JPS63148433A - トラツキングエラ−信号生成装置 - Google Patents
トラツキングエラ−信号生成装置Info
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- JPS63148433A JPS63148433A JP29622786A JP29622786A JPS63148433A JP S63148433 A JPS63148433 A JP S63148433A JP 29622786 A JP29622786 A JP 29622786A JP 29622786 A JP29622786 A JP 29622786A JP S63148433 A JPS63148433 A JP S63148433A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 10
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims description 8
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 abstract description 15
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 34
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 26
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 20
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000000670 limiting effect Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
皮丘史１
本発明は、トラッキングエラー信号生成装置に関し、特
に光学式記録媒体への情報の記録又は再生を行なう装置
におけるトラッキングエラー信号生成装置に関する。
に光学式記録媒体への情報の記録又は再生を行なう装置
におけるトラッキングエラー信号生成装置に関する。
１且且Ｉ
光学式記録ディスクへの情報の記録又は再生を行なう装
置においては、ピックアップの情報検出用光スポットと
記録トラックとの当該記録トラック直交（ディスク半径
）方向の離間状態を示すいわゆるトラッキングエラー信
号を生成する装置が設けられており、その例を第４図に
示す。
置においては、ピックアップの情報検出用光スポットと
記録トラックとの当該記録トラック直交（ディスク半径
）方向の離間状態を示すいわゆるトラッキングエラー信
号を生成する装置が設けられており、その例を第４図に
示す。
第４図において、１は４分割型受光素子であり、ピック
アップの情報検出用スポット光の記録面を経た光がこの
４分割型受光素子１の受光面上に照射される。４分割型
受光素子１は、互いに直交する２本の直線α、βによっ
て分割された４つの受光域を形成する如く互いに隣接配
置された４つのエレメント１ａ〜１ｄからなっている。
アップの情報検出用スポット光の記録面を経た光がこの
４分割型受光素子１の受光面上に照射される。４分割型
受光素子１は、互いに直交する２本の直線α、βによっ
て分割された４つの受光域を形成する如く互いに隣接配
置された４つのエレメント１ａ〜１ｄからなっている。
直線α、βの交点に関して対称に配置されているエレメ
ント１ａ及び１Ｃの各出力は、それぞれバッファアンプ
２及び３を介して加算器４に供給されている。
ント１ａ及び１Ｃの各出力は、それぞれバッファアンプ
２及び３を介して加算器４に供給されている。
また、エレメント１ｂ及び１ｄの各出力は、それぞれバ
ッファアンプ５及び６を介して加算器７に供給されてい
る。
ッファアンプ５及び６を介して加算器７に供給されてい
る。
加算器４及び７の加算出力は、コンパレータ等からなる
波形整形回路８及び９によって波形整形されたのち位相
差検出回路１０に供給される。位相差検出回路１０にお
いて、波形成形回路８の出力ｐは、Ｄ形フリップフロッ
プ１２のクロック入力端子及びＤ形フリップフロップ１
４のリセット入力端子に供給されている。また、それと
同時に波形整形回路８の出力ｐは、インバータ１５に供
給されている。このインバータ１５から出力ｐの反転信
号ｐ−が出力されてＤ形フリップフロップ１１のクロッ
ク入力端子及びＤ形フリップ７０ツブ１３のリセット入
力端子に供給されている。
波形整形回路８及び９によって波形整形されたのち位相
差検出回路１０に供給される。位相差検出回路１０にお
いて、波形成形回路８の出力ｐは、Ｄ形フリップフロッ
プ１２のクロック入力端子及びＤ形フリップフロップ１
４のリセット入力端子に供給されている。また、それと
同時に波形整形回路８の出力ｐは、インバータ１５に供
給されている。このインバータ１５から出力ｐの反転信
号ｐ−が出力されてＤ形フリップフロップ１１のクロッ
ク入力端子及びＤ形フリップ７０ツブ１３のリセット入
力端子に供給されている。
波形整形回路９の出力ｒは、Ｄ形フリップフロップ１１
のリセット入力端子及びＤ形フリップフロップ１３のク
