JPS63152031A - トラツキングエラ−信号生成装置 - Google Patents
トラツキングエラ−信号生成装置Info
- Publication number
- JPS63152031A JPS63152031A JP30050286A JP30050286A JPS63152031A JP S63152031 A JPS63152031 A JP S63152031A JP 30050286 A JP30050286 A JP 30050286A JP 30050286 A JP30050286 A JP 30050286A JP S63152031 A JPS63152031 A JP S63152031A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- outputs
- output
- light
- error signal
- tracking error
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 10
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 abstract description 37
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 36
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 35
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 16
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 5
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0901—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for track following only
- G11B7/0906—Differential phase difference systems
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は、トラッキングエラー信号生成装置に関し、特
に光学式記録媒体への情報の記録又は再生を行なう装置
におけるトラッキングエラー信号生成装置に関する。
に光学式記録媒体への情報の記録又は再生を行なう装置
におけるトラッキングエラー信号生成装置に関する。
背景技術
光学式記録ディスクへの情報の記録又は再生を行なう装
置においては、ピックアップの情報検出用光スポットと
記録トラックとの当該記録トラック直交（ディスク半径
）方向の離間状態を示すいわゆるトラッキングエラー信
号を生成する装置が設けられており、その例を第５図に
示す。
置においては、ピックアップの情報検出用光スポットと
記録トラックとの当該記録トラック直交（ディスク半径
）方向の離間状態を示すいわゆるトラッキングエラー信
号を生成する装置が設けられており、その例を第５図に
示す。
第５図において、１は４分割型受光素子であり、ピック
アップの情報検出用スポット光の記録面を経た光がこの
４分割型受光素子１の受光面上に照射される。４分割型
受光素子１は、互いに直交する２本の直線α、β、によ
って分割された４つの受光域を形成する如く互いに隣接
配置された４つのエレメント１ａ〜１ｄからなっている
。直線α、βの交点に関して対称に配置されているエレ
メント１ａ及び１ｃの各出力は、それぞれバッファアン
プ２及び３を介して加算器４に供給されている。
アップの情報検出用スポット光の記録面を経た光がこの
４分割型受光素子１の受光面上に照射される。４分割型
受光素子１は、互いに直交する２本の直線α、β、によ
って分割された４つの受光域を形成する如く互いに隣接
配置された４つのエレメント１ａ〜１ｄからなっている
。直線α、βの交点に関して対称に配置されているエレ
メント１ａ及び１ｃの各出力は、それぞれバッファアン
プ２及び３を介して加算器４に供給されている。
また、エレメント１ｂ及び１ｄの各出力は、それぞれバ
ッファアンプ５及び６を介して加算器７に供給されてい
る。
ッファアンプ５及び６を介して加算器７に供給されてい
る。
加算器４及び７の加算出力は、コンパレータ等からなる
波形整形回路８及び９によって波形整形されたのち位相
差検出回路１０に供給される。位相差検出回路１０にお
いて、波形成形回路８の出力ｐは、Ｄ形フリップフロッ
プ１２のクロック入力端子及びＤ形フリップフロップ１
４のリセット入力端子に供給されている。また、それと
同時に波形整形回路８の出力ｐは、インバータ１５に供
給されている。このインバータ１５から出力ｐの反転信
号ｐ−が出力されてＤ形フリップフロップ１１のクロッ
ク入力端子及びＤ形フリップフロップ１３のリセット入
力端子に供給されている。
波形整形回路８及び９によって波形整形されたのち位相
差検出回路１０に供給される。位相差検出回路１０にお
いて、波形成形回路８の出力ｐは、Ｄ形フリップフロッ
プ１２のクロック入力端子及びＤ形フリップフロップ１
４のリセット入力端子に供給されている。また、それと
同時に波形整形回路８の出力ｐは、インバータ１５に供
給されている。このインバータ１５から出力ｐの反転信
号ｐ−が出力されてＤ形フリップフロップ１１のクロッ
ク入力端子及びＤ形フリップフロップ１３のリセット入
力端子に供給されている。
波形整形回路９の出力ｒは、Ｄ形フリップフロップ１１
のリセット入力端子及びＤ形フリップフロップ１３のク
ロック入力端子に供給されている。
のリセット入力端子及びＤ形フリップフロップ１３のク
ロック入力端子に供給されている。
また、それと同時に波形整形回路９の出力ｒは、インバ
