JPS63148430A - 光ヘツドの焦点検出装置 - Google Patents

光ヘツドの焦点検出装置

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JPS63148430A
JPS63148430A JP29399886A JP29399886A JPS63148430A JP S63148430 A JPS63148430 A JP S63148430A JP 29399886 A JP29399886 A JP 29399886A JP 29399886 A JP29399886 A JP 29399886A JP S63148430 A JPS63148430 A JP S63148430A
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JP
Japan
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light
detection
light beam
lens
cut
Prior art date
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Pending
Application number
JP29399886A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshinao Taketomi
義尚 武富
Sadao Mizuno
定夫 水野
Noboru Ito
昇 伊藤
Tetsuo Hosomi
哲雄 細美
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は、光デイスクファイル装置などの光学ヘッド
の焦点検出装置に関するものである。
従来の技術 従来この種の光学ヘッドの光学系は、例えば第7図の゛
ような構成になっている。
すなわち、半導体レーザ1から出た光束2はコリメータ
レンズ3によって平行光となり、偏光ビームスプリッタ
4、およびに波長板5.絞シレンズ6を通って、光ディ
スク7Aのトラック8A上に光スポット9Aとして集束
される。7B、8B。
9Bは各々光ディスク7A、トラックaA、光スボッ)
9Aの側面図である。光スボッ)9Aはトラック8A上
に照射された後、反射され、再び絞シレンズ6を通って
平行光となり、%波長板6を経て、偏光ビームスグリツ
タ4によって反射分離され、光束1oAとして紙面の右
方向に進む。光束10Aはミラー11Aによって半分が
反射され、光束12Aとなってトラッキングエラー検出
器13Aに照射される。光束10Aの残りの光束は検出
レンズ14Aによって絞り込まれ、フォーカシングエラ
ー検出器16に照射される。フォーカシングエラー検出
器16は紙面に上下に2分割されたフォトダイオードで
あシ、ミラー11Aをナイフェツジと呼ばれる遮光板と
する、いわゆるナイフェツジ方式のフォーカシングエラ
ー検出方法の例を示している。10Bは光束10Aの断
面、即ち、光強度のファーフィールドパターンを示し、
点!14Bが検出レンズ14Aの位置を、点線11Bが
ミラー11Aの位置を各々表わす。光束10B内の斜線
部16.17は、光ディスク7Bに設けられたトラック
8Bの繰り返しがあたかも回折格子として作用すること
によって生じる0次回折光と±1次回折光との重なり合
う部分であり、トラッキングエラーに応じて干渉効果に
より光強度が変化する部分である。13Bはトラッキン
グエラー検出器13Aの上面図であり、2分割されたフ
ォトダイオードで、ここに光束12Aが12Bで示され
るように照射される、いわゆるファーフィールド方式と
呼ばれるトラッキングエラー検出方法となっている(特
願昭59−127967号の従来例)。
第8図は第7図の従来の光学ヘッドにおけるRF倍信号
フォーカシングエラー信号、トラッキングエラー信号の
検出回路の構成を示す図である。図において13C,1
3Dはトラッキングエラー検出器であり、1sA、1s
Bはフォーカシングエラー検出器である。図におけるR
F信号回路18で検出器13C,13D、 1tsA、
 1sBの和信号を作成しFE信号回路(フォーカスエ
ラー信号回路)19でフォーカシングエラー検出B1t
sA*15Bの差信号を作成し、TE信号回路(トラッ
キングニラ−信号回路)20でトラッキングエラー検出
器13C,13Dの差信号を作成する。
発明が解決しようとする問題点 1sA、1sBの差信号を詳細に見るため、第9図のよ
うに模式化する。15A、1sBの差信号を発生する検
出光スポットは、トラッキング信号を含んだ領域21A
、21Bと、その他の領域22A、22Bに分類できる
。尚、領域21A。
21Bを総称して以後領域21と呼ぶことにする。
各領域の光量をそれぞれ”21AI”21B+”22A
