JPS63183181A - マグネトロンスパツタエツチング装置 - Google Patents
マグネトロンスパツタエツチング装置Info
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- JPS63183181A JPS63183181A JP62013887A JP1388787A JPS63183181A JP S63183181 A JPS63183181 A JP S63183181A JP 62013887 A JP62013887 A JP 62013887A JP 1388787 A JP1388787 A JP 1388787A JP S63183181 A JPS63183181 A JP S63183181A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32431—Constructional details of the reactor
- H01J37/3266—Magnetic control means
-
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- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
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- H01J37/34—Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
- H01J37/3402—Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering using supplementary magnetic fields
- H01J37/3405—Magnetron sputtering
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-
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- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/32—Processing objects by plasma generation
- H01J2237/33—Processing objects by plasma generation characterised by the type of processing
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- ing And Chemical Polishing (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、特に、基板表面に薄膜を堆積する前に前処理
として行なう、基板表面のクリーニング処理等に適した
マグネトロンスパッタリングエツチング装置の改良に関
する。
として行なう、基板表面のクリーニング処理等に適した
マグネトロンスパッタリングエツチング装置の改良に関
する。
(従来の技術とその問題点)
従来のエツチング方法は、フロン系ガスを用いる高周波
2極エツチングが最も一般的である。この方法はシリコ
ンやアルミニウム等の薄膜をサブミクロンの幅でエツチ
ング出来るため、大規模集積回路の開発に大きく貢献し
ている。しかしこのエツチング方法は、基板表面を汚染
する為、基板表面のクリーニング処理には適しない。
2極エツチングが最も一般的である。この方法はシリコ
ンやアルミニウム等の薄膜をサブミクロンの幅でエツチ
ング出来るため、大規模集積回路の開発に大きく貢献し
ている。しかしこのエツチング方法は、基板表面を汚染
する為、基板表面のクリーニング処理には適しない。
基板表面のクリーニングに適するエツチング方法として
は、上記とは別にアルゴンを用いた高周波2極スパッタ
エツチングがあり、汚染のおそれがないため便利に使用
されていて、アルミニウム配線層と半導体基板との接触
をとるために半導体基板表面をスパッタエツチングして
表面汚染層を除去し清浄化する目的や、さらに、多層配
線プロセスにおいて下層配線層表面をスパッタエツチン
グした後、上層配線層を形成して配線間の接続をとる場
合のクリーニングの目的にも使用されていしかしこのア
ルゴンスパッタエツチングの場合も、従来の方法では、
荷電粒子の加速が強く、また基板の温度上昇が大きくて
ときには数百℃にも達することがあり、基板に悪影響を
及ぼす欠点がある。またエツチング速度が遅いという問
題もある。
は、上記とは別にアルゴンを用いた高周波2極スパッタ
エツチングがあり、汚染のおそれがないため便利に使用
されていて、アルミニウム配線層と半導体基板との接触
をとるために半導体基板表面をスパッタエツチングして