ータ１６に供給されている。このインバータ１６から出
力ｒの反転信号ｒ−が出力されてＤ形フリップフロップ
１２のリセット入力端子及びＤ形フリップフロップ１４
のクロック入力端子に供給されている。
ータ１６に供給されている。このインバータ１６から出
力ｒの反転信号ｒ−が出力されてＤ形フリップフロップ
１２のリセット入力端子及びＤ形フリップフロップ１４
のクロック入力端子に供給されている。
Ｄ形フリップフロップ１１〜１４のＤ入力端子及びセッ
ト入力端子には電源電圧が印加されている。Ｄ形フリッ
プフロップ１１及び１２のＱ出力ｑ１及びｑ２は、ＯＲ
（論理和）ゲート１７を介して差動増幅器１８の負側入
力端子に供給されている。また、Ｄ形フリップフロップ
１３及び１４のＱ出力ｑ３及びｑ４は、ＯＲゲート１９
を介して差動増幅器１８の正側入力端子に供給されてい
る。この差動増幅器１８の出力がＬＰＦ （ローパスフ
ィルタ）２０を介してトラッキングエラー信号ｅとして
出力される。
ト入力端子には電源電圧が印加されている。Ｄ形フリッ
プフロップ１１及び１２のＱ出力ｑ１及びｑ２は、ＯＲ
（論理和）ゲート１７を介して差動増幅器１８の負側入
力端子に供給されている。また、Ｄ形フリップフロップ
１３及び１４のＱ出力ｑ３及びｑ４は、ＯＲゲート１９
を介して差動増幅器１８の正側入力端子に供給されてい
る。この差動増幅器１８の出力がＬＰＦ （ローパスフ
ィルタ）２０を介してトラッキングエラー信号ｅとして
出力される。
以上の構成において、４分割型受光素子１は、記録面か
らの光によって受光面に形成される光スポットの中心が
直線α及びβの交点に一致し、かつ直線αが情報検出用
光スポットの記録トラックに追従した移動に伴なって記
録面からの光の強度分布のパターンが移動する方向と平
行になるように配置されているものとする。このとき、
情報検出用光スポットが記録トラックに追従して移動し
ている場合は、受光素子１の受光面上に形成される光ス
ポツト内の光の強度分布のパターンが例えばエレメント
１ｂから１ａに向かう方向（図において上方）に移動す
るが、この光の強度分布のパターンは直線αに関して対
称となる。そうすると、波形整形出力ｐと１間の位相差
は“０″となり、Ｄ型フリップフロップ１１〜１４はリ
セット状態のままとなってＱ出力ｑ１〜ｑ４が低レベル
のままとなる。この結果、差動増幅器１８の逆相入力Ｘ
と正相入力ｙ間のレベル差は生じず、差動増幅器１８の
出力は接地レベルとなってＬＰＦ２０から出力されるト
ラッキングエラー信号ｅのレベルが接地レベルに等しく
なる。
らの光によって受光面に形成される光スポットの中心が
直線α及びβの交点に一致し、かつ直線αが情報検出用
光スポットの記録トラックに追従した移動に伴なって記
録面からの光の強度分布のパターンが移動する方向と平
行になるように配置されているものとする。このとき、
情報検出用光スポットが記録トラックに追従して移動し
ている場合は、受光素子１の受光面上に形成される光ス
ポツト内の光の強度分布のパターンが例えばエレメント
１ｂから１ａに向かう方向（図において上方）に移動す
るが、この光の強度分布のパターンは直線αに関して対
称となる。そうすると、波形整形出力ｐと１間の位相差
は“０″となり、Ｄ型フリップフロップ１１〜１４はリ
セット状態のままとなってＱ出力ｑ１〜ｑ４が低レベル
のままとなる。この結果、差動増幅器１８の逆相入力Ｘ
と正相入力ｙ間のレベル差は生じず、差動増幅器１８の
出力は接地レベルとなってＬＰＦ２０から出力されるト
ラッキングエラー信号ｅのレベルが接地レベルに等しく
なる。
次に、情報検出用光スポットが内周方向に変位して、４
分割型受光素子１の受光面上に形成される光スポツト内
の光の強度分布のパターンが例えばエレメント１ａから
１ｄに向かう方向（図において右方）に変位した場合に
ついて第６図を参照して説明する。第６図（Ａ）は、波
形整形出力ｐの波形図、同図（Ｂ）は、反転出力ｐ−の
波形図、同図（Ｃ）は、波形整形出力ｒの波形図、同図
（Ｄ）は、反転出力ｒ−の波形図、同図（Ｅ）は、Ｑ出
力ｑ１の波形図、同図（Ｆ）は、Ｑ出力ｑ２の波形図、
同図（Ｇ）は、Ｑ出力ｑ３の波形図、同図（Ｈ）は、Ｑ
出力ｑ４の波形図、同図（Ｉ）は、差動増幅器１８の逆
相入力Ｘの波形図、同図（Ｊ）は、差動増幅器１８の正
相人力ｙの波形図である。
分割型受光素子１の受光面上に形成される光スポツト内
の光の強度分布のパターンが例えばエレメント１ａから
１ｄに向かう方向（図において右方）に変位した場合に
ついて第６図を参照して説明する。第６図（Ａ）は、波
形整形出力ｐの波形図、同図（Ｂ）は、反転出力ｐ−の
波形図、同図（Ｃ）は、波形整形出力ｒの波形図、同図
（Ｄ）は、反転出力ｒ−の波形図、同図（Ｅ）は、Ｑ出
力ｑ１の波形図、同図（Ｆ）は、Ｑ出力ｑ２の波形図、
同図（Ｇ）は、Ｑ出力ｑ３の波形図、同図（Ｈ）は、Ｑ
出力ｑ４の波形図、同図（Ｉ）は、差動増幅器１８の逆
相入力Ｘの波形図、同図（Ｊ）は、差動増幅器１８の正
相人力ｙの波形図である。
光の強度分布のパターンがエレメント１ａから１ｄに向
かう方向に変位したときは、波形整形出力ｐ及び反転出
力ｐ−の位相が波形整形出力ｒ及び反転出力ｒ−の位相
より情報検出用光スポットの変位量に応じた角度だけ進
む。そうすると、Ｄ型フリップフロップ１１及び１２が
当該角度に対応する時間だけセット状態となってＱ出力
ｑ１及びｑ２が当該角度に対応する時間だけ高レベルと
なる。また、Ｄ型フリップフロップ１３及び１４は、リ
セット状態のままとなり、Ｑ出力ｑ３及びｑ４は低レベ
ルのままとなる。この結果、差動増幅器１８の逆相入力
Ｘ及び正相人力ｙのうちの逆相入力Ｘだけ情報検出用光
スポットの変位量に応じた時間に亘って高レベルとなる
。このため、差動増幅器１８から情報検出用光スポット
の変位量に応じたパルス幅を有する負極性のパルスが出
力されてＬＰＦ２０から出力されるトラッキングエラー
信号ｅのレベルが負になりかつその絶対値が情報検出用
