JPS618741A - 光学的情報記録再生装置 - Google Patents
光学的情報記録再生装置Info
- Publication number
- JPS618741A JPS618741A JP12796784A JP12796784A JPS618741A JP S618741 A JPS618741 A JP S618741A JP 12796784 A JP12796784 A JP 12796784A JP 12796784 A JP12796784 A JP 12796784A JP S618741 A JPS618741 A JP S618741A
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- light beam
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、光デイスクファイル装置などの光学的情報記
録再生装置に関するものである。
録再生装置に関するものである。
従来例の構成とその問題点
光学的情報記録再生装置においては、光源から出た光束
を光デイスク面上の情報トラック（以下、トラック）に
、光スポットとして正しく集束させるために、フォーカ
ス制御とトラッキング制御とが行なわれる。フォーカス
制御とは、光デイスク面上に光スポットが正確に集束す
るよう制御することであり、トラッキング制御とは、光
スポットが上記トラック上に正確に位置するよう制御す
ることである。各々の制御はフィードバック制御で行な
われるため、フォーカス誤差とトラッキング誤差を高精
度に検出することが重要である。これをフォーカス誤差
検出、およびトラッキング誤差検出と呼ぶ。
を光デイスク面上の情報トラック（以下、トラック）に
、光スポットとして正しく集束させるために、フォーカ
ス制御とトラッキング制御とが行なわれる。フォーカス
制御とは、光デイスク面上に光スポットが正確に集束す
るよう制御することであり、トラッキング制御とは、光
スポットが上記トラック上に正確に位置するよう制御す
ることである。各々の制御はフィードバック制御で行な
われるため、フォーカス誤差とトラッキング誤差を高精
度に検出することが重要である。これをフォーカス誤差
検出、およびトラッキング誤差検出と呼ぶ。
第１図に従来の光学的情報記録再生装置の光学系の概略
図を示す。第１図において、半導体レーザ１から出た光
束２は、コリメータレンズ３によって平行光となり、偏
光ビームスプリッタ４、およびに波長板５、絞りレンズ
６を通って、光ディスク７Ａのトラック８Ａ上に光スポ
ット９Ａとして集束される。７Ｂ、８Ｂ、９Ｂは各々光
ディスク７Ａ１ トラック８Ａ、光スポット９Ａの側面
図である。光スポット９Ａはトラｙり８Ａ上に照射され
た後、反射され再び、絞りレンズ６を通って平行光とな
り、％波長板５を経て、偏光ビームスプリッタ４によっ
て反射分離され光束１０Ａとして紙面の右方向に進む。
図を示す。第１図において、半導体レーザ１から出た光
束２は、コリメータレンズ３によって平行光となり、偏
光ビームスプリッタ４、およびに波長板５、絞りレンズ
６を通って、光ディスク７Ａのトラック８Ａ上に光スポ
ット９Ａとして集束される。７Ｂ、８Ｂ、９Ｂは各々光
ディスク７Ａ１ トラック８Ａ、光スポット９Ａの側面
図である。光スポット９Ａはトラｙり８Ａ上に照射され
た後、反射され再び、絞りレンズ６を通って平行光とな
り、％波長板５を経て、偏光ビームスプリッタ４によっ
て反射分離され光束１０Ａとして紙面の右方向に進む。
光束１ｏＡはミラー１１Ａによって半分が反射され、光
束１２Ａとなってトラッキング検出器１３Ａに照射され
る。光束１０Ａの残りの光束は集光レンズ１４Ａによっ
て絞シ込まれ、フォーカス誤差検出器１５に照射される
。
束１２Ａとなってトラッキング検出器１３Ａに照射され
る。光束１０Ａの残りの光束は集光レンズ１４Ａによっ
て絞シ込まれ、フォーカス誤差検出器１５に照射される
。
フォーカス誤差検出器１６は紙面に上下に二分割された
フォトダイオードであシ、ミラー１１Ａをナイフェツジ
と呼ばれる遮光板とする、いわゆるフーユー法、または
ナイフェツジ法と呼ばれるフォーカス誤差検出方法であ
る。１０Ｂは光束１０Ａの断面を示し、点線１４Ｂが絞
りレンズ１４Ａの位置を点線１１Ｂがミラー１１Ａの位
置を各々表わす。光束１０Ｂ内の斜線部１６．１７は、
光ディスク７Ｂのトラック８Ｂの繰り返しがあたかも回
折格子として作用することによって生じる、０次回折光
