JP2778296B2 - 光ヘッド装置 - Google Patents
光ヘッド装置Info
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- JP2778296B2 JP2778296B2 JP3180638A JP18063891A JP2778296B2 JP 2778296 B2 JP2778296 B2 JP 2778296B2 JP 3180638 A JP3180638 A JP 3180638A JP 18063891 A JP18063891 A JP 18063891A JP 2778296 B2 JP2778296 B2 JP 2778296B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】光を利用して情報の記録再生を行
う情報入出力装置の用いる光ヘッド装置、特に遮光要素
を使った超解像光学系で回折格子を用い、３ビーム法に
よりトラックエラーを検出する光学系を組み合わせた光
ヘッド装置に関する。
う情報入出力装置の用いる光ヘッド装置、特に遮光要素
を使った超解像光学系で回折格子を用い、３ビーム法に
よりトラックエラーを検出する光学系を組み合わせた光
ヘッド装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の超解像光ヘッドの光学系について
図面を用いて詳細に説明する。図４は従来の超解像光学
系の構成を示す図である。この光ヘッド装置は発光デバ
イスとして半導体レーザ１、その放射光を平行光にする
コリメートレンズ２、平行光束の一部を遮光する遮光帯
２７、二分割ディテクタ２９ａに光を導くための偏光ビ
ームスプリッタ４ｂ、二分割ディテクタ２９ｂに光を導
くための偏光ビームスプリッタ４ｂ、結晶の光軸方向に
振動する波とこれに垂直に振動する波の間に９０度の位
相差を生じさせる１／４波長板５、対物レンズ６、光デ
ィスク７からの戻り光の光束を一旦絞るための検出レン
ズ１１、メインローブを取り出すためのスリット２８、
光束を二分割ディテクタ２９ｂに集めるための再検出レ
ンズ１４、偏光ビームスプリッタ４ａからの戻り光を絞
るための検出レンズ３０、戻り光光束を２分割するナイ
フエッジ３１、フォーカスエラーを検出する二分割ディ
テクタ２９ａ、信号とトラックエラーを検出する二分割
ディテクタ２９ｂより構成される。
図面を用いて詳細に説明する。図４は従来の超解像光学
系の構成を示す図である。この光ヘッド装置は発光デバ
イスとして半導体レーザ１、その放射光を平行光にする
コリメートレンズ２、平行光束の一部を遮光する遮光帯
２７、二分割ディテクタ２９ａに光を導くための偏光ビ
ームスプリッタ４ｂ、二分割ディテクタ２９ｂに光を導
くための偏光ビームスプリッタ４ｂ、結晶の光軸方向に
振動する波とこれに垂直に振動する波の間に９０度の位
相差を生じさせる１／４波長板５、対物レンズ６、光デ
ィスク７からの戻り光の光束を一旦絞るための検出レン
ズ１１、メインローブを取り出すためのスリット２８、
光束を二分割ディテクタ２９ｂに集めるための再検出レ
ンズ１４、偏光ビームスプリッタ４ａからの戻り光を絞
るための検出レンズ３０、戻り光光束を２分割するナイ
フエッジ３１、フォーカスエラーを検出する二分割ディ
テクタ２９ａ、信号とトラックエラーを検出する二分割
ディテクタ２９ｂより構成される。
【０００３】半導体レーザ１は放射状に単一波長の光を
発し、これを光ディスク７上で絞るためにコリメートレ
ンズ２によって一旦平行光にし、対物レンズ６において
光ディスク盤面上で集光スポットを結ぶ構成になってい
る。コリメートレンズ２を通過した平行光は遮光帯２７
を通過して偏光ビームスプリッタ４ａに入る。遮光帯２
７を通過した平行光は、２つの偏光ビームスプリッタ４
ａ、４ｂ、１／４波長板５を透過した後対物レンズ６に
よって絞られ、光ディスク７盤面上に集光スポットを結