ロック入力端子に供給されている。
のリセット入力端子及びＤ形フリップフロップ１３のク
ロック入力端子に供給されている。
また、それと同時に波形整形回路９の出力ｒは、インバ
ータ１６に供給されている。このインバータ１６から出
力ｒの反転信号ｒ−が出力されてＤ形フリップフロップ
１２のリセット入力端子及びＤ形フリップ７０ツブ１４
のクロック入力端子に供給されている。
ータ１６に供給されている。このインバータ１６から出
力ｒの反転信号ｒ−が出力されてＤ形フリップフロップ
１２のリセット入力端子及びＤ形フリップ７０ツブ１４
のクロック入力端子に供給されている。
Ｄ形フリップフロップ１１〜１４のＤ入力端子及びセッ
ト入力端子には電源電圧が印加されている。Ｄ形フリッ
プフロップ１１及び１２のＱ出力ｑ１及びｑ２は、ＯＲ
（論理和）ゲート１７を介して差動増幅器１８の負側入
力端子に供給されている。また、Ｄ形フリップフロップ
１３及び１４のＱ出力ｑ３及びｑ４は、ＯＲゲート１９
を介して差動増幅器１８の正側入力端子に供給されてい
る。この差動増幅器１８の出力がＬＰＦ （ローパスフ
ィルタ）２０を介してトラッキングエラー信号ｅとして
出力される。
ト入力端子には電源電圧が印加されている。Ｄ形フリッ
プフロップ１１及び１２のＱ出力ｑ１及びｑ２は、ＯＲ
（論理和）ゲート１７を介して差動増幅器１８の負側入
力端子に供給されている。また、Ｄ形フリップフロップ
１３及び１４のＱ出力ｑ３及びｑ４は、ＯＲゲート１９
を介して差動増幅器１８の正側入力端子に供給されてい
る。この差動増幅器１８の出力がＬＰＦ （ローパスフ
ィルタ）２０を介してトラッキングエラー信号ｅとして
出力される。
以上の構成において、４分割型受光素子１は、記録面か
らの光によって受光面に形成される光スポットの中心が
直線α及びβの交点に一致し、かつ直線αが情報検出用
光スポットの記録トラックに追従した移動に伴なって記
録面からの光の強度分布のパターンが移動する方向と平
行になるように配置されていφものとする。このとき、
情報検出用光スポットが記録トラックに追従して移動し
ている場合は、受光素子１の受光面上に形成される光ス
ポツト内の光の強度分布のパターンが例えばエレメント
１ａから１ｂに向かう方向（図において下方）に移動す
るが、この光の強度分布のパターンは直線αに関して対
称となる。そうすると、波形整形出力ｐとｒ間の位相差
は“０”′となり、Ｄ型フリップ７０ツブ１１〜１４は
リセット状態のままとなってＱ出力ｑｌ−ｑ４が低レベ
ルのままとなる。この結果、差動増幅器１８の逆相入力
Ｘと正相入力ｙ間のレベル差は生じず、差動増幅器１８
の出力は接地レベルとなってＬＰＦ２０から出力される
トラッキングエラー信号ｅのレベルが接地レベルに等し
くなる。
らの光によって受光面に形成される光スポットの中心が
直線α及びβの交点に一致し、かつ直線αが情報検出用
光スポットの記録トラックに追従した移動に伴なって記
録面からの光の強度分布のパターンが移動する方向と平
行になるように配置されていφものとする。このとき、
情報検出用光スポットが記録トラックに追従して移動し
ている場合は、受光素子１の受光面上に形成される光ス
ポツト内の光の強度分布のパターンが例えばエレメント
１ａから１ｂに向かう方向（図において下方）に移動す
るが、この光の強度分布のパターンは直線αに関して対
称となる。そうすると、波形整形出力ｐとｒ間の位相差
は“０”′となり、Ｄ型フリップ７０ツブ１１〜１４は
リセット状態のままとなってＱ出力ｑｌ−ｑ４が低レベ
ルのままとなる。この結果、差動増幅器１８の逆相入力
Ｘと正相入力ｙ間のレベル差は生じず、差動増幅器１８
の出力は接地レベルとなってＬＰＦ２０から出力される
トラッキングエラー信号ｅのレベルが接地レベルに等し
くなる。
次に、情報検出用光スポットが内周方向に変位して、４
分割型受光素子１の受光面上に形成される光スポツト内
の光の強度分布のパターンが例えばエレメント１ｄから
１ａに向かう方向（図において左方）に変位した場合に
ついて第５図を参照して説明する。第５図（Ａ）は、波
形整形出力ｐの波形図、同図（Ｂ）は、反転出力ｐ−の
波形図、同１ｇ （Ｃ）は、波形整形出力ｒの波形図、
同図（Ｄ）は、反転出力ｒ−の波形図、同図（Ｅ）は、
Ｑ出力ｑ１の波形図、同図（Ｆ）は、Ｑ出力ｑ２の波形
図、同図（Ｇ）は、Ｑ出力ｑ３の波形図、同図（Ｈ）は
、Ｑ出力ｑ４の波形図、同図（１）は、差動増幅器１８
の逆相入力Ｘの波形図、同図（Ｊ）は、差動増幅器１８
の正相人力ｙの波形図である。
分割型受光素子１の受光面上に形成される光スポツト内
の光の強度分布のパターンが例えばエレメント１ｄから
１ａに向かう方向（図において左方）に変位した場合に
ついて第５図を参照して説明する。第５図（Ａ）は、波
形整形出力ｐの波形図、同図（Ｂ）は、反転出力ｐ−の
波形図、同１ｇ （Ｃ）は、波形整形出力ｒの波形図、
同図（Ｄ）は、反転出力ｒ−の波形図、同図（Ｅ）は、
Ｑ出力ｑ１の波形図、同図（Ｆ）は、Ｑ出力ｑ２の波形
図、同図（Ｇ）は、Ｑ出力ｑ３の波形図、同図（Ｈ）は
、Ｑ出力ｑ４の波形図、同図（１）は、差動増幅器１８
の逆相入力Ｘの波形図、同図（Ｊ）は、差動増幅器１８
の正相人力ｙの波形図である。