と±１次回折光との重なり合う部分であり、トラックず
れに応じて干渉効果により強度が変化する部分である。
フォトダイオードであシ、ミラー１１Ａをナイフェツジ
と呼ばれる遮光板とする、いわゆるフーユー法、または
ナイフェツジ法と呼ばれるフォーカス誤差検出方法であ
る。１０Ｂは光束１０Ａの断面を示し、点線１４Ｂが絞
りレンズ１４Ａの位置を点線１１Ｂがミラー１１Ａの位
置を各々表わす。光束１０Ｂ内の斜線部１６．１７は、
光ディスク７Ｂのトラック８Ｂの繰り返しがあたかも回
折格子として作用することによって生じる、０次回折光
と±１次回折光との重なり合う部分であり、トラックず
れに応じて干渉効果により強度が変化する部分である。
１３Ｂはトラッキング誤差検出器１３Ａの上面図であり
、２分割されたフォトダイオードで、ここに光束１２Ａ
が１２Ｂで示されるように照射される、いわゆるファン
イールド法と呼ばれるトラッキング誤差検出方法である
０以上のように構成された従来の光学的情報記録再生装
置における問題点を次に説明する。第２図は第１図のフ
ォーカス誤差検出器の説明図である。
、２分割されたフォトダイオードで、ここに光束１２Ａ
が１２Ｂで示されるように照射される、いわゆるファン
イールド法と呼ばれるトラッキング誤差検出方法である
０以上のように構成された従来の光学的情報記録再生装
置における問題点を次に説明する。第２図は第１図のフ
ォーカス誤差検出器の説明図である。
第２図のａ図において２０は集光レンズ、２１はフォー
カス誤差検出器であり、フォーカス誤差によって光束の
集束角度が変化する様子を示している。フォーカス誤差
が無い場合の光束は２２と２５とで表わされ、フォーカ
ス誤差が生じた場合は２３と２５、あるいは２４と２５
とで表わされる。フォーカス誤差検出器２１は、集光レ
ンズ２０で絞られる光スポットの強度分布が図のｙ方向
に変化することを検出してフォーカス誤差検出を行なっ
ている。従ってｂ図に示すようにフォーカス誤差検出器
２１が何らかの原因でｙ方向に相対的位置ずれを生じた
場合、光束２２と２６のようにフォーカス誤差が無くて
も、あたかもフォーカス誤差が生じたかのような出力を
発するという問題がある。フォーカス誤差検出器２１の
相対的位置ずれの原因としては、熱膨張による支持部材
の熱変形、あるいは振動など外部荷重による弾性変形な
どがある。この他にも０図に示すように絞りレンズ２０
への入射角度が変化した場合、光束は２６のようにフォ
ーカス誤差検出器２１に対して相対的な位置ずれを生じ
させ、検出誤差の原因として作用するという問題を有し
ている。
カス誤差検出器であり、フォーカス誤差によって光束の
集束角度が変化する様子を示している。フォーカス誤差
が無い場合の光束は２２と２５とで表わされ、フォーカ
ス誤差が生じた場合は２３と２５、あるいは２４と２５
とで表わされる。フォーカス誤差検出器２１は、集光レ
ンズ２０で絞られる光スポットの強度分布が図のｙ方向
に変化することを検出してフォーカス誤差検出を行なっ
ている。従ってｂ図に示すようにフォーカス誤差検出器
２１が何らかの原因でｙ方向に相対的位置ずれを生じた
場合、光束２２と２６のようにフォーカス誤差が無くて
も、あたかもフォーカス誤差が生じたかのような出力を
発するという問題がある。フォーカス誤差検出器２１の
相対的位置ずれの原因としては、熱膨張による支持部材
の熱変形、あるいは振動など外部荷重による弾性変形な
どがある。この他にも０図に示すように絞りレンズ２０
への入射角度が変化した場合、光束は２６のようにフォ
ーカス誤差検出器２１に対して相対的な位置ずれを生じ
させ、検出誤差の原因として作用するという問題を有し
ている。
発明の目的
本発明は上記従来の問題点を解消するもので、フォーカ
ス誤差検出器と光束の相対的位置ずれの影響を取り除き
、かつトラッキング誤差検出器との配置を複雑にしない
光学的情報記録再生装置を提供することを目的とする。
ス誤差検出器と光束の相対的位置ずれの影響を取り除き
、かつトラッキング誤差検出器との配置を複雑にしない
光学的情報記録再生装置を提供することを目的とする。
発明の構成
本発明は、２個の光検出器と、２個の集光手段と、２組
の２分割光検出器を備えた光学的情報記録再生装置であ
り、集光手段と２分割検出器によって安定したフォーカ
ス誤差検出を可能にするとともＫ、２個の光検出器と組
み合わせてトラッキング誤差検出も簡易にすることがで
きるものである。
の２分割光検出器を備えた光学的情報記録再生装置であ
り、集光手段と２分割検出器によって安定したフォーカ
ス誤差検出を可能にするとともＫ、２個の光検出器と組
み合わせてトラッキング誤差検出も簡易にすることがで
きるものである。
実施例の説明
第３図は本発明の一実施例における光学的情報記録再生
装置の光学系の斜視図である。第３図において、３０は
光源となる半導体レーザ、３１は半導体レーザ３ｏから
出る光束、３２は光束３１を平行光３３にするコリメー
タレンズ、３４は偏光ビームスプリッタ、３６はへ波長
板、３６は絞りレンズ、３７は光デイスク上のトラック
であり、絞りレンズ３６に′よってトラック３７上に光
束３８のように集束される。３９Ａは火波長板３５と偏
光ビームスプリッタ３４の作用により入射光束３３と分
離されたトラック３７からの反射光束であり、４ＯＡ、
４１ Ａは各々集光レンズである。集光レンズ４０Ａは
光束３９Ａの一部を光スポット４２に絞り込み、集光レ
ンズ４１Ａは光束３９Ａの他の一部を光スポット４３に
絞り込む。４４，４５゜４６．４７は光スポノ）４２．
４３が照射されるフォーカス誤差検出器である。４８．
４９はトラッキング誤差検出器であり、光束３９Ａの集
光レンズ４０Ａ、４１Ａにかからない部分が照射される
。第３図の右下図の３９Ｂは反射光束３９Ａの断面を示
し、点線４０Ｂが集光レンズ４０Ａの位置を、点線４１
Ｂが集光レンズ４１Ｂが集光レンズ４１Ａの位置を各々
表わしている。光束３９Ｂ内の斜線部６０，６１は、光
ディスクのトラック３７の繰り返しが回折格子として作
用することによって生じる、０次回新党と±１次回折光
との重なり合う部分であり、トラックずれによる干渉効
果によって強度が変化する部分である。斜線部５゜の集
光レンズ４０Ｂ 、４１ Ｂにかからない部分がトラッ
キング誤差検出器４８に照射され、斜線部５１の集光レ
ンズ４０Ｂ、４１Ｂにかからない部分がトラッキング誤
差検出器４９に照射される。
装置の光学系の斜視図である。第３図において、３０は
光源となる半導体レーザ、３１は半導体レーザ３ｏから
出る光束、３２は光束３１を平行光３３にするコリメー
タレンズ、３４は偏光ビームスプリッタ、３６はへ波長
板、３６は絞りレンズ、３７は光デイスク上のトラック
であり、絞りレンズ３６に′よってトラック３７上に光
束３８のように集束される。３９Ａは火波長板３５と偏
光ビームスプリッタ３４の作用により入射光束３３と分
離されたトラック３７からの反射光束であり、４ＯＡ、
４１ Ａは各々集光レンズである。集光レンズ４０Ａは
光束３９Ａの一部を光スポット４２に絞り込み、集光レ
ンズ４１Ａは光束３９Ａの他の一部を光スポット４３に
絞り込む。４４，４５゜４６．４７は光スポノ）４２．
４３が照射されるフォーカス誤差検出器である。４８．
４９はトラッキング誤差検出器であり、光束３９Ａの集
光レンズ４０Ａ、４１Ａにかからない部分が照射される
。第３図の右下図の３９Ｂは反射光束３９Ａの断面を示
し、点線４０Ｂが集光レンズ４０Ａの位置を、点線４１
Ｂが集光レンズ４１Ｂが集光レンズ４１Ａの位置を各々
表わしている。光束３９Ｂ内の斜線部６０，６１は、光
ディスクのトラック３７の繰り返しが回折格子として作
用することによって生じる、０次回新党と±１次回折光
との重なり合う部分であり、トラックずれによる干渉効
果によって強度が変化する部分である。斜線部５゜の集
光レンズ４０Ｂ 、４１ Ｂにかからない部分がトラッ
キング誤差検出器４８に照射され、斜線部５１の集光レ
ンズ４０Ｂ、４１Ｂにかからない部分がトラッキング誤
差検出器４９に照射される。
以上のように構成されたこの実施例の光学的情報記録再
生装置について、以下にその動作を説明する。半導体レ
ーザ３ｏが発光して、光ディスクのトラック３７からの
反射光束３９Ａが出てくるまでは、第１図で説明した従
来例と同様であるので、それ以降の動作を説明する。反
射光束３９Ａは集光レンズ４０Ａ、４１Ｂによって４本
の光束に分割されるが、その状態を第４図のａ図に示す
。
生装置について、以下にその動作を説明する。半導体レ
ーザ３ｏが発光して、光ディスクのトラック３７からの
反射光束３９Ａが出てくるまでは、第１図で説明した従
来例と同様であるので、それ以降の動作を説明する。反
射光束３９Ａは集光レンズ４０Ａ、４１Ｂによって４本
の光束に分割されるが、その状態を第４図のａ図に示す
。
ａ図において６１．６２は光検出器ＡとＣ１およびＢと
Ｄとにまたがる光スポットであり、点線６３．６４は光
検出器ＥとＦに照射される照射光である。第３図の反射
光束３９Ａは第４図のａ図の６１．６２，６３．６４の
ように分けられている。さて、第４図のａ図はフォーカ
ス誤差が無い場合の状態を示したものであり、フォーカ
ス誤差が生じた場合にはその士方向に応じて、ｂ図の光
スポット６３．６４、あるいは０図の光スポット６５．
６６のように強度分布が変化する。ａ図の光検出器Ａの
出力をＳＡ、光検出器Ｂの出力をＳＢ。
Ｄとにまたがる光スポットであり、点線６３．６４は光
検出器ＥとＦに照射される照射光である。第３図の反射
光束３９Ａは第４図のａ図の６１．６２，６３．６４の
ように分けられている。さて、第４図のａ図はフォーカ
ス誤差が無い場合の状態を示したものであり、フォーカ
ス誤差が生じた場合にはその士方向に応じて、ｂ図の光
スポット６３．６４、あるいは０図の光スポット６５．
６６のように強度分布が変化する。ａ図の光検出器Ａの
出力をＳＡ、光検出器Ｂの出力をＳＢ。
以下同様に表わすとすると、フォーカス誤差は従って
フォーカス誤差出力＝ （ｓＡ−ｓｃ）＋（ｓＤ−ｓＢ
）として検出することが可能である。またトラッキング
誤差は光検出器ＥとＦの出力に着目して、トラッキング
誤差出力＝ｊ３Ｂ；−３Ｆとして検出することが可能で
あり、上記フォーカス誤差出力とトラッキング誤差出力
をフィードバックして、フォーカス制御とトラッキング
制御とを行なわせる。ＲＦ倍信号検出については、ＳＡ
からＳＦまでの全ての出力の総和をとれば良い。
）として検出することが可能である。またトラッキング
誤差は光検出器ＥとＦの出力に着目して、トラッキング
誤差出力＝ｊ３Ｂ；−３Ｆとして検出することが可能で
あり、上記フォーカス誤差出力とトラッキング誤差出力
をフィードバックして、フォーカス制御とトラッキング
制御とを行なわせる。ＲＦ倍信号検出については、ＳＡ
からＳＦまでの全ての出力の総和をとれば良い。
以上のようなこの実施例においては、集束位置の異なる
集光レンズを２枚用いて、光束を光軸近傍にて分割して
別々に絞り込むことにより、第４図のｄ図に示すように
光スポット６７．６８と光検出器の相対位置が温度変化
や振動など何らかの原因によってｙ方向に変化した場合
でも、その影響を打ち消すことが可能となる。つまり前
記のフォーカス誤差出力の検出式に従って検出すれば良
い。また第３図の反射光束３９Ｂに示すように、この実
施例ではトラック方向と垂直方行となる±１次回折光の
現われる方向で分割している。集光レンズ４０Ｂと４１
Ｂとに入射する互いの光分布の状態は、トラッキング誤
差やフォーカス誤差の有無に係わりなくほとんど対称と
なり、光量も等しくなるため、より安定なフォーカス誤
差検出が可能となる。また第３図のＯ次回新党と±１次
回折光の重なり合う領域５０．５１のみからトランキン
グ誤差出力を得るだめに、より安定なトラッキング誤差
検出が可能となる。この実施例では上記のような安定し
たフォーカス誤差検出とトラッキング誤差検出を、比較
的簡易に実現できる。
集光レンズを２枚用いて、光束を光軸近傍にて分割して
別々に絞り込むことにより、第４図のｄ図に示すように
光スポット６７．６８と光検出器の相対位置が温度変化
や振動など何らかの原因によってｙ方向に変化した場合
でも、その影響を打ち消すことが可能となる。つまり前
記のフォーカス誤差出力の検出式に従って検出すれば良
い。また第３図の反射光束３９Ｂに示すように、この実
施例ではトラック方向と垂直方行となる±１次回折光の
現われる方向で分割している。集光レンズ４０Ｂと４１
Ｂとに入射する互いの光分布の状態は、トラッキング誤
差やフォーカス誤差の有無に係わりなくほとんど対称と
なり、光量も等しくなるため、より安定なフォーカス誤
差検出が可能となる。また第３図のＯ次回新党と±１次
回折光の重なり合う領域５０．５１のみからトランキン
グ誤差出力を得るだめに、より安定なトラッキング誤差
検出が可能となる。この実施例では上記のような安定し
たフォーカス誤差検出とトラッキング誤差検出を、比較
的簡易に実現できる。
なお、第３図の集光レンズ４０Ａ、４１Ｂは１枚のレン
ズを切断し、紙面横方向に互いに位置をずらして用いる
ことにより、容易に実現できる。
ズを切断し、紙面横方向に互いに位置をずらして用いる
ことにより、容易に実現できる。
さらにこの実施例ではフォーカス誤差検出器４４．４５
．４６．４７とトラッキング誤差検出器４８．４９とを
同一平面上に配置でき、６分割光検出器を使用できるな
ど、製造、調整の面でも簡素化を可能にする。
．４６．４７とトラッキング誤差検出器４８．４９とを
同一平面上に配置でき、６分割光検出器を使用できるな
ど、製造、調整の面でも簡素化を可能にする。
発明の効果
本発明の光学的情報記録再生装置は、２個の光検出器と
、２個の集光手段と、２組の２分割光検吊器を設けるこ
とにより、フォーカス誤差検出器と光束との相対的位置
ずれの影響を取り除き、かつトラッキング誤差検出器と
の配置を複雑にしないだめ、その工業的価値は高い。
、２個の集光手段と、２組の２分割光検吊器を設けるこ
とにより、フォーカス誤差検出器と光束との相対的位置
ずれの影響を取り除き、かつトラッキング誤差検出器と
の配置を複雑にしないだめ、その工業的価値は高い。
第１図は従来の光学的情報記録再生装置の光学系の概略
構成を示す図、第２図はそのフォーカス誤差検出の説明
図、第３図は本発明の一実施例における光学的情報記録
再生装置の概略構成を示す斜視図、第４図はそのフォー
カス誤差検出とトラッキング誤差検出の説明図である。 ４０Ａ、４１Ａ・・・・・・集光レンズ、４４ 、４ｔ
ｓ 。 ４６．４７・・・・・・フォーカス誤差検出器、４８
、４９・・・・・・トラッキング誤差検出器。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名／３
Ｂ 第２図 第 ３ 図
構成を示す図、第２図はそのフォーカス誤差検出の説明
図、第３図は本発明の一実施例における光学的情報記録
再生装置の概略構成を示す斜視図、第４図はそのフォー
カス誤差検出とトラッキング誤差検出の説明図である。 ４０Ａ、４１Ａ・・・・・・集光レンズ、４４ 、４ｔ
ｓ 。 ４６．４７・・・・・・フォーカス誤差検出器、４８
、４９・・・・・・トラッキング誤差検出器。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名／３
Ｂ 第２図 第 ３ 図
Claims (1)
- 光源と、この光源から出た光束を記録媒体に設けられた
トラック上に集束する光集束手段と、前記トラックから
の反射光束を前記トラックと平行方向に３分割してでき
る両外側領域の光束を夫々受光する２個の光検出器と、
前記３分割してできる中央領域の光束を光軸近傍を通っ
て前記トラックと直角方向に分割して、互いに異なる位
置に集光せしめる２個の集光手段と、この集光手段から
の光束を夫々略同一直線上で受光する２組の２分割光検
出器とを設けた光学的情報記録再生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12796784A JPS618741A (ja) | 1984-06-21 | 1984-06-21 | 光学的情報記録再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12796784A JPS618741A (ja) | 1984-06-21 | 1984-06-21 | 光学的情報記録再生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS618741A true JPS618741A (ja) | 1986-01-16 |
Family
ID=14973110
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12796784A Pending JPS618741A (ja) | 1984-06-21 | 1984-06-21 | 光学的情報記録再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS618741A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63148430A (ja) * | 1986-12-10 | 1988-06-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ヘツドの焦点検出装置 |
-
1984
- 1984-06-21 JP JP12796784A patent/JPS618741A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63148430A (ja) * | 1986-12-10 | 1988-06-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ヘツドの焦点検出装置 |
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