ぶ。１／４波長板は入射光の偏光面に対して結晶の光軸
を４５度傾けて設定され、偏光ビームスプリッタ４ｂを
通過してきた直線偏光は円偏光になって対物レンズ６に
入る。
発し、これを光ディスク７上で絞るためにコリメートレ
ンズ２によって一旦平行光にし、対物レンズ６において
光ディスク盤面上で集光スポットを結ぶ構成になってい
る。コリメートレンズ２を通過した平行光は遮光帯２７
を通過して偏光ビームスプリッタ４ａに入る。遮光帯２
７を通過した平行光は、２つの偏光ビームスプリッタ４
ａ、４ｂ、１／４波長板５を透過した後対物レンズ６に
よって絞られ、光ディスク７盤面上に集光スポットを結
ぶ。１／４波長板は入射光の偏光面に対して結晶の光軸
を４５度傾けて設定され、偏光ビームスプリッタ４ｂを
通過してきた直線偏光は円偏光になって対物レンズ６に
入る。
【０００４】図５はディスク径方向に挿入された遮光帯
２７によって平行光２２が遮られる様子を示す。
２７によって平行光２２が遮られる様子を示す。
【０００５】図６は遮光帯によって遮られた光束断面の
強度分布３２を示すものである。
強度分布３２を示すものである。
【０００６】図７は対物レンズ６によって絞られる光デ
ィスク７盤面上での集光スポット点における強度分布を
示すもので、遮光帯を入れる前のビーム形状３４が線速
方向に絞られてメインローブ３３とサイドローブ３５が
発生する。
ィスク７盤面上での集光スポット点における強度分布を
示すもので、遮光帯を入れる前のビーム形状３４が線速
方向に絞られてメインローブ３３とサイドローブ３５が
発生する。
【０００７】図４において、光ディスク７で反射した光
束は、行きの光学系を逆進して１／４波長板５で円偏光
は行きのコリメート光の偏光面に垂直に振動する直線偏
光になり、対物レンズ側の偏光ビームスプリッタ４ｂで
一部が反射して検出レンズ１１へ、残りは透過してコリ
メートレンズ側偏光ビームスプリッタ４ａで全部が反射
して検出レンズ３０に至る。検出レンズ１１に入射した
光束は絞られて焦点近傍に設けられたスリット２８によ
ってサイドローブを遮られた後、再検出レンズ１４によ
って収束光になりファーフィールドで２分割ディテクタ
２９ｂによって受光され、信号とプッシュプル法による
トラックエラーが検出される。一方、検出レンズ３０に
入射した光束は集光されナイフエッジ３１によって半分
が遮られて、焦点で二分割ディテクタ２９ａによってフ
ォーカスエラーが検出される。
束は、行きの光学系を逆進して１／４波長板５で円偏光
は行きのコリメート光の偏光面に垂直に振動する直線偏
光になり、対物レンズ側の偏光ビームスプリッタ４ｂで
一部が反射して検出レンズ１１へ、残りは透過してコリ
メートレンズ側偏光ビームスプリッタ４ａで全部が反射
して検出レンズ３０に至る。検出レンズ１１に入射した
光束は絞られて焦点近傍に設けられたスリット２８によ
ってサイドローブを遮られた後、再検出レンズ１４によ
って収束光になりファーフィールドで２分割ディテクタ
２９ｂによって受光され、信号とプッシュプル法による
トラックエラーが検出される。一方、検出レンズ３０に
入射した光束は集光されナイフエッジ３１によって半分
が遮られて、焦点で二分割ディテクタ２９ａによってフ
ォーカスエラーが検出される。
【０００８】以上のように従来の光学系では遮光帯によ
り一部遮光された光束が対物レンズでディスク盤面上で
回折限界以下に絞られることによって、ディスク記録密
度の向上やＣ／Ｎの向上が可能であった。
り一部遮光された光束が対物レンズでディスク盤面上で
回折限界以下に絞られることによって、ディスク記録密
度の向上やＣ／Ｎの向上が可能であった。
【０００９】図８は従来の回折格子を用いた３ビーム法
によりトラックエラーを検出する方式の光学系を説明す
る構成図である。半導体レーザ１から発するレーザ光は
コリメートレンズ２、回折格子３６、偏光ビームスプリ
ッタ４ａを透過し、１／４波長板５によって円偏光にな