光スポットの変位量に応じた値となる。
かう方向に変位したときは、波形整形出力ｐ及び反転出
力ｐ−の位相が波形整形出力ｒ及び反転出力ｒ−の位相
より情報検出用光スポットの変位量に応じた角度だけ進
む。そうすると、Ｄ型フリップフロップ１１及び１２が
当該角度に対応する時間だけセット状態となってＱ出力
ｑ１及びｑ２が当該角度に対応する時間だけ高レベルと
なる。また、Ｄ型フリップフロップ１３及び１４は、リ
セット状態のままとなり、Ｑ出力ｑ３及びｑ４は低レベ
ルのままとなる。この結果、差動増幅器１８の逆相入力
Ｘ及び正相人力ｙのうちの逆相入力Ｘだけ情報検出用光
スポットの変位量に応じた時間に亘って高レベルとなる
。このため、差動増幅器１８から情報検出用光スポット
の変位量に応じたパルス幅を有する負極性のパルスが出
力されてＬＰＦ２０から出力されるトラッキングエラー
信号ｅのレベルが負になりかつその絶対値が情報検出用
光スポットの変位量に応じた値となる。
次に、情報検出用光スポットが外周方向に変位して、４
分割型受光素子１の受光面上に形成される光スポツト内
の光の強度分布のパターンが例えばエレメント１ｄから
１ａに向かう方向（図において左方）に変位した場合に
ついて第７図を参照して説明する。第７図（Ａ）乃至同
図（Ｊ）は、それぞれ第６図（Ａ）乃至同図（Ｊ）に示
されている信号と同一の信号の波形を示している。
分割型受光素子１の受光面上に形成される光スポツト内
の光の強度分布のパターンが例えばエレメント１ｄから
１ａに向かう方向（図において左方）に変位した場合に
ついて第７図を参照して説明する。第７図（Ａ）乃至同
図（Ｊ）は、それぞれ第６図（Ａ）乃至同図（Ｊ）に示
されている信号と同一の信号の波形を示している。
光の強度分布のパターンがエレメント１ｄから１ａに向
かう方向に変位したときは、波形整形出力ｐ及び反転出
力ｐ−の位相が波形整形出力ｒ及び反転出力ｒ−の位相
より情報検出用光スポットの変位量に応じた角度だけ遅
れる。そうすると、Ｄ型フリップフロップ１３及び１４
が当該角度に対応する時間だけセット状態となってＱ出
力ｑ３及びｑ４が当該角度に対応する時間だけ高レベル
となる。また、Ｄ型フリップフロップ１１及び１２は、
リセット状態のままとなり、Ｑ出力ｑ１及びｑ２は低レ
ベルのままとなる。この結果、差動増幅器１８の逆相入
力Ｘ及び正相人力ｙのうちの正相人力ｙだけ情報検出用
光スポットの変位量に応じた時間に亘って高レベルとな
る。このため、差動増幅器１８から情報検出用光スポッ
トの変位量に応じたパルス幅を有する正極性のパルスが
出力されてＬＰＦ２０から出力されるトラッキングエラ
ー信号ｅのレベルが正になりかつその絶対値が情報検出
用光スポットの変位量に応じた値となる。
かう方向に変位したときは、波形整形出力ｐ及び反転出
力ｐ−の位相が波形整形出力ｒ及び反転出力ｒ−の位相
より情報検出用光スポットの変位量に応じた角度だけ遅
れる。そうすると、Ｄ型フリップフロップ１３及び１４
が当該角度に対応する時間だけセット状態となってＱ出
力ｑ３及びｑ４が当該角度に対応する時間だけ高レベル
となる。また、Ｄ型フリップフロップ１１及び１２は、
リセット状態のままとなり、Ｑ出力ｑ１及びｑ２は低レ
ベルのままとなる。この結果、差動増幅器１８の逆相入
力Ｘ及び正相人力ｙのうちの正相人力ｙだけ情報検出用
光スポットの変位量に応じた時間に亘って高レベルとな
る。このため、差動増幅器１８から情報検出用光スポッ
トの変位量に応じたパルス幅を有する正極性のパルスが
出力されてＬＰＦ２０から出力されるトラッキングエラ
ー信号ｅのレベルが正になりかつその絶対値が情報検出
用光スポットの変位量に応じた値となる。
以上の如き従来のトラッキングエラー信号生成装置にお
いては、トラッキング制御を行なうために４分割型受光
素子１が格納されているピックアップ装置における対物
レンズのみを変位させる場合は４分割型受光素子１の受
光面に形成される光スポットの位置が第８図に実線Ｕで
示す位置から破線Ｖ又はＷで示すように移動する。そう
すると、記録媒体の記録面上の情報検出用光スポットの
位置の記録トラックからのずれによって４分割型受光素
子１の受光面上に形成される光スポツト内の光の強度分
布のパターンが直線αに関して非対称になる場合と同様
にエレメント１ａ乃至１ｄへの入射光量がアンバランス
になる。このため、例えば４分割型受光素子１の受光面
に形成される光スポットの位置が第８図に破線Ｖで示す
位置に存在するとき、エレメント１ａ乃至１ｄの各出力
は、それぞれ第９図（Ａ）乃至同図（Ｄ）の各々に示す
如くなってエレメント１ａ乃至１ｄの各出力の振幅がア
ンバランスになる。この結果、加算回路４及び７から出
力される対角和成分間の位相差が情報検出用光スポット
と記録トラックとの離間距離に正確に対応しなくなり、
トラッキングエラー信号にオフセットが発生するという
欠点があった。
いては、トラッキング制御を行なうために４分割型受光
素子１が格納されているピックアップ装置における対物
レンズのみを変位させる場合は４分割型受光素子１の受
光面に形成される光スポットの位置が第８図に実線Ｕで
示す位置から破線Ｖ又はＷで示すように移動する。そう
すると、記録媒体の記録面上の情報検出用光スポットの
位置の記録トラックからのずれによって４分割型受光素
子１の受光面上に形成される光スポツト内の光の強度分
布のパターンが直線αに関して非対称になる場合と同様
にエレメント１ａ乃至１ｄへの入射光量がアンバランス
になる。このため、例えば４分割型受光素子１の受光面
に形成される光スポットの位置が第８図に破線Ｖで示す
位置に存在するとき、エレメント１ａ乃至１ｄの各出力
は、それぞれ第９図（Ａ）乃至同図（Ｄ）の各々に示す
如くなってエレメント１ａ乃至１ｄの各出力の振幅がア
ンバランスになる。この結果、加算回路４及び７から出
力される対角和成分間の位相差が情報検出用光スポット