光の強度分布のパターンがエレメント１ｄから１ａに向
かう方向に変位したときは、波形整形出力ｐ及び反転出
力ｐ−の位相が波形整形出力ｒ及び反転出力ｒ−の位相
より情報検出用光スポットの変位ｍに応じた角度だけ進
む。そうすると、Ｄ型フリップフロップ１１及び１２が
当該角度に対応する時間だけセット状態となってＱ出力
ｑ１及びｑ２が当該角度に対応する時間だけ高レベルと
なる。また、Ｄ型フリップフロップ１３及び１４は、リ
セット状態のままとなり、Ｑ出力ｑ３及びｑ４は低レベ
ルのままとなる。この結果、差動増幅器１８の逆相入力
Ｘ及び正相人力ｙのうちの逆相入力Ｘだけ情報検出用光
スポットの変位量に応じた時間に亘って高レベルとなる
。このため、差動増幅器１８から情報検出用光スポット
の変位量に応じたパルス幅を有する負極性のパルスが出
力されてＬＰＦ２０から出力されるトラッキングエラー
信号ｅのレベルが負になりかつその絶対値が情報検出用
光スボツ１〜の変位量に応じた値となる。
かう方向に変位したときは、波形整形出力ｐ及び反転出
力ｐ−の位相が波形整形出力ｒ及び反転出力ｒ−の位相
より情報検出用光スポットの変位ｍに応じた角度だけ進
む。そうすると、Ｄ型フリップフロップ１１及び１２が
当該角度に対応する時間だけセット状態となってＱ出力
ｑ１及びｑ２が当該角度に対応する時間だけ高レベルと
なる。また、Ｄ型フリップフロップ１３及び１４は、リ
セット状態のままとなり、Ｑ出力ｑ３及びｑ４は低レベ
ルのままとなる。この結果、差動増幅器１８の逆相入力
Ｘ及び正相人力ｙのうちの逆相入力Ｘだけ情報検出用光
スポットの変位量に応じた時間に亘って高レベルとなる
。このため、差動増幅器１８から情報検出用光スポット
の変位量に応じたパルス幅を有する負極性のパルスが出
力されてＬＰＦ２０から出力されるトラッキングエラー
信号ｅのレベルが負になりかつその絶対値が情報検出用
光スボツ１〜の変位量に応じた値となる。
次に、情報検出用光スポットが外周方向に変位して、４
分割型受光素子１の受光面上に形成される光スポツト内
の光の強度分布のパターンが例えばエレメント１ａから
１ｄに向かう方向（図において右方）に変位した場合に
ついて第６図を参照して説明する。第６図（Ａ）乃至同
図（Ｊ）は、それぞれ第５図（Ａ）乃至同図（Ｊ）に示
されている信号と同一の信号の波形を示している。
分割型受光素子１の受光面上に形成される光スポツト内
の光の強度分布のパターンが例えばエレメント１ａから
１ｄに向かう方向（図において右方）に変位した場合に
ついて第６図を参照して説明する。第６図（Ａ）乃至同
図（Ｊ）は、それぞれ第５図（Ａ）乃至同図（Ｊ）に示
されている信号と同一の信号の波形を示している。
光の強度分布のパターンがエレメント１ａから１ｄに向
かう方向に変位したときは、波形整形出力ｐ及び反転出
力ｐ−の位相が波形整形出力ｒ及び反転出力ｒ−の位相
より情報検出用光スポットの変位量に′応じた角度だけ
遅れる。そうすると、Ｄ型フリップフロップ１３及び１
４が当該角度に対応する時間だけセット状態となってＱ
出力ｑ３及びｑ４が当該角度に対応する時間だけ高レベ
ルとなる。また、Ｄ型フリップフロップ１１及び１２は
、リセット状態のままとなり、Ｑ出力ｑ＋及びｑ２は低
レベルのままとなる。この結果、差動増幅器１８の逆相
入力Ｘ及び正相人力ｙのうちの正相人力ｙだけ情報検出
用光スポットの変位量に応じた時間に亘って高レベルと
なる。このため、差動増幅器１８から情報検出用光スポ
ットの変位量に応じたパルス幅を有する正極性のパルス
が出力されてＬＰＦ２０から出力されるトラッキングエ
ラー信号ｅのレベルが正になりかつその絶対値が情報検
出用光スポットの変位量に応じた値となる。
かう方向に変位したときは、波形整形出力ｐ及び反転出
力ｐ−の位相が波形整形出力ｒ及び反転出力ｒ−の位相
より情報検出用光スポットの変位量に′応じた角度だけ
遅れる。そうすると、Ｄ型フリップフロップ１３及び１
４が当該角度に対応する時間だけセット状態となってＱ
出力ｑ３及びｑ４が当該角度に対応する時間だけ高レベ
ルとなる。また、Ｄ型フリップフロップ１１及び１２は
、リセット状態のままとなり、Ｑ出力ｑ＋及びｑ２は低
レベルのままとなる。この結果、差動増幅器１８の逆相
入力Ｘ及び正相人力ｙのうちの正相人力ｙだけ情報検出
用光スポットの変位量に応じた時間に亘って高レベルと
なる。このため、差動増幅器１８から情報検出用光スポ
ットの変位量に応じたパルス幅を有する正極性のパルス
が出力されてＬＰＦ２０から出力されるトラッキングエ
ラー信号ｅのレベルが正になりかつその絶対値が情報検
出用光スポットの変位量に応じた値となる。
以上の如き従来のトラッキングエラー信号生成装置にお
いては、トラッキング制御を行なうために４分割型受光
素子１が格納されているピックアップ装置における対物
レンズのみを変位させる場合は４分割型受光素子１の受
光面に形成される光スポットの位置が第７図に実線Ｕで
示す位置から破線■又はＷで示すように移動する。そう
すると、記録媒体の記録面上の情報検出用光スポットの
位置の記録トラックからのずれによって４分割型受光素
子１の受光面上に形成される光スポツト内の光の強度分
布のパターンが直線αに関して非対称になる場合と同様