I■22Bとすれば、フォーカスエラー信号FEは次の
式で表現できる。
”””(工21A−工21B)+(工22A”22B)
  (1)ディスクの面ブレによって検出光スポットは
検出器分割線15Cを横切るように動き、フォーカス制
御はこの時の差信号、即ち、式0)の右辺が0となるよ
う対物レンズ6を変位させることによって達成される。
尚、言うまでもないが検出器16上に集光される光束は
回折による光スポットを形成するため、ファーフィール
ドにおける光強度パターンが、前記光スポットの光強度
分布にそのまま反映されるわけではない。しかし、検出
レンズとして用いられるのは一般に単レンズであって、
球9面収差が大きく、焦点位置においてもファーフィー
ルドの光強度パターンの影響は小さくない。従ってファ
ーフィールドパターン10Bを用いて焦点検出の様子を
解析することは妥当性のあることである。
さて、式(1)の第一項はトラッキング信号を含んだ2
つの領域21A、21Bの光量差を示している。番地検
索時にはディスク上の光スポット9Aがトラックを横断
するわけであるが、このときI21Al ”21 Bの
バランスが崩れトラッキングエラー信号がFE倍信号の
干渉を起こすことがあり、フォーカスずれや、検索エラ
ー等のトラブルを生じる。これが本発明の解決しようと
する問題点である。初期の検出器位置調整によってこの
干渉量を小さくすることは可能であるが、干渉量最小の
条件とフォーカスエラー感度最大の条件が必ずしも一致
しない。また、検出レンズ光軸と光束10Aの光軸を組
立調整によって完全に一致させることは困難である。即
ち、光路断面を見れば実際の調整においては第10図の
ようにΔX、Δyだけ偏心した配置になっているものと
思われる。このとき領域23Aと23Bの光はそれぞれ
検出レンズ14Bの異なった部分を通過するため、球面
収差の影響が異なり、検出器16に達した時に、その到
達位置が異なる。従って、検出器16上に形成される検
出光スポットの光強度分布は対称性を失い、工21 A
と工、13のバランスが崩れ、FE倍信号トラック横断
干渉の影響が表われることになる。
問題点を解決するだめの手段 上記問題点を解決するための本発明の技術的な手段は、
光束中にじゃ閉子段を設け、領域の一部もしくは全部を
しゃ閉し、フォーカスエラー検出感度を劣化させること
なくトラック横断干渉を打ち消すものである。
作  用 上記手段による作用は、検出光スポットに含まれるトラ
ッキング信号の非対称性がキャンセルされる点である。
即ち、領域の一部、とくに検出レンズの球面収差が大き
い部分を通過した光束をしゃ閉することによって、検出
光スポットの上記非対称性が補正され、トラック横断干
渉の影響をなくすことができる。また、領域の全部をし
ゃ閉した場合は、残った光束にはトラッキング信号が含
まれていないため、トラック横断干渉の影響は見られな
い。
実施例 本発明の一つの実施例を第1図に示す。従来例を示した
第7図と同番号のものは、同名称及び同機能を有するも
のである。本発明の特徴とする点は、光束1oA中に、
しゃ閉子段24Aを設けた事にある。
しゃ閉子段24Aの形状は、光束10Aの断面に重ねて
見た時に、第2図の24B、及び第3図の24B’の様
に特徴づけることができる。第2図は領域21を一部じ
ゃ閉した例で、第3図は領域21を全てじゃ閉した例で
ある。
第2図の様な一部じゃ閉した例では、球面収差の大きい
側、即ちレンズ外周部に近い領域をしや閉すると効果が
大きい。また、しや閉子段24Bの形状は図に示した形
に限らず、領域21を少しでもしや閉する効果があれば
良い。例えばじゃ閉子段24Bを円開口とし、これを少
しシフトすることによってしゃ閉効果をもたせた場合に
も、本発明の目的とする効果を得ることができる。
第3図の様に領域21を全てじゃ閉する場合にも、しや
閉子段24Bの形状は図に示した形に限らず、領域21
を全てじゃ閉するものであれば良い。ただ、なるべく多
くの光量を取り込めるような形状が望ましいと言える。
以上に示したじゃ閉子段の導入によって第2図及び第4
図の様に光束10Aの中心と、検出レンズ1OAの光軸
が一致しない場合にもトラック横断干渉の影響を打ち消
すことができる。
また、本発明は第4図に示すような構成の焦点検出装置
においても同様の効果を得る。まず光学系の構成につい
て説明を行う。第4図において、光源である半導体レー
ザ3oから出た光束31は、コリメータレンズ32によ
って平行光となり、偏光ビームスプリッタ34.全反射
ミラー35、および%波長板36.絞りレンズ37を通
って、光デイスク上のトラック38上に集束される。ト
ラック38からの反射光束は再び絞りレンズ37゜%波
長板36.全反射ミラー36金経て、偏光ビームスプリ
ッタ34を反射してビームスプリッタ39に入射し、光
束4oと光束41に分割される。
ビームスプリッタ39は光束40と光束41の光量比率