と記録トラックとの離間距離に正確に対応しなくなり、
トラッキングエラー信号にオフセットが発生するという
欠点があった。
このオフセットの発生によって、情報検出点のトラック
飛越し移動動作が行なわれてエレメント１ａ乃至１ｄの
出力の総和が第１０図（Ａ）に示す如く変□化したとき
４分割型受光素子１の受光面に形成される光スポットの
位置が第８図に実線Ｕで示す位置に存在するときは、第
１０図（Ｂ）に実線Ｕ′で示すごときトラッキングエラ
ー信号が出力されるのに対し、４分割型受光素子１の受
光面に形成される光スポットの位置が第８図に破線■及
びＷで示す位置に移動したときは、第１０図（Ｂ）に破
線Ｖ′及びＷ′で示す如くトラッキングエラー信号のレ
ベルが変化するのである。
飛越し移動動作が行なわれてエレメント１ａ乃至１ｄの
出力の総和が第１０図（Ａ）に示す如く変□化したとき
４分割型受光素子１の受光面に形成される光スポットの
位置が第８図に実線Ｕで示す位置に存在するときは、第
１０図（Ｂ）に実線Ｕ′で示すごときトラッキングエラ
ー信号が出力されるのに対し、４分割型受光素子１の受
光面に形成される光スポットの位置が第８図に破線■及
びＷで示す位置に移動したときは、第１０図（Ｂ）に破
線Ｖ′及びＷ′で示す如くトラッキングエラー信号のレ
ベルが変化するのである。
発明の概要
本発明の目的は、オフセットのないトラッキングエラー
信号を生成することができるトラッキングエラー信号生
成装置を提供することである。
信号を生成することができるトラッキングエラー信号生
成装置を提供することである。
本発明によるトラッキングエラー信号生成装置は、４分
割型受光素子を４つのエレメントに分割する２本の直線
の交点に関して対称な２対のエレメントの出力の排他的
論理和をとって得られる２つの信号間の位相差に応じた
信号をトラッキングエラー信号として生成する構成とな
っている。
割型受光素子を４つのエレメントに分割する２本の直線
の交点に関して対称な２対のエレメントの出力の排他的
論理和をとって得られる２つの信号間の位相差に応じた
信号をトラッキングエラー信号として生成する構成とな
っている。
実施例
以下、本発明の実施例につき第１図乃至第４図を参照し
て詳細に説明する。
て詳細に説明する。
第１図において、４分割型受光素子１．バッファアンプ
２．３，５．６は、第５図の装置と同様に接続されてい
る。しかしながら、本例においてはバッファアンプ２．
３． ５．６の各出力は、波形整形回路２１．２２，
２３．２４の各々によって波形整形される。波形整形回
路２１乃至２４は、例えばバッファアンプ２，３，５．
６の各出力の瞬時レベルと基準レベルとを比較して比較
結果に応じた信号を発生するコンパレータからなってい
る。波形整形回路２１及び２２の出力ｇ及びｈは、排他
的論理和回路２５に供給されている。また、波形整形回
路２３及び２４の出力ｉ及びｊは、排他的論理和回路２
６に供給されている。これら排他的論理和回路２５及び
２６の出力Ｓ及びｔは、位相差検出回路２７に供給され
ている。位相差検出回路２７において、排他的論理和回
路２５の出力Ｓは、Ｄ形フリップフロップ２８のクロッ
ク入力端子及びインバータ２９に供給されている。イン
バータ２９から出力Ｓの反転信号Ｓ−が出力されてＤ形
フリップフロップ３０のリセット入力端子に供給されて
いる。また、排他的論理和回路２６の出力ｔは、Ｄ形フ
リップフロップ３０のクロック入力端子及びインバータ
３１に供給されている。インバータ３１から出力ｔの反
転信号ｔ−が出力されてＤ形フリップフロップ２８のリ
セット入力端子に供給されている。
２．３，５．６は、第５図の装置と同様に接続されてい
る。しかしながら、本例においてはバッファアンプ２．
３． ５．６の各出力は、波形整形回路２１．２２，
２３．２４の各々によって波形整形される。波形整形回
路２１乃至２４は、例えばバッファアンプ２，３，５．
６の各出力の瞬時レベルと基準レベルとを比較して比較
結果に応じた信号を発生するコンパレータからなってい
る。波形整形回路２１及び２２の出力ｇ及びｈは、排他
的論理和回路２５に供給されている。また、波形整形回
路２３及び２４の出力ｉ及びｊは、排他的論理和回路２
６に供給されている。これら排他的論理和回路２５及び
２６の出力Ｓ及びｔは、位相差検出回路２７に供給され
ている。位相差検出回路２７において、排他的論理和回
路２５の出力Ｓは、Ｄ形フリップフロップ２８のクロッ
ク入力端子及びインバータ２９に供給されている。イン
バータ２９から出力Ｓの反転信号Ｓ−が出力されてＤ形
フリップフロップ３０のリセット入力端子に供給されて
いる。また、排他的論理和回路２６の出力ｔは、Ｄ形フ
リップフロップ３０のクロック入力端子及びインバータ
３１に供給されている。インバータ３１から出力ｔの反
転信号ｔ−が出力されてＤ形フリップフロップ２８のリ
セット入力端子に供給されている。
Ｄ形フリップフロップ２８及び３０のＤ入力端子及びセ
ット入力端子には電源電圧が印加されている。Ｄ形フリ
ップフロップ２８のＱ出力ｑ５Ｊは、差動増幅器３２の
正側入力端子に供給されている。
ット入力端子には電源電圧が印加されている。Ｄ形フリ
ップフロップ２８のＱ出力ｑ５Ｊは、差動増幅器３２の
正側入力端子に供給されている。
また、Ｄ形フリップフロップ３０のＱ出力ｑ６は、差動
増幅器３２の負側入力端子に供給されている。
増幅器３２の負側入力端子に供給されている。
この差動増幅器３２の出力がＬＰＦ３３を介してトラッ
キングエラー信号ｅとして出力される。
キングエラー信号ｅとして出力される。
以上の構成において、４分割型受光素子１は、記録面か
らの光によって受光面に形成される光スポットの中心が
直線α及びβの交点に一致し、かつ直線αが情報検出用
光スポットの記録トラックに追従した移動に伴なって記
録面からの光の強度分布のパターンが移動する方向と平
行になるように配置されているものとする。このとき、