にエレメント１ａ乃至１ｄへの入射光量がアンバランス
になる。このため、例えば４分割型受光素子１の受光面
に形成される光スポットの位置が第７図に破線Ｖで示す
位置に存在するとき、エレメント１ａ乃至１ｄの各出力
は、それぞれ第８図（Ａ）乃至同図（Ｄ＞の各々に示す
如くなってエレメント１ａ乃至１ｄの各出力の振幅がア
ンバランスになる。この結果、加算回路４及び７から出
力される対角和成分間の位相差が情報検出用光スポット
と記録トラックとの離間距離に正確に対応しなくなり、
トラッキングエラー信号にオフセットが発生するという
欠点があった。
いては、トラッキング制御を行なうために４分割型受光
素子１が格納されているピックアップ装置における対物
レンズのみを変位させる場合は４分割型受光素子１の受
光面に形成される光スポットの位置が第７図に実線Ｕで
示す位置から破線■又はＷで示すように移動する。そう
すると、記録媒体の記録面上の情報検出用光スポットの
位置の記録トラックからのずれによって４分割型受光素
子１の受光面上に形成される光スポツト内の光の強度分
布のパターンが直線αに関して非対称になる場合と同様
にエレメント１ａ乃至１ｄへの入射光量がアンバランス
になる。このため、例えば４分割型受光素子１の受光面
に形成される光スポットの位置が第７図に破線Ｖで示す
位置に存在するとき、エレメント１ａ乃至１ｄの各出力
は、それぞれ第８図（Ａ）乃至同図（Ｄ＞の各々に示す
如くなってエレメント１ａ乃至１ｄの各出力の振幅がア
ンバランスになる。この結果、加算回路４及び７から出
力される対角和成分間の位相差が情報検出用光スポット
と記録トラックとの離間距離に正確に対応しなくなり、
トラッキングエラー信号にオフセットが発生するという
欠点があった。
このオフセットの発生によって、情報検出点のトラック
飛越し移動動作が行なわれてエレメント１ａ乃至１ｄの
出力の総和が第９図（Δ）に示す如く変化したとき４分
割型受光素子１の受光面に形成される光スポットの位置
が第７図に実線Ｕで示す位置に存在するときは、第９図
（Ｂ）に実線Ｕ′で示すごときトラッキングエラー信号
が出力されるのに対し、４分割型受光素子１の受光面に
形成される光スポットの位置が第７図に破線Ｖ及びＷで
示す位置に移動したときは、第９図（Ｂ）に破線Ｖ′及
びＷ′で示す如くトラッキングエラー信号のレベルが変
化するのである。
飛越し移動動作が行なわれてエレメント１ａ乃至１ｄの
出力の総和が第９図（Δ）に示す如く変化したとき４分
割型受光素子１の受光面に形成される光スポットの位置
が第７図に実線Ｕで示す位置に存在するときは、第９図
（Ｂ）に実線Ｕ′で示すごときトラッキングエラー信号
が出力されるのに対し、４分割型受光素子１の受光面に
形成される光スポットの位置が第７図に破線Ｖ及びＷで
示す位置に移動したときは、第９図（Ｂ）に破線Ｖ′及
びＷ′で示す如くトラッキングエラー信号のレベルが変
化するのである。
ｌ豆立１１
本発明の目的は、オフセットのないトラッキングエラー
信号を生成することができるトラッキングエラー信号生
成装置を提供することである。
信号を生成することができるトラッキングエラー信号生
成装置を提供することである。
本発明によるトラッキングエラー信号生成装置は、４分
割型受光素子の４つのエレメントの出力の所定レベル以
上の部分を削除する波形処理を行なったのち４つのエレ
メントを分割する２本の直線の交点に関して対称な２対
のエレメントの出力をそれぞれ加算して得た２信号間の
位相差に応じた信号をトラッキングエラー信号として生
成する構成となっている。
割型受光素子の４つのエレメントの出力の所定レベル以
上の部分を削除する波形処理を行なったのち４つのエレ
メントを分割する２本の直線の交点に関して対称な２対
のエレメントの出力をそれぞれ加算して得た２信号間の
位相差に応じた信号をトラッキングエラー信号として生
成する構成となっている。
支−Ｕ
以下、本発明の実施例につき第１図乃至第３図を参照し
て詳細に説明する。
て詳細に説明する。
第１図において、４分割型受光素子１及びバッフ７アン
ブ２．３，５．６は、第４図の装置と同様に接続されて
いる。しかしながら、本例においては、バッファアンプ
２，３，５．６の各出力は、それぞれ波形処理手段とし
てのリミッタ２１．２２．２３．２４に供給されている
。リミッタ２１乃至２４は、入力信号の瞬時レベルが７
１以上の部分及び■２以下の部分をクリップして振幅を
制限する構成となっている。リミッタ２１及び２２の各
出力は、加算器４に供給されている。加算器４の出力は
、ＬＰＦ （ローパスフィルタ）２５を介して波形整形
回路８に供給されて波形整形されたのち位相差検出回路
１０に供給されている。また、リミッタ２３及び２４の
各出力は、加算器７に供給されている。加算器７の出力
は、ＬＰＦ２６を介して波形整形回路９に供給されて波
形整形されたのち位相差検出回路１０に供給されている
。
ブ２．３，５．６は、第４図の装置と同様に接続されて
いる。しかしながら、本例においては、バッファアンプ
２，３，５．６の各出力は、それぞれ波形処理手段とし
てのリミッタ２１．２２．２３．２４に供給されている
。リミッタ２１乃至２４は、入力信号の瞬時レベルが７
１以上の部分及び■２以下の部分をクリップして振幅を