り、対物レンズ６によって集光され光ディスク７上で集
光スポットが形成される。光ディスク７で反射したレー
ザ光は行きの光学系を逆進し、１／４波長板で円偏光か
ら入射光の偏光面に対して垂直な振動する直線偏光にな
り、偏光ビームスプリッタ４ａで反射して円筒レンズ１
３で非天収差を持った後に検出レンズ１４によって絞ら
れ、ディテクタ１５によってフォーカスエラー、トラッ
クエラー、信号が検出される。
によりトラックエラーを検出する方式の光学系を説明す
る構成図である。半導体レーザ１から発するレーザ光は
コリメートレンズ２、回折格子３６、偏光ビームスプリ
ッタ４ａを透過し、１／４波長板５によって円偏光にな
り、対物レンズ６によって集光され光ディスク７上で集
光スポットが形成される。光ディスク７で反射したレー
ザ光は行きの光学系を逆進し、１／４波長板で円偏光か
ら入射光の偏光面に対して垂直な振動する直線偏光にな
り、偏光ビームスプリッタ４ａで反射して円筒レンズ１
３で非天収差を持った後に検出レンズ１４によって絞ら
れ、ディテクタ１５によってフォーカスエラー、トラッ
クエラー、信号が検出される。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】プッシュプル法を用い
たトラックエラーの検出は、レンズの移動によってトラ
ックオフセットが生じ、トラックサーボ特性は３ビーム
法に比べれば良好とは言えない。一方、図８に示す３ビ
ーム法に遮光帯を使い、回折格子３６と偏光ビームスプ
リッタ４ａの間に遮光帯を挿入して超解像を実現する
と、遮光帯によって蹴られる光量があり、光利用率が低
下した。そのため光学系における良好な再生信号特性を
得るには、遮光帯を入れない光学系に比べより高出力の
光源を用意する必要があった。 本発明は３ビーム法で
安定したトラック検出を行い、超解像によってディスク
盤面上の集光ビームスポットを回折限界以下に絞りなが
ら、光ヘッドの高利用率の低下を制御するためのもので
あり、その目的は超解像光ヘッドの長所を引出しなが
ら、その短所を補うことにある。
たトラックエラーの検出は、レンズの移動によってトラ
ックオフセットが生じ、トラックサーボ特性は３ビーム
法に比べれば良好とは言えない。一方、図８に示す３ビ
ーム法に遮光帯を使い、回折格子３６と偏光ビームスプ
リッタ４ａの間に遮光帯を挿入して超解像を実現する
と、遮光帯によって蹴られる光量があり、光利用率が低
下した。そのため光学系における良好な再生信号特性を
得るには、遮光帯を入れない光学系に比べより高出力の
光源を用意する必要があった。 本発明は３ビーム法で
安定したトラック検出を行い、超解像によってディスク
盤面上の集光ビームスポットを回折限界以下に絞りなが
ら、光ヘッドの高利用率の低下を制御するためのもので
あり、その目的は超解像光ヘッドの長所を引出しなが
ら、その短所を補うことにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するために、光源さらの出射光を収束光学系によって
微小スポットとして光ディスク盤面上に集光し、この集
光点から反射光を光検出器に導いて情報の再生を行う光
ヘッド装置において、前記光源からの出射光の光路中
に、前記出射光を前記光ディスクの半径方向に帯状に遮
る回折格子が設けられており、前記回折格子およびその
外側を透過した後、前記光ディスクで反射した光束を再
受光するレンズと、前記レンズによる前記光束の集光点
の近傍に、前記回折格子を光束が通過する事によって発
生した±１次回折光を通過させるとともに、０次光をト
ラック方向について中心部分を通して外側を遮光するス
リットを備え、前記スリットの通過光によってフォーカ
スエラー、トラックエラー、再生信号を検出する構成を
有している。
成するために、光源さらの出射光を収束光学系によって
微小スポットとして光ディスク盤面上に集光し、この集
