JPS63191947A - タイヤ側壁の凹凸検査装置 - Google Patents

タイヤ側壁の凹凸検査装置

Info

Publication number
JPS63191947A
JPS63191947A JP62024985A JP2498587A JPS63191947A JP S63191947 A JPS63191947 A JP S63191947A JP 62024985 A JP62024985 A JP 62024985A JP 2498587 A JP2498587 A JP 2498587A JP S63191947 A JPS63191947 A JP S63191947A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
width
circuit
recess
value
setting value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP62024985A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0577243B2 (ja
Inventor
Takeshi Ichimoto
市本 健
Hiroaki Hattanda
八反田 博昭
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toyo Tire Corp
Original Assignee
Toyo Tire and Rubber Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toyo Tire and Rubber Co Ltd filed Critical Toyo Tire and Rubber Co Ltd
Priority to JP62024985A priority Critical patent/JPS63191947A/ja
Publication of JPS63191947A publication Critical patent/JPS63191947A/ja
Publication of JPH0577243B2 publication Critical patent/JPH0577243B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M17/00Testing of vehicles
    • G01M17/007Wheeled or endless-tracked vehicles
    • G01M17/02Tyres
    • G01M17/027Tyres using light, e.g. infrared, ultraviolet or holographic techniques

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は、タイヤ側壁の凹凸検査装置に関するもので
あり、自動車用空気入りタイヤのカー力スを構成するタ
イヤコードの接合部の重なりに過不足が生じたりするこ
とによってタイヤ側壁に生じる微小な凹凸を検出し、そ
の程度によって合否を判定するために利用される。
(従来の技術) タイヤ側壁の凹凸検出装置として、特開昭56−122
931号公報に、内圧のかけられたタイヤのサイドウオ
ール部の表面に静電容量型センサを非接触的に近接して
設け、上記タイヤをその回転軸の回りに回転し静電容量
型センサとサイドウオール部表面との相対的距離の変動
に応じた検出信号を発信し、この検出信号をA/D変換
器でデジタル化し、検出信号が所定の時間内に一定値以
上の立上り変化および一定値以上の立下り変化をした場
合にこれを異常と判断するようにしたものが開示されて
いる。
また、特開昭58−200140号公報には、上記の静
電容量型センサの代りに光学式非接触変位検出器を設け
てタイヤ側壁の凹凸に対応する電圧信号を発信し、これ
をデジタル化し、上記電圧信号中の微小凹凸に対応する
範囲の波長域をあらかじめ設定されている短時間だけ遅
延させ、原信号と遅延信号との差をあらかじめ設定され
ている許容値と比較することにより、タイヤ側壁の長い
周期の凹凸の影響を消去し、短周期の凹凸のみを正確に
検出するようにしたものが開示されている。
(発明が解決しようとする問題点) 特開昭56−1.22931号公報に開示された装置は
、静電容量型センサを使用するものであるから、タイヤ
側壁に配置されている文字の白成分に欠陥の凹成分が重
なると、これらが平均化され。
そのため上記の凹成分が欠陥として検出さ扛ないという