制限する構成となっている。リミッタ２１及び２２の各
出力は、加算器４に供給されている。加算器４の出力は
、ＬＰＦ （ローパスフィルタ）２５を介して波形整形
回路８に供給されて波形整形されたのち位相差検出回路
１０に供給されている。また、リミッタ２３及び２４の
各出力は、加算器７に供給されている。加算器７の出力
は、ＬＰＦ２６を介して波形整形回路９に供給されて波
形整形されたのち位相差検出回路１０に供給されている
。
以上の構成において、バッファアンプ２及び３の出力Ｑ
及びｈとして第２図（Ａ）及び同図（Ｂ）に示す如き信
号が出力されると、リミッタ２１及び２２によって瞬時
レベルが７１以上の部分及びＶ２以下の部分がクリップ
されて同図（Ｃ）及び同図（Ｄ）の各々に示す如く矩形
波に近い信号がリミッタ２１及び２２の出力ｉ及びｊと
して得られる。このリミッタ２１及び２２の出力ｉ及び
ｊが加算器４によって加算合成されると、第２図（’Ｅ
）に示す如き加算出力ｋが得られる。この加算出力に
は、出力ｉ及びｊが矩形波に近い信号となるので、高次
高調波を含む信号となる。この加算出力にの高次成分は
ＬＰＦ２５によって除去され、ＬＰＦ２５の出力ｍは同
図（Ｆ）に示す如くゼロクロス点が明確な波形を有する
信号となって波形整形回路８に供給される。波形整形回
路８から同図（Ｇ）に示す如く矩形波からなる波形整形
出力ｐが出力されて位相差検出回路１０に供給される。
及びｈとして第２図（Ａ）及び同図（Ｂ）に示す如き信
号が出力されると、リミッタ２１及び２２によって瞬時
レベルが７１以上の部分及びＶ２以下の部分がクリップ
されて同図（Ｃ）及び同図（Ｄ）の各々に示す如く矩形
波に近い信号がリミッタ２１及び２２の出力ｉ及びｊと
して得られる。このリミッタ２１及び２２の出力ｉ及び
ｊが加算器４によって加算合成されると、第２図（’Ｅ
）に示す如き加算出力ｋが得られる。この加算出力に
は、出力ｉ及びｊが矩形波に近い信号となるので、高次
高調波を含む信号となる。この加算出力にの高次成分は
ＬＰＦ２５によって除去され、ＬＰＦ２５の出力ｍは同
図（Ｆ）に示す如くゼロクロス点が明確な波形を有する
信号となって波形整形回路８に供給される。波形整形回
路８から同図（Ｇ）に示す如く矩形波からなる波形整形
出力ｐが出力されて位相差検出回路１０に供給される。
また、それと同時に、この波形整形出力ｐと同様にして
矩形波からなる波形整形出力ｒが波形整形回路９から出
力されて位相差検出回路１０に供給される。
矩形波からなる波形整形出力ｒが波形整形回路９から出
力されて位相差検出回路１０に供給される。
これら波形整形出力ｐ及びｒ間の位相差は、情報検出用
光スポットが記録トラックに追従して移動している場合
は第４図の装置と同様に“Ｏパとなる。そうすると、位
相差検出回路１０におけるＤ形フリップ７０ツブ１１〜
１４はリセット状態のままとなってＱ出力Ｑ＋〜ｑ４が
低レベルのままとなる。この結果、差動増幅器１８の逆
相入力Ｘと正相入力ｙ間のレベル差は生じず、差動増幅
器１８の出力は接地レベルとなってＬＰＦ２０から出力
されるトラッキングエラー信号ｅのレベルが接地レベル
に等しくなる。
光スポットが記録トラックに追従して移動している場合
は第４図の装置と同様に“Ｏパとなる。そうすると、位
相差検出回路１０におけるＤ形フリップ７０ツブ１１〜
１４はリセット状態のままとなってＱ出力Ｑ＋〜ｑ４が
低レベルのままとなる。この結果、差動増幅器１８の逆
相入力Ｘと正相入力ｙ間のレベル差は生じず、差動増幅
器１８の出力は接地レベルとなってＬＰＦ２０から出力
されるトラッキングエラー信号ｅのレベルが接地レベル
に等しくなる。
次に、情報検出用光スポットが内周方向に変位して、４
分割型受光素子１の受光面上に形成される光スポツト内
の光の強度分布のパターンが例えばエレメント１ｄから
１ａに向かう方向（図において左方）に変位した場合は
、第４図の装置と同様に波形整形出力ｐ及び反転出力ｐ
−の位相が波形整形出力ｒ及び反転出力ｒ−の位相より
情報検出用光スポットの変位量に応じた角度だけ進む。
分割型受光素子１の受光面上に形成される光スポツト内
の光の強度分布のパターンが例えばエレメント１ｄから
１ａに向かう方向（図において左方）に変位した場合は
、第４図の装置と同様に波形整形出力ｐ及び反転出力ｐ
−の位相が波形整形出力ｒ及び反転出力ｒ−の位相より
情報検出用光スポットの変位量に応じた角度だけ進む。
そうすると、位相差検出回路１０におけるＤ型フリップ
フロップ１１及び１２が当該角度に対応する時間だけセ
ット状態となり、かつＤ型フリップフロップ１３及び１
４はリセット状態のままとなる。この結果、差動増幅器
１８の逆相入力Ｘ及び正相入力ｙのうちの逆相入力Ｘだ
け情報検出用光スポットの変位量に応じた時間に亘って
へレベルとなり、差動増幅器１８から情報検出用光スポ
ットの変位量に応じたパルス幅を有する負極性のパルス
が出力されてトラッキングエラー信号ｅのレベルが負に
なりかつその絶対値が情報検出用光スポットの変位量に
応じた値となる。
フロップ１１及び１２が当該角度に対応する時間だけセ
ット状態となり、かつＤ型フリップフロップ１３及び１
４はリセット状態のままとなる。この結果、差動増幅器
１８の逆相入力Ｘ及び正相入力ｙのうちの逆相入力Ｘだ