表面汚染層を除去し清浄化する目的や、さらに、多層配
線プロセスにおいて下層配線層表面をスパッタエツチン
グした後、上層配線層を形成して配線間の接続をとる場
合のクリーニングの目的にも使用されていしかしこのア
ルゴンスパッタエツチングの場合も、従来の方法では、
荷電粒子の加速が強く、また基板の温度上昇が大きくて
ときには数百℃にも達することがあり、基板に悪影響を
及ぼす欠点がある。またエツチング速度が遅いという問
題もある。
そこで近時は、この問題を解決するため、ターゲットに
向かう電界と直交する磁界をターゲット表面近傍に発生
させ、この磁界の作用によってエツチングを高速化した
マグネトロンスパッタエツチング装置がよく使われるよ
うになっている。
向かう電界と直交する磁界をターゲット表面近傍に発生
させ、この磁界の作用によってエツチングを高速化した
マグネトロンスパッタエツチング装置がよく使われるよ
うになっている。
第2図にその従来の装置の電極部を抜きだして、その概
略の正面断面図を示す。
略の正面断面図を示す。
第2図では、被処理基板を下部電極に載置し、上部電極
がターゲットを兼ね、エツチングと堆積が兼用されるよ
うになった装置の電極構成の例である。
がターゲットを兼ね、エツチングと堆積が兼用されるよ
うになった装置の電極構成の例である。
上部の対向電極は、接地された平面状ターゲット111
と、凹部を有する電極本体112との間の内部空間11
3に冷却水管114.115で冷却水を導入し、高温と
なるターゲット111を冷却するようになっている。タ
ーゲット111の裏面には磁石116を装着した鉄コア
117が配置され、電極面の近傍に閉じた磁界118が
発生するようになっている。
と、凹部を有する電極本体112との間の内部空間11
3に冷却水管114.115で冷却水を導入し、高温と
なるターゲット111を冷却するようになっている。タ
ーゲット111の裏面には磁石116を装着した鉄コア
117が配置され、電極面の近傍に閉じた磁界118が
発生するようになっている。
一方、下部のエツチング電極の方は基板121と基板ホ
ルダー122および基板ホルダー122にコンデンサー
123を介して接続された高周波電源124から成り立
っており、前記の上部対向電極の真下に設けられている
。
ルダー122および基板ホルダー122にコンデンサー
123を介して接続された高周波電源124から成り立
っており、前記の上部対向電極の真下に設けられている
。
この電極構成のエツチング装置では、マグネトロン方式
のためエツチング速度は格段に速くなる。
のためエツチング速度は格段に速くなる。
しかし、被処理基板121の表面のエツチングは、基板
表面の磁界の形に対応したエツチング分布を示す。従っ
て、エツチング量は基板表面で不均一であり、局所的に
エツチング過剰があったり不足があったりで、一部にて
半導体回路の導通不良を招く等の問題がある。
表面の磁界の形に対応したエツチング分布を示す。従っ
て、エツチング量は基板表面で不均一であり、局所的に
エツチング過剰があったり不足があったりで、一部にて
半導体回路の導通不良を招く等の問題がある。
(発明の目的)
本発明は、上記の問題を解決し、被処理基板表面のエツ
チング速度を均一にし、表面清浄プロセスの信頼性の向
上に寄与しうる、新規なマグネトロンスパッタエツチン
グ装置を提供することを目的とする。
チング速度を均一にし、表面清浄プロセスの信頼性の向
上に寄与しうる、新規なマグネトロンスパッタエツチン
グ装置を提供することを目的とする。
(発明の構成)
本発明は、真空容器内に1対の電極を対向設置し、該対
向電極に高周波電力を印加するとともに、該高周波電力
の電気力線に平行な成分を持つ磁力線を設定して、該対
向電極の一方の上またはその近傍に被処理基板を置き、
前記一対の電極の両者の背後にそれぞれ磁石を配置し、
互いの異なる磁極を対向させるとともに、両磁石の少な
くとも一方を、該電気力線に平行な軸を中心にして回転
させるよう構成したものである。
向電極に高周波電力を印加するとともに、該高周波電力
の電気力線に平行な成分を持つ磁力線を設定して、該対
向電極の一方の上またはその近傍に被処理基板を置き、
前記一対の電極の両者の背後にそれぞれ磁石を配置し、
互いの異なる磁極を対向させるとともに、両磁石の少な
くとも一方を、該電気力線に平行な軸を中心にして回転
させるよう構成したものである。
(作用)
上記構成によれば、被処理基板を配置した電極に向かう
電界とほぼ平行な磁界が走る為、プラズマ中の荷電粒子
は磁力線に巻き付いて螺旋状に回転運動し、電極上方の
磁束の集中している部分にプラズマが集中し、その上に
置かれた被処理基板のエツチングが速くなる。そして永
久磁石の少なくとも一方が被処理基板に対し回転してい
るため、回転軸の位置を適当にすると、前記磁束は被処
理基板上を動きまわることになり、被処理基板上のプラ
ズマ量は均一化され、基板表面のエツチングが均一化さ