問題があった。また、特定の傾斜角度の立上りから立下
りまでの時間軸の長さが所定の範囲内のものを欠陥とす
るので、例えば凸部の頂部が平坦であるために欠陥にす
る必要がない場合にも、これが欠陥として判断されたり
、上記所定の範囲からはみ出る程度に大きい広がりの凸
部や単なる段差が欠陥にならなかったりするという問題
があった。
また、特開昭58−200140号公報に開示された装
置は、欠陥部分の幅(時間軸の長さ)が必ずしも一定で
ないにもかかわらず、遅延時間が設定により常に一定に
なるので、欠陥部分とノイズとの差が小さくなり、欠陥
でないものを欠陥と誤って判定するという問題があった
。また、複数個の凸部または凹部が存在する場合、個々
の凸部または凹部はそれ程大きくなくても、ある程度集
中的に存在する場合は外観が不良になるが、従来はこれ
を欠陥として検出することができなかった。
この発明は、光学式変位検出器を用いることにより、人
間の目視による判断に近い検出を可能にし、仮りに前後
の傾斜が急角度であっても頂部が平坦な凸部や底部が平
坦な凹部は、これを欠陥と判定せず、所定の切返し幅内
にある凸部の高さおよび凹部の深さ並びにその間隔を欠
陥判断の要素にしたものである。
(問題点を解決するための手段) 第1図において、■は所定圧力の空気が充填されたタイ
ヤであり、このタイヤ1は、タイヤ回転装置f(図示さ
れていない)によってタイヤ中心軸の回りに回転される
ようになっているにのタイヤ1の上方および下方に、タ
イヤ1の側壁に光線を投射し、反射光を受光して側壁か
らの距離を連続的に検出し、電圧の強弱に変換する光学
式変位検出器2を設ける。上記の光学式変位検出器2゜
2の出力側に切換手段3を介して上記光学式変位検出器
の出力信号をデジタル化するA/D変換器4を接続し、
このA/D変換器4の出力側にその出力信号を微分し、
得られた微係数が正の微係数設定値以上の部分、負の微
係数設定値以下の部分およびこれらの中間部分に3区分
するための微分比較回路5と、上記圧の微係数設定値以
上の部分と負の微係数設定値以下の部分との間に挟まれ
た中間部分の時間軸長すなわち切返し幅をあらかじめ設
定されている切返し幅設定値と比較して上記切返し幅が
切返し幅設定値以下の凸部および凹部をそれぞれ取出す
ための凸部用識別回路6Aおよび凹部用識別回路6Bと
、上記の切返し幅が設定値以下の凸部および凹部につい
てそれぞれのピーク部分の時間軸座標を算出し、この時
間軸座標を中心としてその前後に設けた所定の判定幅を
超えない範囲で正の微係数設定値以上の部分の開始時か
ら負の微係数設定値以下の部分の終了時までを凸部の幅
とする凸部用ゲート設定回路7Aおよび上記の判定幅を
超えない範囲で負の微係数設定値以下の部分の開始時か
ら正の微係数設定値以上の部分の終了時までを凹部の幅
とする凹部用ゲート設定回路7Bと、上記A/D変換器
4の出力から上記判定幅内の変位信号を取出し、凸部お
よび凹部のそれぞれの前後両端からそのピーク部分まで
の高さを平均し、この平均値が許容値を超える複数個の
凸部または凹部の時間軸方向間隔が限界値以内の場合に
これを欠陥と判定する凸部間隔判定回路8Aおよび凹部
間隔判定回路8Bとを順に接続する。
(作用) タイヤlの上面または下面の凹凸が光学式変位検出器2
からの距離の相違として検出され、これが電圧信号(第
3図参照)としてA/D変換器4に送られ、所定の微小
時間間隔でデジタル化され、このデジタル化された検出
信号が微分比較路5に入力され、微分され(第4図参照
)、その微係数があらかじめ設定されている正の微係数
設定値以上の部分、負の微係数設定値以下の部分および
これらの中間の部分に3区分される。例えば、正の微係
数設定値以上の部分、負の微係数設定値以下の部分、お
よび中間部分に対応してそれぞれ+1、−1およびOの
3値が与えられ、上記の微分出力が三値化される(第5
図参照)。
上記微分比較回路5から出力される三値化信号が+1か
ら0を経て−1に変る部分は、凸部を示すと共に、その
凸部の両側の斜面が微係数設定値で定まる所定の傾斜角
度以上の急角度に傾斜していることを示し、上記三値化
信号が−1からOを経て+1に変る部分は、反対の凹部
を示す。すなわち、タイヤ1の側壁の多数の凸部と凹部
の中で両側の傾斜面が特に急角度の凸部と凹部が上記の
微分比較路5によって取出される。
この微分比較回路5の出力信号中、正の微係数設定値以
上の部分から負の微係数設定値以下の部分に変る途中の
中間部分は、凸部を示す三値化信号の0値の部分を示し
、との0値の部分の時間軸の長さt工、t2は、凸部の
傾斜角度が所定限度を超えた位置よりも上方部分の幅(
