JPS63204534A - 光磁気記録再生消去方式 - Google Patents

光磁気記録再生消去方式

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JPS63204534A
JPS63204534A JP3682687A JP3682687A JPS63204534A JP S63204534 A JPS63204534 A JP S63204534A JP 3682687 A JP3682687 A JP 3682687A JP 3682687 A JP3682687 A JP 3682687A JP S63204534 A JPS63204534 A JP S63204534A
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Hisao Arimune
久雄 有宗
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隆 前田
Mitsuo Miyazaki
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は情報の記録、再生及び消去が可能な光磁気記録
再生消去方式に関し、詳細にはバイアス磁界を小さくし
てC/N比を大きくすることができる光磁気記録再生消
去方式に関するものである。
〔従来技術及びその問題点〕
近時、高密度記録用媒体としてGdDyFe、 GdT
bFe。
TbFeCo、 DyFeCo 、 GdTbDyFe
 、 GdTbFeCo、 TbDyFeCo、 Gd
DyFeCo等の希土類−遷移金属から成る光磁気記録
用非晶質磁性材料が注目されており、この媒体の開発と
共に記録方式も検討されている。
この光磁気記録方式には光変調記録方式と磁界変調記録
方式があり、いずれの記録方式も非晶質磁性薄膜に適当
な大きさのバイアス磁界を印加すると共にその膜面に対
してレーザービームを照射し、そのビームの終端が膜面
上でフォーカス状態になるように設定し、これにより、
磁性薄膜にビットを書き込んだり、或いは消去すること
が可能となる。
一方、情報を再生する場合には磁性薄膜にレーザービー
ムを照射するに当たって、そのビームの終端が膜面上で
フォーカス状態になるように設定し、カー効果或いはフ
ァラデイー効果を利用して読み出している。
このような光磁気記録再生消去方式によれば、記録及び
消去に当たって、ピント反転に必要な所定レベルのバイ
アス磁界が適宜決められており、そのレベル以下のバイ
アス磁界に設定した場合にはビット反転が完全に行われ
ず、C/N比が低下することが知られている。
本発明者等は、上記の点について種々の実験を繰り返し
行った結果、自発磁化Msがほとんど雰と成り得るよう
な補償組成近傍の合金組成から成る磁性薄膜に、オーバ
ーライド(重ね書き)時に必要とされる変調バイアス磁
界を印加する場合を例にとれば、先行ビットの磁化方向
と同じ方向に磁化させる場合(以下、このために印加す
る磁界を記録保持磁界と呼ぶ)に対しては100Gau
ss程度にまで小さくすることができるが、一方、ビッ
ト反転させる場合には(先行ビットの磁化方向と反対方
向に磁化させる場合、以下、このために印加する磁界を
記録反転磁界と呼ぶ)、所望するビット径のビット反転
が十分に行われないことを確認し、その原因が再生ビー
ムの照射スポット径内の外周域に未反転領域が存在する
ためであることを見い出した。
このように従来の磁気記録再生消去方式によれば、低バ
イアス磁界の下では上記の未反転領域が原因となってC
/N比が顕著に低下しており、そのために未だ低バイア
ス磁界による光磁気記録再生消去方式は実現されていな
い。
低バイアス磁界の記録再生消去方式が可能となれば、そ
れを発生させる電磁石に印加する電力量を小さくするこ
とができ、これによって省エネルギー化及び電磁石の小
型化が達成できるという点で望ましい。
またオーバーライドを行うことができる磁界変調記録方
式においてはバイアス磁界発生用電磁石に印加する電流
の向きを高速で反転させており、これにより、その電磁
石のコイル自体がもつリアクタンスに起因して磁界の立
ち上がり又は立ち下がりに一定以上の時間を必要とし、
その結果、高周波数記録に限界が生じる。従ってバイア
ス磁界を小さくできるならば、コイル自体のりアクタン
スを小さくすることができ、これにより、磁界の立ち上
がり及び立ち下がりに必要とする時間が短縮され、その
結果、磁界変調記録の高周波数記録を改善することがで
きる。
〔発明の目的〕
従って本発明の目的は低バイアス磁界下で優れたC/N
比が得られる光磁気記録再生消去方式を提供することに
ある。
本発明の他の目的はバイアス磁界を小さくすることでバ
イアス磁界発生用の印加電力を小さくし、これによって
