JPS63176001A - 伝送線路 - Google Patents
伝送線路Info
- Publication number
- JPS63176001A JPS63176001A JP62008472A JP847287A JPS63176001A JP S63176001 A JPS63176001 A JP S63176001A JP 62008472 A JP62008472 A JP 62008472A JP 847287 A JP847287 A JP 847287A JP S63176001 A JPS63176001 A JP S63176001A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semi
- semiconductor substrate
- substrate
- compound semiconductor
- groove
- Prior art date
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- Pending
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 37
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 32
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims abstract description 28
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- 238000005530 etching Methods 0.000 claims abstract description 7
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 abstract 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
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- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、半絶縁性化合物半導体基板上に形成される
低インピーダンスの伝送線路に関するものである。
低インピーダンスの伝送線路に関するものである。
第2図は従来の伝送線路の斜視図で、半絶縁性化合物半
導体基板1の一方の面上に、ある特性インピーダンスに
対応する線路幅をもつ金属線路2が形成され半絶縁性化
合物半導体基板1の他方の面を接地金属4でメッキした
ものである。
導体基板1の一方の面上に、ある特性インピーダンスに
対応する線路幅をもつ金属線路2が形成され半絶縁性化
合物半導体基板1の他方の面を接地金属4でメッキした
ものである。
次に動作について説明する。
半絶縁性化合物半導体基板1の一方の面に形成された金
属線路2の特性インピーダンスは、その線路幅と半絶縁
性化合物半導体基板1の比誘電率と基板厚によって決ま
る。
属線路2の特性インピーダンスは、その線路幅と半絶縁
性化合物半導体基板1の比誘電率と基板厚によって決ま
る。
半絶縁性化合物半導体基板1の比誘電率を一定とした場
合、金属線路2の特性インピーダンスは、その線路幅と
半絶縁性化合物半導体基板1の厚みtの比が大きいほど
低い特性インピーンダンスとなり、小さいほど高い特性
インピーダンスをもつ伝送線路となる。
合、金属線路2の特性インピーダンスは、その線路幅と
半絶縁性化合物半導体基板1の厚みtの比が大きいほど
低い特性インピーンダンスとなり、小さいほど高い特性
インピーダンスをもつ伝送線路となる。
このような理由から、低インピーダンス線路を構成する
場合、線路幅が拡がり、集積化するうえでチップ面積の
縮小化に制限を与えている。
場合、線路幅が拡がり、集積化するうえでチップ面積の
縮小化に制限を与えている。
従来の伝送線路は以上のような特徴をもち、低インピー
ダンスの伝送線路を形成する場合、金属線路2の線路幅
を半絶縁性化合物半導体基板1で制約されるため、チッ
プ面積を拡げることになり、チップ面積の縮小化に大き
な問題点があった。
ダンスの伝送線路を形成する場合、金属線路2の線路幅
を半絶縁性化合物半導体基板1で制約されるため、チッ
プ面積を拡げることになり、チップ面積の縮小化に大き
な問題点があった。
この発明は、上記のような問題点を解消するためになさ
れたもので、線路幅をあまり拡げずに、特定の低インピ
ーダンス特性を有する伝送線路を得ることを目的とする
。
れたもので、線路幅をあまり拡げずに、特定の低インピ
ーダンス特性を有する伝送線路を得ることを目的とする
。
この発明に係る伝送線路は、半絶縁性化合物半導体基板
の一方の面に金属線路を形成し、この金属線路に沿って
半絶縁性化合物半導体基板の他方の面をエツチングして
溝を形成し、この溝を含む半絶縁性化合物半導体基板面
全面に接地金属を形成したものである。
の一方の面に金属線路を形成し、この金属線路に沿って
半絶縁性化合物半導体基板の他方の面をエツチングして
溝を形成し、この溝を含む半絶縁性化合物半導体基板面
全面に接地金属を形成したものである。
この発明における伝送線路は、半絶縁性化合物半導体基
板の一方の面に形成された金属線路に沿って半絶縁性化
合物半導体基板の他方の面を基板厚よりも薄くエツチン
グすることから、線路幅と基板厚の比が大きくなり、低
インピーダンスの伝送線路が実現される。
板の一方の面に形成された金属線路に沿って半絶縁性化
合物半導体基板の他方の面を基板厚よりも薄くエツチン
グすることから、線路幅と基板厚の比が大きくなり、低
インピーダンスの伝送線路が実現される。
以下、この発明の一実施例を第1図について説明する。
第1図において、1は半絶縁性化合物半導体基板、2は
前記半絶縁性化合物半導体基板1の一方の面に形成され
た金属線路、3は前記金属1’lr2に沿って半絶縁性
化合物半導体基板1の他方の面にエツチングによって形
成された溝、4は前記溝3を含む半絶縁性化合物半導体
基板1全面に形成された接地金属、5は前記溝3部分の
接地金属を示す。
前記半絶縁性化合物半導体基板1の一方の面に形成され
た金属線路、3は前記金属1’lr2に沿って半絶縁性
化合物半導体基板1の他方の面にエツチングによって形