タイヤ回転方向に沿って測定した長さ)、すなわち切返
し幅を表わしており、この切返し部が凸部用識別回路6
Aにおいて切返し幅設定値と比較され、設定値以下のも
ののみが取出される。すなわち1両側の傾斜面が急角度
の凸部中、切返し幅の狭いもの、換言すれば頂部の狭く
鋭い凸部のみが取出され1両側の傾斜面が急であっても
頂部が広く平坦なものは除かれる。同様にして、凹部用
識別回路6Bにおいては、凹部の両側の傾斜面が急角度
であり、しかも切返し幅が狭く底部の鋭い凹部のみが取
出される。
凸部用ゲート設定回路7Aでは、凸部用識別回路の出力
信号の凸部の切返し幅と、A/D変換器4の出力信号と
から凸部のピーク位置の時間軸座標が求められ、更にピ
ーク位置の前後に所定の判定幅(第6図のM参照)が設
けられ、この判定幅を超えない範囲で三値化信号の0か
ら1への立上り点と−1から0への立上り点相互間の時
間軸上の間隔意をもつゲート信号が出力される(第7図
参照)、この場合、A/D変換器4の出力信号中、上記
切返し幅設定値の内側に含まれる信号の個数、すなわち
サンプル数は極めて少ないので、A/D変換器4の出力
信号(変位信号)の比較によるピーク位置の算出は極め
て容易に、短時間に行なわれる。凹部用ゲート設定回路
7Bにおいても、同様にピークの存在する時間軸座標を
中心として前後に設けた判定幅を超えない範囲で三値化
信号のOから−1への立上り点と1からOへの立上り点
相互間の時間軸上の間隔Qをもつゲート信号が出力され
る。
次いで、凸部間隔判定回路8Aでは、上記判定幅a内の
白波形が抽出され(第8図参照)、その前端からピーク
までの高さおよび後端からピークまでの高さがそれぞれ
算出され、その平均値が求められ、この平均値が許容値
と比較とれ、更に許容値を超える凸部相互の間隔が限界
値と比較されて合否が判定される。凹部間隔判定回路8
Bでは、同様にして凹部の深さが前後の平均値で算出さ
れ、この平均値が許容値と比較され、許容値を超える凹
部相互の間隔が限界値と比較されて合否を判定される。
(実施例) 第2図において、2は前記の光学式変位検出器、4はA
/D変換器であり、タイヤ1周分に対する光学式変位検
出器2の出力、すなわちセンサ出力(V)の−例が第3
図に示される。なお、第3図において横軸にはデジタル
化によるサンプル番号をとり、r5 L 2」はタイヤ
の1同口を表わす。
A/D変換lI4の出力は、微分回路51で微分され、
第4図のグラフで示される微係数が出力され。
この微係数が比較回路52において微係数設定値りと比
較され、第5図に示すように三値化される。
例えば、タイヤlの回転方向の長さ3■に対して0.0
5−以上の凸部および凹部があるとき、それぞれ+1お
よび一工を与え、0.05m (勾配0.05/3)未
満の凹凸に対して0を与える。なお、微分回路51およ
び比較回路52によって第1図の微分比較回路5が構成
される。
上記三値化信号の+1から−1に変る途中の0信号が凸
部用識別回路6Aに送られ、O信号の横軸上長さ、すな
わち切返し幅11.12等が切返し幅設定値Tと比較さ
れ、切返し幅設定値T(例えば、長さ10腸、サンプル
数3個)未満のものt2が出力される。同様に、三値化
信号の−1から+1に変る途中の0信号が凹部用識別回
路6Bに送られ、その切返し幅が設定値未満のものが出
力される。
凸部用ピーク検出回路71Aには、A/D変換器4の出
力および凸部用識別回路6Aの出力の双方が入力され、
切返し幅t□内に含まれるA/D変換器4の出力を比較
し、最大値すなわちピーク値を算出し、その横座標(時
間軸座標)、すなわちサンプル番号を探し出す。第6図
は、第5図の一部の拡大図であり、上記ピーク値の横座
標がPで示される。なお、第6図において、Bは凸部の
幅を示す。次いで、ゲート回路72Aにおいて、ピーク
値の横座標Pの前後に等しい幅(例えば、10〜25■
)の判定幅Mを設定し、判定幅Mを超える幅に制限をか
けて第7図のゲート信号0が作成される。同様にして、
凸部用ピーク検出回路71Aおよび凹部用ゲート回路7
2Bによって、ゲート信号が作成される。なお、凸部用
のピーク検出回路71Aおよびゲート回路72Aが第1
図のゲート設定回路7Aを構成し、凹部用のピーク検出
回路71Bおよびゲート回路72Bが第1図のゲート設
定回路7Bを構成する。
凸部ピックアップ回路1111Aは、A/D変換器4が
出力する変位信号(第3図参照)と凸部用ゲート回路7
2Aが出力するゲート信号(第7図参照)を合成し、例
えば第3図にNで示される白波形を取り出す、その拡大
図が第8図に示される。次いで、高さ演算回路82Aに
おいて、上記白波形Nの前端からの高さaおよび後端か
らの高さbの平均値((a+b))/2)が算出される