け情報検出用光スポットの変位量に応じた時間に亘って
へレベルとなり、差動増幅器１８から情報検出用光スポ
ットの変位量に応じたパルス幅を有する負極性のパルス
が出力されてトラッキングエラー信号ｅのレベルが負に
なりかつその絶対値が情報検出用光スポットの変位量に
応じた値となる。
次に、情報検出用光スポットが外周方向に変位して、４
分割型受光素子１の受光面上に形成される光スポツト内
の光の強度分布のパターンが例えばエレメント１ａから
１ｄに向かう方向く図において右方）に変位した場合は
、第４図の装置と同様に波形整形出力ｐ及び反転出力ｐ
−の位相が波形整形出力ｒ及び反転出力ｒ−の位相より
情報検出用光スポットの変位量に応じた角度だけ遅れる
。
分割型受光素子１の受光面上に形成される光スポツト内
の光の強度分布のパターンが例えばエレメント１ａから
１ｄに向かう方向く図において右方）に変位した場合は
、第４図の装置と同様に波形整形出力ｐ及び反転出力ｐ
−の位相が波形整形出力ｒ及び反転出力ｒ−の位相より
情報検出用光スポットの変位量に応じた角度だけ遅れる
。
そうすると、位相差検出回路１０におけるＤ型フリップ
７０ツブ１３及び１４が当該角度に対応する時間だけセ
ット状態となり、かつＤ型フリップフロップ１１及び１
２はリセット状態のままとなる。この結果、差動増幅器
１８の逆相入力Ｘ及び正相人力ｙのうちの正相人力ｙだ
け情報検出用光スポットの変位量に応じた時間に亘って
高レベルとなり、差動増幅器１８から情報検出用光スポ
ットの変位量に応じたパルス幅を有する正極性のパルス
が出力されてトラッキングエラー信号ｅのレベルが正に
なりかつその絶対値が情報検出用光スポットの変位ｍに
応じた値となる。
７０ツブ１３及び１４が当該角度に対応する時間だけセ
ット状態となり、かつＤ型フリップフロップ１１及び１
２はリセット状態のままとなる。この結果、差動増幅器
１８の逆相入力Ｘ及び正相人力ｙのうちの正相人力ｙだ
け情報検出用光スポットの変位量に応じた時間に亘って
高レベルとなり、差動増幅器１８から情報検出用光スポ
ットの変位量に応じたパルス幅を有する正極性のパルス
が出力されてトラッキングエラー信号ｅのレベルが正に
なりかつその絶対値が情報検出用光スポットの変位ｍに
応じた値となる。
以上の動作において、４分割型受光素子１の受光面に形
成される光スポットの位置が変位してエレメント１ａ乃
至１ｄの各出力の振幅がアンバランスになっても、エレ
メント１ａ乃至１ｄの各出力の振幅がリミッタ２１乃至
２４の振幅制限作用が働く大きさになっていれば、リミ
ッタ２１乃至２４の出力の振幅は変化せず一定になる。
成される光スポットの位置が変位してエレメント１ａ乃
至１ｄの各出力の振幅がアンバランスになっても、エレ
メント１ａ乃至１ｄの各出力の振幅がリミッタ２１乃至
２４の振幅制限作用が働く大きさになっていれば、リミ
ッタ２１乃至２４の出力の振幅は変化せず一定になる。
また、直線βに関して対称な位置に配置されている２つ
のエレメント１ａ及び１ｂ、１Ｃ及び１ｄの出力に対応
する２つのリミッタ２１及び２３．２２及び２４の出力
間の位相差は、受光面上に形成される光スポットの位置
によっては変化しないので、加算回路４及び７の出力間
に位相差は生じず、トラッキングエラー信号ｅにオフセ
ットが生じることが防止される。
のエレメント１ａ及び１ｂ、１Ｃ及び１ｄの出力に対応
する２つのリミッタ２１及び２３．２２及び２４の出力
間の位相差は、受光面上に形成される光スポットの位置
によっては変化しないので、加算回路４及び７の出力間
に位相差は生じず、トラッキングエラー信号ｅにオフセ
ットが生じることが防止される。
第３図は、本発明の他の実施例を示すブロック図であり
、４分割型受光素子１、バッファアンプ２．３，５．６
、加算回路４．７．ＬＰＦ２５゜２６、波形整形回路８
．９及び位相差検出回路１０は、第１図の装置と同様に
接続されている。しかしながら、本例においては、バッ
ファアンプ２゜３．５．６の各出力は、波形処理手段と
してのコンパレータ２７．２８，２９．３０に供給され
ている。コンパレータ２７〜３０は、バッファアンプ２
，３，５．６の各出力の瞬時レベルと基準電圧Ｖｒとを
比較してバッファアンプ２，３，５゜６の各出力の瞬時
レベルが基準電圧ｙｒ以上になったとき高レベル信号を
出力するように構成されている。これらコンパレータ２
７及び２８の各出力が加算回路４に供給されている。ま
た、コンパレータ２９及び３０の各出力が加算回路７に
供給されている。
、４分割型受光素子１、バッファアンプ２．３，５．６
、加算回路４．７．ＬＰＦ２５゜２６、波形整形回路８
．９及び位相差検出回路１０は、第１図の装置と同様に
接続されている。しかしながら、本例においては、バッ
ファアンプ２゜３．５．６の各出力は、波形処理手段と
してのコンパレータ２７．２８，２９．３０に供給され
ている。コンパレータ２７〜３０は、バッファアンプ２
，３，５．６の各出力の瞬時レベルと基準電圧Ｖｒとを
比較してバッファアンプ２，３，５゜６の各出力の瞬時
レベルが基準電圧ｙｒ以上になったとき高レベル信号を
出力するように構成されている。これらコンパレータ２
７及び２８の各出力が加算回路４に供給されている。ま