成された溝、4は前記溝3を含む半絶縁性化合物半導体
基板1全面に形成された接地金属、5は前記溝3部分の
接地金属を示す。
第1図に示すように形成された金属線路2は、接地金属
5が金属線F¥12の下以外の半絶縁性化合物半導体基
板1の接地金属4より近づくため、線路幅が一定の場合
、同じ基板上で同一幅の金属線路より低インピーダンス
となり、接地金属4側の半絶縁性化合物半導体基板1の
エツチング量で伝送線路の特性インピーダンスを制御で
きる。
5が金属線F¥12の下以外の半絶縁性化合物半導体基
板1の接地金属4より近づくため、線路幅が一定の場合
、同じ基板上で同一幅の金属線路より低インピーダンス
となり、接地金属4側の半絶縁性化合物半導体基板1の
エツチング量で伝送線路の特性インピーダンスを制御で
きる。
以上説明したように、この発明は、半絶縁性化合物半導
体基板の一方の面上に形成された金属線路に沿って半絶
縁性化合物半導体基板の他方の面をエツチングして溝を
形成し、この溝を含む半絶縁性化合物半導体基板面全面
に接地金属を形成したので、線路幅を拡げずに低インピ
ーダンス線路を実現でき、チップ面積の縮小化が図れる
利点がある。
体基板の一方の面上に形成された金属線路に沿って半絶
縁性化合物半導体基板の他方の面をエツチングして溝を
形成し、この溝を含む半絶縁性化合物半導体基板面全面
に接地金属を形成したので、線路幅を拡げずに低インピ
ーダンス線路を実現でき、チップ面積の縮小化が図れる
利点がある。
第1図はこの発明の一実施例を示す伝送線路の斜視図、
第2図は従来の伝送線路の斜視図である。 図において、1は半絶縁性化合物半導体基板、2は金属
線路、3は溝、4は接地金属、5は溝部分の接地金属で
ある。 な、お、各図中の同一符号は同一または相当部分を示す
。 代理人 大 岩 増 雄 (外2名)第1図 第2@ ] 4
第2図は従来の伝送線路の斜視図である。 図において、1は半絶縁性化合物半導体基板、2は金属
線路、3は溝、4は接地金属、5は溝部分の接地金属で
ある。 な、お、各図中の同一符号は同一または相当部分を示す
。 代理人 大 岩 増 雄 (外2名)第1図 第2@ ] 4
Claims (1)
- 一方の面に金属線路が形成された半絶縁性化合物半導体
基板の他方の面を前記金属線路に沿ってエッチングして
溝を形成し、この溝を含む前記半絶縁性化合物半導体基
板面全面に接地金属を形成したことを特徴とする伝送線
路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62008472A JPS63176001A (ja) | 1987-01-17 | 1987-01-17 | 伝送線路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62008472A JPS63176001A (ja) | 1987-01-17 | 1987-01-17 | 伝送線路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63176001A true JPS63176001A (ja) | 1988-07-20 |
Family
ID=11694061
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62008472A Pending JPS63176001A (ja) | 1987-01-17 | 1987-01-17 | 伝送線路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63176001A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0452917A2 (en) * | 1990-04-19 | 1991-10-23 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Microwave device |
EP0458364A2 (en) * | 1990-05-25 | 1991-11-27 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Microwave device |
EP0685899A1 (en) * | 1994-05-31 | 1995-12-06 | The Whitaker Corporation | Controlled impedance lines on silicon |
WO2021214870A1 (ja) * | 2020-04-21 | 2021-10-28 | 日本電信電話株式会社 | インピーダンス変換器とその製造方法 |
-
1987
- 1987-01-17 JP JP62008472A patent/JPS63176001A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0452917A2 (en) * | 1990-04-19 | 1991-10-23 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Microwave device |
EP0458364A2 (en) * | 1990-05-25 | 1991-11-27 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Microwave device |
EP0685899A1 (en) * | 1994-05-31 | 1995-12-06 | The Whitaker Corporation | Controlled impedance lines on silicon |
US5519363A (en) * | 1994-05-31 | 1996-05-21 | The Whitaker Corporation | Controlled impedance lines connected to optoelectronic devices |
WO2021214870A1 (ja) * | 2020-04-21 | 2021-10-28 | 日本電信電話株式会社 | インピーダンス変換器とその製造方法 |
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