。そして、第1凸部判定回路83Aにおいて第1凸部許
容値Ha(例えば0.3m)と比較され、この第1凸部
許容値Haを超える凸部のうち隣接する2個の時間軸方
向間隔が間隔判定回路84において間隔限界値しく例え
ば90度)と順に比較され、この間隔限界値り以下の場
合に欠陥と判定される。同様にして、凹部ピックアップ
回路81B、凹部用高さ演算回路82Bおよび凹部用第
1凹部判定回路83B、第1凹部許容値Hbによって第
1凹部許容値Hbを超える凹部が取り出され、更にその
間隔が上記の間隔判定回路84において限界値りと比較
される。
一方、高さ演算回路82Aによる平均値の演算は、タイ
ヤ1の1周分について行なわれ、その全数の平均値が比
較され、その最大値が第2凸部判定回路85Aにおいて
上記第1凸部許容値Haよりも大きい第2凸部許容値H
c (例えば0 、5 m )と比較され、上記の最大
値が第2凸部許容値Hcを超えた場合に欠陥と判定され
る。同様にして、凹部ピックアップ回路81B、凹部用
高さ演算回路82Bおよび第2凹部判定回路85Bによ
って凹部の最大値が決定され、第2凹部許容値Hdと比
較される。なお、凸部用のピックアップ回路81A、演
算回路82A、第1凸部判足回路83Aおよび間隔判定
回路84が第1図の凸部間隔判定回路8Aを構成し、凹
部用のピックアップ回路81B、演算回路82B、第1
凹部判定回路83Bおよび間隔判定回路84が第1図の
凹部間隔判定回路8Bを構成する。
この実施例では、段差ピックアップ回路91、比較回路
92、高さ演算回路93および段差判定回路94によっ
て段差識別回路9が構成される。例えば、第9図に示さ
れる段差信号が+ A/D変換器4から段差ピックアッ
プ回路91に入力される一方、第10図に示される微分
信号が微分回路51から比較回路92に入力され、段差
微分設定値S(例えば、勾配が25/1000)と比較
され、第11図に示すように段差微分設定値S以上の微
係数部分とS未満の部分とに二値化され、との二値化信
号が上記のピックアップ回路91に入力され、第9図の
段差信号と合成され、第12図に示すように、上記の段
差微分設定値Sで定まる傾斜角度以上の傾斜角度部分(
W)の範囲の波形が取り出され、その高さHが高さ演算
回路93で算出され、この高さHが段差判定回路94に
おいて段差許容値H6(例えば0,8■)と比較され、
これを超える場合に第13図の段差判定信号が出力され
る。
すなわち、この実施例は、第2凸部判定回路85Aおよ
び第2凹部判定回路85Bを備えているので、高さもし
くは深さが許容値以上の凸部や凹部が1個でも存在する
と不合格として検出できると共に、段差識別回路9を備
えているので、立上り部または立下り部の一方のみが存
在していても、設定値以上の勾配の部分が設゛定高さ以
上に及ぶ場合にこれを欠陥段差として検出することがで
きる。
(発明の効果) この発明は、光学式変位検出器を用いるので光線を細く
しスポットを小さくすることによって小面積の凹凸を個
別に捕え、その大きさを検出することができる。また、
所定長さの時間軸(切返し幅)内に所定角度以上の立上
り部と立下り部の双方が存在する場合に、これを捕捉す
るので、頂部が平坦な凸部および底部が平坦な凹部を欠
陥と判定することがなく、目視に近い判断が得られる。
また、微係数が上下の限界値以内の部分についてのみA
/D変換器の出力信号(変位信号)の大きさを比較して
ピークを探すので、サンプル数が少なく、ピークの位置
を容易に探すことができる。
そして、このピークの位置を中心としてその前後に判定
幅を設定し、この判定幅を超えない範囲で定まる欠陥の
前後両端を基準にしてピークの高さを算出し、その平均
値をもって凸部または凹部の高さとするので、再現性が
向上し、正確な判定が可能になり、しかも所定の大きさ
の凹凸部が所定の間隔で密集した場合にこれを欠陥と判
定するので、比較的軽度の凹凸であっても、その集中に
よる外観の低下を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の実施例のブロック図、第2図は第1
図の要部の詳細ブロック図、第3図ないし第13図は第
2図の装置の要部における出力信号のグラフである。 1:タイヤ、2:光学式変位検出器、4:A/D変換器
、5:微分比較回路、6A:凸部識別回路、6B:凹部
識別回路、7A:凸部用ゲート設定回路、7B:凹部用
ゲート設定回路、8A:凸部間隔判定回路、8B:凹部
間隔判定回路。 特許出願人  東洋ゴム工業株式会社 代理人 弁理士  吉 1)了 司 Is1図 →ブンブルε邊 第6図    第7図    第8図 箔11図 =ッ二