情報検出用光スポットが記録トラックに追従して移動し
ている場合は、受光素子１の受光面上に形成される光ス
ポツト内の光の強度分布のパターンが例えばエレメント
１ｂから１ａに向かう方向（図において上方）に移動す
るが、この光の強度分布のパターンは直線αに関して対
称となる。この場合の各部の動作を第２図を参照して説
明する。第２図（Ａ）は、波形整形出力ｇの波形図、同
図（Ｂ）は、波形整形出力ｉの波形図、同図（Ｃ）は、
波形整形出力りの波形図、同図（Ｄ）は、波形整形出力
ｊの波形図、同図（Ｅ）は、排他的論理和回路２５の出
力Ｓの波形図、同図（Ｆ）は、反転出力Ｓ−の波形図、
同図（Ｇ）は、排他的論理和回路２６の出力ｔの波形図
、同図（Ｈ）は、反転出力ｔ−の波形図、同図（１）は
、Ｑ出力ｑ５の波形図、同図（Ｊ）は、Ｑ出力ｑ６の波
形図、同図（Ｋ）は、差動増幅器３２の出力にの波形図
、同図（Ｌ）は、トラッキングエラー信号ｅの波形図で
ある。
らの光によって受光面に形成される光スポットの中心が
直線α及びβの交点に一致し、かつ直線αが情報検出用
光スポットの記録トラックに追従した移動に伴なって記
録面からの光の強度分布のパターンが移動する方向と平
行になるように配置されているものとする。このとき、
情報検出用光スポットが記録トラックに追従して移動し
ている場合は、受光素子１の受光面上に形成される光ス
ポツト内の光の強度分布のパターンが例えばエレメント
１ｂから１ａに向かう方向（図において上方）に移動す
るが、この光の強度分布のパターンは直線αに関して対
称となる。この場合の各部の動作を第２図を参照して説
明する。第２図（Ａ）は、波形整形出力ｇの波形図、同
図（Ｂ）は、波形整形出力ｉの波形図、同図（Ｃ）は、
波形整形出力りの波形図、同図（Ｄ）は、波形整形出力
ｊの波形図、同図（Ｅ）は、排他的論理和回路２５の出
力Ｓの波形図、同図（Ｆ）は、反転出力Ｓ−の波形図、
同図（Ｇ）は、排他的論理和回路２６の出力ｔの波形図
、同図（Ｈ）は、反転出力ｔ−の波形図、同図（１）は
、Ｑ出力ｑ５の波形図、同図（Ｊ）は、Ｑ出力ｑ６の波
形図、同図（Ｋ）は、差動増幅器３２の出力にの波形図
、同図（Ｌ）は、トラッキングエラー信号ｅの波形図で
ある。
第２図（Ａ）乃至同図（Ｄ）に示す如く、波形整形出力
ｇ、ｊ間及びり、１間の位相差は０”となる。そうする
と、排他的論理和回路２５，２６の出力ｓ、を間の位相
差が“０”となってＤ形フリップフロップ２８及び３０
はリセット状態のままとなる。この結果、Ｑ出力ｑ５及
びｑ６は低レベルのままとなり、差動増幅器３２の出力
は接地レベルとなってＬＰＦ３３から出力されるトラッ
キングエラー信号ｅのレベルが接地レベルに等しくなる
。
ｇ、ｊ間及びり、１間の位相差は０”となる。そうする
と、排他的論理和回路２５，２６の出力ｓ、を間の位相
差が“０”となってＤ形フリップフロップ２８及び３０
はリセット状態のままとなる。この結果、Ｑ出力ｑ５及
びｑ６は低レベルのままとなり、差動増幅器３２の出力
は接地レベルとなってＬＰＦ３３から出力されるトラッ
キングエラー信号ｅのレベルが接地レベルに等しくなる
。
次に、情報検出用光スポットが内周方向に変位して、４
分割型受光素子１の受光面上に形成される光スポツト内
の光の強度分布のパターンが例えばエレメント１ｄから
１ａに向かう方向（図において左方）に変位した場合に
ついて第３図を参照して説、明する。第３図（Ａ）乃至
同図（Ｌ）は、第２図（Ａ）乃至同図（Ｌ）に示されて
いる信号と同一の信号の波形を示している。
分割型受光素子１の受光面上に形成される光スポツト内
の光の強度分布のパターンが例えばエレメント１ｄから
１ａに向かう方向（図において左方）に変位した場合に
ついて第３図を参照して説、明する。第３図（Ａ）乃至
同図（Ｌ）は、第２図（Ａ）乃至同図（Ｌ）に示されて
いる信号と同一の信号の波形を示している。
光の強度分布のパターンがエレメント１ｄから１ａに向
かう方向に変位したときは、波形整形出力ｉ及びｊの各
位相が波形整形出力り及びｇの各位相より情報検出用光
スポットの変位量に応じた角度だけ遅れる。そうすると
、排他的論理和回路２５の出力Ｓの位相が排他的論理和
回路２６の出力ｔの位相より情報検出用光スポットの変
位量に応じた角度だけ進み、当該角度に対応する時間に
亘ってＤ形フリップフロップ２８がセット状態になって
Ｑ出力間５が高レベルとなる。また、Ｄ形フリップフロ
ップ３０はリセット状態のままとなってＱ出力間６が低
レベルのままとなる。この結果、差動増幅器３２から情
報検出用光スポットの変位量に応じたパルス幅を有する
正極性のパルスが出力されてＬＰＦ３３から出力される
トラッキングエラー信号ｅのレベルが正になりかつその
絶対値が情報検出用光スポットの変位量に応じた値とな
る。
かう方向に変位したときは、波形整形出力ｉ及びｊの各
位相が波形整形出力り及びｇの各位相より情報検出用光
スポットの変位量に応じた角度だけ遅れる。そうすると
、排他的論理和回路２５の出力Ｓの位相が排他的論理和
回路２６の出力ｔの位相より情報検出用光スポットの変
位量に応じた角度だけ進み、当該角度に対応する時間に
亘ってＤ形フリップフロップ２８がセット状態になって
Ｑ出力間５が高レベルとなる。また、Ｄ形フリップフロ
ップ３０はリセット状態のままとなってＱ出力間６が低
レベルのままとなる。この結果、差動増幅器３２から情
報検出用光スポットの変位量に応じたパルス幅を有する
正極性のパルスが出力されてＬＰＦ３３から出力される
トラッキングエラー信号ｅのレベルが正になりかつその
絶対値が情報検出用光スポットの変位量に応じた値とな
る。
次に、情報検出用光スポットが外周方向に変位して、４
分割型受光素子１の受光面上に形成される光スポツト内
の光の強度分布のパターンが例えばエレメント１ａから
１ｄに向かう方向（図において右方）に変位した場合に
ついて第４図を参照して説明する。第４図（Ａ）乃至同
図（Ｊ）は、それぞれ第３図（Ａ）乃至同図（Ｊ）に示
