、31〜3u・・・コンパレータ。 第4図 第5図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 複数のラダー抵抗を直列に接続した直列接続部を有し、
この直列接続部の両端に印加された基準電圧を前記ラダ
ー抵抗で分圧し、分圧を比較の基準値にして入力信号を
2値信号に変換する並列比較形のアナログ・デジタル変
換器の集積回路において、 前記ラダー抵抗の直列接続部が所定の数のブロックに分
けられていて、同一ブロック内の抵抗値は一定値にそろ
えられていて、この一定値はブロックの境界における電
位がブロックの配列方向に従つて直線的に変化するよう
な値であることを特徴とするアナログ・デジタル変換器
の集積回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4168187A JPS63209225A (ja) | 1987-02-25 | 1987-02-25 | アナログ・デジタル変換器の集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4168187A JPS63209225A (ja) | 1987-02-25 | 1987-02-25 | アナログ・デジタル変換器の集積回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63209225A true JPS63209225A (ja) | 1988-08-30 |
Family
ID=12615170
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4168187A Pending JPS63209225A (ja) | 1987-02-25 | 1987-02-25 | アナログ・デジタル変換器の集積回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63209225A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5691721A (en) * | 1994-09-30 | 1997-11-25 | Lg Semicon Co., Ltd. | Digital/analog converter having separately formed voltage dividing resistance regions |
KR20010026158A (ko) * | 1999-09-03 | 2001-04-06 | 구자홍 | 디지털/아날로그 컨버터 |
-
1987
- 1987-02-25 JP JP4168187A patent/JPS63209225A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5691721A (en) * | 1994-09-30 | 1997-11-25 | Lg Semicon Co., Ltd. | Digital/analog converter having separately formed voltage dividing resistance regions |
KR20010026158A (ko) * | 1999-09-03 | 2001-04-06 | 구자홍 | 디지털/아날로그 컨버터 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0249986B1 (en) | Analog-to-digital converter | |
US5973631A (en) | Test circuit and method of trimming a unary digital-to-analog converter (DAC) in a subranging analog-to-digital converter (ADC) | |
JP3130528B2 (ja) | ディジタル・アナログ変換器 | |
US5210537A (en) | Multi-stage A/D converter | |
JPS5871726A (ja) | アナログ−デジタル変換器 | |
US4990917A (en) | Parallel analog-to-digital converter | |
JP2000286705A (ja) | 一定の微分非線形性を備えるアナログ−デジタル変換装置 | |
JPH0262123A (ja) | 直並列型a/d変換器 | |
US6288662B1 (en) | A/D converter circuit having ladder resistor network with alternating first and second resistors of different resistance values | |
Parmar et al. | R-2R ladder circuit design for 32-bit digital-to-analog converter (DAC) with noise analysis and performance parameters | |
JPS63209225A (ja) | アナログ・デジタル変換器の集積回路 | |
JPH02268521A (ja) | A/d変換方法及びa/d変換装置 | |
JPS6187430A (ja) | デジタル・アナログ変換器補正トリムを最小化する方法及び装置 | |
US6798370B1 (en) | Parallel A/D converter | |
JPH10501115A (ja) | 信号に依存するオフセットを有する作動増幅器及びこのような作動増幅器を含むマルチステップ2重残差アナログ−デジタルコンバータ | |
JPH04314210A (ja) | A/d変換器 | |
KR100291723B1 (ko) | 기준전압 가변설정방식을 이용한 아날로그/디지탈변환기 | |
KR101836222B1 (ko) | 오프셋 보정이 적용된 아날로그-디지털 데이터 변환기 및 보정방법 | |
JPH04268824A (ja) | アナログ−ディジタル変換器 | |
JPS58106915A (ja) | A/d変換器 | |
JPH0547006B2 (ja) | ||
JPS62111525A (ja) | A−d変換器 | |
JP3159289B2 (ja) | 並列型a/d変換器 | |
KR19990038892A (ko) | 아날로그 디지탈 변환기 | |
JP2002330070A (ja) | フラッシュ型アナログデジタル変換器のひずみ補償法 |