た、コンパレータ２９及び３０の各出力が加算回路７に
供給されている。
以上の構成においても、４分割型受光素子１の受光面に
形成される光スポットの位置が変位してエレメント１ａ
乃至１ｄの各出力の振幅がアンバランスになっても、コ
ンパレータ２７乃至３０の入力の瞬時レベルが基準電圧
ｖｒを越える程度にエレメント１ａ乃至１ｄの各出力の
振幅が大になっていれば、コンパレータ２７乃至３０の
出力の振幅が一定となってトラッキングエラー信＠ｅに
オフセットが生じることが防止されるのである。
形成される光スポットの位置が変位してエレメント１ａ
乃至１ｄの各出力の振幅がアンバランスになっても、コ
ンパレータ２７乃至３０の入力の瞬時レベルが基準電圧
ｖｒを越える程度にエレメント１ａ乃至１ｄの各出力の
振幅が大になっていれば、コンパレータ２７乃至３０の
出力の振幅が一定となってトラッキングエラー信＠ｅに
オフセットが生じることが防止されるのである。
ｌ且立皇」
以上詳述した如く本発明によるトラッキングエラー信号
生成装置は、４分割型受光素子の４つのエレメントの出
力の所定レベル以上の部分を削除する波形処理を行なっ
たのち４つのエレメントを分υ１する２本の直線の交点
に関して対称な２対のエレメントの出力をそれぞれ加尊
して得た２信号間の位相差に応じた信号をトラッキング
エラー信号として生成する構成となっているので、４分
割型受光素子の受光面に形成される光スポットの位置が
変位しても４つのエレメントの出力の振幅が一定となっ
て４つのエレメントを分割する２本の直線の交点に関し
て対称な２対のエレメントの出力をそれぞれ加算して得
た２信号間の位相差が変化せず、トラッキングエラー信
号にオフセットが生じるのを防止することができること
となる。
生成装置は、４分割型受光素子の４つのエレメントの出
力の所定レベル以上の部分を削除する波形処理を行なっ
たのち４つのエレメントを分υ１する２本の直線の交点
に関して対称な２対のエレメントの出力をそれぞれ加尊
して得た２信号間の位相差に応じた信号をトラッキング
エラー信号として生成する構成となっているので、４分
割型受光素子の受光面に形成される光スポットの位置が
変位しても４つのエレメントの出力の振幅が一定となっ
て４つのエレメントを分割する２本の直線の交点に関し
て対称な２対のエレメントの出力をそれぞれ加算して得
た２信号間の位相差が変化せず、トラッキングエラー信
号にオフセットが生じるのを防止することができること
となる。
第１図は、本発明の一実施例を示すブロック図、第２図
は、第１図の各部の動作を示す波形図、第３図は、本発
明の他の実施例を示すブロック図、第４図は、従来のト
ラッキングエラー信号生成装置を示すブロック図、第５
図は、第４図の装置の各部の動作を示す波形図、第６図
は、第４図の各部の動作を示す波形図、第７図は、４分
割型受光素子１の受光面上に形成される光スポットの位
置を示す図、第８図は、４分割型受光素子１の受光面上
に形成される光スポットの位置が移動したときのエレメ
ント１８〜１ｄの出力を示す波形図、第９図は、４分割
型受光素子１の受光面上に形成される光スポットの位置
とトラッキングエラー信号の波形との関係を示す図であ
る。 主要部分の符号の説明 １・・・・・・４分割型受光素子 ４．７・・・・・・加算回路
は、第１図の各部の動作を示す波形図、第３図は、本発
明の他の実施例を示すブロック図、第４図は、従来のト
ラッキングエラー信号生成装置を示すブロック図、第５
図は、第４図の装置の各部の動作を示す波形図、第６図
は、第４図の各部の動作を示す波形図、第７図は、４分
割型受光素子１の受光面上に形成される光スポットの位
置を示す図、第８図は、４分割型受光素子１の受光面上
に形成される光スポットの位置が移動したときのエレメ
ント１８〜１ｄの出力を示す波形図、第９図は、４分割
型受光素子１の受光面上に形成される光スポットの位置
とトラッキングエラー信号の波形との関係を示す図であ
る。 主要部分の符号の説明 １・・・・・・４分割型受光素子 ４．７・・・・・・加算回路
Claims (3)
- （１）記録媒体の記録面上に光ビームを照射して情報読
取用又は情報書込用の光スポットを形成する光学系から
得られる反射ビームの強度分布中心近傍において互いに
１点で交わる２本の直線によって分割される４つの受光
域を有する受光素子と、前記４つの受光域のうちの前記
２本の直線の交点に関して対称な位置に配置されている
２対の受光域の出力をそれぞれ加算する少くとも２つの
加算手段とを含み、前記２つの加算手段の各出力間の位
相差に応じた信号をトラッキングエラー信号として生成
するトラッキングエラー信号生成装置であって、前記４
つの受光域の各出力の所定レベル以上の部分を削除する
波形処理手段を備えたことを特徴とするトラッキングエ
ラー信号生成装置。 - （２）前記波形処理手段は、前記４つの受光域の各出力
の振幅を制限するリミッタからなることを特徴とする特
許請求の範囲第１項記載のトラッキングエラー信号生成
装置。 - （３）前記波形処理手段は、前記４つの受光域の各出力
の瞬時レベルと所定基準レベルとを比較して比較結果に
応じた信号を出力する比較回路からなることを特徴とす
る特許請求の範囲第１項記載のトラッキングエラー信号