光点から反射光を光検出器に導いて情報の再生を行う光
ヘッド装置において、前記光源からの出射光の光路中
に、前記出射光を前記光ディスクの半径方向に帯状に遮
る回折格子が設けられており、前記回折格子およびその
外側を透過した後、前記光ディスクで反射した光束を再
受光するレンズと、前記レンズによる前記光束の集光点
の近傍に、前記回折格子を光束が通過する事によって発
生した±１次回折光を通過させるとともに、０次光をト
ラック方向について中心部分を通して外側を遮光するス
リットを備え、前記スリットの通過光によってフォーカ
スエラー、トラックエラー、再生信号を検出する構成を
有している。
【００１２】
【作用】本発明の光ヘッド装置においては、光源さらの
光束中央部にディスク半径方向へ回折格子を挿入し、前
記光束を回折させ、回折格子によって回折される±１次
光は光ディスク盤面上でトラックエラーを検出し、回折
格子の外側を通過して対物レンズに達する光束は超解像
の効果により、ディスク盤面上において回折限界以下に
集光ビームスポットが絞られる。従って３ビーム法によ
るトラック検出と遮光帯を用いた超解像による再生が可
能である。
光束中央部にディスク半径方向へ回折格子を挿入し、前
記光束を回折させ、回折格子によって回折される±１次
光は光ディスク盤面上でトラックエラーを検出し、回折
格子の外側を通過して対物レンズに達する光束は超解像
の効果により、ディスク盤面上において回折限界以下に
集光ビームスポットが絞られる。従って３ビーム法によ
るトラック検出と遮光帯を用いた超解像による再生が可
能である。
【００１３】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て詳細に説明する。図１（Ａ）は、本発明の一実施例の
光学系構成図である。この実施例の光ヘッド装置は、発
光デバイスとして半導体レーザ１、その放射光を平行光
にするコリメートレンズ２、平行光束の一部を回折させ
る回折格子３、信号検出ディテクタ１５に光を導くため
の偏光ビームスプリッタ４ａ，結晶の光軸方向に振動す
る波とこれに垂直に振動する波の間に９０度の位相差を
生じさせる１／４波長板５、光ディスク７に光束を絞る
対物レンズ６、戻り光の光束を絞るための検出レンズ１
１、メインローブと±１次回折光を取り出すためのスリ
ット１２、フォーカス検出のために非点収差を発生させ
る円筒レンズ１３、光束の信号検出ディテクタ１５に絞
る再検出レンズ１４、そして信号検出ディテクタ１５に
よって構成される。
て詳細に説明する。図１（Ａ）は、本発明の一実施例の
光学系構成図である。この実施例の光ヘッド装置は、発
光デバイスとして半導体レーザ１、その放射光を平行光
にするコリメートレンズ２、平行光束の一部を回折させ
る回折格子３、信号検出ディテクタ１５に光を導くため
の偏光ビームスプリッタ４ａ，結晶の光軸方向に振動す
る波とこれに垂直に振動する波の間に９０度の位相差を
生じさせる１／４波長板５、光ディスク７に光束を絞る
対物レンズ６、戻り光の光束を絞るための検出レンズ１
１、メインローブと±１次回折光を取り出すためのスリ
ット１２、フォーカス検出のために非点収差を発生させ
る円筒レンズ１３、光束の信号検出ディテクタ１５に絞
る再検出レンズ１４、そして信号検出ディテクタ１５に
よって構成される。
【００１４】半導体レーザ１は放射状に単一波長の光を
発し、これを光ディスク７上で絞るために本実施例では
コリメートレンズ２によって一旦平行光にし、対物レン
ズ６において光ディスク盤面上で集光スポットを結ぶ構
成になっている。コリメートレンズ２を通過した平行光
は回折格子３を通過して偏光ビームスプリッタ４ａに入
る。
発し、これを光ディスク７上で絞るために本実施例では
コリメートレンズ２によって一旦平行光にし、対物レン
ズ６において光ディスク盤面上で集光スポットを結ぶ構
成になっている。コリメートレンズ２を通過した平行光
は回折格子３を通過して偏光ビームスプリッタ４ａに入