されている信号と同一の信号の波形を示している。
分割型受光素子１の受光面上に形成される光スポツト内
の光の強度分布のパターンが例えばエレメント１ａから
１ｄに向かう方向（図において右方）に変位した場合に
ついて第４図を参照して説明する。第４図（Ａ）乃至同
図（Ｊ）は、それぞれ第３図（Ａ）乃至同図（Ｊ）に示
されている信号と同一の信号の波形を示している。
光の強度分布のパターンがエレメント１ａから１ｄに向
かう方向に変位したときは、波形整形出力ｉ及びｊの各
位相が波形整形出力り及びｇの各位相より情報検出用光
スポットの変位量に応じた角度だけ進む。そうすると、
排他的論理和回路２５の出力Ｓの位相が排他的論理和回
路２６の出力ｔの位相より情報検出用光スポットの変位
量に応じた角度だけ遅れ、当該角度に対応する時間に亘
ってＤ形フリップフロップ３０がセット状態になってＱ
出力間６が高レベルとなる。また、Ｄ形フリップフロッ
プ２８はリセット状態のままとなってＱ出力間５が低レ
ベルのままとなる。この結果、差動増幅器３２から情報
検出用光スポットの変位量に応じたパルス幅を有する負
極性のパルスが出力されてＬＰＦ３３から出力されるト
ラッキングエラー信号ｅのレベルが負になりかつその絶
対値が情報検出用光スポットの変位量に応じた値となる
。
かう方向に変位したときは、波形整形出力ｉ及びｊの各
位相が波形整形出力り及びｇの各位相より情報検出用光
スポットの変位量に応じた角度だけ進む。そうすると、
排他的論理和回路２５の出力Ｓの位相が排他的論理和回
路２６の出力ｔの位相より情報検出用光スポットの変位
量に応じた角度だけ遅れ、当該角度に対応する時間に亘
ってＤ形フリップフロップ３０がセット状態になってＱ
出力間６が高レベルとなる。また、Ｄ形フリップフロッ
プ２８はリセット状態のままとなってＱ出力間５が低レ
ベルのままとなる。この結果、差動増幅器３２から情報
検出用光スポットの変位量に応じたパルス幅を有する負
極性のパルスが出力されてＬＰＦ３３から出力されるト
ラッキングエラー信号ｅのレベルが負になりかつその絶
対値が情報検出用光スポットの変位量に応じた値となる
。
以上の構成において、４分割型受光素子１の受光面に形
成される光スポットの位置が変位してエレメント１ａ乃
至１ｄの各出力の振幅がアンバランスになっても、エレ
メント１ａ乃至１ｄの各出力を入力としているバッファ
アンプ２，３．５゜６の各出力のピークレベルが波形整
形回路２１乃至２４を形成するコンパレータの基準電圧
を越える程度にエレメント１ａ乃至１ｄの出力の振幅が
大になっていれば、波形整形回路２１乃至２４から出力
される波形整形出力ｇ乃至ｊの振幅は変化せず一定にな
る。また、直線βに関して対称な位置に配置されている
２つのエレメント１ａ及び１ｂ ｓ １ ｃ及び１ｄの
出力に対応する２つの波形整形出力ｇ、 ｈ間及びｉ、
３間の位相差は、受光面上に形成される光スポットの位
置によっては変化しないので、排他的論理和回路２５及
び２６の出力間に位相差は生じず、トラッキングエラー
信号ｅにオフセットが生じることが防止される。
成される光スポットの位置が変位してエレメント１ａ乃
至１ｄの各出力の振幅がアンバランスになっても、エレ
メント１ａ乃至１ｄの各出力を入力としているバッファ
アンプ２，３．５゜６の各出力のピークレベルが波形整
形回路２１乃至２４を形成するコンパレータの基準電圧
を越える程度にエレメント１ａ乃至１ｄの出力の振幅が
大になっていれば、波形整形回路２１乃至２４から出力
される波形整形出力ｇ乃至ｊの振幅は変化せず一定にな
る。また、直線βに関して対称な位置に配置されている
２つのエレメント１ａ及び１ｂ ｓ １ ｃ及び１ｄの
出力に対応する２つの波形整形出力ｇ、 ｈ間及びｉ、
３間の位相差は、受光面上に形成される光スポットの位
置によっては変化しないので、排他的論理和回路２５及
び２６の出力間に位相差は生じず、トラッキングエラー
信号ｅにオフセットが生じることが防止される。
また、直線α、βの交点に関して対称な位置に配置され
ているエレメント１ａ及び１ ｃ ｓ １ ｂ及び１ｄ
の各出力に対応する波形整形出力ｇ及びｉ、ｈ及びｊが
排他的論理和回路２５及び２６に供給されているので、
排他的論理和回路２５及び２６の各出力にはエレメント
１ａ及びｌｃ、ｌｂ及び１ｄの出力の状態遷移点すなわ
ち立上りエツジ及び立下りエツジと同一のタイミングで
状態遷移点が現われる。このため、排他的論理和回路２
５及び２６の出力は第５図に示す従来の装置における波
形整形出力ｐ、 ｒのほぼ２倍の周波数の信号となる
。これら排他的論理和回路２５及び２６の出力が位相差
検出回路２７に供給されるので、２つのＤ形フリップ÷
ロツブ２８．３０によって第５図に示す従来の装置とほ
ぼ同一の周期で排他的論理和回路２５及び２６の出力間
の位相差を示すパルスが得られ、従来の装置に比して構
成が簡単になっている。
ているエレメント１ａ及び１ ｃ ｓ １ ｂ及び１ｄ
の各出力に対応する波形整形出力ｇ及びｉ、ｈ及びｊが
排他的論理和回路２５及び２６に供給されているので、
排他的論理和回路２５及び２６の各出力にはエレメント
１ａ及びｌｃ、ｌｂ及び１ｄの出力の状態遷移点すなわ
ち立上りエツジ及び立下りエツジと同一のタイミングで
状態遷移点が現われる。このため、排他的論理和回路２
５及び２６の出力は第５図に示す従来の装置における波
形整形出力ｐ、 ｒのほぼ２倍の周波数の信号となる
。これら排他的論理和回路２５及び２６の出力が位相差
検出回路２７に供給されるので、２つのＤ形フリップ÷
ロツブ２８．３０によって第５図に示す従来の装置とほ
ぼ同一の周期で排他的論理和回路２５及び２６の出力間
の位相差を示すパルスが得られ、従来の装置に比して構
成が簡単になっている。
尚、上記実施例においては、エレメント１ａ乃至１ｄの
各出力は、波形整形回路２１乃至２４の各々を介して排
他的論理和回路２５及び２６に供給されるとしたが、排