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 〔1〕所定圧力の空気が充填されたタイヤをタイヤ中心
    軸の回りに一定の速度で回転させるタイヤ回転装置と、
    上記タイヤの側壁に光線を投射し、その反射光を受光し
    て側壁からの距離を連続的に検出し、電圧の強弱に変換
    する光学式変位検出器と、この光学式変位検出器の出力
    信号を微小時間間隔のデジタル信号に変換するA/D変
    換器と、このA/D変換器の出力信号を微分し微係数が
    正の微係数設定値以上の部分、負の微係数設定値以下の
    部分およびこれらの中間部分に3区分する微分比較回路
    と、上記正の微係数設定値以上の部分および負の微係数
    設定値以下の部分の間に挟まれた中間部分の時間軸長す
    なわち切返し幅をあらかじめ設定されている切返し幅設
    定値と比較して上記切返し幅が切返し幅設定値以下の凸
    部および凹部を取出す識別回路と、これらの切返し幅が
    設定値以下の凸部および凹部についてそのピーク部分の
    時間軸座標を算出し、この時間軸座標を中心としてその
    前後に設けた所定の判定幅を超えない範囲で正の微係数
    設定値以上の部分の開始時から負の微係数設定値以下の
    部分の終了時までを凸部の幅とする凸部用ゲート設定回
    路および上記の判定幅を超えない範囲で負の微係数設定
    値以下の部分の開始時から正の微係数設定値以上の部分
    の終了時までを凹部の幅とする凹部用ゲート設定回路と
    、上記A/D変換器の出力から上記判定幅内の変位信号
    を取出し、凸部および凹部のそれぞれの前後両端からそ
    のピークまでの高さを平均し、この平均値が許容値を超
    える複数個の凸部または凹部の時間軸方向間隔が限界値
    以内の場合にこれを欠陥と判定する凸部間隔判定回路お
    よび凹部間隔判定回路とからなるタイヤ側壁の凹凸検査
    装置。
JP62024985A 1987-02-05 1987-02-05 タイヤ側壁の凹凸検査装置 Granted JPS63191947A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62024985A JPS63191947A (ja) 1987-02-05 1987-02-05 タイヤ側壁の凹凸検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62024985A JPS63191947A (ja) 1987-02-05 1987-02-05 タイヤ側壁の凹凸検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63191947A true JPS63191947A (ja) 1988-08-09
JPH0577243B2 JPH0577243B2 (ja) 1993-10-26