る。
【００１５】図２は回折格子３によって平行光２２が遮
られる様子を示す。回折格子３はディスク径方向に挿入
され、入射してきた光束の約４０％をそれぞれ±１次回
折光として回折し、その格子方向はディスク径方向に対
し若干角度をつけて設計される。
られる様子を示す。回折格子３はディスク径方向に挿入
され、入射してきた光束の約４０％をそれぞれ±１次回
折光として回折し、その格子方向はディスク径方向に対
し若干角度をつけて設計される。
【００１６】偏光ビームスプリッタ４ａを通過した平行
光は入射光の偏光面に対して結晶の光軸を４５度傾けて
設定された１／４波長板５を通過して直線偏光状態から
円偏光状態になり、対物レンズ６によって絞られ、光デ
ィスク７盤面上で集光スポットは光ディスク７盤面上
で、サブビーム１０ａ、１０ｂとメインローブ８、サイ
ドローブ９ａ，９ｂによって構成される。回折格子３が
ディスク径方向に対して若干角度をつけて設計してある
ためサブビーム１０ａ，１０ｂがランドとグループ境界
線に当たってトラックエラー信号を検出することができ
る。またメインビーム内には、サイドローブ９ａ，９ｂ
が発生するが、信号読み出しに用いるメインローブ８は
ディスク線速方向に径が絞られる。
光は入射光の偏光面に対して結晶の光軸を４５度傾けて
設定された１／４波長板５を通過して直線偏光状態から
円偏光状態になり、対物レンズ６によって絞られ、光デ
ィスク７盤面上で集光スポットは光ディスク７盤面上
で、サブビーム１０ａ、１０ｂとメインローブ８、サイ
ドローブ９ａ，９ｂによって構成される。回折格子３が
ディスク径方向に対して若干角度をつけて設計してある
ためサブビーム１０ａ，１０ｂがランドとグループ境界
線に当たってトラックエラー信号を検出することができ
る。またメインビーム内には、サイドローブ９ａ，９ｂ
が発生するが、信号読み出しに用いるメインローブ８は
ディスク線速方向に径が絞られる。
【００１７】図３は集光スポットにおける強度分布を示
したもので、回折格子３の外側を透過した平行光はスポ
ットにおける強度分布を示したもので、回折格子３の外
側を透過した平行光は超解像効果を得て回折限界以下に
ビームが絞られる。即ちメインローブ２４は、回折格子
３をいれなかった場合の強度分布２５に比しレディスク
線速方向に径が細くなり、一方サイドローブ２６が発生
する。回折格子３回折した±１次光はサブビーム２３
ａ、２３ｂとなって発生する。
したもので、回折格子３の外側を透過した平行光はスポ
ットにおける強度分布を示したもので、回折格子３の外
側を透過した平行光は超解像効果を得て回折限界以下に
ビームが絞られる。即ちメインローブ２４は、回折格子
３をいれなかった場合の強度分布２５に比しレディスク
線速方向に径が細くなり、一方サイドローブ２６が発生
する。回折格子３回折した±１次光はサブビーム２３
ａ、２３ｂとなって発生する。
【００１８】図１（Ａ）において、レーザ光は光ディス
クで反射した後に、行きの光学系を逆進し、１／４波長
板によって円偏光から直線偏光になり、行きの光学系に
おける振動と垂直な振動を行う。これによって偏光ビー
ムスプリッタ４ａで全部反射されて検出レンズ１１に至
る。検出レンズ１１で一旦光束は絞られスリット１２に
よってサイドローブは遮られる。断面Ａ−Ａ（図１
（Ｂ））に示すようにスリット１２によってサイドロー
ブ１７ａ，１７Ｂは遮られ、メインローブ１６とサブビ
ーム１８ａ，１８ｂがスリット１２を通過し、円筒レン
ズ１３で非点収差を持って再検出レンズ１４に至る。再
検出レンズ１４によって光束は絞られ、検出ディテクタ
１５上に集光される。断面Ｂ−Ｂ（図１（Ｃ））は検出
ディテクタ１５上での集光スポットの配置を示すもの
で、サブビームはディテクタ２０，２１に、メインロー
ブは４分割ディテクタ１９上に配置される。トラックエ
ラーはディテクタ２０，２１によってｅ−ｆで検出さ
れ、フォーカスエラーはディテクタ１９で（ａ＋ｃ）−
（ｂ＋ｄ）で検出される。
クで反射した後に、行きの光学系を逆進し、１／４波長
板によって円偏光から直線偏光になり、行きの光学系に
おける振動と垂直な振動を行う。これによって偏光ビー
ムスプリッタ４ａで全部反射されて検出レンズ１１に至
る。検出レンズ１１で一旦光束は絞られスリット１２に
よってサイドローブは遮られる。断面Ａ−Ａ（図１
（Ｂ））に示すようにスリット１２によってサイドロー
ブ１７ａ，１７Ｂは遮られ、メインローブ１６とサブビ
ーム１８ａ，１８ｂがスリット１２を通過し、円筒レン
ズ１３で非点収差を持って再検出レンズ１４に至る。再
検出レンズ１４によって光束は絞られ、検出ディテクタ
１５上に集光される。断面Ｂ−Ｂ（図１（Ｃ））は検出
ディテクタ１５上での集光スポットの配置を示すもの
で、サブビームはディテクタ２０，２１に、メインロー
ブは４分割ディテクタ１９上に配置される。トラックエ
ラーはディテクタ２０，２１によってｅ−ｆで検出さ
れ、フォーカスエラーはディテクタ１９で（ａ＋ｃ）−
（ｂ＋ｄ）で検出される。
【００１９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の回折格子
を用いた超解像光ヘッドにおいては従来の３ビーム法に
よるトラック検出と遮光帯による超解像手段を用いた場
合に比べ、遮光帯によって蹴られていた光量を利用する
ため、従来の超解像光ヘッド同様にディスク盤面上の集
光ビームスポットを回折限界以下に絞ることが可能であ
りながら、光利用効率を高くとることが可能である。従
って安定なトラック検出法である３ビーム法と超解像方
法を用いた時の光ヘッドに必要な光源のパワーの負担が
少なくて済み、また再生信号光量が従来の３ビーム法を
用いた超解像光ヘッドに比べ大であるため、再生信号特
性を良好にすることができる。
を用いた超解像光ヘッドにおいては従来の３ビーム法に
よるトラック検出と遮光帯による超解像手段を用いた場
合に比べ、遮光帯によって蹴られていた光量を利用する
ため、従来の超解像光ヘッド同様にディスク盤面上の集
光ビームスポットを回折限界以下に絞ることが可能であ
りながら、光利用効率を高くとることが可能である。従
って安定なトラック検出法である３ビーム法と超解像方
法を用いた時の光ヘッドに必要な光源のパワーの負担が
少なくて済み、また再生信号光量が従来の３ビーム法を
用いた超解像光ヘッドに比べ大であるため、再生信号特
性を良好にすることができる。
【図１】本発明の超解像光ヘッドの光学系を用いた一実
施例の模式図である。
施例の模式図である。
【図２】本発明の超解像光ヘッドの超解像実現手段を示
す図である。
す図である。
【図３】本発明の超解像光ヘッドの集光ビームスポット
における強度分布を示す図である。
における強度分布を示す図である。
【図４】通常の超解像光ヘッドの光学系の構成説明図で
ある。
ある。
【図５】通常の超解像光ヘッドの超解像実現手段を示す
図である。
図である。
【図６】通常の超解像光ヘッドの対物レンズに入射する
光束の強度分布を示す図である。
光束の強度分布を示す図である。
【図７】通常の超解像光ヘッドの集光ビームスポットに
おける強度分布を示す図である。
おける強度分布を示す図である。
【図８】通常の３ビーム法を用いた光ヘッドの光学系の
構成説明図である。
構成説明図である。