を例えば2:8に分割する。42.43は各々凸球面を
有する検出レンズである。検出レンズ42は光束4oの
半分を光スポット44に絞り込み、検出レンズ43は光
束4Qの残りの半分を光スポット46に絞り込む。つま
り、検出レンズ42.43は所定の位置に光スポラ)4
4.46を絞り込めるように、レンズ中心をずらして切
り出すか、あるいは平凸球面レンズの平面を傾斜させて
作成して偏光作用を持たせるなどして設ける。
46A、47A、48A、49Aは光スポット44.4
5が照射されるフォーカシングエラー検出器であり、4
分割光検出素子から成る。なおこのフォーカシングエラ
ー検出方式は、2個のナイフェツジ方式を一体化した方
式となっている。
soA、51A、52Aは光束41がファーフィールド
像のままで照射される分割光検出素子であり、soA、
slAがトラッキングエラー検出器、52AがRF信号
検出器である。トラッキングエラーの検出方式はファー
フィールド方式となっており、RF信号検出器52Aと
トラッキングエラー検出器50A、51Aの受光面積比
率は例えば3:1の割合で設定する。
さて、フォーカス検出用光束4oと、本発明のしゃ閉子
段24の関係を図示すると第5図、及び第6図のように
なる。第6図は上記の平凸球面しンズの平面を傾斜させ
たものを2つ並べて構成した検出レンズ、第6図はレン
ズ中心をずらして切シ出したレンズを2つ並べて構成し
た検出レンズの例である。図に示したように光束40の
中心と検出レンズの中心が一致しない場合、フォーカス
検出信号へのトラック横断干渉が発生する。この場合に
もしや閉子段24を挿入することは有効で、前記干渉の
影響を打ち消すことができる。
発明の効果 以上述べてきたように、本発明によれば7オ一カス検出
信号感度を劣化させることなく、番地検索時のトラック
横断干渉を打ち消すことができ、光デイスク装置の信頼
性を向上する上で工業的価値の極めて高いものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例における光ヘッドの焦点検出
装置の原理図、第2図、第3図は第1図に示した焦点検
出装置のしゃ閉子段の形状を示した図、第4図は本発明
の他の実施例における焦点検出装置の光学系の斜視図、
第6図、第6図は第4図に示した実施例におけるフォー
カシングエラー検出光束、検出レンズ及びしゃ閉子段の
関係を示した図、第7図は従来例における焦点検出装置
の原理図、第8図は同装置の回路図、第9図は同装置の
模式図、第10図は同7オーカシングエラー検出用光束
のファーフィールドパターンと検出レンズとの関係を示
す模式図である。 11A・・・・・・ミラー、14A・・・・・・集光レ
ンズ、16・・・・・・フォーカシングエラー検出器、
13A・・・・・・トラッキングエラー検出器、24A
・・・・・・しゃ断手段。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 第2図 ?/ 24−t、、や閉子役 第4図 第5図 ?/ 第6図 第7図 第8図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  光源と、この光源から出射する光束をディスクの記録
    面上に集束する集束手段と、前記ディスクからの反射光
    束を波面分割する手段と、波面分割された前記反射光束
    を集光し光スポットを形成する検出レンズと、前記光ス
    ポットを受光する光検出器と、前記反射光に含まれる前
    記ディスクのトラック溝によって生じる回折パターンの
    一部、または全部をしゃ閉する手段を備えた光ヘッドの
    焦点検出装置。
JP29399886A 1986-12-10 1986-12-10 光ヘツドの焦点検出装置 Pending JPS63148430A (ja)

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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5848236A (ja) * 1981-09-17 1983-03-22 Toshiba Corp 光学ヘツド
JPS59167860A (ja) * 1983-03-12 1984-09-21 Aiwa Co Ltd 光学式デイスク再生装置
JPS618741A (ja) * 1984-06-21 1986-01-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光学的情報記録再生装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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