JPS63144424A - 光学ピツクアツプ用調整装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光学ピックアップ用調整装置に関する。

〔従来の技術〕

従来、特開昭６１−９８４１号公報に記載され、第２図
に示すような光学ピックアップの調整装置においては、
光ピツクアップ１に光検出器６を取シ付ける際の位置調
整時に、情報記録担体の情報記録面上でレーザービーム
が合焦状態であることを保証する手段として、光学ピッ
クアップ１のフォーカス・レンズ４に対向して半透過ミ
ラー１１を配置するとともに、前記半透過ミラー１１の
裏側に検出光学系Ｂ、１４を配し、監視装置１５により
、フォーカス・レンズ４から出射するレーザー光源もが
平板半透鏡１１に合焦するように監視し、７オーカス・
レンズと平板牛透鏡１１間の距離を調節するという方法
を有する、光学ピックアップ調整装置が知られていた。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかし、従来の光学ピックアップ調整装置は。

レーザービームの非常に微小な焦点（スボッ）？１Ｍが
約１〜２μｍ）を拡大して観察するために検出光学系１
２，１５．１４に顕微鏡等の高分解能・高倍率をもつ高
価なシステムを使用せねばならず、かつそのようなシス
テムは観察範囲が狭いので光検出器位置調整の以前にレ
ーザービームの合焦点を見つけ出すという作業が必要で
あり、このときにμｍ単位の精度と多大な時間が必要と
されるのでｆ！に産性という点で大きな問題を有してい
た。

しかも前記のようなシステムは焦点深度も狭いため、平
板半透鏡１１の面Ａに合っているべき検出光学系の焦点
が温度変化、経時変化等でり゛ず′れてしまいやすく、
信頼性が低いといった欠点も有していた。

そこで、本発明は従来のこのような問題点を解決するた
め、簡単な構成で高ｆｆｉ産性、高信頼性を有する光学
ピックアップ用調整装置を得ることを目的としている。

〔問題点を解決するための手段〕

上記問題点を解決するために、本発明の光学ピックアッ
プ用調整装置は、レーザー光源の発光量を検出する手段
、前記手段による検ｔＢ位の、フォーカス・レンズより
出射するレーザー・ビームの集光状態に応じた変化より
合焦状態を検出する手段、及び前記合焦状態においてサ
ーボ信号検出光学系を所望のサーボ信号が得られるよう
に調整する手段を備えたことを特徴とする。

〔実施例〕

以下に、本発明の実施例を図面にもとづいて説明する。

第１図において、９は半導体レーザー駆動量ｊ！Ｌ　２
は半導体レーザーとコリメートレンズで、半導体レーザ
ーから出た発散光がコリメート・レンズで平行光になり
、適当な反射率、屈折率ヲ有スるビーム・スプリッター
３に入射し１．叉射光はレーザーパワーモニター用光検
出器１０に入射する。透過光はフォーカス・レンズ４に
入Ｎｕ集光され情報記録担体と光学的に等価な平板半透
鏡１１に入射する。Ａ面はその高反射率面であり、ここ
にレーザービームを合焦させると反射発散光はフォーカ
ス・レンズ４を経て平行光となりビーム・スプリッター
３で反射光と透過光に分かれる。ビーム・スプリッター
５で反射された光はサーボ信号検出光学系５を通り光検
出器６に入射し、光強度が電流に変換され、検出回路５
０で検出される。′ビーム・スプリッター３を透過した
光はコリメート・レンズ２を経て、半導体レーサーノ共
振器内へ帰一する。この帰還する光量はフォーカス・レ
ンズ４を出射したレーザー・ビームが平板半透鏡１１の
Ａ面に合焦した状態の時最大となり、合焦状態からずれ
るとＣｒ１ｔｉｃａｌに低下する。また、半導体レーザ
ーに光が帰還するとその電流−光出力特性が図５Ａから
図３Ｂのように変化する。したがって、半導体レーザー
駆動回路９により、半導体レーザーを定電流工、で駆動
して、レーザーパワーモニター用光検出器１０の出力を
モニターしていると、その出力は平板半透鏡１１の面Ａ
とフォーカス・レンズ４の相対距離に応じて図４のよう
に変化する。そこで、この出力が極値となる状態が合焦
状態なので、この状態でサーボ信号検出光学系５と光検
出器６の調整を光検出器出力モニター３０をモニターし
ながら行い、所望のサーボ信号が得られるようにすれば
良い。

また、レーザーパワーのモニター・フォトφダイオード
で行う場合でも定を流工、で駆動すれば、同様にして合
焦状態を保証しつる。

〔発明の効果〕

本発明は、以上説明したように、レーザーパワーモニタ
ー用光検出器を配設したという簡単な構成で、その他−
切のスポット形状観察手段を必要とせずに合焦状態を高
精度に保証しつるもので、これによれば高ｉ産性、高信
頼性も合わせもった光学ピックアップ用調整装置を提供
しつるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明にかかる光学ピックアップ用調整装置
の構成図、第２図は従来の光学ピックアップ用調整装置
の構成図、第３図は半導体レーザーの電流−光出力特性
図、第４図は、レーザーパワーモニター用光検出器出力
図である。 １・・・・・・光学ピックアップ・シャーシ２・・・・
・・レーザー光源とコリメート・レンズ３・・・・・・
ビーム・スプリッター ４・・・・・・７オーカス・レンズ ５・・・・・・サーボ信号検出用光学系６・・・・・・
光検出器 ７・・・・・・フォーカス・レンズ噛アクチェエータ−
８・・・・・・７オーカス・レンズ・アクチ具エーター
駆動回路 ９・・・・・・レーザー光源駆動回路 １０・・・レーザーパワーモ゛ニター用光検出器１１・
・・・・・平板半透鏡 １３．１４，１５・・・・・・スポット形状検出光学系
及び監視装置 ３ａ・・・・・・サーボ信号検出回路及び光検出器出力
表示手段 以上 出願人　セイコーエプソン株式会社 代理人　弁理士最上路（他１名）。 パご」

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 　光学ピックアップのフォーカス・レンズからレーザー
   ビームを出射させ、情報記録担体上もしくは前記情報記
   録担体と同等の光学的特性を有する平板半透鏡上に前記
   レーザービームを合焦させた状態に対して、サーボ信号
   検出用光学系の調整を行う光学ピックアップ用調整装置
   において、 （ａ）レーザー光源の発光量を検出する手段 （ｂ）レーザー光源への戻り光による手段（ａ）の検出
   値の変化より、フォーカス・レンズ出射のレーザー・ビ
   ームの合焦を検出する手段 （ｃ）手段（ａ）により検出された合焦点において、サ
   ーボ信号検出用光学系を所望のサーボ信号が得られるよ
   うに調整する手段 を備えたことを特徴とする光学ピックアップ用調整装置
   。