１ 半導体レーザ ２ コリメートレンズ ３ 回折格子 ４ａ 偏光ビームスプリッタ ４ｂ 偏光ビームスプリッタ ５ １／４波長板 ６ 対物レンズ ７ 光ディスク ８ メインローブ ９ａ サイドローブ ９ｂ サイドローブ １０ａ サブビーム １０ｂ サブビーム １１ 検出レンズ １２ スリット １３ 円筒レンズ １４ 再検出レンズ １５ 信号検出ディテクタ １６ メインローブ １７ａ サイドローブ １７ｂ サイドローブ １８ａ サブビーム １８ｂ サブビーム １９ ４分割ディテクタ ２０ ディテクタ ２１ ディテクタ ２２ 光束 ２３ａ サブビーム ２３ｂ サブビーム ２４ メインローブ ２５ 通常のビーム形状 ２６ サイドローブ ２７ 遮光帯 ２８ 検出スリット ２９ａ 二分割ディテクタ ２９ｂ 二分割ディテクタ ３０ 検出レンズ ３１ ナイフエッジ ３２ 対物レンズ入射前のコリメート光の強度分布 ３３ メインローブ ３４ 通常のビーム形状 ３５ サイドローブ ３６ 回折格子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G11B 7/09 - 7/095 G11B 7/135
Claims (1)
- 【請求項１】 光源からの出射光を収束光学系によって
微小スポットとして光ディスク盤面上に集光し、この集
光点からの反射光を光検出器に導いて情報の再生を行う
光ヘッド装置において、前記光源からの出射光の光路中
に、前記光ディスクの半径方向に帯状に前記出射光を横
切る回折格子を設けて、前記出射光を、前記回折格子の
外側を通過した光と、前記回折格子により回折された＋
１次回折光と、−１次回折光との３本の光束に分け、対
物レンズで集光され、前記光ディスクで反射した前記３
本の光束を再受光するレンズと、前記レンズによる前記
３本の光束の集光点の近傍に、前記回折格子を通過する
事によって発生した＋１次回折光と−１次回折光とを通
過させるとともに、前記回折格子の外側を通過した光の
トラック方向について中心部分を通して外側を遮光する
スリットを備え、前記スリットの通過光によって、フォ
ーカスエラー、トラックエラー、再生信号を検出するこ
とを特徴とする光ヘッド装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3180638A JP2778296B2 (ja) | 1991-07-22 | 1991-07-22 | 光ヘッド装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3180638A JP2778296B2 (ja) | 1991-07-22 | 1991-07-22 | 光ヘッド装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0528524A JPH0528524A (ja) | 1993-02-05 |
| JP2778296B2 true JP2778296B2 (ja) | 1998-07-23 |
Family
ID=16086699
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3180638A Expired - Lifetime JP2778296B2 (ja) | 1991-07-22 | 1991-07-22 | 光ヘッド装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2778296B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07105059B2 (ja) * | 1987-08-26 | 1995-11-13 | シャープ株式会社 | 光学式ピックアップ装置 |
| JP2586600B2 (ja) * | 1988-09-28 | 1997-03-05 | 日本電気株式会社 | 光ヘッド装置 |
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-
1991
- 1991-07-22 JP JP3180638A patent/JP2778296B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0528524A (ja) | 1993-02-05 |
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