Family

ID=12153273

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62024985A Granted JPS63191947A (ja) 1987-02-05 1987-02-05 タイヤ側壁の凹凸検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS63191947A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0242306A (ja) * 1988-02-12 1990-02-13 Sumitomo Rubber Ind Ltd タイヤのサイドウォールの検査装置
WO2002048648A1 (de) * 2000-12-14 2002-06-20 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Messeinrichtung zur berührungslosen messung von reifen
EP1519188A3 (de) * 2000-12-14 2011-09-07 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung und Verfahren zur Qualitätsprüfung eines Körpers
JP2012513029A (ja) * 2008-12-19 2012-06-07 ミシュラン ルシェルシュ エ テクニーク ソシエテ アノニム 幾何学的タイヤ測定値のデータ品質を向上させるフィルタリング処理方法
US8712720B2 (en) 2008-12-19 2014-04-29 Michelin Recherche at Technigue S.A. Filtering method for improving the data quality of geometric tire measurements
US9569563B2 (en) 2010-06-14 2017-02-14 Michelin Recherche Et Technique S.A. Method for prediction and control of harmonic components of tire uniformity parameters

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0242306A (ja) * 1988-02-12 1990-02-13 Sumitomo Rubber Ind Ltd タイヤのサイドウォールの検査装置
WO2002048648A1 (de) * 2000-12-14 2002-06-20 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Messeinrichtung zur berührungslosen messung von reifen
EP1519188A3 (de) * 2000-12-14 2011-09-07 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung und Verfahren zur Qualitätsprüfung eines Körpers
JP2012513029A (ja) * 2008-12-19 2012-06-07 ミシュラン ルシェルシュ エ テクニーク ソシエテ アノニム 幾何学的タイヤ測定値のデータ品質を向上させるフィルタリング処理方法
US8712720B2 (en) 2008-12-19 2014-04-29 Michelin Recherche at Technigue S.A. Filtering method for improving the data quality of geometric tire measurements
US9569563B2 (en) 2010-06-14 2017-02-14 Michelin Recherche Et Technique S.A. Method for prediction and control of harmonic components of tire uniformity parameters

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0577243B2 (ja) 1993-10-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH04252940A (ja) 物体端部の欠陥検査方法及びその装置
JP5174540B2 (ja) 木材欠陥検出装置
JPS63191947A (ja) タイヤ側壁の凹凸検査装置
JPH0242306A (ja) タイヤのサイドウォールの検査装置
US4544268A (en) Method and apparatus for detecting flaw on threads of male screw
JPS6382347A (ja) タイヤ側壁の凹凸検査装置
JP3260888B2 (ja) 視程測定方法、降雨降雪の判別方法、降雨降雪強度の測定方法及び装置
JPH11132743A (ja) 画像信号処理による欠陥検査装置
JPH02141603A (ja) 幅及び段差検出方法
JP2715897B2 (ja) Icの異物検査装置及び方法
JP2929096B2 (ja) 曲面を有する被検査物の表面検査装置
JPH0989524A (ja) 溶接開先・ビードの中心位置検出方法及び装置
JPS6341102Y2 (ja)
JPH02309204A (ja) 被測定対象物の段差検出装置
JPH06160302A (ja) 走行ストリップの表面疵検査方法及び装置
JPH0765894B2 (ja) タイヤの形状検査方法
JPS6216372B2 (ja)
JPH02171640A (ja) 容器検査方法
JPS6365581A (ja) 画像センシング方法
JPH06281438A (ja) ロール摩耗部の検出方法
JPS6089734A (ja) 表面欠陥検査方法
JP2996345B2 (ja) 表面検査装置
JPS59157544A (ja) 表面欠陥検査方法
JPH0755722A (ja) 表面欠陥検査方法
JPS6213618B2 (ja)

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term