省エネルギー化及び磁界発生用電磁石の小型化を達成し
た光磁気記録再生消去方式を提供することにある。
本発明の更に他の目的は磁界変調記録方式による高周波
数記録を改善し、とりわけオーバーライドを有利に行う
ことができる光磁気記録再生消去方式を提供することに
ある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明によれば、膜面に対して垂直方向に磁化容易軸を
有する非晶¥を磁性薄膜にレーザービームを照射して情
報の記録、再生及び消去を可能とする光磁気記録再生消
去方式において、記録時及び消去時における前記非晶質
磁性薄膜面に対するレーザービームの照射スポット径を
再生時における照射スポット径よりも大きくしたことを
特徴とする光磁気記録再生消去方式が提供される。
以下、本発明の詳細な説明する。
本発明者等は、従来の光磁気記録再生消去方式において
補償組成近傍の磁性薄膜に低バイアス磁界を印加すると
C/N比が飽和しない原因を鋭意研究した結果、前述し
た通り、保磁力Hc及び自発磁化Msの高温特性に起因
して膜面に対する照射スポット径に比べて実質のビット
径が小さくなり、再生ビームの照射スポット径に未反転
領域が存在するためであることを見い出した。
本発明はこの知見に基づき、記録時及び消去時における
磁性薄膜に対するレーザービームの照射スポット径を再
生時における照射スポット径よりも大きくした光磁気記
録再生消去方式を提案するものである。
即ち、低バイアス磁界の下で実質のビット径がレーザー
ビームの照射スポット径よりも小さくなった場合にはレ
ーザービームの出力を大きくすることが当然考えられる
が、このような高出力レーザービームを用いた場合には
レーザーダイオードが高価格となり、またそのダイオー
ドの寿命が比較的短くなるという問題が生じるので得策
ではない。これに対して、本記録再生消去方式において
は、低バイアス磁界及び低出力レーザービームによって
記録・消去及び再生ができることが特徴であり、そのた
めには低バイアス磁界の下での記録・消去時の照射スポ
ット径を大きくし、これに伴って実質ビット径をより大
きくし、更にその実質ビット径に対応して再生時の照射
スポット径を適宜決めればよく、これにより、再生時の
照射スポット径(通常、レーザービームの終端が膜面上
でフォーカス状態になるように設定される)の内部で未
反転領域が著しく小さくなるか或いは実質上無くなり、
その結果、低バイアス磁界及び低出力レーザービームに
よって優れたC/N比が得られる。
このように照射スポット径を変える場合には記録・消去
用及び再生用にそれぞれ個別のレーザービームを照射す
る手段を設ければよい。
即ち、ワンビームのヘッドを2個設置するか或いはツー
ビームのヘッドを1個設置する場合があり、いずれも記
録・消去用レーザービームを照射するに当たってはi)
開口数NAを小さくする、ii)ビーム修正を行わない
、iii )長波長のレーザービームを使う・・・など
の方法によって照射スポット径を大きくすることができ
る。一方、再生用レーザービームを照射するに当たって
はi)開口数NAを太き(する、ii)ビーム修正を行
う、iii )短波長のレーザービームを使う・・・な
どの方法によって照射スポット径を小さくすることがで
きる。その−例として開口数NAを変えて照射スポット
径を変える場合、照射スポット中の最大強度の半分に相
当するスポット径をあげるならば、Naを0.45に設
定した場合にはφ0.92μmとなり、NAを0.55
に設定した場合にはφ0.75μmとなる。
また、上記のように別個のレーザービームを用いる以外
に、単一の光学ヘッドを用いて記録・消去時及び再生時
にそれぞれのフォーカシングを切り替えてもよい。
即ち、記録保持もしくは記録反転の場合にはレーザース
ポットをデフォーカス状B(非合焦状態)にして照射ス
ポット径を大きくし、一方、再生の場合にはジャストフ
ォーカス状B(合焦状態)にして照射スポット径を絞り
込むという方式である。
上記のようにデフォーカス状態を設定するためには従来
周知のフォーカスエラー検出方式(非点収差法、臨界角
法、ナイフェツジ法などがあり、いずれも差動アンプを
用いて対称出力が同じである場合にジャストフォーカス
状態になるようにしたものである)において、フォーカ
スエラー信号の対称出力の一方を電気的に故意にずらせ
ばよく、このような決定手段は機械的操作を必要とせず
非常に簡便に行い得る手段である。
かくして本発明の光磁気記録再生消去方式によれば、低
バイアス磁界の下で優れたC/N比が得られ、これによ
って記録及び消去を存利に行うことができ、そして、本
発明者等が繰り返し行った実験によってその磁界の大き
さを100Gauss以下に設定できることを確認した
〔実施例〕
次に本発明の実施例について述べる。
補償組成近傍に設定した(Gdo、 bDVo、 4)