生成装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61296227A JPH0834007B2 (ja) | 1986-12-11 | 1986-12-11 | トラツキングエラ−信号生成装置 |
| US07/132,090 US5258968A (en) | 1986-12-11 | 1987-12-11 | Tracking error signal generating device for preventing offset of the generated tracking error signal |
| NL8703001A NL8703001A (nl) | 1986-12-11 | 1987-12-11 | Een volgfoutsignaalgenerator. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61296227A JPH0834007B2 (ja) | 1986-12-11 | 1986-12-11 | トラツキングエラ−信号生成装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63148433A true JPS63148433A (ja) | 1988-06-21 |
| JPH0834007B2 JPH0834007B2 (ja) | 1996-03-29 |
Family
ID=17830824
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61296227A Expired - Fee Related JPH0834007B2 (ja) | 1986-12-11 | 1986-12-11 | トラツキングエラ−信号生成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0834007B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009025036A1 (ja) * | 2007-08-22 | 2009-02-26 | Pioneer Corporation | トラッキング信号生成装置及び方法、再生装置及び方法、並びにコンピュータプログラム |
| US8085637B2 (en) | 2008-09-30 | 2011-12-27 | Sony Corporation | Tracking error signal detection apparatus and optical disc apparatus |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57181433A (en) * | 1981-04-22 | 1982-11-08 | Olympus Optical Co Ltd | Tracking system for optical disc reproducer |
| JPS5938935A (ja) * | 1982-08-27 | 1984-03-03 | Hitachi Ltd | 光デイスク装置 |
| JPS59152541A (ja) * | 1983-02-21 | 1984-08-31 | Toshiba Corp | 光学式デイスクレコ−ド再生装置 |
-
1986
- 1986-12-11 JP JP61296227A patent/JPH0834007B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57181433A (en) * | 1981-04-22 | 1982-11-08 | Olympus Optical Co Ltd | Tracking system for optical disc reproducer |
| JPS5938935A (ja) * | 1982-08-27 | 1984-03-03 | Hitachi Ltd | 光デイスク装置 |
| JPS59152541A (ja) * | 1983-02-21 | 1984-08-31 | Toshiba Corp | 光学式デイスクレコ−ド再生装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009025036A1 (ja) * | 2007-08-22 | 2009-02-26 | Pioneer Corporation | トラッキング信号生成装置及び方法、再生装置及び方法、並びにコンピュータプログラム |
| US8085637B2 (en) | 2008-09-30 | 2011-12-27 | Sony Corporation | Tracking error signal detection apparatus and optical disc apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0834007B2 (ja) | 1996-03-29 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |