JPH06251396A - 光ヘッド装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】幅可変遮光帯による変調に影響を受けない光束
のみでサ−ボエラーを検出し、幅可変遮光帯の幅変化の
前後において安定したサ−ボ動作の実現を図る。 【構成】光源からの出射光の一部の振幅を幅可変遮光帯
３ａによって能動的に変調し、光束を対物レンズ６によ
って光ディスク７面上に集光する。幅可変遮光帯３ａの
変調により、光ディスク７面上にはスポット径が小さく
再生に適当な超解像スポットと、ビーム径は比較的大き
いが高い記録パワーの出せる通常ビームスポットが形成
される。光ディスク７からの反射光をフォーカスディテ
クタ１１とトラックエラー検出系８に導く。変調を受け
ない光束のみをナイフエッジ１０による反射によって取
り出し、二分割のフォーカスディテクタ１１に集光する
ことで、フォーカスディテクタ１１の調整時の反射戻り
光光軸方向の許容範囲が拡大し、同時に幅可変遮光帯３
ａの変調の前後においても安定したサーボ検出を行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光ヘッドに関し、特に
光を利用して情報の記録再生を行う情報入出力装置また
は画像信号の記録再生を行う画像記録再生装置に用いる
光ディスク装置に使用する光ヘッド装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来の光ヘッド装置について図面を参照
して説明する。まず、超解像の原理について説明する。

【０００３】図６は図１および図７の光ヘッド装置にお
ける超解像ビ−ムの発生原理を説明するための平面図で
ある。

【０００４】光源から出射されたコリメ−ト光は幅可変
遮光帯３ｂで一部が遮光された後ビ−ムスプリッタ５を
透過し、対物レンズ６で光ディスク７上に絞られて集光
ビ−ムスポットを形成する。幅可変遮光帯３ｂが図中Ａ
にある時とＢにある時でコリメ−ト光の遮光幅が変化
し、幅可変遮光帯３ｂの遮光幅が大きくなる図中Ａにあ
る時は超解像ビ−ム３２が、遮光幅の小さいＢにある時
は通常ビ−ム３１が光ディスク７上に形成される。超解
像ビーム３２は回折限界まで絞られた通常ビームよりも
集光スポット径が小さくなる。

【０００５】この例では幅可変遮光帯３ｂを回転式の遮
光帯としたが、遮光幅を可変にできるものであれば回転
式のものでなくとも構わない。また、この例では光束の
一部の振幅を減衰したが、光束の一部の位相を変調して
超解像ビ−ムを生成してもよい。次に、超解像光ヘッド
装置に従来のナイフエッジ法を用いたフォーカスエラー
検出について詳細に説明する。図７は従来例の光ヘッド
装置におけるナイフエッジフォーカスエラー検出法を用
いた超解像光学系の構成を説明するための平面図であ
る。

【０００６】ここで、図７は超解像光ヘッド装置に従来
から用いられているナイフエッジを用いたフォーカスエ
ラー検出系を適用した一例を示している。この光ヘッド
装置は、発光デバイスとしての半導体レ−ザ１と、その
放射光を平行光にするコリメ−トレンズ２と、平行光束
の一部を遮光またはそのまま通過させることの可能な幅
可変遮光帯３ｂと、信号光を取り出す偏光ビ−ムスプリ
ッタ４と、サ−ボエラー光を取り出すビ−ムスプリッタ
４および１３と、平行光束を集光する対物レンズ６と、
光を照射反射し情報を記憶する光ディスク７と、トラッ
クエラーを検出するトラック検出系８と、信号を検出す
る信号検出系９と、光ディスク７からの反射戻り光を集
光する集光レンズ１２と、集光レンズ１２で集光される
収束光を二分するナイフエッジ１０と、収束光を受光す
るフォーカスディテクタ１１とから構成される。

【０００７】半導体レ−ザ１は放射状に単一波長の光を
発する。この光はコリメ−トレンズ２によって一旦平行
光になって、平行光の一部は幅可変遮光帯３ｂで遮られ
その他は対物レンズ６において絞られて光ディスク７上
に集光スポットを形成する。光ディスク７上で反射した
戻り光はビ−ムスプリッタ５と偏光ビ−ムスプリッタ４
で反射してそれぞれエラー検出系と信号検出系へ至る。
ビ−ムスプリッタ５で反射した反射戻り光はビ−ムスプ
リッタ１３で分岐して一部はトラックエラー検出系８で
受光され、その他は集光レンズ１２で集光されたのちナ
イフエッジ１０で二分され、二分された内の一方のみが
フォーカスディテクタ１１上に集光する。フォーカスデ
ィテクタ１１は二分割されたもので、光ディスク７が対
物レンズ６の焦平面にある時に光ディスク７からの反射
戻り光は集光レンズ１２によってフォーカスディテクタ
１１を分割する分割線上に集光スポットを結像する。ナ
イフエッジは幅可変遮光帯による遮光がない場合の反射
戻り光を半分に分割するよう図７に示すように挿入され
る。一方偏光ビ−ムスプリッタ４で反射した反射戻り光
は信号検出系９で受光される。幅可変遮光帯３ｂは、図
７のＡ←→Ｂ間で回転して遮光幅を可変できるようにな
っている。この時光ディスク７面上の集光スポットは遮
光帯が状態Ａのとき超解像ビ−ム７２を、状態Ｂの時通
常ビ−ム７１になる。超解像ビ−ム発生時には光ヘッド
装置の効率は低下するが、ビ−ムスポット径が縮小する
ので再生動作に適している。一方通常ビ−ム発生時には
光ヘッド装置の効率が低下しないので、スポット径の大
きさよりも許容パワ−の余裕が必要な記録動作に適して
いる。図７では再生に適した状態Ａの時を示す。本従来
例では幅可変遮光帯の実現方法を回転式の遮光帯とした
が、遮光幅を可変できる方法であれば他の方法でも構わ
ない。

【０００８】次に、従来のナイフエッジ法によるフォー
カス検出原理について図面を参照して説明する。

【０００９】図８は超解像光ヘッドにおける従来のナイ
フエッジ法によるフォーカス検出原理を示す平面図、図
８（ａ）は対物レンズの焦点距離よりも近くにディスク
が近づいた場合のフォーカス検出原理を示す平面図、図
８（ｂ）は対物レンズの焦点距離よりも遠くにディスク
が離れた場合のフォーカス検出原理を示す平面図、図８
（ｃ）は対物レンズの焦平面にディスクがある場合のフ
ォーカス検出原理を示す平面図である。

【００１０】図８（ｃ）に示すように、光ディスク７が
対物レンズ６の焦平面にある時、光ディスク７からの反
射戻り光は二分割されたフォーカスディテクタ１１の分
割線上に集光スポットを結び、フォーカスエラー出力α
−β＝０となる。次に図８（ａ）に示すように、光ディ
スク７が対物レンズ６の焦点距離内に入るとフォーカス
ディテクタ１１上で光ディスク７からの反射戻り光はデ
フォーカスになり、フォーカスエラー出力α−β（≠
０）が検出される。図８（ｂ）に示すように、光ディス
ク７が対物レンズ６の焦点距離外にあると、フォーカス
ディテクタ１１上で光ディスク７からの反射戻り光はや
はりデフォーカスになり、フォーカスエラー出力α−β
（≠０）が検出される。

【００１１】

【発明が解決しようとする課題】上述した従来の光ヘッ
ド装置での幅可変遮光帯のある超解像光学系における従
来のナイフエッジを用いたフォーカス検出系の調整で
は、対物レンズ６を透過する光束が光ディスク７上で焦
点を結ぶときに、集光レンズ１２によって集光される集
光スポットがフォーカスディテクタ１１上で焦点を結ぶ
ようディテクタの光軸方向の位置を調整する必要があ
り、この調整の許容量が小さいために幅可変遮光帯３ｂ
の遮光幅の変化による反射戻り光量の変化によって、分
割されたフォーカスディテクタ上で光量のアンバランス
が生じ、結果として光ディスク７面上でフォーカスオフ
セットが生ずるという問題点がある。

【００１２】

【課題を解決するための手段】本発明の目的は、反射戻
り光の内、幅可変遮光帯による変調に影響を受けない光
束のみでサ−ボエラーを検出し、それによって幅可変遮
光帯の遮光幅変化においてもサ−ボオフセットが生じな
い安定したサ−ボエラー検出系を実現することにある。

【００１３】そのため、本発明の光ヘッド装置は、光源
からの出射光を収束光学系によって微小スポットとして
記録媒体面上に集光し、記録媒体からの反射光を光検出
器に導いて情報の記録再生を行う光ヘッド装置であっ
て、光源からの出射光路中に、出射光の一部について振
幅を減衰または位相の変調を任意にできる変調素子を設
け、記録媒体からの反射戻り光を集光する集光素子と、
その集光された戻り光を受光してサ−ボエラーを検出す
る検出素子とを備え、記録媒体から検出素子へ至る光路
中にあって、戻り光中の変調素子によって変調されない
光束の一部を透過あるいは反射または屈折する素子を備
えることを特徴とする。

【００１４】また、本発明の光ヘッド装置は、光源から
の出射光路中に、出射光の一部について振幅を減衰また
は位相の変調を任意にできる変調素子を設け、記録媒体
からの反射戻り光中にあって変調素子によって変調され
ない光束の一部を透過あるいは反射または屈折し、なお
かつ集光するレンズ機能をもった集光素子を設け、集光
素子で集光された光束を受光してサ−ボエラーを検出す
る検出素子を備えることを特徴とする。

【００１５】

【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。

【００１６】図１は本第一の発明による光ヘッド装置の
一実施例を示す平面図である。

【００１７】ここで、図１は本第一の発明による光ヘッ
ド装置を幅可変遮光帯による超解像光ヘッド光学系に適
用した一例を示している。

【００１８】この光ヘッド装置は、発光デバイスとして
の光を放射する半導体レ−ザ１と、その放射光を平行光
にするコリメ−トレンズ２と、その平行光束の一部を遮
光またはそのまま通過させることの可能な幅可変遮光帯
３ａと、信号光を取り出す偏光ビ−ムスプリッタ４と、
信号光からサ−ボエラー光を取り出すビ−ムスプリッタ
５および１３と、記録された情報を光の照射と反射によ
って再生するために光ディスク７上へ平行光束を集光す
る対物レンズ６と、光ディスク７からのサ−ボエラー光
の内トラックエラーを検出するトラック検出系８と、光
ディスク７からの信号光から読み出された信号を検出す
る信号検出系９と、光ディスク７からの反射戻り光を集
光する集光レンズ１２と、集光レンズ１２で集光される
収束光の一部を遮光するナイフエッジ１０と、収束光を
受光するフォーカスディテクタ１１とから構成されてい
る。

【００１９】半導体レ−ザ１からレーザ光が出射されて
光ディスク７へ至る光学系については従来と同じ光学系
の構成である。光ディスク７で反射した光は往路の光学
系を逆進し対物レンズ６を透過してビ−ムスプリッタ４
と５で反射してそれぞれ信号検出系とサ−ボエラー検出
系に至る。ビ−ムスプリッタ５で反射した光はビ−ムス
プリッタ１３で分岐して一方はトラックエラー検出系８
へその他は集光レンズ１２で集光された後ナイフエッジ
１０で一部を遮光され、更に残りが二分割されたフォー
カスディテクタ１１で受光されてフォーカスエラーが検
出される。ナイフエッジ１０は幅可変遮光帯３ａによる
コリメ−ト光の変調の影響を受けるコリメ−ト光の内縁
部をすべてカットするように挿入される。

【００２０】一方偏光ビームスプリッタ４で反射した反
射戻り光は信号検出系９で受光される。

【００２１】図２は図１の光ヘッド装置における光学系
のフォーカスディテクタ調整法について説明するための
平面図、図２（ａ）は集光レンズ１２で集光された収束
光の光軸方向にフォーカスディテクタを調整する場合を
示す平面図、図２（ｂ）は合焦の場合を示す平面図、図
２（ｃ）はフォーカスディテクタが集光レンズ１２の焦
点距離よりも近い場合を示す平面図、図２（ｄ）はフォ
ーカスディテクタが集光レンズ１２の焦点距離よりも遠
い場合を示す平面図である。図２（ｂ）において、フォ
ーカスエラー検出出力α−β＝０となっており、光ディ
スク７が対物レンズ６の焦平面にある時にフォーカスエ
ラー出力が０となっている。フォーカスディテクタ１１
が集光レンズ１２の焦平面よりも近い同図（ｃ）の場合
には、フォーカスディテクタ１１をディテクタの面内で
並行移動することによってエラー検出出力＝０と調整で
きる。同様にフォーカスディテクタ１１が集光レンズ１
２の焦平面よりも遠い同図（ｄ）の場合も、フォーカス
ディテクタ１１をディテクタの面内で並行移動すること
によってエラー出力＝０に調整できる。幅可変遮光帯３
ａがコリメ−ト光を変調した場合でも変調された光束は
ディテクタで受光していないので、フォーカスディテク
タ上での集光スポット面積に変化を生じない。従って、
遮光帯の変化の前後においても安定したサ−ボ系を構成
できている。

【００２２】上記の幅可変遮光帯による超解像ビームの
発生原理は、従来の技術の項で図６を参照して説明した
ように、光源から出射されたコリメ−ト光は幅可変遮光
帯３ｂで一部が遮光された後ビ−ムスプリッタ５を透過
し、光ディスク７上に絞られて集光ビ−ムスポットを形
成し、幅可変遮光帯３ｂの遮光幅が大きくなる図中Ａに
ある時は超解像ビ−ム３２が、遮光幅の小さいＢにある
時は通常ビ−ム３１が光ディスク７上に形成される。

【００２３】この例では幅可変遮光帯３ｂを回転式の遮
光帯としたが、遮光幅を可変にできるものであれば回転
式のものでなくとも構わない。図１では回転式でない幅
可変遮光帯３ａを使用している。また、この例では光束
の一部の振幅を減衰したが、光束の一部の位相を変調し
て超解像ビ−ムを生成してもよい。

【００２４】また、本実施例はナイフエッジを用いたフ
ォーカスエラー検出に本発明を適用した例であるが、本
発明が適用する光学系はナイフエッジ法に限らず他のフ
ォーカスエラー検出法、トラックエラー検出法であって
も構わない。

【００２５】図３は図１の光ヘッド装置における光学系
をトラックエラー検出に用いた場合の平面図である。

【００２６】往路の光学系については従来例の光学系と
同じである。光ディスク７での反射戻り光は対物レンズ
６で集光され、ビ−ムスプリッタ５、１３で反射して一
部が集光レンズ４１を透過、集光されてトラックディテ
クタ４２に照射される。ビームスプリッタ１３と集光レ
ンズ４１の間には遮光板４５が設けられ、コリメート光
の変調される領域が遮光板４５によってカットされる。
光ディスク７からの反射戻り光によって二分割されたト
ラックディテクタ４２は遮光板の投影像４４と一次回折
光４３とその他の光量を受けるが、トラックエラーは分
割された両ＰＤが受ける一次回折光のバランスからプッ
シュプル法で検出される。幅可変遮光帯３ａによる変調
を受けない光束のみでエラー検出しているので幅変化の
前後においても安定したサ−ボ動作が可能となってい
る。本発明のトラックエラー検出への実施例ではプッシ
ュプル法を示したが、本発明の適用は他のトラックエラ
ー検出法でも構わない。

【００２７】次に、本第二の発明の光ヘッド装置を用い
た実施例について図面を参照して詳細に説明する。

【００２８】図４は本第二の発明による光ヘッド装置の
光学系の一実施例を示す平面図である。

【００２９】この光ヘッド装置は、発光デバイスとして
の光を放射する半導体レ−ザ１と、その放射光を平行光
にするコリメ−トレンズ２と、その平行光束の一部を遮
光またはそのまま通過させることの可能な幅可変遮光帯
３ａと、信号光を取り出す偏光ビ−ムスプリッタ４と、
信号光からサ−ボエラー光を取り出すビ−ムスプリッタ
５および１３と、記録された情報を光の照射と反射によ
って再生するために光ディスク７上へ平行光束を集光す
る対物レンズ６と、光ディスク７からのサ−ボエラー光
の内トラックエラーを検出するトラック検出系８と、光
ディスク７からの信号光から読み出された信号を検出す
る信号検出系９と、光ディスク７からの反射戻り光を集
光するホログラムレンズＡ５３およびＢ５４からなるダ
ブルホログラムレンズ５１と、ダブルホログラムレンズ
５１で集光される収束光を受光するフォーカスディテク
タ５２とから構成されている。

【００３０】半導体レ−ザ１からレーザ光が出射されて
光ディスク７へ至る行きの光学系については従来ヘッド
と同じ光学系の構成である。光ディスク７で反射した光
は行きの光学系を逆進し対物レンズ６を透過してビ−ム
スプリッタ４と５で反射してそれぞれ信号検出系とサ−
ボエラー検出系に至る。ビ−ムスプリッタ５で反射した
光はビ−ムスプリッタ１３で分岐して一方はトラックエ
ラー検出系８へその他はダブルホログラムレンズ５１へ
至る。

【００３１】ダブルホログラムレンズ５１に入射した光
束の内、幅可変遮光帯３ａで変調を受ける光束の部分が
遮光領域５５で遮光されてすべてカットされ、その他は
ホログラムレンズＡ５３とホログラムレンズＢ５４を透
過する。ホログラムレンズＡ５３とＢ５４はその透過光
がそれぞれフォーカスディテクタ５２上の点ＥとＦに集
光するようホログラムが点Ｆ’とＥ’を中心として、形
成されている。図５において光ディスク７が対物レンズ
６の焦平面にある時、光ディスク７からの反射戻り光は
ホログラムレンズＡ５３とＢ５４で集光されてそれぞれ
フォーカスディテクタ５２上の点ＦとＥに集光スポット
を形成する。

【００３２】次に、ダブルホログラム５１を用いたフォ
ーカス検出系の調整方法について図５を用いて説明す
る。

【００３３】図５は図４の光ヘッド装置における光学系
のフォーカスディテクタ調整方法を説明するための平面
図、図５（ａ）はダブルホログラムレンズで集光された
収束光の光軸方向でフォーカスディテクタを調整する場
合を示す平面図、図５（ｂ）は合焦の場合を示す正面
図、図５（ｃ）はフォーカスディテクタがホログラムレ
ンズの焦点距離よりも近い場合を示す正面図、図５
（ｄ）はフォーカスディテクタがホログラムレンズの焦
点距離よりも遠い場合を示す正面図である。

【００３４】図５（ｂ）において、フォーカスエラー検
出出力（α＋γ）−（β＋δ）＝０となっており、光デ
ィスク７が対物レンズ６の焦平面にある時に差動出力が
０となっている。フォーカスディテクタ５２がホログラ
ムレンズ５１の焦平面よりも近い同図（ｃ）の場合に
は、フォーカスディテクタ５２が同図（ｂ）の配置のま
までは検出出力≠０となってしまうが、図（ｃ）に示す
ようにフォーカスディテクタ５２を回転することによっ
て検出出力（α＋γ）−（β＋δ）＝０と調整できる。
同様にフォーカスディテクタ５２がホログラムレンズ５
１の焦平面よりも遠い同図（ｄ）の場合には、フォーカ
スディテクタ５２が同図（ｂ）の配置のままでは検出出
力≠０となってしまうが、図（ｄ）に示すようにフォー
カスディテクタ５２を回転することによって検出出力
（α＋γ）−（β＋δ）＝０と調整できる。幅可変遮光
帯３ａがコリメ−ト光を変調した場合でもフォーカスデ
ィテクタ上では集光スポット面積に変化を生じないので
遮光帯の変化の前後においても安定したサ−ボ系を構成
できている。

【００３５】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の光ヘッド
装置では、記録媒体からの反射戻り光の内、振幅または
位相変調素子による変調の影響を受けない光束のみを集
光してサ−ボエラーを検出することにより、幅可変遮光
帯によるコリメ−ト光の変調の前後においてもサ−ボオ
フセットの生じない安定したサ−ボ系を構成できるとい
う効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本第一の発明による光ヘッド装置の一実施例を
示す平面図である。

【図２】図１の光ヘッド装置における光学系のフォーカ
スディテクタ調整法について説明するための平面図であ
る。図２（ａ）は集光レンズ１２で集光された収束光の
光軸方向にフォーカスディテクタを調整する場合を示す
平面図である。図２（ｂ）は合焦の場合を示す平面図で
ある。図２（ｃ）はフォーカスディテクタが集光レンズ
１２の焦点距離よりも近い場合を示す平面図である。図
２（ｄ）はフォーカスディテクタが集光レンズ１２の焦
点距離よりも遠い場合を示す平面図である。

【図３】図１の光ヘッド装置における光学系をトラック
エラー検出に用いた場合の平面図である。

【図４】本第二の発明による光ヘッド装置の光学系の一
実施例を示す平面図である。

【図５】図４の光ヘッド装置における光学系のフォーカ
スディテクタ調整方法を説明するための平面図である。
図５（ａ）はダブルホログラムレンズで集光された収束
光の光軸方向でフォーカスディテクタを調整する場合を
示す平面図である。図５（ｂ）は合焦の場合を示す正面
図である。図５（ｃ）はフォーカスディテクタがホログ
ラムレンズの焦点距離よりも近い場合を示す正面図であ
る。図５（ｄ）はフォーカスディテクタがホログラムレ
ンズの焦点距離よりも遠い場合を示す正面図である。

【図６】図１および図７の光ヘッド装置における超解像
ビ−ムの発生原理を説明するための平面図である。

【図７】従来例の光ヘッド装置におけるナイフエッジフ
ォーカスエラー検出法を用いた超解像光学系の構成を説
明するための平面図である。

【図８】超解像光ヘッドにおける従来のナイフエッジ法
によるフォーカス検出原理を示す平面図である。図８
（ａ）は対物レンズの焦点距離よりも近くにディスクが
近づいた場合のフォーカス検出原理を示す平面図であ
る。図８（ｂ）は対物レンズの焦点距離よりも遠くにデ
ィスクが離れた場合のフォーカス検出原理を示す平面図
である。図８（ｃ）は対物レンズの焦平面にディスクが
ある場合のフォーカス検出原理を示す平面図である。

【符号の説明】

１ 半導体レ−ザ ２ コリメ−トレンズ ３ａ，３ｂ 幅可変遮光帯 ４ 偏光ビ−ムスプリッタ ５ ビ−ムスプリッタ ６ 対物レンズ ７ 光ディスク ８ トラックエラー検出系 ９ 信号検出系 １０ ナイフエッジ １１ フォーカスエラー検出器 １２ 集光レンズ １３ ビ−ムスプリッタ ３１ 通常ビ−ム ３２ 超解像ビ−ム ４１ 集光レンズ ４２ トラックディテクタ ４３ 一次回折光 ４４ ０次回折光 ４５ 遮光板 ５１ ダブルホログラムレンズ ５２ フォーカスディテクタ ５３ ホログラムレンズＡ ５４ ホログラムレンズＢ ５５ 遮光領域 ７１ 通常ビ−ム ７２ 超解像ビ−ム

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光源からの出射光を収束光学系によって
   微小スポットとして記録媒体面上に集光し、前記記録媒
   体からの反射光を光検出器に導いて情報の記録再生を行
   う光ヘッド装置において、 前記光源からの出射光路中に、出射光の一部について振
   幅を減衰または位相の変調を任意にできる変調素子を設
   け、 前記記録媒体からの反射戻り光を集光する集光素子と、
   その集光された戻り光を受光してサ−ボエラーを検出す
   る検出素子とを備え、 前記記録媒体から前記検出素子へ至る光路中にあって、
   戻り光中の前記変調素子によって変調されない光束の一
   部を透過あるいは反射または屈折する素子を備えること
   を特徴とする光ヘッド装置。
2. 【請求項２】 光源からの出射光を収束光学系によって
   微小スポットとして記録媒体面上に集光し、前記記録媒
   体からの反射光を光検出器に導いて情報の記録再生を行
   う光ヘッド装置において、 前記光源からの出射光路中に、出射光の一部について振
   幅を減衰または位相の変調を任意にできる変調素子を設
   け、 前記記録媒体からの反射戻り光中にあって前記変調素子
   によって変調されない光束の一部を透過あるいは反射ま
   たは屈折し、なおかつ集光するレンズ機能をもった集光
   素子を設け、 前記集光素子で集光された光束を受光してサ−ボエラー
   を検出する検出素子を備えることを特徴とする光ヘッド
   装置。
3. 【請求項３】 発光デバイスとしての光を放射する半導
   体レ−ザと、その放射光を平行光にするコリメ−トレン
   ズと、その平行光束の一部を遮光またはそのまま通過さ
   せることの可能な幅可変遮光帯と、信号光を取り出す偏
   光ビ−ムスプリッタと、前記信号光からサ−ボエラー光
   を取り出すビ−ムスプリッタと、記録された情報を光の
   照射と反射によって再生するために光ディスク上へ前記
   平行光束を集光する対物レンズと、前記光ディスクから
   の前記サ−ボエラー光の内トラックエラーを検出するト
   ラック検出系と、前記光ディスクからの前記信号光から
   読み出された信号を検出する信号検出系と、前記光ディ
   スクからの反射戻り光を集光する集光レンズと、前記集
   光レンズで集光される収束光の一部を遮光するナイフエ
   ッジと、収束光を受光するフォーカスディテクタとを有
   する光ヘッド装置において、 前記ナイフエッジが前記幅可変遮光帯によって変調を受
   ける平行光の内縁部をカットし、変調を受けない平行光
   の部分のみをフォーカスディテクタへ導く機能を有する
   ことを特徴とする光ヘッド装置。
4. 【請求項４】 発光デバイスとしての光を放射する半導
   体レ−ザと、その放射光を平行光にするコリメ−トレン
   ズと、その平行光束の一部を遮光またはそのまま通過さ
   せることの可能な幅可変遮光帯と、信号光を取り出す偏
   光ビ−ムスプリッタと、前記信号光からサ−ボエラー光
   を取り出すビ−ムスプリッタと、記録された情報を光の
   照射と反射によって再生するために光ディスク上へ前記
   平行光束を集光する対物レンズと、前記光ディスクから
   の前記サ−ボエラー光の内トラックエラーを検出するト
   ラック検出系と、前記光ディスクからの前記信号光から
   読み出された信号を検出する信号検出系と、前記光ディ
   スクからの反射戻り光を集光するホログラムレンズと、
   前記ホログラムレンズで集光される収束光を受光するフ
   ォーカスディテクタとを有する光ヘッド装置において、 前記ホログラムレンズが、遮光領域と第一のホログラム
   レンズと第二のホログラムレンズとを有し、入射した光
   束の内、前記幅可変遮光帯で変調を受ける光束の部分が
   前記遮光領域で遮光されてすべてカットされ、その他は
   前記第一および第二のホログラムレンズを透過し、前記
   第一および第二のホログラムレンズはその透過光がそれ
   ぞれ前記フォーカスディテクタ上に集光するようホログ
   ラムが形成されているダブルホログラムになっているこ
   とを特徴とする光ヘッド装置。