O,z+Pe。、1.から成り、その自発磁化門Sが5
0emu /cc 、膜厚が300人の非晶質磁性媒体
を誘電体層と金属保護層ではさみ込んだ積層構造をプラ
スチック基板上に形成して光磁気ディスクとした。
そして、この光磁気ディスクを光変調記録方式によって
記録保持磁界と記録反転磁界を調べたところ、第1図に
示す通りの結果が得られた。
即ち、光磁気ディスクを膜面に対して一方の垂直方向に
ディスク面全体に亘って完全に着磁し、これによって消
去状態とし、次に光変調記録方式に基づいて記録時のバ
イアス磁界をデユーティ−50の単一周波数でもって着
磁方向と同一方向から始めて反対方向へ順次大きくし、
そのC/N比を測定する。この時の条件は線速4m/s
ec、記録周波数1.6門1121開口数0.5、記録
時のレーザービームの出力5.5mW 、再生時のレー
ザービームの出力1.0111−である。
これによって得られた結果は第1図に示す通りであり、
横軸は外部バイアス磁界の大きさであり、縦軸はC/N
値である。また、図中、符号Aはジャストフォーカス状
態で記号及び再生を行った場合のC/N値であり、符号
Bは八にて設定された条件のなかで記録時のレーザービ
ームの出力5.5m−を3.8m−に変更し、その他の
条件を全く同一にした場合のC/N値である。
符号Cは八にて設定された条件のなかでデフォーカス状
態で記録し、ジャストフォーカス状態で再生を行った場
合のC/N値である。
この結果より明らかな通り、符号Cによれば記録反転磁
界として90Gauss程度で十分に飽和値に達してお
り、再生時における照射スポット径と同程度の大きさの
ビットが記録できたことを示している。尚、このC/N
値の飽和はグループに沿って記録反転されたビットの巾
が再生時の照射スポット径の巾よりも大きくなったこと
によって得られるものであり、ビットの長さはレーザー
パルスのデユーティ−比を長くすることによっても対応
できる。
また上述した実施例は光変調記録方式について述べてい
るが、他方の磁界変調記録方式においてはグループに沿
った周方向のビットの長さは磁界変調周期だけに対応し
、そのためにグループの巾方向に対応するビットの大き
さだけが問題となり、後者の径に対応して記録・消去時
の照射スポット径を再生時の照射スポット径よりも大き
くすることによって小さな記録反転磁界でC/N値が飽
和値になることを確認している。
〔発明の効果〕
以上の通り、本発明の光磁気記録再生消去方式によれば
、低バイアス磁界の下で優れたC/N値が得られ、これ
により、省エネルギー化及び磁界発生用電磁石の小型化
を達成することができた。
また本発明の光磁気記録再生消去方式によれば、バイア
ス磁界を小さくして磁界発生用コイルのりアクタンスを
小さくし、これによって磁界の立ち上がり及び立ち下が
りの所要時間を短縮することができ、その結果、磁界変
調記録に適し、オーバーライドを有利に行うことができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図はバイアス磁界に対するC/N値を表わす線図で
ある。 特許出願人(663)京セラ株式会社 代表者 安城 欽寿

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 膜面に対して垂直方向に磁化容易軸を有する非晶質磁性
    薄膜にレーザービームを照射して情報の記録、再生及び
    消去を可能とする光磁気記録再生消去方式において、記
    録時及び消去時における前記非晶質磁性薄膜面に対する
    レーザービームの照射スポット径を再生時における照射
    スポット径よりも大きくしたことを特徴とする光磁気記
    録再生消去方式。
JP62036826A 1987-02-19 1987-02-19 光磁気記録再生消去方式 Expired - Fee Related JP2593308B2 (ja)

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4893348A (ja) * 1972-03-10 1973-12-03
JPS61105745A (ja) * 1984-10-29 1986-05-23 Nippon Kogaku Kk <Nikon> 熱的情報記録光学的再生方式

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4893348A (ja) * 1972-03-10 1973-12-03
JPS61105745A (ja) * 1984-10-29 1986-05-23 Nippon Kogaku Kk <Nikon> 熱的情報記録光学的再生方式

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