他的論理和回路２５及び２６のスレショールドレベルか
波形整形回路２１乃至２４を形成するコンパレータの基
準レベルに等しくなるようにすれば、波形整形回路２１
乃至２４を除去してエレメント１ａ乃至１ｄの各出力を
直接排他的論理和回路２５及び２６に供給するようにす
ることもできる。
各出力は、波形整形回路２１乃至２４の各々を介して排
他的論理和回路２５及び２６に供給されるとしたが、排
他的論理和回路２５及び２６のスレショールドレベルか
波形整形回路２１乃至２４を形成するコンパレータの基
準レベルに等しくなるようにすれば、波形整形回路２１
乃至２４を除去してエレメント１ａ乃至１ｄの各出力を
直接排他的論理和回路２５及び２６に供給するようにす
ることもできる。
発明の効果
以上詳述した如く本発明によるトラッキングエラー信号
生成装置は、４分割型受光素子を４つのエレメントに分
割する２本の直線の交点に関して対称な２対のエレメン
トの出力の排他的論理和をとって得られる２つの信号間
の位相差に応じた信号をトラッキングエラー信号として
生成する構成となっているので、４分割型受光素子の受
光面に形成される光スポットの位置が変化して４分割型
受光素子の４つのエレメントの出力の振幅がアンバラン
スになっても４つのエレメントの位相情報すなわちエツ
ジ情報に変動が生じない限り排他的論理和をとって得ら
れる２つの信号間の位相差が変化せず、トラッキングエ
ラー信号のオフセットの発生を防止することができる。
生成装置は、４分割型受光素子を４つのエレメントに分
割する２本の直線の交点に関して対称な２対のエレメン
トの出力の排他的論理和をとって得られる２つの信号間
の位相差に応じた信号をトラッキングエラー信号として
生成する構成となっているので、４分割型受光素子の受
光面に形成される光スポットの位置が変化して４分割型
受光素子の４つのエレメントの出力の振幅がアンバラン
スになっても４つのエレメントの位相情報すなわちエツ
ジ情報に変動が生じない限り排他的論理和をとって得ら
れる２つの信号間の位相差が変化せず、トラッキングエ
ラー信号のオフセットの発生を防止することができる。
また、レーザのパワー変動があってもエツジ情報により
トラッキングエラー信号を生成しているので、トラッキ
ングサーボループのゲインの変動を防止することもでき
る。
トラッキングエラー信号を生成しているので、トラッキ
ングサーボループのゲインの変動を防止することもでき
る。
また、従来の装置に比してＤ形フリップフロップの個数
を少なくして回路構成を簡単にすることができると同時
に加算回路が不要なのでディジタル回路化が容易に行な
えるのである。
を少なくして回路構成を簡単にすることができると同時
に加算回路が不要なのでディジタル回路化が容易に行な
えるのである。
第１図は、本発明の一実施例を示す回路ブロック図、第
２図は、第１図の装置の各部の動作を示す波形図、第３
図は、情報検出用光スポットの位置が内周方向にずれた
ときの第１図の装置の各部の動作を示す波形図、第４図
は、情報検出用光スポットの位置が外周方向にずれたと
きの第１図の装置の各部の動作を示す波形図、第５図は
、従来のトラッキングエラー信号生成装置を示すブロッ
ク図、第６図は、第５図の装置の各部の動作を示す波形
図、第７図は、第５図の装置の各部の動作を示す波形図
、第８図は、４分割型受光素゛子１の受光面上に形成さ
れる光スポットの位置を示す図、第９図は、４分割型受
光素子１の受光面上に形成される光スポットの位置が移
動したときのエレメント１ａ〜１ｄの出力を示す波形図
、第１０図は、４分割型受光素子１の受光面上に形成さ
れる光スポットの位置とトラッキングエラー信号の波形
との関係を示す図である。 主要部分の符号の説明
２図は、第１図の装置の各部の動作を示す波形図、第３
図は、情報検出用光スポットの位置が内周方向にずれた
ときの第１図の装置の各部の動作を示す波形図、第４図
は、情報検出用光スポットの位置が外周方向にずれたと
きの第１図の装置の各部の動作を示す波形図、第５図は
、従来のトラッキングエラー信号生成装置を示すブロッ
ク図、第６図は、第５図の装置の各部の動作を示す波形
図、第７図は、第５図の装置の各部の動作を示す波形図
、第８図は、４分割型受光素゛子１の受光面上に形成さ
れる光スポットの位置を示す図、第９図は、４分割型受
光素子１の受光面上に形成される光スポットの位置が移
動したときのエレメント１ａ〜１ｄの出力を示す波形図
、第１０図は、４分割型受光素子１の受光面上に形成さ
れる光スポットの位置とトラッキングエラー信号の波形
との関係を示す図である。 主要部分の符号の説明
Claims (1)
- 記録媒体の記録面上に光ビームを照射して情報読取用又
は情報書込用の光スポットを形成する光学系から得られ
る反射ビームの強度分布中心近傍において互いに１点で
交わる２本の直線によって分割される４つの受光域から
なる受光素子と、前記４つの受光域のうちの前記２本の
直線の交点に関して対称な位置に配置されている２対の
受光域の出力の排他的論理和をとる排他的論理和手段と
を含み、前記排他的論理和手段の出力間の位相差に応じ
た信号をトラッキングエラー信号として生成することを
特徴とするトラッキングエラー信号生成装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30050286A JPH0711867B2 (ja) | 1986-12-17 | 1986-12-17 | トラツキングエラ−信号生成装置 |
| US07/132,090 US5258968A (en) | 1986-12-11 | 1987-12-11 | Tracking error signal generating device for preventing offset of the generated tracking error signal |