れて進行する。また放電インピーダンスが低くなるため
、荷電粒子の加速電圧が低くなり、゛被処理基板表面の
損傷が少なくなる。
電界とほぼ平行な磁界が走る為、プラズマ中の荷電粒子
は磁力線に巻き付いて螺旋状に回転運動し、電極上方の
磁束の集中している部分にプラズマが集中し、その上に
置かれた被処理基板のエツチングが速くなる。そして永
久磁石の少なくとも一方が被処理基板に対し回転してい
るため、回転軸の位置を適当にすると、前記磁束は被処
理基板上を動きまわることになり、被処理基板上のプラ
ズマ量は均一化され、基板表面のエツチングが均一化さ
れて進行する。また放電インピーダンスが低くなるため
、荷電粒子の加速電圧が低くなり、゛被処理基板表面の
損傷が少なくなる。
(実施例)
第1図に本発明の実施例のマグネトロンスパッタエツチ
ング装置の電極部の概略の断面図を示す。
ング装置の電極部の概略の断面図を示す。
エツチング電極lはコンデンサー2を介して高周波電源
3に接続されており、冷却水導入口4゜冷却水出口5を
備えて密閉室内部に冷却水を循環し過熱を防ぐようにな
っている。密閉室内には永久磁石10が固定されている
。エツチング電極1の上部には石英シールド板6と石英
製基板台7を介して被処理基板8を設置している。9は
シールド板である。
3に接続されており、冷却水導入口4゜冷却水出口5を
備えて密閉室内部に冷却水を循環し過熱を防ぐようにな
っている。密閉室内には永久磁石10が固定されている
。エツチング電極1の上部には石英シールド板6と石英
製基板台7を介して被処理基板8を設置している。9は
シールド板である。
エツチング電極1に対面する対向電極12は、冷却水導
入口15.冷却水出口16を備えて、密閉室内部に冷却
水を循環し過熱を防ぐようになっている。その密閉室内
には、モーター17で軸18の回りに回転駆動される永
久磁石13が設けられ、前記永久磁石10とは、互いの
異極が対向している。
入口15.冷却水出口16を備えて、密閉室内部に冷却
水を循環し過熱を防ぐようになっている。その密閉室内
には、モーター17で軸18の回りに回転駆動される永
久磁石13が設けられ、前記永久磁石10とは、互いの
異極が対向している。
エツチング電極1の裏面の密閉室内の永久磁石10と、
対向電極12の裏面密閉室内の永久磁石13とは、互い
に異なる磁極を対向させており、その作る磁界14によ
り、荷電粒子は磁力線に拘束されて螺旋状に回転運動す
る。このために、エツチング電極1上の磁力線の集中部
分にプラズマが集中し、その部分のエツチング速度が速
くなる。
対向電極12の裏面密閉室内の永久磁石13とは、互い
に異なる磁極を対向させており、その作る磁界14によ
り、荷電粒子は磁力線に拘束されて螺旋状に回転運動す
る。このために、エツチング電極1上の磁力線の集中部
分にプラズマが集中し、その部分のエツチング速度が速
くなる。
対向電極12内のモーター17を駆動して永久磁石13
を回転軸18の回りに偏心回転させると、前記したプラ
ズマの集中部分も回転移動し、時間平均では基板表面上
でプラズマが均一化され、エツチング量は基板表面で均
一となる。
を回転軸18の回りに偏心回転させると、前記したプラ
ズマの集中部分も回転移動し、時間平均では基板表面上
でプラズマが均一化され、エツチング量は基板表面で均
一となる。
放電インピーダンスが低くなるため荷電粒子の加速電圧
は低くなり、被処理基板のダメージは少ない。
は低くなり、被処理基板のダメージは少ない。
このマグネトロンスパッタエツチング装置によれば、A
rガス圧力lXl0−3Torrにてエツチング速度は
、従来の磁石のない装置の5倍以上となり、基板表面の
エツチングの分布は十分に均一化されて、良好なりリー
ニングが達成された。
rガス圧力lXl0−3Torrにてエツチング速度は
、従来の磁石のない装置の5倍以上となり、基板表面の
エツチングの分布は十分に均一化されて、良好なりリー
ニングが達成された。
なお、上記では対向電極12の裏面の永久磁石13を偏
心回転させたが、逆に、エツチング電極1の裏面の永久
磁石10の方を偏心回転させても、または、2つの永久
磁石10.12を同時に偏心回転させても、ともに同様
の良好な結果かえられる。
心回転させたが、逆に、エツチング電極1の裏面の永久
磁石10の方を偏心回転させても、または、2つの永久
磁石10.12を同時に偏心回転させても、ともに同様
の良好な結果かえられる。
(発明の効果)
本発明は、エツチング速度を高速にし、被処理基板表面
のエツチング量の均一化、エツチングによる被処理基板
の損傷の低減を実現する新規のマグネトロンスパッタエ
ツチング装置を提供する効果がある。
のエツチング量の均一化、エツチングによる被処理基板
の損傷の低減を実現する新規のマグネトロンスパッタエ
ツチング装置を提供する効果がある。
第1図は、本発明のマグネトロンスパッタエツチング装
置の実施例の電極部の概略の構成図。 第2図は、従来の同様の図。 1・・・エツチング電極、 3・・・高周波電源、4
.5・・・・・・冷却水管、 8・・・被処理基板、
10.13・・・永久磁石、17・・・モーター、18
・・・回転軸。
置の実施例の電極部の概略の構成図。 第2図は、従来の同様の図。 1・・・エツチング電極、 3・・・高周波電源、4
.5・・・・・・冷却水管、 8・・・被処理基板、
10.13・・・永久磁石、17・・・モーター、18
・・・回転軸。
Claims (1)
- (1)真空容器内に1対の電極を対向設置し、該対向電
極に高周波電力を印加するとともに、該高周波電力の電
気力線に平行な成分を持つ磁力線を設定して、該対向電
極の一方の上またはその近傍に置かれた被処理基板の表
面をエッチング処理するマグネトロンスパッタエッチン
グ装置において、前記一対の電極の両者の背後にそれぞ
れ磁石を、互いの異なる磁極を対向させて設置するとと
もに、該磁石の少なくとも一方を、該電気力線に平行な
軸を中心にして回転させるよう構成したことを特徴とす
るマグネトロンスパッタエッチング装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62013887A JPS63183181A (ja) | 1987-01-23 | 1987-01-23 | マグネトロンスパツタエツチング装置 |
US07/071,240 US4761219A (en) | 1987-01-23 | 1987-07-09 | Magnetron sputtering etching apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62013887A JPS63183181A (ja) | 1987-01-23 | 1987-01-23 | マグネトロンスパツタエツチング装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63183181A true JPS63183181A (ja) | 1988-07-28 |
Family
ID=11845712
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62013887A Pending JPS63183181A (ja) | 1987-01-23 | 1987-01-23 | マグネトロンスパツタエツチング装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4761219A (ja) |
JP (1) | JPS63183181A (ja) |
Families Citing this family (31)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JPH0215174A (ja) * | 1988-07-01 | 1990-01-18 | Canon Inc | マイクロ波プラズマcvd装置 |
US5130005A (en) * | 1990-10-31 | 1992-07-14 | Materials Research Corporation | Magnetron sputter coating method and apparatus with rotating magnet cathode |
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US5196670A (en) * | 1989-10-03 | 1993-03-23 | University Of Cincinnati | Magnetic plasma producing device with adjustable resonance plane |
JP2573702B2 (ja) * | 1989-12-19 | 1997-01-22 | 三菱電機株式会社 | プラズマエッチング装置 |
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US5480533A (en) * | 1991-08-09 | 1996-01-02 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Microwave plasma source |
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US6531069B1 (en) * | 2000-06-22 | 2003-03-11 | International Business Machines Corporation | Reactive Ion Etching chamber design for flip chip interconnections |
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