| NL8703001A NL8703001A (nl) | 1986-12-11 | 1987-12-11 | Een volgfoutsignaalgenerator. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30050286A JPH0711867B2 (ja) | 1986-12-17 | 1986-12-17 | トラツキングエラ−信号生成装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63152031A true JPS63152031A (ja) | 1988-06-24 |
| JPH0711867B2 JPH0711867B2 (ja) | 1995-02-08 |
Family
ID=17885586
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30050286A Expired - Fee Related JPH0711867B2 (ja) | 1986-12-11 | 1986-12-17 | トラツキングエラ−信号生成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0711867B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6977982B2 (en) | 2000-12-26 | 2005-12-20 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Differential phase detection device and tracking error signal detection apparatus using the same |
-
1986
- 1986-12-17 JP JP30050286A patent/JPH0711867B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6977982B2 (en) | 2000-12-26 | 2005-12-20 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Differential phase detection device and tracking error signal detection apparatus using the same |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0711867B2 (ja) | 1995-02-08 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4924455A (en) | Apparatus for generating tracking error signals in a differential phase detection system | |
| US5258968A (en) | Tracking error signal generating device for preventing offset of the generated tracking error signal | |
| US6741533B1 (en) | Tracking error detection device | |
| US4497048A (en) | Technique for controlling tracking in an optical disc apparatus | |
| JPS60119641A (ja) | トラッキングエラ−信号発生装置 | |
| US4520469A (en) | Tracking servo system for optical-disc information reproducing apparatus | |
| JP2716569B2 (ja) | 光学式情報読取り装置 | |
| EP0117715B1 (en) | Optical disc players | |
| JPS63152031A (ja) | トラツキングエラ−信号生成装置 | |
| JPH04274032A (ja) | 光学情報記録再生装置 | |
| JPS63148433A (ja) | トラツキングエラ−信号生成装置 | |
| JPS63152029A (ja) | トラツキングエラ−信号生成装置 | |
| JPS62159351A (ja) | 光学的情報信号再生装置におけるトラツキング誤差信号検出方式 | |
| JPH0248981Y2 (ja) | ||
| JPH10112042A (ja) | 光学的情報再生装置 | |
| JP2893183B2 (ja) | トラツキングエラー信号発生回路 | |
| JPS6292140A (ja) | トラツキングエラ−信号発生回路 | |
| JP3235016B2 (ja) | 光ピックアップのトラッキング制御装置 | |
| JP2831818B2 (ja) | トラッキングエラー信号生成装置 | |
| JPH067415B2 (ja) | トラツク誤差検出方法 | |
| JP3646602B2 (ja) | トラッキング誤差信号生成装置 | |
| JP2906144B2 (ja) | 光学ヘツド制御装置 | |
| JP2824573B2 (ja) | トラツキングエラー信号発生回路 | |
| JPS62239330A (ja) | 光学ヘツド制御信号生成回路 | |
| JPS63175234A (ja) | 光学式デイスクプレ−ヤのトラツキングエラ−信号生成装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |